CN116685416A - 测试装置及测试方法、测试机台 - Google Patents
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Abstract
本公开提供了一种用于测试固态硬盘的装置及方法。该装置包括：测试板，包括测试端口；第一定位部，设置于所述测试板；以及转接盒，包括：盒体，用于可拆卸地安装多个待测固态硬盘；以及第二定位部，设置于所述盒体，适于与所述第一定位部配合以使所述多个待测固态硬盘与所述测试端口形成通信连接。
Description
本公开涉及测试装置领域，更具体的，涉及用于测试装置及测试方法、测试机台。
随着互联网的飞速发展，人们对数据信息的存储需求也在不断提升，SSD(SolidState Drives，固态硬盘)作为一种用于存储数据信息的载体，因具有存储速度快、功耗低等特点，而被广泛应用于车载、工控、视频监控、网络监控等众多领域。
发明内容
本公开的实施方式提供了一种用于测试装置，该测试装置包括：测试板，包括：测试端口；第一定位部，设置于所述测试板；以及转接盒，包括：盒体，用于可拆卸地安装多个待测固态硬盘；以及第二定位部，设置于所述盒体，适于与所述第一定位部配合以使所述多个待测固态硬盘与所述测试端口形成通信连接。
在一个实施方式中，所述第一定位部包括滑槽；以及所述第二定位部包括用于与所述滑槽滑动连接的滑轨。
在一个实施方式中，所述滑轨包括沿所述滑轨的滑动方向安装方向设置的、与所述滑槽滑动连接的至少两个定位支点。
在一个实施方式中，还包括锁定组件，所述锁定组件包括：压杆，与所述第一定位部转动连接；挡块，设置在所述压杆上以随所述压杆转动，其中，所述挡块的至少一部分可扣合于一个定位支点的背对所述测试板的一侧。
在一个实施方式中，所述挡块包括在所述压杆的转动平面内延伸的限位槽，所述压杆相对于所述第一定位部处于锁定状态或避让状态；其中，所述压杆处于锁定状态时，所述限位槽的第一端扣合于所述一个定位支点以使所述多个待测固态硬盘与所述测试端口形成通信连 接；以及所述限位槽的第二端与所述压杆的转动中心的距离比所述第一端距所述转动中心的距离远，其中，所述压杆处于避让状态时，所述限位槽的第二端推顶所述一个定位支点以使所述多个待测固态硬盘与所述测试端口断开通信连接。
在一个实施方式中，所述挡块与所述压杆固定连接。
在一个实施方式中，所述挡块与所述第一定位部滑动连接并与所述压杆滑动连接。
在一个实施方式中，所述转接盒还包括：多个测试转接板，可拆卸地安装至所述盒体并用于安装所述待测固态硬盘，其中，所述测试转接板包括：线路板；第一端口，适于与所述待测固态硬盘形成通信连接；以及第二端口，通过所述线路板与所述第一端口通信连接，并适于与所述测试端口形成通信连接。
在一个实施方式中，所述测试转接板还包括卡扣和在背离所述第一端口的方向上设置的至少一个固定位，所述卡扣适于可拆卸地固定于所述至少一个固定位之一；所述固定位与所述第一端口之间的距离适配于不同规格型号的所述待测固态硬盘。
在一个实施方式中，所述第一端口是M.2插槽，所述第二端口是U.2金手指，以及所述测试端口是U.2插槽。
在一个实施方式中，所述转接盒还包括防呆结构，所述防呆结构包括位于所述盒体的第一部件和位于所述测试转接板的第二部件，所述第一部件与所述第二部件匹配以使所述盒体按预设方向安装至所述测试转接板。
在一个实施方式中，所述转接盒设置为镂空结构。
在一个实施方式中，还包括与所述测试端口连接的处理器，所述处理器被配置为控制对所述多个待测固态硬盘的扫描处理。
本公开的第二方面提供一种测试机台，该测试机台包括：处理器，用于与前述的测试装置中的所述测试端口通信连接；以及存储器，与所述处理器通信连接，并存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令被所述处理器执行时通过所述测试端口扫描多个待测固态硬盘。
