CN116833123A - 杂质挑拣装置及杂质挑拣机台 - Google Patents

Abstract

本公开提供了杂质挑拣装置及杂质挑拣机台，涉及计算机视觉和物料杂质处理技术领域。具体实现方案为：杂质挑拣装置包括基座和至少两个挑拣机构，至少两个挑拣机构可活动地设置于基座，至少两个挑拣机构用于挑拣不同尺寸的杂质；挑拣机构包括本体、挑拣部和固定部，挑拣部设置于本体的第一端，固定部设置于挑拣部的外部且通过第一弹性件与第一端连接，固定部设置有压板，压板设置挑拣口，挑拣口的位置与挑拣部的位置对应，压板用于固定杂质，挑拣口用于显露杂质以供挑拣部挑拣。根据本公开的技术方案，通过设置至少两个挑拣机构，可以实现在一次杂质挑拣过程中对不同尺寸的杂质进行连续挑拣，提高了杂质的挑拣效率、连续挑拣杂质的速度和挑拣精度。

Description

杂质挑拣装置及杂质挑拣机台

技术领域

本公开涉及计算机视觉和物料杂质处理技术领域，尤其涉及杂质挑拣装置及杂质挑拣机台。

背景技术

为了保证物料的品质，需要对物料中所掺杂的杂质进行挑拣。相关技术中的杂质挑拣技术，无法很好的满足杂质挑拣效率的需求以及杂质拣出率的需求。

发明内容

本公开提供了一种杂质挑拣装置及杂质挑拣机台。

根据本公开的一方面，提供了一种杂质挑拣装置，包括：

基座；

至少两个挑拣机构，可活动地设置于基座，至少两个挑拣机构用于挑拣不同尺寸的杂质；至少两个挑拣机构均包括本体、挑拣部和固定部，挑拣部设置于本体的第一端，固定部设置于挑拣部的外部且通过第一弹性件与第一端连接，固定部远离第一端的一侧设置有压板，压板设置有挑拣口，挑拣口的位置与挑拣部的位置对应，压板用于固定杂质，挑拣口用于显露杂质以供挑拣部挑拣。

根据本公开的另一方面，提供了一种杂质挑拣机台，包括：

机台本体；

载盘，可拆卸地设置于机台本体的台面，用于承载含有杂质的物料；

滑动机构，设置于机台本体；

本公开任一实施例的杂质挑拣装置，与滑动机构连接，滑动机构用于驱动杂质挑拣装置相对载盘移动，以使杂质挑拣装置对载盘上的杂质进行挑拣。

根据本公开的技术方案，通过设置至少两个挑拣机构，可以实现在一次杂质挑拣过程中对不同尺寸的杂质进行连续挑拣，提高了杂质的挑拣效率、连续挑拣杂质的速度和挑拣精度。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

附图用于更好地理解本方案，不构成对本公开的限定。其中：

图1是根据本公开实施例的杂质挑拣装置的结构示意图；

图2是根据本公开实施例的杂质挑拣装置的挑拣部和固定部的装配结构示意图；

图3是根据本公开实施例的杂质挑拣装置的侧视结构示意图；

图4是根据本公开实施例的杂质挑拣机台的结构示意图；

图5是根据本公开实施例的杂质挑拣机台的台面的结构示意图；

图6是根据本公开实施例的杂质挑拣机台的载盘与台面的爆炸结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本公开的示范性实施例做出说明，其中包括本公开实施例的各种细节以助于理解，应当将它们认为仅仅是示范性的。因此，本领域普通技术人员应当认识到，可以对这里描述的实施例做出各种改变和修改，而不会背离本公开的范围。同样，为了清楚和简明，以下的描述中省略了对公知功能和结构的描述。

如图1至图3所示，本公开实施例提供了一种杂质挑拣装置100，包括：基座1和至少两个挑拣机构2。

基座1用于固定至少两个挑拣机构2。在杂质挑拣装置100需要与其他设备配合使用时，基座1还用于将至少两个挑拣机构2安装于相应的配套设备上。

至少两个挑拣机构2可活动地设置于基座1。至少两个挑拣机构2中的每个挑拣机构2用于挑拣不同尺寸的杂质。至少两个挑拣机构2中的每个挑拣机构2均包括本体21、挑拣部22和固定部23。挑拣部22设置于本体21的第一端，第一端为在杂质挑拣装置100工作时靠近杂质的一端。固定部23设置于挑拣部22的外部且通过第一弹性件3与第一端连接，第一弹性件3可以使得固定部23适应不同物料的硬度，同时起到一定的缓冲作用，防止固定部23将物料破坏。固定部23远离第一端的一侧设置有压板231，压板231用于固定待挑拣物料区域中的杂质，防止杂质受到固定部23或挑拣部22的力后产生位移，进而导致挑拣部22无法准确挑拣到杂质。压板231设置有挑拣口232，挑拣口232的位置与挑拣部22的位置对应，挑拣口232用于显露待挑拣的杂质，以供挑拣部22经由挑拣口232将挑拣口232所显露的杂质从物料中挑拣出。

根据本公开实施例，需要说明的是：

如图1至3所示，定义各附图中所示结构的上部为上方位，定义各附图中所示结构的下部为下方位，定义各附图中所示结构的左侧部为左方位，定义各附图中所示结构的右侧为右方位，定义各附图中所示结构的上部与下部之间为竖直方向，定义各附图中所示结构的左侧与右侧之间为水平方向。

