CN116908534A - 一种电容测量和筛选系统、电容容值筛选以及测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电容测量和筛选系统、电容容值筛选以及测量方法，属于电容测量技术领域，电容测量和筛选系统包括：介质基板、第一微带线、第二微带线、谐振环和测量仪器。第一微带线、第二微带线和谐振环均设置于介质基板上，第一微带线和第二微带线对称设置于谐振环的两侧；第一微带线的第一端与谐振环之间电性耦合，第二微带线的第一端与谐振环之间电性耦合；在谐振环上相对设置有第一开口和第二开口，第一开口用于安装第一电容，第二开口用于安装第二电容；测量仪器可获取谐振环的谐振频率。本发明提供的技术方案测量时间短、测量流程简单、测量成本低、可以适用于各种类型的电容测量以及筛选，适用范围广。
Description
技术领域
本发明属于电容测量技术领域，具体涉及一种电容测量和筛选系统、电容容值筛选以及测量方法。
背景技术
为了满足无线数据传输日益增加的需求，无线载频急速地朝着超高频、微波和毫米波发展，这样的发展趋势要求电路中的元件必须具有高频性能。
高频贴片电容因其低噪音、高自共振和高可靠性，在射频类电路中得到及其广泛的应用。高频贴片电容在射频电路中有着广泛的应用，例如耦合、去耦合、滤波、震荡和波形整形等。选用高频贴片电容时，电容值常常是需要考虑的重要参数之一，其容量基本在pF量级，属于微弱电容检测范畴，准确地测量高频贴片电容的容值是电容筛选中一项十分重要工作。
常用的测量电容的方法主要有谐振法、振荡法、交流电桥法和充放电法。谐振法是将电容引入振荡电路中，使得振荡频率成为电容的函数，通过测量该频率值来计算电容值；交流电桥法将电容接入交流电桥中，调整电桥中的可调电阻和可调电容使得电桥平衡，根据平衡时电桥各臂的电阻和电容值计算被测电容值；充放电法使用交流信号源对电容充电，然后将电容接入放电电路中，通过测量电容的放电时间来计算电容值。
现有的测量电容的方法往往测量时间长、测量流程复杂、测量成本高、适用范围受限。
发明内容
本发明实施例的目的是提供一种电容测量和筛选系统、电容容值筛选以及测量方法，能够解决现有的测量电容的方法往往测量时间长、测量流程复杂、测量成本高、适用范围受限的技术问题。
为了解决上述技术问题，本发明是这样实现的：
第一方面
本发明实施例提供了一种电容测量和筛选系统，包括：介质基板、第一微带线、第二微带线、谐振环和测量仪器。
第一微带线、第二微带线和谐振环均设置于介质基板上，第一微带线和第二微带线对称设置于谐振环的两侧；
第一微带线的第一端与谐振环之间存在间隙，以使第一微带线的第一端与谐振环之间电性耦合，第二微带线的第一端与谐振环之间存在间隙，以使第二微带线的第一端与谐振环之间电性耦合；
第一微带线的第二端与测量仪器的第一端电性连接，第二微带线的第二端与测量仪器的第二端电性连接；
在谐振环上相对设置有第一开口和第二开口，第一开口用于安装第一电容，第二开口用于安装第二电容；
其中，在第一开口安装有第一电容，第二开口安装有第二电容的情况下，测量仪器可获取谐振环的谐振频率。
第二方面
本发明实施例提供了一种电容容值筛选方法，应用于如第一方面的电容测量和筛选系统，包括：
S101：在第一间隙和第二间隙分别放入第一电容和第二电容，通过矢S101：在第一开口和第二开口分别放入第一电容和第二电容，通过测量仪器测量谐振环的谐振频率，并将本次测试的谐振环的谐振频率作为基准值；其中，第一电容和第二电容的容值已知；
S102：保留第一电容，以其他待筛选的电容依次放入第二开口中，通过测量仪器测量谐振环的谐振频率，筛选出第一预设数量的与基准值相近的电容，完成第一轮筛选；
