CN116932304A - 一种寄存器测试方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种寄存器测试方法、装置、电子设备及存储介质，包括：获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型；在寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，并获取预先构建的通用测试序列合集；获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，根据寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格；根据测试表格对目标寄存器进行测试。本发明实施例的技术方案可以提升寄存器测试方法的复用性，提高寄存器的测试效率以及测试结果的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种寄存器测试方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
随着集成电路规模越来越庞大，功能越来越复杂，寄存器作为电路实现的关键环节，对其功能的正确性进行测试显得尤为重要。
现有的对寄存器进行测试的方法，通常需要验证人员随着芯片的更迭，适应编写寄存器对应的测试序列，并且手动添加寄存器相对应待测电路的位置信息。
但是，现有的测试方法导致测试序列复用性差，并且无法保证寄存器验证过程的完备性；在验证人员手动添加位置信息的同时，容易引入额外误差，并且增加了测试过程的复杂度。其次，在寄存器实际的验证过程中，需要在某些测试序列中排除一些寄存器，如复位寄存器，时钟门控寄存器，功能开关寄存器等，但是现有测试方法需要手动搜寻并逐个添加，很大程度上降低了验证效率。
发明内容
本发明提供了一种寄存器测试方法、装置、电子设备及存储介质，可以提升寄存器测试方法的复用性，提高寄存器的测试效率以及测试结果的准确性。
根据本发明的一方面，提供了一种寄存器测试方法，所述方法包括：
获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型；
在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，并获取预先构建的通用测试序列合集；
获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格；
根据所述测试表格对目标寄存器进行测试。
可选的，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，包括：
将底层目标寄存器，以及寄存器域分别相对于寄存器顶层的位置信息，添加至寄存器描述文件中，得到更新后的寄存器描述文件。
可选的，所述通用测试序列合集中包括复位值测试序列、读写测试序列、只读测试序列、域测试序列以及多访问端测试序列。
可选的，获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，包括：
将寄存器分类模板反馈至用户，以获取用户在所述寄存器分类模板中添加的目标寄存器分类信息；
将忽略测试模板反馈至用户，以获取用户在所述忽略测试模板中添加的待忽略寄存器信息；
将寄存器位置信息模板反馈至用户，以获取用户在所述寄存器位置信息模板中，添加的目标寄存器相对于待测电路的位置信息；
将所述目标寄存器分类信息、待忽略寄存器信息，以及目标寄存器相对于待测电路的位置信息，作为目标寄存器对应的目标测试信息。
可选的，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格，包括：
根据所述寄存器模型、目标寄存器分类信息、目标寄存器相对于待测电路的位置信息，以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的动态测试表格；
根据所述用户在所述忽略测试模板中添加的待忽略寄存器信息，对所述动态测试表格进行更新，得到与目标寄存器匹配的目标测试表格。
可选的，根据所述测试表格对目标寄存器进行测试，包括：
根据与所述目标寄存器匹配的目标测试表格，对目标寄存器的功能进行正确性测试。
根据本发明的另一方面，提供了一种寄存器测试装置，所述装置包括：
模型生成模块，用于获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型，在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系；
序列获取模块，用于获取预先构建的通用测试序列合集；
表格生成模块，用于获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格；
测试模块，用于根据所述测试表格对目标寄存器进行测试。
根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，所述设备包括：
至少一个处理器；以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的寄存器测试方法。
根据本发明的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的寄存器测试方法。
本发明实施例提供的技术方案，通过获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型，在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，并获取预先构建的通用测试序列合集，获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格，根据所述测试表格对目标寄存器进行测试的技术手段，可以提升寄存器测试方法的复用性，提高寄存器的测试效率以及测试结果的准确性。
应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据本发明实施例提供的一种寄存器测试方法的流程图；