杂质，可以理解为是茶叶、燕窝、中药材、烟叶或粮食等物料中的杂质，在此不做具体限定。

基座1的具体结构、形状、尺寸和材质等，可以根据需要进行选择和调整，在此不做具体限定。

挑拣机构2的数量可以根据需要进行选择和调整，在此不做具体限定。主要取决于挑拣模式和挑拣杂质的尺寸需求。例如，当杂质被分类为大、中、小三个尺寸级别时，则挑拣机构2可以为三个。当杂质被分类为大、小两个尺寸级别时，则挑拣机构2可以为两个。又如，当挑拣模式确定为抽吸杂质模式和夹取杂质模式时，则至少要包含有可以实现抽吸功能的挑拣机构2和可以实现夹取功能的挑拣机构2。

挑拣机构2可活动地设置于基座1，可以理解为挑拣机构2可以相对于基座1进行运动。例如，相对基座1进行滑动、转动或摆动。各个挑拣机构2可以分别相对基座1活动，也可以联动。例如，多个挑拣机构2可以一同进行杂质挑拣作业。又如，一个挑拣机构2进行杂质挑拣作业，其余杂质挑拣机构2不进行杂质挑拣作业。

挑拣机构2的挑拣部22的具体结构，可以根据所需挑拣模式进行选择。例如，挑拣部22可以采用吸嘴结构，通过真空压力抽吸的方式将杂质与物料挑拣分离。又如，挑拣部22可以采用机械爪结构，通过抓取的方式将杂质与物料挑拣分离。

挑拣机构2的固定部23的结构、材质、形状和尺寸等，可以根据需要进行选择和调整，在此不做具体限定。能够实现在挑拣杂质时压住杂质，防止杂质位移即可。固定部23的压板231的尺寸和挑拣口232的口径大小，可以根据杂质的尺寸进行选择和调整。当杂质尺寸较大时，压板231的尺寸和挑拣口232的口径均可以相应增大，以保证杂质被顺利挑拣出。当杂质尺寸较小时，压板231的尺寸和挑拣口232的口径均可以相应减小，以保证杂质被顺利挑拣出。

第一弹性件3，可以采用现有技术中的任何具有形变能力的部件，在此不做具体限定。例如，第一弹性件3可以采用弹簧、弹性垫片、弹性卡簧等。

根据本公开实施例，通过设置至少两个挑拣机构2，可以实现在一次杂质挑拣过程中对不同尺寸的杂质进行连续挑拣，减少了杂质挑拣的机器停顿时间，提高了杂质的挑拣效率、连续挑拣杂质的速度和挑拣精度。特别是对于杂质密度较高的物料，本公开实施例设置至少两个挑拣机构2的方式可以显著提高杂质的挑拣效率。通过设置固定部23，可以实现对待挑拣的杂质进行固定，防止在挑拣部22挑拣杂质时，杂质产生位移，而无法精确的挑拣到杂质。通过为固定部23设置第一弹性件3，可以使得固定部23适应不同物料的硬度，同时起到一定的缓冲作用，防止固定部23将物料破坏。

在一个示例中，第一弹性件3的弹性系数可以为5-10N(牛顿)。

在一种实施方式中，挑拣部22通过顶升机构与第一端连接，顶升机构用于驱动挑拣部22在第一方向与第二方向之间进行往复运动，其中，第一方向与第二方向相反。在需要进行杂质挑拣时，可以通过顶升机构驱动挑拣部22沿第一方向朝向固定部23的挑拣口232移动，以使挑拣部22从挑拣口232中挑拣杂质。在不需要进行杂质挑拣时，可以通过顶升机构驱动挑拣部22沿第二方向朝向第一端移动，以使挑拣部22远离挑拣口232。

根据本公开实施例，需要说明的是：

第一方向，如图1所示，可以理解为挑拣部22竖直向下移动的方向。

第二方向，如图1所示，可以理解为挑拣部22竖直向上移动的方向。

顶升机构，可以采用现有技术中能够驱动所连接部件(挑拣部22)进行往复运动的任何机构，在此不做具体限定。例如，顶升机构可以采用液压杆、气压杆、齿轮齿条等机构。

为保证能干净利落的挑拣杂质，在控制挑拣部22沿第一方向朝向挑拣口232移动时，可以使固定部23的压板231与挑拣部22保持一定的间隔(2mm-4mm的高度差)，使得杂质能够顺利经由挑拣口232进入固定部23，并顺利被运送至杂质回收装置。

根据本公开实施例，通过设置顶升机构可以精准控制挑拣部22的位置，通过改变挑拣部22的位置，可以满足不同挑拣模式和不同类型杂质的挑拣需求。例如，当挑拣模式为抽吸杂质时，可以通过顶升机构控制挑拣部22相对远离挑拣口232，避免吸力过大将物料和杂质一同挑拣出。当挑拣模式为抓取杂质时，可以通过顶升机构控制挑拣部22伸出挑拣口232，进而精准度触碰并抓取杂质。