S103：从筛选出的与基准值相近的电容中随机挑选出一个电容放入到第一开口以替换掉第一电容，将剩余的电容依次放入第二开口，通过测量仪器测量谐振环的谐振频率，筛选出第二预设数量的谐振频率相近的电容；
S104：重复S103，直至筛选出第三预设数量的谐振频率相近的电容。
第三方面
本发明实施例提供了一种电容容值测量方法，应用于如第一方面的电容测量和筛选系统，包括：
S201：在第一开口中放入基准电容，在第二开口中放入多个容值已知的第三电容，测量放入各个第三电容时的谐振环的谐振频率；
S202：建立电容容值与谐振频率之间的关联关系，构建电容容值与谐振频率之间的拟合曲线；
S203：在第二开口中放入待测电容，测量放入待测电容时的谐振环的谐振频率；
S204：根据放入待测电容时的谐振环的谐振频率，查询拟合曲线，测量出待测电容的容值。
本发明至少具有以下有益效果：
在本发明实施例中，通过在介质基板上设置第一微带线、第二微带线和谐振环，第一微带线和第二微带线对称设置于谐振环的两侧，第一微带线的第一端与谐振环之间存在间隙，以使第一微带线的第一端与谐振环之间电性耦合，第二微带线的第一端与谐振环之间存在间隙，以使第二微带线的第一端与谐振环之间电性耦合，在谐振环上相对设置有第一开口和第二开口。在第一开口安装有第一电容，第二开口安装有第二电容的情况下，测量仪器可获取谐振环的谐振频率，之后根据谐振环的谐振频率进行电容容值测量以及电容容值的筛选。本发明提供的技术方案测量时间短、测量流程简单、测量成本低、可以适用于各种类型的电容测量以及筛选，适用范围广。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种电容测量和筛选系统的俯视图；
图2是本发明实施例提供的一种电容测量和筛选系统的正视图；
图3是本发明实施例提供的一种Q值的计算示意图；
图4是本发明实施例提供的一种电容测量和筛选系统的结构示意图；
图5是本发明实施例提供的一种环形谐振器的等效电路图；
图6是本发明实施例提供的另一种环形谐振器的等效电路图；
图7是本发明实施例提供的一种电容容值筛选方法的流程示意图；
图8是本发明实施例提供的一种电容容值测量方法的流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例、参照附图做进一步说明。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
下面结合附图，通过具体的实施例及其应用场景对本发明实施例提供电容测量和筛选系统、电容容值筛选以及测量方法进行详细地说明。
实施例一
参照图1，示出了本发明实施例提供的一种电容测量和筛选系统的俯视图。
参照图2，示出了本发明实施例提供的一种电容测量和筛选系统的正视图。
本发明实施例提供的一种电容测量和筛选系统，包括：介质基板1、第一微带线2、第二微带线3、谐振环4和测量仪器。
第一微带线2、第二微带线3和谐振环4均设置于介质基板1上，第一微带线2和第二微带线3对称设置于谐振环4的两侧。
其中，介质基板11可以呈扁平状。
第一微带线2的第一端与谐振环4之间存在间隙，以使第一微带线2的第一端与谐振环4之间电性耦合，第二微带线3的第一端与谐振环4之间存在间隙，以使第二微带线3的第一端与谐振环4之间电性耦合。可以在第一微带线2和第二微带线3通电时使得谐振环4产生谐振，第一微带线2和第二微带线3同时作为信号传输线，用于传输测量信号。
其中，在一定的谐振频率下，谐振环4尺寸基于如下公式：
2πr＝nλg＝1,2,3,...
