CN116773546B - 一种镀铜板叠料缺陷检测方法、装置及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种镀铜板叠料缺陷检测方法、装置及存储介质，应用于DVCP，所述方法包括：获取当前挂架与下一挂架的间距；当所述间距超出预设阈值时，获取目标待检测图像；根据预设检测模型识别所述目标待检测图像中的叠料缺陷，并生成缺陷检测识别结果。能够实现对DVCP的相邻挂架在移动过程中导致的相邻电路板物料间产生的叠料缺陷的检出。可以及时发现DVCP在挂架的移动过程中产生的叠料缺陷，以及时根据检测结果做出反应，如对机械推手及时检查维修，进而可以提高DVCP的生产效率和产出产品的良率。
Description
技术领域
本申请涉及缺陷检测技术领域，具体涉及一种镀铜板叠料缺陷检测方法、装置及存储介质。
背景技术
用于对电路板进行电镀处理工艺的垂直连续电镀铜生产线(DVCP),其具备良好的电镀分布、灌孔及填孔能力、且电镀质量稳定。目前DVCP涉及到的产品缺陷、设备缺陷等问题，全靠人工目测监控，且上料位、镀铜池、下料位设置在不同区域，导致单人无法完全监控的DVCP上出现的产品缺陷、设备缺陷等问题。然而，目前的巡检力度和持久度，不能连续识别、检测，无法及时发现问题并处理问题。
DVCP通常是通过挂架上的夹持机构夹持电路板物料，将被夹持的电路板物料运转到上料位、镀铜池、下料位等不同区域，以对被加持的电路板物料进行电镀处理工艺。发明人发现，在挂架的移动过程中，可能会导致相邻挂架上的相邻的电路板物料之间产生叠料缺陷，影响产品良率，而目前人工巡检的方式难以及时发现在挂架的移动过程中产生的叠料缺陷。
发明内容
有鉴于此，本申请提供了一种镀铜板叠料缺陷检测方法、装置及存储介质，以解决现有技术中人工巡检的方式难以及时发现DVCP中在挂架的移动过程中产生的叠料缺陷的技术问题。
第一方面，本申请提供了一种镀铜板叠料缺陷检测方法，应用于DVCP，所述方法包括：
获取当前挂架与下一挂架的间距；
当所述间距超出预设阈值时，获取目标待检测图像；
根据预设检测模型识别所述目标待检测图像中的叠料缺陷，并生成缺陷检测识别结果。
在一个实施方式中，在所述获取当前挂架与下一挂架的间距之前，还包括：获取DVCP的当前线速数据；
接收测距传感器监控到的数据，生成当前挂架到下一挂架的持续时间；
基于所述持续时间、所述当前线速数据，计算得到当前挂架与下一挂架的间距。
在一个实施方式中，所述当所述间距超出预设阈值时，获取目标待检测图像，包括：
若所述间距小于预设阈值，则获取到的目标待检测图像为包含有当前挂架的第二挂料区域和下一挂架的第一挂料区域的图像；
若所述间距大于所述预设阈值，则获取到的目标待检测图像为包含有所述下一挂架的第二挂料区域和下下个挂架的第一挂料区域的图像。
在一个实施方式中，所述镀铜板叠料缺陷检测方法还包括：
若所述间距小于所述预设阈值，且所述目标待检测图像在所述获取当前挂架与下一挂架的间距之前已被获取到，则取消获取所述目标待检测图像。
在一个实施方式中，所述预设阈值为[35mm，55mm]。
在一个实施方式中，所述镀铜板叠料缺陷检测方法还包括：
获取当前挂架的夹料信息、下一挂架的夹料信息；
若当前挂架的第二挂料区域内无料或下一挂架的第一挂料区域内无料，则生成当前挂架与下一挂架间无叠料缺陷的检测结果。
在一个实施方式中，所述镀铜板叠料缺陷检测方法还包括：
获取下一挂架的夹料信息、下下个挂架的夹料信息；
若下一挂架的第二挂料区域内无料或下下个挂架的第一挂料区域内无料，则生成下一挂架与下下个挂架无叠料缺陷的检测结果。
第二方面，本申请提供了一种镀铜板叠料缺陷检测装置，应用于DVCP，所述装置包括：
间距模块，用于获取当前挂架与下一挂架的间距；
取图模块，用于当所述间距超出预设阈值时，获取目标待检测图像；
检测模块，用于根据预设检测模型识别所述目标待检测图像中的叠料缺陷，并生成缺陷检测识别结果。
第三方面，本申请提供了一种计算机设备，包括：存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而实现第一方面所述的镀铜板叠料缺陷检测方法。