在一种实施方式中，顶升机构与挑拣部22之间设置有第二弹性件4。第二弹性件4可以使得挑拣部22适应不同物料的硬度，同时起到一定的缓冲作用，防止挑拣部22突然经由挑拣口232伸出将包含有杂质的物料破坏。例如，当物料为燕窝时，由于燕窝的质地柔软且易碎，当挑拣部22移动过快时，接触到燕窝时的压力很可能会将燕窝弄碎或弄断，导致燕窝品质降低。

根据本公开实施例，需要说明的是：

第二弹性件4，可以采用现有技术中的任何具有形变能力的部件，在此不做具体限定。例如，第二弹性件4可以采用弹簧、弹性垫片、弹性卡簧等。

根据本公开实施例，通过设置第二弹性件4，可以对挑拣部22起到缓冲作用，以及使得挑拣部22在挑拣时可以适应不同硬度质地的物料，防止挑拣部22损坏物料的完整性，以及保证挑拣部22顺利将杂质从物料中挑拣出，不会因为挑拣部22与杂质的接触压力过大，而导致杂质无法被顺利的从物料中挑拣分离。同时，设置第二弹性件4，还可以避免放置物料的载盘7不平整时，对挑拣部22造成磕碰损害。

在一种实施方式中，固定部23可以可拆卸地与挑拣机构2的本体21第一端连接。

根据本公开实施例，由于固定部23与挑拣机构2的本体21的第一端可拆卸地连接，因此当杂质堵塞在固定部23的挑拣口232中或堵塞在固定部23内部时，能够实现及时更换固定部23，保证杂质挑拣工作可以继续顺利进行，不会因为清理固定部23中的杂质而影响杂质的挑拣效率。以及，由于固定部23与挑拣机构2的本体21的第一端可拆卸地连接，因此可以实现根据不同杂质尺寸和杂质类别，更换相应的固定部23，以满足杂质的挑拣需求。

在一种实施方式中，挑拣部22可以可拆卸地与挑拣机构2的本体21的第一端连接。

根据本公开实施例，由于挑拣部22与挑拣机构2的本体21的第一端可拆卸地连接，因此当杂质堵塞于挑拣部22时，能够实现及时更换挑拣部22，保证杂质挑拣工作可以继续顺利进行，不会因为清理挑拣部22中的杂质而影响杂质的挑拣效率。以及，由于挑拣部22与挑拣机构2的本体21的第一端可拆卸地连接，因此可以实现根据不同杂质尺寸和杂质类别，更换相应的挑拣部22，以满足杂质的挑拣需求。

在一种实施方式中，至少两个挑拣机构2中的第一挑拣机构2的挑拣部22为吸嘴结构。第一挑拣机构2的本体21中设置有真空管，真空管连通第一挑拣机构2的本体21的第一端和第二端，第一挑拣机构2的本体21的第二端通过管路与真空泵连接，真空泵用于通过管路和真空管驱动吸嘴结构抽吸杂质，以使杂质依次经过吸嘴结构、真空管和管路后被抽出至杂质回收装置中。

根据本公开实施例，需要说明的是：

至少两个挑拣机构2中的任一个挑拣机构2，都可以认为是第一挑拣机构2。至少两个挑拣机构2中的部分或全部的挑拣机构2，也可以均被认为是第一挑拣机构2。例如，当挑拣机构2数量为两个时，两个挑拣机构2可以均是第一挑拣机构2，也即是说每个挑拣机构2的挑拣部22均为吸嘴结构。又如，当挑拣机构2数量为两个时，其中的一个挑拣机构2是第一挑拣机构2，也即是说两个挑拣机构2中有一个挑拣机构2的挑拣部22为吸嘴结构。

真空泵，可以采用现有技术中的任何泵结构，在此不做具体限定。能够实现为吸嘴结构提供抽吸力即可。

根据本公开实施例，采用吸嘴结构的挑拣部22，可以实现快速将杂质抽吸挑拣出，不仅挑拣速度快且挑拣精度高。在固定部23的压板231配合下，可以精准的将被压板231固定的杂质从物料中挑拣出。

在一种实施方式中，如图2所示，第一挑拣机构2的固定部23的侧壁设置有至少一个泄压口233，泄压口233用于将固定部23的内部空间与固定部23的外部空间连通。

根据本公开实施例，需要说明的是：

泄压口233的形状、数量和在固定部23上的设置位置，均可以根据需要进行选择和调整，在此不做具体限定。

根据本公开实施例，在杂质阻塞固定部23的挑拣口232时，泄压口233可以实现对固定部23内部空间的泄压，从而有效防止吸嘴结构的挑拣部22在杂质阻塞挑拣口232的情况下继续抽真空，使得固定部23因压力过大而开裂损坏。

在一种实施方式中，至少两个挑拣机构2中的第二挑拣机构2的挑拣部22为机械爪结构。机械爪结构在控制器的控制下可以实现机械爪的开合，从而实现抓取杂质的功能。

根据本公开实施例，需要说明的是：

至少两个挑拣机构2中的任一个挑拣机构2，都可以认为是第二挑拣机构2。至少两个挑拣机构2中的部分或全部的挑拣机构2，也可以均被认为是第二挑拣机构2。例如，当挑拣机构2数量为两个时，两个挑拣机构2可以均是第二挑拣机构2，也即是说每个挑拣机构2的挑拣部22均为机械爪结构。又如，当挑拣机构2数量为两个时，其中的一个挑拣机构2是第二挑拣机构2，也即是说两个挑拣机构2中有一个挑拣机构2的挑拣部22为机械爪结构。