图2是根据本发明实施例提供的另一种寄存器测试方法的流程图；
图3是根据本发明实施例提供的另一种寄存器测试方法的流程图；
图4是根据本发明实施例提供的一种寄存器测试装置的结构示意图；
图5是实现本发明实施例的寄存器测试方法的电子设备结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
图1为本发明实施例一提供的一种寄存器测试方法的流程图，本实施例可适用于对集成电路中的寄存器进行功能测试的情况，该方法可以由寄存器测试装置来执行，该寄存器测试装置可以采用硬件和/或软件的形式实现，该寄存器测试装置可配置于电子设备中。如图1所示，该方法包括：
步骤110、获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型。
在本实施例中，所述寄存器描述文件可以为预先构建的，用于对记录通用寄存器描述信息的文件，具体的，所述描述信息可以包括寄存器域信息、寄存器文件信息及寄存器块信息等，本实施例对此并不进行限制。
在获取到所述寄存器描述文件后，可以根据待测寄存器（也即目标寄存器）的实际配置信息，对所述寄存器描述文件进行更新，然后根据更新后的寄存器描述文件，生成目标寄存器对应的寄存器模型。所述寄存器模型可以用于对目标寄存器的功能进行正确性测试。
步骤120、在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，并获取预先构建的通用测试序列合集。
在本实施例中，由于一个目标寄存器可以被多个主端进行访问，因此在生成寄存器模型之后，可以将各访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，添加至寄存器模型中。
在一个具体的实施例中，通用测试序列合集可以为预先构建的，用于对多种寄存器进行测试的序列合集，所述通用测试序列合集中包括不同测试项目分别对应的不同测试序列。
步骤130、获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格。
在本实施例中，接收到用户对目标寄存器的测试请求后，可以将预设的测试模板反馈至用户，以获取用户在测试模板中添加的目标寄存器对应的目标测试信息。具体的，所述目标测试信息中可以包括目标寄存器对应的自定义测试信息，例如测试过程中某些测试序列需要排除的寄存器信息等。
步骤140、根据所述测试表格对目标寄存器进行测试。
在本实施例中，通过预先构建通用测试序列合集，并获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，可以降低寄存器测试在面向不同电路之间的迁移成本，从而提高寄存器测试方法的复用性；其次，相比于现有技术中验证人员手动添加位置信息，可以实现自动化维护测试序列与待测寄存器的映射关系，极大地提高了测试效率，降低了测试的复杂度；最后，通过预先构建寄存器描述文件，并自动化地生成目标寄存器对应的测试表格，可以降低测试过程对人工操作的依赖，尽可能地避免了人工引入的故障错误，同时也使得被测电路在修改迭代过程中，更方便地修改维护。
本发明实施例提供的技术方案，通过获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型，在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，并获取预先构建的通用测试序列合集，获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格，根据所述测试表格对目标寄存器进行测试的技术手段，可以提升寄存器测试方法的复用性，提高寄存器的测试效率以及测试结果的准确性。
图2为本发明实施例二提供的一种寄存器测试方法的流程图，本实施例是对上述实施例的进一步细化。如图2所示，该方法包括：
步骤210、获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型。
在本实施例的一个实施方式中，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，包括：将底层目标寄存器，以及寄存器域分别相对于寄存器顶层的位置信息，添加至寄存器描述文件中，得到更新后的寄存器描述文件。
步骤220、在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，并获取预先构建的通用测试序列合集。
在本实施例的一个实施方式中，所述通用测试序列合集中包括复位值测试序列、读写测试序列、只读测试序列、域测试序列以及多访问端测试序列。
在一个具体的实施例中，复位值测试序列用于对待测电路复位后，默认值是否与预设值相符进行测试。
读写测试序列用于对目标寄存器的读写功能进行测试，具体的，读写测试序列可以控制目标寄存器进行先写后读，以及先读后写，然后根据读写结果确定测试结果。
只读测试序列用于对目标寄存器的只读功能进行测试，具体的，可以通过强制驱动电路中的某一信号，然后通过读取目标寄存器值确定测试结果。
域测试序列用于对目标寄存器中每个域的读写功能进行测试，具体的，可以通过控制目标寄存器中每个域进行先写后读，以及先读后写，然后根据读写结果确定测试结果。
多访问端测试序列用于对目标寄存器对应的，各主端的访问功能进行测试。具体的，可以通过待测电路中具备寄存器访问功能的主端，分别对目标寄存器进行读写操作，然后根据操作结果确定测试结果。
步骤230、将寄存器分类模板反馈至用户，以获取用户在所述寄存器分类模板中添加的目标寄存器分类信息。
在本实施例中，接收到用户对目标寄存器的测试请求后，可以将寄存器分类模板提供给用户，用户可以在该模板中添加目标寄存器对应的实际分类信息，例如模块功能开关寄存器、复位寄存器、门控时钟寄存器、只读寄存器等。在获取到上述分类信息之后，可以对目标寄存器构建与所述分类信息匹配的标签。
步骤240、将忽略测试模板反馈至用户，以获取用户在所述忽略测试模板中添加的待忽略寄存器信息。
在本实施例中，还可以将忽略测试模板提供给用户，用户可以在该模板中添加测试过程中某些测试序列需要排除的寄存器信息（也即待忽略寄存器信息），例如复位寄存器、时钟门控寄存器以及功能开关寄存器等。