第四方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令被处理器执行时，从而实现第一方面所述的镀铜板叠料缺陷检测方法。
本申请提供的镀铜板叠料缺陷检测方法、装置及存储介质，至少具有如下有益效果：
本申请提供的技术方案，可以通过获取当前挂架与下一挂架的间距并与预设阈值进行比较判断，从而确定出当前挂架与下一挂架间的距离是否过近或过远。在确定过近或过远之后，则获取对应的目标待检测图像，过近获取当前挂架与下一挂架间的图像，过远获取下一挂架与下下个挂架间的图像。在获取到目标待检测图像之后，则通过或训练完成的神经网路模型对目标待检测图像中的叠料缺陷进行识别，并生成对应的缺陷检测识别结果。通过上述方式，能够实现对DVCP的相邻挂架在移动过程中导致的相邻电路板物料间产生的叠料缺陷的检出。可以及时发现DVCP在挂架的移动过程中产生的叠料缺陷，以及时根据检测结果做出反应，如对机械推手及时检查维修，进而可以提高DVCP的生产效率和产出产品的良率。
可见，通过上述的方式，能够及时发现DVCP中在挂架的移动过程中产生的叠料缺陷，提高DVCP的生产效率和产出产品的良率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。需要说明的是，下面描述中的附图是示意性的而不应理解为对本申请进行任何限制，在附图中：
图1示出了本申请一个实施方式中的镀铜板叠料缺陷检测方法的示意图；
图2示出了本申请一个实施方式中的镀铜板叠料缺陷检测装置的示意图；
图3示出了本申请一个实施方式中的计算机设备的示意图。
具体实施方式
为了使本申请实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施方式中的附图，对本申请实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本申请一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本申请中的实施方式，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请所要保护的范围。
在本申请的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通，可以是无线连接，也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
此外，下面所描述的本申请不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
虽然下文描述的过程包括以特定的顺序出现的多个操作，但是应该清楚地了解到，这些过程也可以包括更多或者更少的操作，这些操作可以顺序执行或者并行执行。
实施例1
本申请提供的镀铜板叠料缺陷检测方法，可以适用于对电路板进行电镀处理工艺的垂直连续电镀铜生产线(DVCP)，鉴于目前人工巡检力度和持久度，不能连续识别、检测，无法及时发现问题并处理问题。本申请提供的镀铜板叠料缺陷检测方法，主要针对DVCP的相邻挂架在移动过程中导致的相邻电路板物料间产生的叠料缺陷进行检测。以解决现有技术中人工巡检的方式难以及时发现DVCP中在挂架的移动过程中产生的叠料缺陷的技术问题。
请参阅图1，本申请一个实施方式提供的镀铜板叠料缺陷检测方法，应用于DVCP，可以包括以下多个步骤。
S101、获取当前挂架与下一挂架的间距；
S102、当所述间距超出预设阈值时，获取目标待检测图像；
S103、根据预设检测模型识别所述目标待检测图像中的叠料缺陷，并生成缺陷检测识别结果。
在本实施方式中，在DVCP上，挂架上的物料(镀铜板)在完成对应工艺制程后，会有继续推手将盖挂架推送到传送线，以流转至下一工艺制程。然而，受到机械推手给予挂架的推动力的不稳定性因素，会导致挂架的推动的距离不确定，从而影响到该挂架与相邻两个挂件的距离。在DVCP上，以单列挂架(即挂架仅单侧方向上抓取物料)为例，挂架在同一侧通常会夹取两块物料，因此前一个挂架上的第二块物料(靠近后一个挂架的物料)会与后一个挂架上的第一块物料(靠近前一个挂架的物料)部分重叠，并产生叠料缺陷。