根据本公开实施例，采用机械爪结构的挑拣部22，可以实现快速将杂质挑拣出，不仅挑拣速度快且挑拣精度高。在固定部23的压板231配合下，可以精准的将被压板231固定的杂质从物料中挑拣出。

在一个示例中，至少两个挑拣机构2均为第一挑拣机构2，且各第一挑拣机构2的吸嘴结构的挑拣部22的口径不同，以满足不同尺寸类型杂质的挑拣。

在一个示例中，至少两个挑拣机构2均为第二挑拣机构2，且各第二挑拣机构2的机械爪结构的挑拣部22的爪数和机械爪的开合大小不同，以满足不同尺寸类型杂质的挑拣。

在一个示例中，至少两个挑拣机构2包括第一挑拣机构2和第二挑拣机构2，以满足不同尺寸杂质的挑拣。

在一种实施方式中，如图1和图3所示，杂质挑拣装置100还包括传动机构5。传动机构5可活动地设置于基座1且与至少两个挑拣机构2连接，用于带动至少两个挑拣机构2相对基座1进行联动，以使至少两个挑拣机构2中的其中一个挑拣机构2沿第一方向移动进行杂质挑拣的同时，其余的挑拣机构2沿第二方向移动，其中，第一方向与第二方向相反。

根据本公开实施例，需要说明的是：

第一方向，如图1所示，可以理解为挑拣部22竖直向下移动的方向。

第二方向，如图1所示，可以理解为挑拣部22竖直向上移动的方向。

传动机构5用于带动至少两个挑拣机构2相对基座1进行联动，可以理解为任一个挑拣机构2在传动机构5的驱动下进行移动时，其余的挑拣机构2也会随之进行移动，但各挑拣机构2的移动方向可能有所不同。

传动机构5，可以采用现有技术中的任何机械传动结构，能够实现各个挑拣机构2的联动即可，在此不做具体限定。

根据本公开实施例，通过传动机构5与各个挑拣机构2连接，可以实现使各个挑拣机构2同时联动，保证在进行挑拣杂质动作的挑拣机构2沿第一方向朝向杂质移动的同时，其余不进行挑拣杂质动作的挑拣机构2会沿第二方向朝向远离杂质的位置移动，以避免不进行挑拣杂质动作的挑拣机构2对进行挑拣杂质动作的挑拣机构2产生干涉。

在一种实施方式中，如图1和图3所示，传动机构5包括转动件51和至少两个连接件52。转动件51与基座1可转动地连接，转动件51可以与驱动件53连接，驱动件53驱动转动件51相对基座1进行顺时针或逆时针的旋转。

至少两个连接件52的一端与转动件51可转动地连接，至少两个连接件52的另一端一一对应的与至少两个挑拣机构2可转动地连接。其中，至少两个连接件52的数量与至少两个挑拣机构2的数量一致。

根据本公开实施例，需要说明的是：

转动件51的结构、形状、尺寸和材质等，均可以根据需要进行选择和调整，在此不做具体限定。能够实现相对基座1进行转动，且同时可以与多个连接件52转动连接即可。

连接件52的结构、形状、尺寸和材质等，均可以根据需要进行选择和调整，在此不做具体限定。能够实现连接件52的一端可相对转动件51进行转动，另一端可相对挑拣机构2进行转动即可。例如，连接件52可以采用连杆结构。

至少两个连接件52的另一端一一对应的与至少两个挑拣机构2可转动地连接，可以理解为每个连接件52的另一端均与一个挑拣机构2可转动地连接。

驱动件53可以采用电机、减速器、传动齿轮机构或传送带机构等，能够实现驱动转动件51进行顺时针或逆时针的旋转即可。

根据本公开实施例，在转动件51和连接件52的配合作用下，可以实现使各个挑拣机构2同时进行不同方向的联动。保证在进行挑拣杂质动作的挑拣机构2沿第一方向朝向杂质移动的同时，其余不进行挑拣杂质动作的挑拣机构2会沿第二方向朝向远离杂质的位置移动，以避免不进行挑拣杂质动作的挑拣机构2对进行挑拣杂质动作的挑拣机构2产生干涉。

在一种实施方式中，至少两个挑拣机构2可滑动地设置于基座1的滑道11中。滑道11用于对挑拣机构2进行导向，使挑拣机构2能沿竖直方向朝向第一方向和第二方向移动。

根据本公开实施例，需要说明的是：

滑道11的结构，可以根据需要进行选择和调整。例如，滑道11可以是间隔设置于基座1上的凹入基座1的多个滑槽。又如，滑道11可以是间隔设置于基座1上的凸出基座1的多个滑轨。

挑拣机构2可滑动地设置于基座1的滑道11，可以理解为挑拣机构2的本体21上设置有与滑道11配合的滑动件，以使挑拣机构2可以在滑道11上顺畅的滑动。

根据本公开实施例，通过在基座1上设置滑道11，可以对传动机构5所驱动的挑拣机构2起到导向作用，使得挑拣机构2能够精准的移动到与固定部23的挑拣口232对应的位置，进而实现杂质的挑拣。