谐振环4的平均周长等于介质中波长入的整数倍。其中，r表示谐振环4的平均半径(等于外径加内径的一半)，n表示波数，λg表示波导波长。
进一步地，谐振环4的谐振频率可表示为：
其中，c是自由空间的光速，εreff是相对介电常数。
第一微带线2的第二端与测量仪器的第一端电性连接，第二微带线3的第二端与测量仪器的第二端电性连接。
参照图3，示出了本发明实施例提供的一种Q值的计算示意图。在本发明中，环形谐振器的性能指标是它的Q值，Q值是一个无量纲单位，表示一个元件或谐振回路的性能，反映了共振时的能量损失比例，Q值的计算方式为：
其中，f0是谐振频率，插入损耗参数的最高点即为f2－f1的值是3dB带宽。
其中，测量仪器可以是矢量网络分析仪。矢量网络分析仪是一种电磁波能量的测试设备。它既能测量单端口网络或两端口网络的各种参数幅值，又能测相位，矢量网络分析仪能用史密斯圆图显示测试数据。关于矢量网络分析仪的具体原理请参与相关现有技术，本发明不再赘述。
在谐振环4上相对设置有第一开口和第二开口，第一开口用于安装第一电容5，第二开口用于安装第二电容6。
其中，在第一开口安装有第一电容5，第二开口安装有第二电容6的情况下，测量仪器可获取谐振环4的谐振频率。由于在第一开口和第二开口安装不同的电容对于谐振环4的谐振频率的影响大，因此，可以更加灵敏地测量被测电容的容值的变化。而通过设置开口的方式，可以便于被测电容的安装，测量过程方便便捷。
关于本发明提供的贴片电容容值筛选装置在筛选贴片电容容值时的具体步骤以及原理请参考实施例二，在检测贴片电容容值时的具体步骤以及原理请参考实施例三，为避免重复，本发明不做赘述。
本发明至少具有以下有益效果：
在本发明实施例中，通过在介质基板1上设置第一微带线2、第二微带线3和谐振环4，第一微带线2和第二微带线3对称设置于谐振环4的两侧，第一微带线2的第一端与谐振环4之间存在间隙，以使第一微带线2的第一端与谐振环4之间电性耦合，第二微带线3的第一端与谐振环4之间存在间隙，以使第二微带线3的第一端与谐振环4之间电性耦合，在谐振环4上相对设置有第一开口和第二开口。在第一开口安装有第一电容5，第二开口安装有第二电容6的情况下，测量仪器可获取谐振环4的谐振频率，之后根据谐振环4的谐振频率进行电容容值测量以及电容容值的筛选。本发明提供的技术方案测量时间短、测量流程简单、测量成本低、可以适用于各种类型的电容测量以及筛选，适用范围广。
参照图4，示出了本发明实施例提供的一种电容测量和筛选系统的结构示意图。
在一种可能的实施方式中，测量仪器包括：信号源61、功分器62、第一单刀双掷开关K1、第二单刀双掷开关K2、接收器63、处理器64和结果输出模块65；信号源61连接功分器62的输入端，功分器62的第一输出端与接收器63的第一输入端连接，功分器62的第二输出端与第一单刀双掷开关K1的固定端连接，第一单刀双掷开关K1的第一掷位端与第一微带线2的第二端连接，第一单刀双掷开关K1的第二掷位端与第二微带线3的第二端连接，第二单刀双掷开关K2的第一掷位端与第一微带线2的第二端连接，第二单刀双掷开关K2的第二掷位端与第二微带线3的第二端连接，第二单刀双掷开关K2的固定端与接收器63的第二输入端连接，接收器63的输出端通过处理器64与结果输出模块65连接。
在测量的过程中，谐振环4以及成对的被测电容可以视为二端口网络。在二端口网络中，通过控制第一单刀双掷开关K1和第二单刀双掷开关K2通断，测量不同的插入损耗参数。
参照图5，示出了本发明实施例提供的一种环形谐振器的等效电路图。在二端口网络中，并联电路由间隙电容和环形谐振器组成，L3为环的物理长度，Cg为间隙电容和为环两端由传输线引入的电容，C1和C2分别表示测试电容。
参照图6，示出了本发明实施例提供的另一种环形谐振器的等效电路图。在无电容时，环形谐振器的Q值可以从其等效G、L、C并联电路得出，其中G为环形谐振器的等效电导，L为环形谐振器的等效电感，C为环形谐振器的等效电容：
Go＝αλg/2Zo Co＝π/2Zoωo
其中，α为衰减常数，ω0为谐振角频率，Z0为环形谐振器的特性阻抗。
进一步地，根据测量环形谐振器安装电容的Q值和环在谐振频率处的插入损耗(S21)，可以确定未安装电容的谐振环4的Q值：