在一个实施方式中，所述计算机可执行指令被所述处理器进一步执行以还实现步骤：将通过所述扫描获得的所述多个待测固态硬盘的数据存储为数据组。
在一个实施方式中，所述计算机可执行指令被所述处理器进一步执行以还实现步骤：根据所述数据组确定所述固态硬盘是否合格。
第三方面，本公开的实施方式提供了一种测试方法。该测试方法包括：利用前述的装置安装多个待测固态硬盘；以及扫描所述多个待测固态硬盘。
在一个实施方式中，该方法还包括：将所述多个待测固态硬盘的数据存储为数据组。
在一个实施方式中，该方法还包括：根据所述数据组确定所述固态硬盘是否合格。
本公开的实施方式提供的用于测试固态硬盘的装置，可以实现一次性插入多个固态硬盘，测试机台的等待时间短。利用该装置测试固态硬盘，省时省力且准确率高，既节约人工成本，又避免徒手多次插拔造成固态硬盘的金手指磨损。另外，该装置兼容性高，适用于多种规格型号的固态硬盘。
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施方式所作的详细描述，本公开的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1是根据本公开实施方式的测试装置的示意性爆炸图；
图2是根据本公开实施方式的测试板的示意性结构图；
图3是根据本公开实施方式的测试装置的示意性结构图；
图4是图3中A处的放大图；
图5是根据本公开实施方式的盒体的示意性结构图；
图6是根据本公开实施方式的测试装置的侧视图；
图7是根据本公开实施方式的测试装置的示意性原理图；
图8是根据本公开实施方式的测试转接板的示意性结构图；
图9是根据本公开实施方式的转接盒的示意性剖视图；
图10是根据本公开实施方式的盒体的示意性剖视图；
图11是根据本公开实施方式的测试装置与待测固态硬盘的连接框图；
图12是根据本公开实施方式的测试机台与测试装置连接的示意性结构框图；以及
图13是根据本公开实施方式的测试固态硬盘的方法的流程框图。
为了更好地理解本公开，将参考附图对本公开的各个方面做出更详细的说明。应理解，这些详细说明只是对本公开的示例性实施方式的描述，而非以任何方式限制本公开的范围。在说明书全文中，相同的附图标号指代相同的元件。表述“和/或”包括相关联的所列项目中的一个或多个的任何和全部组合。
应注意，在本说明书中，第一、第二、第三等的表述仅用于将一个特征与另一个特征区分开来，而不表示对特征的任何限制。因此，在不背离本公开的教导的情况下，下文中讨论的第一定位部也可被称为第二定位部，第一端口也可被称为第二端口。反之亦然。
在附图中，为了便于说明，已稍微调整了部件的厚度、尺寸和形状。附图仅为示例而并非严格按比例绘制。例如，转接盒的高度和压杆的长度并非按照实际生产中的比例。如在本文中使用的，用语“大致”、“大约”以及类似的用语用作表近似的用语，而不用作表程度的用语，并且旨在说明将由本领域普通技术人员认识到的、测量值或计算值中的固有偏差。
还应理解的是，用语“包括”、“包括有”、“具有”、“包含”和/或“包含有”，当在本说明书中使用时表示存在所陈述的特征、元件和/或部件，但不排除存在或附加有一个或多个其它特征、元件、部件和/或它们的组合。此外，当诸如“...中的至少一个”的表述出现在所列特征的列表之后时，修饰整个所列特征，而不是修饰列表中的单独元件。此外，当描述本公开的实施方式时，使用“可”表示“本公开的一个或多个实施方式”。并且，用语“示例性的”旨在指代示例或举例 说明。
除非另外限定，否则本文中使用的所有措辞(包括工程术语和科技术语)均具有与本公开所属领域普通技术人员的通常理解相同的含义。还应理解的是，除非本公开中有明确的说明，否则在常用词典中定义的词语应被解释为具有与它们在相关技术的上下文中的含义一致的含义，而不应以理想化或过于形式化的意义解释。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本公开中的实施方式及实施方式中的特征可以相互组合。另外，除非明确限定或与上下文相矛盾，否则本公开所记载的方法中包含的具体步骤不必限于所记载的顺序，而可以任意顺序执行或并行地执行。下面将参考附图并结合实施方式来详细说明本公开。