在一个示例中，如图1所示，杂质挑拣机构2为两个，转动件51可转动地设置于基座1，两个连接件52的第一端均与转动件51可转动地连接，且分别连接于转动件51的两端，两个连接件52的第二端分别与一个杂质挑拣机构2连接，两个杂质挑拣机构2分别与基座1上的一个滑道11可滑动地连接。在转动件51顺时针转动时，其中一个连接件52带动其所连接的杂质挑拣机构2沿滑道11向第一方向移动，同时另一个连接件52带动其所述连接的杂质挑拣机构2沿滑道11向第二方向移动，进而实现一个挑拣机构2进行杂质挑拣，而另一杂质挑拣机构2待机不作业。

在一种实施方式中，杂质挑拣装置100还包括第一图像采集装置，设置于基座1，用于对杂质进行图像采集。第一图像采集装置可以在挑拣机构2挑拣杂质的过程中，对所挑拣杂质的周围区域进行实时的图像采集，以便更好的观察挑拣机构2是否准确的进行杂质挑拣，以及杂质是否挑拣干净。第一图像采集装置还可以在挑拣机构2挑拣杂质之前使用，预先对所需挑拣的物料进行图像采集，进而从中识别出需要挑拣的杂质，以使挑拣机构2能够对所识别出的杂质进行挑拣。

根据本公开实施例，需要说明的是：

第一图像采集装置在基座1上的设置位置，可以根据需要进行选择和调整，保证第一图像采集装置的采集视野不被挑拣机构2干涉即可。

第一图像采集装置可以采用现有技术中的任意拍摄设备，在此不做具体限定。例如，第一图像采集装置可以采用摄像头、相机等。

根据本公开实施例，通过设置第一图像采集装置，可以实现对物料中的杂质进行准确识别，以及可以实现在挑拣机构2进行杂质挑拣时，实时观测杂质的挑拣情况。

如图4至图6所示，本公开实施例提供了一种杂质挑拣机台200，包括：机台本体6、载盘7、滑动机构8和本公开上述任一实施例的杂质挑拣装置100。

机台本体6用于安装载盘7、滑动机构8和杂质挑拣装置100。

载盘7可拆卸地设置于机台本体6的台面61，载盘7用于承载含有杂质的物料。

滑动机构8设置于机台本体6的台面61上方，滑动机构8用于驱动与其连接的杂质挑拣装置100相对载盘7进行移动，以使杂质挑拣装置100的挑拣机构2可以对位于载盘7上任意位置的杂质进行挑拣。

根据本公开实施例，需要说明的是：

如图4所示，定义图4中所示结构的上部为上方位，定义图4中所示结构的下部为下方位，定义图4中所示结构的左侧部为左方位，定义图4中所示结构的右侧为右方位，定义图4中所示结构的上部与下部之间为竖直方向，定义图4中所示结构的左侧与右侧之间为水平方向。

载盘7的结构、形状、尺寸和材质等，均可以根据需要进行选择和调整，在此不做具体限定。载盘7与台面61的可拆卸连接方式，可以根据需要进行选择和调整，在此不做具体限定。保证载盘7与台面61可以稳固连接，以及可以顺利从台面61上拆除更换即可。

滑动机构8的具体结构，可以根据需要进行选择和调整，在此不做具体限定。能够实现带动杂质挑拣装置100在与载盘7平行的水平面上进行任意方向的移动即可。

根据本公开实施例，利用本公开实施例的杂质挑拣机台200可以满足不同厂区环境、不同物料场景，不同载盘7尺寸以及不同图像采集装置的方案。通过设置可拆卸地载盘7，可以便于对承载有物料的载盘7进行更换，提高杂质挑拣的效率。通过设置滑动机构8，可以使得杂质挑拣装置100实现沿水平方向任意自由度的移动，以做到对位于载盘7上任意位置的杂质进行挑拣。通过在杂质挑拣机台200设置至少两个挑拣机构2，可以实现在一次杂质挑拣过程中对不同尺寸的杂质进行连续挑拣，提高了杂质的挑拣效率、连续挑拣杂质的速度和挑拣精度。通过设置固定部23，可以实现对待挑拣的杂质进行固定，防止在挑拣部22挑拣杂质时，杂质产生位移，而无法精确的挑拣到杂质。通过为固定部23设置第一弹性件3，可以使得固定部23适应不同物料的硬度，同时起到一定的缓冲作用，防止固定部23将物料破坏。

在一种实施方式中，台面61设置有多个吸盘62，多个吸盘62与载盘7吸附连接，用于将载盘7固定于台面61。

根据本公开实施例，需要说明的是：

吸盘62的数量、在台面61上的布置方式等，均可以根据需要进行选择和调整，在此不做具体限定。多个吸盘62的设置高度一致，以保证连接载盘7后，载盘7承载物料的端面保持平整。

吸盘62与载盘7吸附连接的方式，也可以根据需要进行选择和调整。例如，吸盘62可以设置为倒锥形，利用载盘7与吸盘62接触时挤压倒锥形的吸盘62内部空气的原理，实现吸盘62利用自身结构特点吸附连接载盘7。又如，吸盘62中设置有通气孔，吸盘62的通气孔与空压机连接，在空压机的作用下，使吸盘62与载盘7接触时吸盘62内的密封空间形成负压，从而实现吸盘62吸附连接载盘7。