在实际应用过程中，谐振环4以及成对的被测电容组成的被测器件通过接口连接至测量系统中，使用信号源61对被测网络发射所需信号(扫描的频率范围为0.1GHz-1.5GHz，扫频间隔为1MHz)，并由一个接收机来接收通过该网络的信号的回波信号，回波信号具体可以是插入损耗，进而获得加载不同电容的被测器件的谐振频率。之后，根据谐振环4的谐振频率进行电容容值测量以及电容容值的筛选。关于本发明提供的贴片电容容值筛选装置在筛选贴片电容容值时的具体步骤以及原理请参考实施例二，在检测贴片电容容值时的具体步骤以及原理请参考实施例三，为避免重复，本发明不做赘述。
在一种可能的实施方式中，在第一单刀双掷开关K1的固定端与第二掷位端导通且第二单刀双掷开关K2的固定端与第一掷位端导通的情况下，测量仪器可测量谐振环4的谐振频率，
或者，在第一单刀双掷开关K1的固定端与第一掷位端导通且第二单刀双掷开关K2的固定端与第二掷位端导通的情况下，测量仪器可测量谐振环4的谐振频率。
在一种可能的实施方式中，第一微带线2和第二微带线3沿同一方向延伸，第一微带线2和第二微带线3之间的连线经过谐振环4的圆心，且第一微带线2和第二微带线3之间的连线垂直于第一开口和第二开口之间的连线。
在一种可能的实施方式中，第一微带线2的第二端设置有第一接口71，测量仪器的第一端设置有第一探针72，第一接口71与第一探针72相配合，第一微带线2的第二端通过第一接口71与第一探针72的配合实现与测量仪器的第一端的电性连接；
第二微带线3的第二端设置有第二接口81，测量仪器的第二端设置有第二探针82，第二接口81与第二探针82相配合，第二微带线3的第二端通过第二接口81与第二探针82的配合实现与测量仪器的第一端的电性连接。
采用接口以及探针的配合对第一微带线2和第二微带线3进行馈电，连接方便并且成本低。
在一种可能的实施方式中，第一接口71为第一金属圆柱体，第一金属圆柱体上设置有可供第一探针72插入的开孔，第二接口81为第二金属圆柱体，第二金属圆柱体上设置有可供第二探针82插入的开孔。
在一种可能的实施方式中，第一探针的中心部分设置有第一导电体，第一探针的外围部分设置有第一绝缘介质，第一导电体至少部分从第一绝缘介质中外露，第二探针的中心部分设置有第二导电体，第二探针的外围部分设置有第二绝缘介质，第二导电体至少部分从第二绝缘介质中外露。
在一种可能的实施方式中，介质基板1有介电材料制成，第一微带线2、第二微带线3和谐振环4的材质包括铜，可选地，第一微带线2、第二微带线3和谐振环4的材质还可以为银，谐振环4的半径为30mm，谐振环4的厚度为1mm，第一微带线2的第一端与谐振环4之间的间隙为0.2mm，需要说明的是，第一微带线2的第一端与谐振环4之间的间隙应足够大以避免环上的柔和效应影响谐振频率，第二微带线3的第一端与谐振环4之间的间隙为0.2mm，介质基板1的厚度为160mm，介质基板1为FR4，相对介电常数为4.4，介质损耗为0.002。
进一步地，介质基板1为PCB板。
实施例二
参照图7，示出了本发明实施例提供的一种电容容值筛选方法的流程示意图。
本发明实施例提供了一种电容容值筛选方法，应用于实施例1的电容测量和筛选系统，包括：
S101：在第一间隙和第二间隙分别放入第一电容和第二电容，通过测量仪器测量谐振环的谐振频率，并将本次测试的谐振环的谐振频率作为基准值。
其中，第一电容和第二电容的容值已知；
其中，谐振频率与Q值之间存在换算关系，也可以将Q值作为筛选依据。
S102：保留第一电容，以其他待筛选的电容依次放入第二开口中，通过测量仪器测量谐振环的谐振频率，筛选出第一预设数量的与基准值相近的电容，完成第一轮筛选。
其中，第一预设数量可以理解为初步筛选的数量，本领域技术人员可以根据实际情况选择第一预设数量的具体数值。
S103：从筛选出的与基准值相近的电容中随机挑选出一个电容放入到第一开口以替换掉第一电容，将剩余的电容依次放入第二开口，通过测量仪器测量谐振环的谐振频率，筛选出第二预设数量的谐振频率相近的电容。
其中，第二预设数量可以理解为进一步筛选的数量，本领域技术人员可以根据实际情况选择第二预设数量的具体数值。
S104：重复S103，直至筛选出第三预设数量的谐振频率相近的电容。
其中，第三预设数量可以理解为最终筛选的数量，本领域技术人员可以根据实际情况选择第三预设数量的具体数值。一般来说，第一预设数量是第三筛选数量的2至3倍。例如，第一预设数量为8个，第三预设数量为2个。
本发明至少具有以下有益效果：