这样设置的好处在于，相比于现有技术中测试过程中需要验证人员手动搜寻并逐个添加待忽略寄存器的方式，可以保证测试过程中有效地将待忽略寄存器进行自动排除，从而提高目标寄存器的测试效率以及测试结果的准确性。
步骤250、将寄存器位置信息模板反馈至用户，以获取用户在所述寄存器位置信息模板中，添加的目标寄存器相对于待测电路的位置信息。
步骤260、将所述目标寄存器分类信息、待忽略寄存器信息，以及目标寄存器相对于待测电路的位置信息，作为目标寄存器对应的目标测试信息。
步骤270、根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格，根据所述测试表格对目标寄存器进行测试。
本发明实施例提供的技术方案，通过获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型，在寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，并获取预先构建的通用测试序列合集，将寄存器分类模板反馈至用户，以获取用户在寄存器分类模板中添加的目标寄存器分类信息，将忽略测试模板反馈至用户，以获取用户在忽略测试模板中添加的待忽略寄存器信息，将寄存器位置信息模板反馈至用户，以获取用户在寄存器位置信息模板中，添加的目标寄存器相对于待测电路的位置信息，将目标寄存器分类信息、待忽略寄存器信息，以及目标寄存器相对于待测电路的位置信息，作为目标寄存器对应的目标测试信息，根据寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格，根据测试表格对目标寄存器进行测试的技术手段，可以提升寄存器测试方法的复用性，提高寄存器的测试效率以及测试结果的准确性。
图3为本发明实施例三提供的另一种寄存器测试方法的流程图，本实施例是对上述实施例的进一步细化。如图3所示，该方法包括：
步骤310、获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型。
步骤320、在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，并获取预先构建的通用测试序列合集。
步骤330、将寄存器分类模板、忽略测试模板以及寄存器位置信息模板反馈至用户，以获取用户在所述模板中添加的目标寄存器分类信息、待忽略寄存器信息，以及目标寄存器相对于待测电路的位置信息。
步骤340、根据所述寄存器模型、目标寄存器分类信息、目标寄存器相对于待测电路的位置信息，以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的动态测试表格。
在本实施例中，可选的，可以将通用测试序列合集中的各测试序列添加至测试表格中，然后根据目标寄存器分类信息匹配的标签，将目标寄存器对应的寄存器模型，以及目标寄存器相对于待测电路的位置信息添加到对应的测试序列下，由此生成了与目标寄存器匹配的动态测试表格。
其中，所述动态测试表格用于表征每个待测寄存器在不同测试序列下测试与否。
步骤350、根据所述用户在所述忽略测试模板中添加的待忽略寄存器信息，对所述动态测试表格进行更新，得到与目标寄存器匹配的目标测试表格。
在本实施例中，可以获取用户在所述忽略测试模板中添加的待忽略寄存器信息，然后将所述待忽略寄存器信息替换动态测试表格中对应寄存器信息，由此生成了与目标寄存器匹配的目标测试表格。
步骤360、根据与所述目标寄存器匹配的目标测试表格，对目标寄存器的功能进行正确性测试。
本发明实施例提供的技术方案，通过获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型，在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，并获取预先构建的通用测试序列合集，将寄存器分类模板、忽略测试模板以及寄存器位置信息模板反馈至用户，以获取用户在所述模板中添加的目标寄存器分类信息、待忽略寄存器信息，以及目标寄存器相对于待测电路的位置信息，根据所述寄存器模型、目标寄存器分类信息、目标寄存器相对于待测电路的位置信息，以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的动态测试表格，根据所述用户在所述忽略测试模板中添加的待忽略寄存器信息，对所述动态测试表格进行更新，得到与目标寄存器匹配的目标测试表格，根据与所述目标寄存器匹配的目标测试表格，对目标寄存器的功能进行正确性测试的技术手段，可以提升寄存器测试方法的复用性，提高寄存器的测试效率以及测试结果的准确性。
图4为本发明实施例四提供的一种寄存器测试装置的结构示意图，该装置包括：模型生成模块410、序列获取模块420、表格生成模块430和测试模块440。
其中，模型生成模块410，用于获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型，在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系；
序列获取模块420，用于获取预先构建的通用测试序列合集；
表格生成模块430，用于获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格；
测试模块440，用于根据所述测试表格对目标寄存器进行测试。
本发明实施例提供的技术方案，通过获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型，在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，并获取预先构建的通用测试序列合集，获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格，根据所述测试表格对目标寄存器进行测试的技术手段，可以提升寄存器测试方法的复用性，提高寄存器的测试效率以及测试结果的准确性。
在上述实施例的基础上，所述通用测试序列合集中包括复位值测试序列、读写测试序列、只读测试序列、域测试序列以及多访问端测试序列。