根据本公开实施例，通过在台面61上设置吸盘62，可以使得载盘7可以稳固的设置在台面61上，在进行杂质挑拣时，载盘7不会发生晃动，从而使得杂质挑拣装置100能够精准的进行杂质挑拣。

在一种实施方式中，杂质挑拣机台200还包括第二图像采集装置9，第二图像采集装置9可滑动地设置于滑动机构8，用于对载盘7进行图像采集。第二图像采集装置9可以在挑拣机构2挑拣杂质之前使用，预先对所需挑拣的物料进行图像采集，进而从中识别出需要挑拣的杂质，以使挑拣机构2能够对所识别出的杂质进行挑拣。

根据本公开实施例，需要说明的是：

第二图像采集装置9在滑动机构8上的设置位置，可以根据需要进行选择和调整，保证第二图像采集装置9的采集视野不被杂质挑拣装置100干涉即可。

第二图像采集装置9可以采用现有技术中的任意拍摄设备，在此不做具体限定。例如，第二图像采集装置9可以采用摄像头、相机等。

杂质识别可以通过模型实现，将第二图像采集装置9所采集的图像输入预训练的模型，由模型从图像中识别出杂质。

根据本公开实施例，通过设置第二图像采集装置9，可以实现对物料中的杂质进行准确识别，以使杂质挑拣装置100可以根据识别结果，移动到相应的杂质位置进行杂质挑拣。

在一种实施方式中，杂质挑拣机台200还包括规划单元，规划单元与第二图像采集装置9电连接，用于根据载盘7的尺寸和第二图像采集装置9的采集视野尺寸，将载盘7划分为多个图像采集区域71，并控制第二图像采集装置9基于规划的采集轨迹依次对多个图像采集区域71进行图像采集。

根据本公开实施例，需要说明的是：

多个图像采集区域71拼接后，可以覆盖整个载盘7的区域。相邻图像采集区域71的边缘可以存在部分重合，以保证载盘7上的所有杂质均可以被识别到。

采集轨迹可以根据所划分的多个图像采集区域71进行规划。例如，将载盘7划分为多个图像采集区域71后，对多个图像采集区域71按一定的规律进行编号，基于编号顺序，生成相应的采集轨迹。第二图像采集装置9基于该采集轨迹移动时，能够经过载盘7上的每个图像采集区域71，从而实现对载盘7上的所有杂质进行精准识别。

在第二图像采集装置9和/或载盘7更换的情况下，可以基于更换后的载盘7的尺寸和第二图像采集装置9的采集视野，重新划分多个图像采集区域71。

根据本公开实施例，通过将载盘7划分为多个图像采集区域71，可以使得第二图像采集装置9每次仅需对一个图像采集区域71内的物料进行杂质识别，降低了杂质识别的计算量，能够更加快速且准确的实现杂质识别。

在一个示例中，当需要识别尺寸较小(0.1mm)的细微杂质时，第二图像采集装置9的采集视野较大，对每个图像采集区域71进行杂质识别仍然可能计算量较大。因此，可以设定一个尺度合适的推理窗口(如912*608)，在利用模型识别杂质前，可以将第二图像采集装置9所采集的图像进一步分割成与推理窗口等尺寸的小图，然后利用模型对每一个小图进行杂质识别，这样不仅识别准确率提升，也能够提升杂质识别效率。例如，对于2000万像素的第二图像采集装置9(5472*3648)，可以划分为36张小图；对于500万像素的第二图像采集装置9(2448*2048)，可以划分为12张小图；由此不同视野的第二图像采集装置9都可以用同样的模型适配，区别仅在于不同视野中小图的数量不同。

在一种实施方式中，如图5所示，杂质挑拣机台200还包括标定板10，标定板10设置于载盘7的至少一侧外缘的外部，标定板10与台面61可滑动地连接。

控制器，与标定板10和第二图像采集装置9连接，用于控制标定板10和第二图像采集装置9相对台面61的滑动位置，以及用于控制第二图像采集装置9对标定板10进行图像采集，以使第二图像采集装置9根据图像采集的结果进行图像去畸形校准和坐标系校准。

根据本公开实施例，需要说明的是：

标定板10可以设置在载盘7任一侧外缘的外部，也可以设置在载盘7每一侧外缘的外部。标定板10的结构、尺寸、形状等可以根据需要进行选择和调整，在此不做具体限定。

根据本公开实施例，通过设置标定板10，可以实现对第二图像采集装置9进行图像去畸形校准和坐标系校准，保证第二图像采集装置9可以对所采集到的图像进行校准处理，从而得到一张准确显示杂质位置的图像，以便后续利用该图像精准的识别出杂质位置。

在一个示例中，每次第二图像采集装置9更换后，都需要对第二图像采集装置9的像素坐标转换为世界坐标的过程重新标定，保证转换坐标的精度。首先将标定板10设置于预设位置，然后启动去畸服务，在第二图像采集装置9的视野范围内平移标定板10，且保持第二图像采集装置9不动，同时利用第二图像采集装置9对标定板10进行图像采集，根据采集到的各图像，更新第二图像采集装置9的去畸参数。最后启动标定服务，第二图像采集装置9将自动平移并对标定板10采集图像，且保持标定板10不动，根据采集到的各图像，更新第二图像采集装置9的坐标转换矩阵，以使第二图像采集装置9基于载盘7所采集图像得到的杂质，可以利用坐标转换矩阵，将杂质的坐标转换至世界坐标系中，从而使得杂质挑拣装置100可以基于杂质在世界坐标系中的坐标，实现杂质的精准挑拣。