在本发明实施例中，通过在介质基板上设置第一微带线、第二微带线和谐振环，第一微带线和第二微带线对称设置于谐振环的两侧，第一微带线的第一端与谐振环之间存在间隙，以使第一微带线的第一端与谐振环之间电性耦合，第二微带线的第一端与谐振环之间存在间隙，以使第二微带线的第一端与谐振环之间电性耦合，在谐振环上相对设置有第一开口和第二开口。在第一开口安装有第一电容，第二开口安装有第二电容的情况下，测量仪器可获取谐振环的谐振频率，之后根据谐振环的谐振频率进行电容容值测量以及电容容值的筛选。本发明提供的技术方案测量时间短、测量流程简单、测量成本低、可以适用于各种类型的电容测量以及筛选，适用范围广。
实施例3
参照图8，示出了本发明实施例提供的一种电容容值测量方法的流程示意图。
本发明实施例提供了一种电容容值测量方法，应用于实施例1的电容测量和筛选系统，包括：
参照图5，示出了本发明实施例提供的一种电容的等效电路图。
S201：在第一开口中放入基准电容，在第二开口中放入多个容值已知的第三电容，测量放入各个第三电容时的谐振环的谐振频率；
S202：建立电容容值与谐振频率之间的关联关系，构建电容容值与谐振频率之间的拟合曲线；
S203：在第二开口中放入待测电容，测量放入待测电容时的谐振环的谐振频率；
S204：根据放入待测电容时的谐振环的谐振频率，查询拟合曲线，测量出待测电容的容值。
本发明至少具有以下有益效果：
在本发明实施例中，通过在介质基板上设置第一微带线、第二微带线和谐振环，第一微带线和第二微带线对称设置于谐振环的两侧，第一微带线的第一端与谐振环之间存在间隙，以使第一微带线的第一端与谐振环之间电性耦合，第二微带线的第一端与谐振环之间存在间隙，以使第二微带线的第一端与谐振环之间电性耦合，在谐振环上相对设置有第一开口和第二开口。在第一开口安装有第一电容，第二开口安装有第二电容的情况下，测量仪器可获取谐振环的谐振频率，之后根据谐振环的谐振频率进行电容容值测量以及电容容值的筛选。本发明提供的技术方案测量时间短、测量流程简单、测量成本低、可以适用于各种类型的电容测量以及筛选，适用范围广。
以上仅为本发明的实施例而已，并不用于限制本发明。对于本领域技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的权利要求范围之内。
Claims (10)
1.一种电容测量和筛选系统，其特征在于，包括：介质基板、第一微带线、第二微带线、谐振环和测量仪器。
所述第一微带线、所述第二微带线和所述谐振环均设置于所述介质基板上，所述第一微带线和所述第二微带线对称设置于所述谐振环的两侧；
所述第一微带线的第一端与所述谐振环之间存在间隙，以使所述第一微带线的第一端与所述谐振环之间电性耦合，所述第二微带线的第一端与所述谐振环之间存在间隙，以使所述第二微带线的第一端与所述谐振环之间电性耦合；
所述第一微带线的第二端与所述测量仪器的第一端电性连接，所述第二微带线的第二端与所述测量仪器的第二端电性连接；
在所述谐振环上相对设置有第一开口和第二开口，所述第一开口用于安装第一电容，所述第二开口用于安装第二电容；
其中，在所述第一开口安装有所述第一电容，所述第二开口安装有所述第二电容的情况下，所述测量仪器可获取所述谐振环的谐振频率。
2.根据权利要求1所述的电容测量和筛选系统，其特征在于，所述测量仪器包括：信号源、功分器、第一单刀双掷开关、第二单刀双掷开关、接收器、处理器和结果输出模块；
所述信号源连接所述功分器的输入端，所述功分器的第一输出端与所述接收器的第一输入端连接，所述功分器的第二输出端与所述第一单刀双掷开关的固定端连接，所述第一单刀双掷开关的第一掷位端与所述第一微带线的第二端连接，所述第一单刀双掷开关的第二掷位端与所述第二微带线的第二端连接，所述第二单刀双掷开关的第一掷位端与所述第一微带线的第二端连接，所述第二单刀双掷开关的第二掷位端与所述第二微带线的第二端连接，所述第二单刀双掷开关的固定端与所述接收器的第二输入端连接，所述接收器的输出端通过所述处理器与所述结果输出模块连接。
3.根据权利要求2所述的电容测量和筛选系统，其特征在于，在所述第一单刀双掷开关的固定端与第二掷位端导通且所述第二单刀双掷开关的固定端与第一掷位端导通的情况下，所述测量仪器可测量所述谐振环的谐振频率；
或者，在所述第一单刀双掷开关的固定端与第一掷位端导通且所述第二单刀双掷开关的固定端与第二掷位端导通的情况下，所述测量仪器可测量所述谐振环的谐振频率。
4.根据权利要求1所述的电容测量和筛选系统，其特征在于，所述第一微带线和所述第二微带线沿同一方向延伸，所述第一微带线和所述第二微带线之间的连线经过所述谐振环的圆心，且所述第一微带线和所述第二微带线之间的连线垂直于所述第一开口和所述第二开口之间的连线。