在本实施方式中，获取到的当前挂架与下一挂架的间距的方式可以是，通过采集包含有当前挂架与下一挂架的图像信息并计算当前挂架与下一挂架坐标见的像素距离，并转换为实际距离的方式计算得到。获取到的当前挂架与下一挂架的间距的方式还可以是，依据DVCP的线速、定点为置上当前挂架到下一挂架的持续时间，通过线速和时间计算得到。
在本实施方式中，具体地，在得到当前挂架与下一挂架的间距后，则判断当前挂架与下一挂架的间距是否超出预设阈值。若当前挂架与下一挂架的间距小于预设阈值的最小值，则表示当前挂架与下一挂架间距离过近。若当前挂架与下一挂架的间距大于预设阈值的最大值，则表示当前挂架与下一挂架间距离过远，亦表示下一挂架与下下个挂架间距离过近。也即是说，当当前挂架与下一挂架的间距小于预设阈值的最小值时，获取目标待检测图像应该是包含有当前挂架的第二挂料区域(靠近后一个挂机的挂料区域)和下一挂架的第一挂料区域(靠近前一个挂机的挂料区域)的图像。当当前挂架与下一挂架的间距大于预设阈值的最大值时，获取目标待检测图像应该是包含有下一挂架的第二挂料区域(靠近后一个挂机的挂料区域)和下下个挂架的第一挂料区域(靠近前一个挂机的挂料区域)的图像。需要说明的是，在实际应用中，可以根据DVCP的产线方向，将挂架间距的获取点位设置于目标图像的获取点位的下游，即挂机先经过挂架间距的获取点位，再流转经过目标图像的获取点位。如次设置，便可以仅在需要获取目标图像时再采集目标图像，避免获取到无效的图像，提高了叠料缺陷的检测效率。
在本实施方式中，在获取到目标待检测图像之后，根据预设检测模型识别目标待检测图像中的叠料缺陷，并生成缺陷检测识别结果。具体地，预设检测模型可以是通过叠料缺陷图像样本集训练得到的卷积神经网络模型。通过训练完成的神经网路模型，对输入的目标待检测图像进行叠料缺陷识别，从而识别出目标待检测图像中是否存在叠料缺陷。需要说明的是，在实际应用中，目标待检测图像携带有对用的目标信息，其中目标标识信息用于表征图像中对应包含的两个挂架信息。生成的缺陷检测识别结果，亦携带有目标标识信息，也就是说，若目标待检测图像检测出叠料缺陷，那么生成的缺陷检测识别结果对应表征两个目标挂架之间存在叠料缺陷。
在本实施方式中，通过获取当前挂架与下一挂架的间距并与预设阈值进行比较判断，从而确定出当前挂架与下一挂架间的距离是否过近或过远。在确定过近或过远之后，则获取对应的目标待检测图像，过近获取当前挂架与下一挂架间的图像，过远获取下一挂架与下下个挂架间的图像。在获取到目标待检测图像之后，则通过或训练完成的神经网路模型对目标待检测图像中的叠料缺陷进行识别，并生成对应的缺陷检测识别结果。通过上述方式，能够实现对DVCP的相邻挂架在移动过程中导致的相邻电路板物料间产生的叠料缺陷的检出。可以及时发现DVCP在挂架的移动过程中产生的叠料缺陷，以及时根据检测结果做出反应，如对机械推手及时检查维修，进而可以提高DVCP的生产效率和产出产品的良率。
在一个实施方式中，在所述获取当前挂架与下一挂架的间距之前，还包括：获取DVCP的当前线速数据；
接收测距传感器监控到的数据，生成当前挂架到下一挂架的持续时间；
基于所述持续时间、所述当前线速数据，计算得到当前挂架与下一挂架的间距。
在本实施方式中，在DVCP中，对应不同物料或是不同的需求，DVCP的产线线速通常是变化的。因此，在使用线速与当前挂架到下一挂架的持续时间的乘积计算当前挂架与下一挂架的间距时，应当要确认DVCP的当前线速数据。在实际应用中，当前挂架到下一挂架的持续时间与测距传感器监控出的高低电平持续时间对应。简单来说，将会测距传感器设置于固定点位，检测传感器到挂架的垂直距离，当挂架经过该固定点位对应的测距点时，测距传感器检测出低电平；当挂架不在该点位时(即该点位既检测不到前一个挂架，又检测不到后一个挂架时)，测距传感器检测出高电平。高电平持续时间即为当前挂架到下一挂架的持续时间。