在一种实施方式中，载盘7采用亚克力材料制成。

根据本公开实施例，载盘7采用亚克力材料制成，使得载盘7耐气候变化及耐酸碱性能好，不会因长年累月的日晒雨淋，而产生泛黄、水解及变形的现象。使得载盘7使用寿命长，与其它材料制品相比，寿命至少长三年以上。使得载盘7抗冲击力强，是普通玻璃的十六倍。使得载盘7可塑性强，造型变化大，加工成型容易，可以有较好的延展性和平整性。使得载盘7维护方便，易清洁，雨水可自然清洁，或用肥皂和软布擦洗即可等。

在一种实施方式中，滑动机构8包括第一滑轨81和第二滑轨82，第一滑轨81设置于机台本体6，第二滑轨82可滑动地设置于第一滑轨81，杂质挑拣装置100的基座1可滑动地设置于第二滑轨82。其中，第一滑轨81和第二滑轨82平行于台面61设置，第二滑轨82在第一滑轨81上的滑动方向与基座1在第二滑轨82上的滑动方向垂直。

根据本公开实施例，需要说明的是：

第一滑轨81和第二滑轨82的数量，可以根据需要进行选择和调整，在此不做具体限定。例如，为了保证滑动的平稳性，可以间隔且平行设置两个第一滑轨81，以及间隔且平行设置两个第二滑轨82。两个第二滑轨82可滑动地设置于两个第一滑轨81之间。杂质挑拣装置100的基座1可滑动地设置于两个第二滑轨82之间。

根据本公开实施例，通过第一滑轨81和第二滑轨82，可以实现杂质挑拣装置100在水平方向上的任意位置的移动。同时，配合杂质挑拣装置100的传动机构5控制挑拣部22在竖直方向上的移动，可以实现杂质挑拣装置100的全方位移动，从而实现对位于载盘7上任意位置的杂质进行挑拣。

在一个示例中，杂质挑拣机台200可以为多个，多个杂质挑拣机台200可以拼接为一个紧凑式联排的杂质挑拣流水线结构。相邻的两个杂质挑拣机台200之间可以设置有辊道，辊道用于传送载盘7。上一工位的杂质挑拣机台200进行杂质挑拣之后的载盘7，可以通过辊道输送至下一工位的杂质挑拣机台200，通过下一工位的杂质挑拣机台200对载盘7所承载的物料的杂质进行二次挑拣。

根据本公开实施例，通过将多个杂质挑拣机台200拼接为一个杂质挑拣流水线结构，可以节省布置空间，同时在多个杂质挑拣机台200的配合下，可以提高杂质挑拣效率。

在一个示例中，杂质挑拣机台200的机台本体6上设置有插头和对位孔，杂质挑拣机台200可以利用插头与另一个杂质挑拣机台200的对位孔连接，以实现两个杂质挑拣机台200的拼接。

在一个示例中，杂质挑拣机台200还包括配置单元，用于根据杂质的类别配置对应杂质挑拣尺寸的杂质挑拣装置100，以及为杂质挑拣装置100配置杂质挑拣模式(杂质抽吸挑拣模式、杂质抓取挑拣模式)、配置挑拣杂质的停留时间和移动速度等。通过配置单元，可以实现不同类别杂质的挑拣模式细分，物料发生供货源变化时，物料的杂质分布密度可会发生明显变化，通过配置单元预配置的杂质挑拣装置100和杂质挑拣模式，可以快速的适配杂质挑拣需求。

虽然杂质挑拣的场景千差万别(如茶叶、燕窝、中药材、烟叶的杂质挑拣)，但对于高价值物料中的杂质挑拣，用户的核心需求是相通的。即，希望尽量降低对物料的损耗，尽可能增加单位时间内挑拣的物料总量，更重要的是提高对相同物料的杂质拣出率。本公开实施例的杂质挑拣机台200可以很好作为以上需求的解决方案。通过以工业相机或摄像头(第二图像采集装置9)采相，调用模型对杂质进行识别，然后驱动杂质挑拣装置100对准铺在载盘7上的物料执行杂质挑拣动作，可以准确且高效的实现杂质挑拣。

利用本公开实施例的杂质挑拣机台200可以满足不同厂区环境、不同物料场景，不同载台尺寸以及不同图像采集装置的方案。支持不同视野范围的第二图像采集装置9和不同尺寸的载盘7的使用，提供灵活的自动标定方案、参数化分型的挑拣模式、无缝拼接的机台结构设计。

在本公开说明书的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本公开和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者多个该特征。在本公开的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本公开中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体。可以是机械连接，也可以是电连接，还可以是通信。可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本公开中的具体含义。

在本公开中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

上文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本公开的不同结构。为了简化本公开，上文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本公开。此外，本公开可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。

上述具体实施方式，并不构成对本公开保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本公开的原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本公开保护范围之内。

Claims (18)