5.根据权利要求1所述的电容测量和筛选系统，其特征在于，所述第一微带线的第二端设置有第一接口，所述测量仪器的第一端设置有第一探针，所述第一接口与所述第一探针相配合，所述第一微带线的第二端通过所述第一接口与所述第一探针的配合实现与所述测量仪器的第一端的电性连接；
所述第二微带线的第二端设置有第二接口，所述测量仪器的第二端设置有第二探针，所述第二接口与所述第二探针相配合，所述第二微带线的第二端通过所述第二接口与所述第二探针的配合实现与所述测量仪器的第一端的电性连接。
6.根据权利要求5所述的电容测量和筛选系统，其特征在于，所述第一接口为第一金属圆柱体，所述第一金属圆柱体上设置有可供所述第一探针插入的开孔，所述第二接口为第二金属圆柱体，所述第二金属圆柱体上设置有可供所述第二探针插入的开孔。
7.根据权利要求5所述的电容测量和筛选系统，其特征在于，所述第一探针的中心部分设置有第一导电体，所述第一探针的外围部分设置有第一绝缘介质，所述第一导电体至少部分从所述第一绝缘介质中外露，所述第二探针的中心部分设置有第二导电体，所述第二探针的外围部分设置有第二绝缘介质，所述第二导电体至少部分从所述第二绝缘介质中外露。
8.根据权利要求1所述的电容测量和筛选系统，其特征在于，所述介质基板有介电材料制成，所述第一微带线、所述第二微带线和所述谐振环的材质包括铜，所述谐振环的半径为30mm，所述谐振环的厚度为1mm，所述第一微带线的第一端与所述谐振环之间的间隙为0.2mm，所述第二微带线的第一端与所述谐振环之间的间隙为0.2mm，所述介质基板的厚度为160mm。
9.一种电容容值筛选方法，应用于权利要求1至8所述的电容测量和筛选系统，其特征在于，包括：
S101：在所述第一开口和所述第二开口分别放入第一电容和第二电容，通过测量仪器测量所述谐振环的谐振频率，并将本次测试的所述谐振环的谐振频率作为基准值；其中，所述第一电容和所述第二电容的容值已知；
S102：保留所述第一电容，以其他待筛选的电容依次放入所述第二开口中，通过测量仪器测量所述谐振环的谐振频率，筛选出第一预设数量的与所述基准值相近的电容，完成第一轮筛选；
S103：从筛选出的与所述基准值相近的电容中随机挑选出一个电容放入到所述第一开口以替换掉所述第一电容，将剩余的电容依次放入所述第二开口，通过测量仪器测量所述谐振环的谐振频率，筛选出第二预设数量的谐振频率相近的电容；
S104：重复所述S103，直至筛选出第三预设数量的谐振频率相近的电容。
10.一种电容容值测量方法，应用于权利要求1至8所述的电容测量和筛选系统，其特征在于，包括：
S201：在所述第一开口中放入基准电容，在所述第二开口中放入多个容值已知的第三电容，测量放入各个所述第三电容时的所述谐振环的谐振频率；
S202：建立电容容值与谐振频率之间的关联关系，构建电容容值与谐振频率之间的拟合曲线；
S203：在所述第二开口中放入待测电容，测量放入所述待测电容时的所述谐振环的谐振频率；
S204：根据放入所述待测电容时的所述谐振环的谐振频率，查询所述拟合曲线，测量出所述待测电容的容值。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202310630682.3A CN116908534A (zh) | 2023-05-30 | 2023-05-30 | 一种电容测量和筛选系统、电容容值筛选以及测量方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310630682.3A CN116908534A (zh) | 2023-05-30 | 2023-05-30 | 一种电容测量和筛选系统、电容容值筛选以及测量方法 |
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| CN116908534A true CN116908534A (zh) | 2023-10-20 |
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Family Applications (1)
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2023
- 2023-05-30 CN CN202310630682.3A patent/CN116908534A/zh active Pending
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