在本实施方式中，通过依据DVCP的当前线速数据结合当前挂架到下一挂架的持续时间计算到的挂架间距的方式，使得计算得到的挂架间距更为精确，提高了镀铜板叠料缺陷检测的效率。此外，该方式可以适用于不用不同待检测物料需求，提高了镀铜板叠料缺陷检测的适用范围。可以及时发现DVCP在挂架的移动过程中产生的叠料缺陷，以及时根据检测结果做出反应，如对机械推手及时检查维修，进而可以提高DVCP的生产效率和产出产品的良率。
在一个实施方式中，所述当所述间距超出预设阈值时，获取目标待检测图像，包括：
若所述间距小于预设阈值，则获取到的目标待检测图像为包含有当前挂架的第二挂料区域和下一挂架的第一挂料区域的图像；
若所述间距大于所述预设阈值，则获取到的目标待检测图像为包含有所述下一挂架的第二挂料区域和下下个挂架的第一挂料区域的图像。
在本实施方式中，上述间距小于预设阈值即就是间距小于预设阈值的最小值，上述间距大于预设阈值即就是间距大于预设阈值的最大值。具体实施方式，可参照上文，此处不再赘述。在本实施方式中，其获取到的目标待检测图像的包括两种情况，这样处理可以避免漏检，提高了叠料缺陷检测结果的准确性，提高了叠料缺陷检测的效率。
在一个实施方式中，所述镀铜板叠料缺陷检测方法还包括：
若所述间距小于所述预设阈值，且所述目标待检测图像在所述获取当前挂架与下一挂架的间距之前已被获取到，则取消获取所述目标待检测图像。
在本实施方式中，在获取目标待检测图像之前可以通过判断目标待检测图像是否已经预设检测模型生成叠料缺陷检测结果，从而可以表面重复检测，节约算力资源，提高了叠料缺陷检测的效率。可以及时发现DVCP在挂架的移动过程中产生的叠料缺陷，以及时根据检测结果做出反应，如对机械推手及时检查维修，进而可以提高DVCP的生产效率和产出产品的良率。
在一个实施方式中，所述预设阈值为[35mm，55mm]。
在本实施方式中，预设阈值为[35mm，55mm]，即当间距小于35mm时，则间距过小；当间距小于55mm时，则间距过大。需要说明的，预设阈值为[35mm，55mm]仅是DVCP在实际生产场景中于对应镀铜板的最佳预设阈值。若对于不同规格的镀铜板，预设阈值应当与镀铜板的规格及挂架的合理间距相适应，不局限于为[35mm，55mm]。预设阈值的具体范围，此处不做限制，以能够较高效率地实现叠料缺陷的检出为佳。
在一个实施方式中，所述镀铜板叠料缺陷检测方法还包括：
获取当前挂架的夹料信息、下一挂架的夹料信息；
若当前挂架的第二挂料区域内无料或下一挂架的第一挂料区域内无料，则生成当前挂架与下一挂架间无叠料缺陷的检测结果。
在一个实施方式中，所述镀铜板叠料缺陷检测方法还包括：
获取下一挂架的夹料信息、下下个挂架的夹料信息；
若下一挂架的第二挂料区域内无料或下下个挂架的第一挂料区域内无料，则生成下一挂架与下下个挂架无叠料缺陷的检测结果。
在本实施方式中，通过获取挂架的夹料信息，当挂架的存在无料或掉料情况时，则与无料或掉料侧的相邻挂架间不会存在叠料缺陷。不受挂架间距的影响。因此，通过获取挂架上夹料信息的方式，可以快速得出对应挂机间不存在叠料缺陷，因而可不必再获取对应的图像进行叠料缺陷的检测识别。提高了DVCP上叠料缺陷的综合检测效率。可以及时发现DVCP在挂架的移动过程中产生的叠料缺陷，以及时根据检测结果做出反应，如对机械推手及时检查维修，进而可以提高DVCP的生产效率和产出产品的良率。
实施例2
本实施例提供了镀铜板叠料缺陷检测装置，以应用于上述实施例1提供的镀铜板叠料缺陷检测方法进行说明。请参阅图2所示，本申请一个实施方式提供的镀铜板叠料缺陷检测装置，应用于DVCP，可以包括以下多个模块。
间距模块，用于获取当前挂架与下一挂架的间距；
取图模块，用于当所述间距超出预设阈值时，获取目标待检测图像；
检测模块，用于根据预设检测模型识别所述目标待检测图像中的叠料缺陷，并生成缺陷检测识别结果。
本申请实施例提供的镀铜板叠料缺陷检测装置，可以应用于如上述实施例1中提供的镀铜板叠料缺陷检测方法，相关细节参考上述方法实施例，其实现原理和技术效果类似，在此不再赘述。