模型生成模块410包括：
信息添加单元，用于将底层目标寄存器，以及寄存器域分别相对于寄存器顶层的位置信息，添加至寄存器描述文件中，得到更新后的寄存器描述文件。
表格生成模块430包括：
分类模版反馈单元，用于将寄存器分类模板反馈至用户，以获取用户在所述寄存器分类模板中添加的目标寄存器分类信息；
忽略模板反馈单元，用于将忽略测试模板反馈至用户，以获取用户在所述忽略测试模板中添加的待忽略寄存器信息；
位置模板反馈单元，用于将寄存器位置信息模板反馈至用户，以获取用户在所述寄存器位置信息模板中，添加的目标寄存器相对于待测电路的位置信息；
测试信息确定单元，用于将所述目标寄存器分类信息、待忽略寄存器信息，以及目标寄存器相对于待测电路的位置信息，作为目标寄存器对应的目标测试信息；
动态表格生成单元，用于根据所述寄存器模型、目标寄存器分类信息、目标寄存器相对于待测电路的位置信息，以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的动态测试表格；
动态表格更新单元，用于根据所述用户在所述忽略测试模板中添加的待忽略寄存器信息，对所述动态测试表格进行更新，得到与目标寄存器匹配的目标测试表格。
测试模块440，包括：
功能测试单元，用于根据与所述目标寄存器匹配的目标测试表格，对目标寄存器的功能进行正确性测试。
上述装置可执行本发明前述所有实施例所提供的方法，具备执行上述方法相应的功能模块和有益效果。未在本发明实施例中详尽描述的技术细节，可参见本发明前述所有实施例所提供的方法。
图5示出了可以用来实施本发明的实施例的电子设备10的结构示意图。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。
如图5所示，电子设备10包括至少一个处理器11，以及与至少一个处理器11通信连接的存储器，如只读存储器（ROM）12、随机访问存储器（RAM）13等，其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，处理器11可以根据存储在只读存储器（ROM）12中的计算机程序或者从存储单元18加载到随机访问存储器（RAM）13中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在RAM 13中，还可存储电子设备10操作所需的各种程序和数据。处理器11、ROM 12以及RAM 13通过总线14彼此相连。输入/输出（I/O）接口15也连接至总线14。
电子设备10中的多个部件连接至I/O接口15，包括：输入单元16，例如键盘、鼠标等；输出单元17，例如各种类型的显示器、扬声器等；存储单元18，例如磁盘、光盘等；以及通信单元19，例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元19允许电子设备10通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。
处理器11可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理器11的一些示例包括但不限于中央处理单元（CPU）、图形处理单元（GPU）、各种专用的人工智能（AI）计算芯片、各种运行机器学习模型算法的处理器、数字信号处理器（DSP）、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理器11执行上文所描述的各个方法和处理，例如寄存器测试方法。
在一些实施例中，寄存器测试方法可被实现为计算机程序，其被有形地包含于计算机可读存储介质，例如存储单元18。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 12和/或通信单元19而被载入和/或安装到电子设备10上。当计算机程序加载到RAM13并由处理器11执行时，可以执行上文描述的寄存器测试方法的一个或多个步骤。备选地，在其他实施例中，处理器11可以通过其他任何适当的方式（例如，借助于固件）而被配置为执行寄存器测试方法。
本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列（FPGA）、专用集成电路（ASIC）、专用标准产品（ASSP）、芯片上系统的系统（SOC）、复杂可编程逻辑设备（CPLD）、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括：实施在一个或者多个计算机程序中，该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释，该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器，可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令，并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。
用于实施本发明的方法的计算机程序可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，使得计算机程序当由处理器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。计算机程序可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。
在本发明的上下文中，计算机可读存储介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的计算机程序。计算机可读存储介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。备选地，计算机可读存储介质可以是机器可读信号介质。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器（RAM）、只读存储器（ROM）、可擦除可编程只读存储器（EPROM或快闪存储器）、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器（CD-ROM）、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。