1.一种杂质挑拣装置，包括：

基座；

至少两个挑拣机构，可活动地设置于所述基座，所述至少两个挑拣机构用于挑拣不同尺寸的杂质；所述至少两个挑拣机构均包括本体、挑拣部和固定部，所述挑拣部设置于所述本体的第一端，所述固定部设置于所述挑拣部的外部且通过第一弹性件与所述第一端连接，所述固定部远离所述第一端的一侧设置有压板，所述压板设置有挑拣口，所述挑拣口的位置与所述挑拣部的位置对应，所述压板用于固定杂质，所述挑拣口用于显露杂质以供所述挑拣部挑拣。

2.根据权利要求1所述的杂质挑拣装置，其中，所述挑拣部通过顶升机构与所述第一端连接，所述顶升机构用于驱动所述挑拣部在第一方向与第二方向之间进行往复运动，其中，所述第一方向与所述第二方向相反。

3.根据权利要求2所述的杂质挑拣装置，其中，所述顶升机构与所述挑拣部之间设置有第二弹性件。

4.根据权利要求1所述的杂质挑拣装置，其中，所述固定部可拆卸地与所述第一端连接，和/或，所述挑拣部可拆卸地与所述第一端连接。

5.根据权利要求1所述的杂质挑拣装置，其中，所述至少两个挑拣机构中的第一挑拣机构的挑拣部为吸嘴结构，所述第一挑拣机构的本体中设置有真空管，所述真空管连通所述第一挑拣机构的本体的第一端和第二端，所述第一挑拣机构的本体的第二端通过管路与真空泵连接，所述真空泵用于驱动所述吸嘴结构抽吸杂质。

6.根据权利要求5所述的杂质挑拣装置，其中，所述第一挑拣机构的固定部的侧壁设置有至少一个泄压口，所述泄压口用于将所述固定部的内部空间与所述固定部的外部空间连通。

7.根据权利要求1所述的杂质挑拣装置，其中，所述至少两个挑拣机构中的第二挑拣机构的挑拣部为机械爪结构。

8.根据权利要求1至7任一项所述的杂质挑拣装置，还包括：

传动机构，可活动地设置于所述基座且与所述至少两个挑拣机构连接，用于带动所述至少两个挑拣机构相对所述基座进行联动，以使所述至少两个挑拣机构中的其中一个挑拣机构沿第一方向移动进行杂质挑拣的同时，其余的挑拣机构沿第二方向移动，其中，所述第一方向与所述第二方向相反。

9.根据权利要求8所述的杂质挑拣装置，其中，所述传动机构包括转动件和至少两个连接件，所述转动件与所述基座可转动地连接，所述至少两个连接件的一端与所述转动件可转动地连接，所述至少两个连接件的另一端一一对应的与所述至少两个挑拣机构可转动地连接；其中，所述至少两个连接件的数量与所述至少两个挑拣机构的数量一致。

10.根据权利要求9所述的杂质挑拣装置，其中，所述至少两个挑拣机构可滑动地设置于所述基座的滑道中。

11.根据权利要求1至7任一项所述的杂质挑拣装置，还包括：

第一图像采集装置，设置于所述基座，用于对杂质进行图像采集。

12.一种杂质挑拣机台，包括：

机台本体；

载盘，可拆卸地设置于所述机台本体的台面，用于承载含有杂质的物料；

滑动机构，设置于所述机台本体；

权利要求1至11任一项所述的杂质挑拣装置，与所述滑动机构连接，所述滑动机构用于驱动所述杂质挑拣装置相对所述载盘移动，以使所述杂质挑拣装置对所述载盘上的杂质进行挑拣。

13.根据权利要求12所述的杂质挑拣机台，其中，所述台面设置有多个吸盘，所述多个吸盘与所述载盘吸附连接，用于将所述载盘固定于所述台面。

14.根据权利要求12所述的杂质挑拣机台，还包括：

第二图像采集装置，可滑动地设置于所述滑动机构，用于对所述载盘进行图像采集。

15.根据权利要求14所述的杂质挑拣机台，还包括：

规划单元，与所述第二图像采集装置电连接，用于根据所述载盘的尺寸和所述第二图像采集装置的采集视野尺寸，将所述载盘划分为多个图像采集区域，并控制所述第二图像采集装置基于规划的采集轨迹对所述多个图像采集区域进行图像采集。

16.根据权利要求14所述的杂质挑拣机台，还包括：

标定板，设置于所述载盘的至少一侧外缘的外部，所述标定板与所述台面可滑动地连接；

控制器，与所述标定板和所述第二图像采集装置连接，用于控制所述标定板和所述第二图像采集装置相对所述台面的滑动位置，以及用于控制所述第二图像采集装置对所述标定板进行图像采集，以使所述所述第二图像采集装置根据所述图像采集的结果进行图像去畸形校准和坐标系校准。

17.根据权利要求12至16任一项所述的杂质挑拣机台，其中，所述载盘采用亚克力材料制成。

18.根据权利要求12至16任一项所述的杂质挑拣机台，其中，所述滑动机构包括第一滑轨和第二滑轨，所述第一滑轨设置于所述机台本体，所述第二滑轨可滑动地设置于所述第一滑轨，所述杂质挑拣装置的基座可滑动地设置于所述第二滑轨；其中，所述第一滑轨和所述第二滑轨平行于所述台面设置，所述第二滑轨在所述第一滑轨上的滑动方向与所述基座在所述第二滑轨上的滑动方向垂直。