需要说明的是：本申请实施例中提供的镀铜板叠料缺陷检测装置在进行镀铜板叠料缺陷检测时，仅以上述各功能模块/功能单元的划分进行举例说明，在实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块/功能单元完成，即将镀铜板叠料缺陷检测装置的内部结构划分成不同的功能模块/功能单元，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述方法实施例1提供的镀铜板叠料缺陷检测方法的实施方式与本实施例2提供的镀铜板叠料缺陷检测装置的实施方式属于同一构思，本实施例2提供的镀铜板叠料缺陷检测装置的具体实现过程详见上述方法实施例1，这里不再赘述。
实施例3
请参阅图3所示，本申请一个实施方式还提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是桌上型计算机、笔记本电脑、掌上电脑以及云端服务器等计算机设备。该计算机设备可以包括，但不限于，处理器和存储器。其中，处理器和存储器可以通过总线或者其他方式连接。
其中，处理器可以为中央处理器(Central Processing Unit，CPU)。处理器还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、图形处理器(GraphicsProcessing Unit，GPU)、嵌入式神经网络处理器(Neural-network Processing Unit，NPU)或者其他专用的深度学习协处理器、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。
存储器作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本申请上述实施方式中的方法对应的程序指令/模块。处理器通过运行存储在存储器中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行处理器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施方式中的方法。
存储器可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储处理器所创建的数据等。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施方式中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至处理器。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
本申请一个实施方式还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质用于存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现上述方法实施方式中的方法。
在本实施方式中，通过获取当前挂架与下一挂架的间距并与预设阈值进行比较判断，从而确定出当前挂架与下一挂架间的距离是否过近或过远。在确定过近或过远之后，则获取对应的目标待检测图像，过近获取当前挂架与下一挂架间的图像，过远获取下一挂架与下下个挂架间的图像。在获取到目标待检测图像之后，则通过或训练完成的神经网路模型对目标待检测图像中的叠料缺陷进行识别，并生成对应的缺陷检测识别结果。通过上述方式，能够实现对DVCP的相邻挂架在移动过程中导致的相邻电路板物料间产生的叠料缺陷的检出。可以及时发现DVCP在挂架的移动过程中产生的叠料缺陷，以及时根据检测结果做出反应，如对机械推手及时检查维修，进而可以提高DVCP的生产效率和产出产品的良率。