为了提供与用户的交互，可以在电子设备上实施此处描述的系统和技术，该电子设备具有：用于向用户显示信息的显示装置（例如，CRT（阴极射线管）或者LCD（液晶显示器）监视器）；以及键盘和指向装置（例如，鼠标或者轨迹球），用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给电子设备。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈（例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈）；并且可以用任何形式（包括声输入、语音输入或者、触觉输入）来接收来自用户的输入。
可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统（例如，作为数据服务器）、或者包括中间件部件的计算系统（例如，应用服务器）、或者包括前端部件的计算系统（例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互）、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信（例如，通信网络）来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网（LAN）、广域网（WAN）、区块链网络和互联网。
计算系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器，又称为云计算服务器或云主机，是云计算服务体系中的一项主机产品，以解决了传统物理主机与VPS服务中，存在的管理难度大，业务扩展性弱的缺陷。
应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。
上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。
Claims (10)
1.一种寄存器测试方法，其特征在于，所述方法包括：
获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型；
在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系，并获取预先构建的通用测试序列合集；
获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格；
根据所述测试表格对目标寄存器进行测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，包括：
将底层目标寄存器，以及寄存器域分别相对于寄存器顶层的位置信息，添加至寄存器描述文件中，得到更新后的寄存器描述文件。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通用测试序列合集中包括复位值测试序列、读写测试序列、只读测试序列、域测试序列以及多访问端测试序列。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，包括：
将寄存器分类模板反馈至用户，以获取用户在所述寄存器分类模板中添加的目标寄存器分类信息；
将忽略测试模板反馈至用户，以获取用户在所述忽略测试模板中添加的待忽略寄存器信息；
将寄存器位置信息模板反馈至用户，以获取用户在所述寄存器位置信息模板中，添加的目标寄存器相对于待测电路的位置信息；
将所述目标寄存器分类信息、待忽略寄存器信息，以及目标寄存器相对于待测电路的位置信息，作为目标寄存器对应的目标测试信息。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格，包括：
根据所述寄存器模型、目标寄存器分类信息、目标寄存器相对于待测电路的位置信息，以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的动态测试表格；
根据所述用户在所述忽略测试模板中添加的待忽略寄存器信息，对所述动态测试表格进行更新，得到与目标寄存器匹配的目标测试表格。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述测试表格对目标寄存器进行测试，包括：
根据与所述目标寄存器匹配的目标测试表格，对目标寄存器的功能进行正确性测试。
7.一种寄存器测试装置，其特征在于，所述装置包括：
模型生成模块，用于获取预先构建的寄存器描述文件，根据目标寄存器的配置信息对所述寄存器描述文件进行更新，并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型，在所述寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系；
序列获取模块，用于获取预先构建的通用测试序列合集；
表格生成模块，用于获取用户在测试模板中添加的目标测试信息，根据所述寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集，生成与目标寄存器匹配的测试表格；
测试模块，用于根据所述测试表格对目标寄存器进行测试。
8.一种电子设备，其特征在于，所述设备包括：
至少一个处理器；以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-6中任一项所述的寄存器测试方法。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的寄存器测试方法。
10.一种计算机程序产品，其特征在于，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时实现根据权利要求1-6中任一项所述的寄存器测试方法。
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