本领域技术人员可以理解，实现本申请上述实施方式方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施方式的流程。其中，所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)、随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard Disk Drive，缩写：HDD)或固态硬盘(Solid-State Drive，SSD)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
以上实施方式的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施方式中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
虽然结合附图描述了本申请的实施方式，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本申请创造的保护范围之中。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (9)
1.一种镀铜板叠料缺陷检测方法，其特征在于，应用于DVCP，所述方法包括：
获取当前挂架与下一挂架的间距；
当所述间距超出预设阈值时，获取目标待检测图像；所述当所述间距超出预设阈值时，获取目标待检测图像，包括：若所述间距小于预设阈值，则获取到的目标待检测图像为包含有当前挂架的第二挂料区域和下一挂架的第一挂料区域的图像；若所述间距大于所述预设阈值，则获取到的目标待检测图像为包含有所述下一挂架的第二挂料区域和下下个挂架的第一挂料区域的图像；
根据预设检测模型识别所述目标待检测图像中的叠料缺陷，并生成缺陷检测识别结果。
2.根据权利要求1所述的镀铜板叠料缺陷检测方法，其特征在于，在所述获取当前挂架与下一挂架的间距之前，还包括：
获取DVCP的当前线速数据；
接收测距传感器监控到的数据，生成当前挂架到下一挂架的持续时间；
基于所述持续时间、所述当前线速数据，计算得到当前挂架与下一挂架的间距。
3.根据权利要求2所述的镀铜板叠料缺陷检测方法，还包括：
若所述间距小于所述预设阈值，且所述目标待检测图像在所述获取当前挂架与下一挂架的间距之前已被获取到，则取消获取所述目标待检测图像。
4.根据权利要求1所述的镀铜板叠料缺陷检测方法，所述预设阈值为[35mm，55mm]。
5.根据权利要求1所述的镀铜板叠料缺陷检测方法，还包括：
获取当前挂架的夹料信息、下一挂架的夹料信息；
若当前挂架的第二挂料区域内无料或下一挂架的第一挂料区域内无料，则生成当前挂架与下一挂架间无叠料缺陷的检测结果。
6.根据权利要求1所述的镀铜板叠料缺陷检测方法，还包括：
获取下一挂架的夹料信息、下下个挂架的夹料信息；
若下一挂架的第二挂料区域内无料或下下个挂架的第一挂料区域内无料，则生成下一挂架与下下个挂架无叠料缺陷的检测结果。
7.一种镀铜板叠料缺陷检测装置，其特征在于，应用于DVCP，所述装置包括：
间距模块，用于获取当前挂架与下一挂架的间距；
取图模块，用于当所述间距超出预设阈值时，获取目标待检测图像；所述当所述间距超出预设阈值时，获取目标待检测图像，包括：若所述间距小于预设阈值，则获取到的目标待检测图像为包含有当前挂架的第二挂料区域和下一挂架的第一挂料区域的图像；若所述间距大于所述预设阈值，则获取到的目标待检测图像为包含有所述下一挂架的第二挂料区域和下下个挂架的第一挂料区域的图像；
检测模块，用于根据预设检测模型识别所述目标待检测图像中的叠料缺陷，并生成缺陷检测识别结果。
8.一种计算机设备，其特征在于，包括：存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而实现如权利要求1-6中任一项所述的镀铜板叠料缺陷检测方法。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一项所述的镀铜板叠料缺陷检测方法。
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