测试机台包括多个测试接口，在测试前将SSD插到测试接口上。将全部的测试接口都插上SSD之后，再开始测试。SSD完成各项功能测试的过程中需进行多次拔插以及通断电操作。此外，测试结束后，在将SSD一一拔出。由于拔插所耗费的时间过长，使得测试机台大部分时间处于待机状态，空置等待时间长。测试机台的利用率较低，测试效率较低。另外对于不同接口的SSD的测试需配置有相应的测试板，即测试系统兼容性低。另外，人工插拔准确率不高，多次手动插拔易造成SSD金手指磨损。
图1是根据本公开实施方式的用于测试固态硬盘的装置的示意性分解图。
参考图1，本公开实施方式提供的装置1包括：测试板10、第一定位部20和转接盒30。
测试板10可以包括例如印制电路板(PCB)，进而包括基材和设置在基材内部的导电线路(未完整示出)，测试板10可与机台组装在一起，用于对待测的固态硬盘进行测试和数据处理等。测试板10可包括测试端口100，测试板10通过测试端口100与待测固态硬盘通信连接，在示例性实施方式中，测试端口100可以是U.2插槽。
参考图2，测试板10上可设置例如三十二个测试端口100，每个测试端口100可用于插接一个待测固态硬盘11。这些测试端口100可 排成一排，且测试端口100的设置方向一致。相邻的测试端口100之间留有足够的空间。测试板10在使用时可以采用不同的摆放方式，例如将测试端口100向上，或者将测试端口100朝向水平方向。
返回图1，第一定位部20可以与测试板10连接，例如第一定位部20可以与测试板10可拆卸地连接。第一定位部20主要作用是将转接盒30与测试板10进行准确组装和定位。具体地，第一定位部20作为转接盒30的定位基准并可用于限定转接盒30的安装方向，第一定位部20可相对于测试端口100处于确定的位置。
转接盒30包括盒体301和第二定位部302。盒体301用于可拆卸地安装多个待测固态硬盘。具体地，盒体301可包括多个安装位置，例如三十二个安装位置。这三十二个安装位置与测试端口100的排布方式相同，进而每一个安装位置可用于安装一个待测固态硬盘。对于一个装置而言，可以对一个测试板10配备多个转接盒30。
第二定位部302可设置于盒体301并相对安装位置具有确定的位置。第一定位部20可包括挡板21和托板22。挡板21用于限定转接盒30在水平方向上相对测试板10的位置，也即限定安装位置与测试端口100在水平方向上的相对位置。示例性地，托板22可限定转接盒30在竖直方向上相对测试板10的位置。
参考图3至图5，在一些实施方式中，第一定位部20包括滑槽401，第二定位部302包括滑轨402。在另一些实施方式中，第一定位部包括滑轨，第二定位部包括滑槽。第一定位部20和第二定位部302也可以利用其他方式配合，使得盒体301按预定的安装方向与测试板10匹配，盒体301的每个安装位置与一个测试端口100对齐。示例性地，该装置1可包括托板22和滑轨402中的至少一者。
当盒体301中安装有待测固态硬盘时，多个待测固态硬盘随着盒体301的运动而沿着安装方向同步地安装到多个测试端口中。第二定位部302和第一定位部20相互配合，以将多个待测固态硬盘与多个测试端口100一一对应地通信连接。
示例性地，装置1还可以包括风扇51和外壳52。风扇51设置在测试端口100的侧面，用于为检测中的固态硬盘降温。外壳52罩设在 测试板10外，用于保护测试板10。
示例性地，装置1还包括处理器(未示出)。处理器与测试板30通信连接，用于测试待测固态硬盘。
操作者利用本公开提供的装置1进行测试时，可先将例如三十二个待测固态硬盘安装至盒体301中，然后利用第一定位部20和第二定位部302的配合，使得三十二个待测固态硬盘同步地一一对应地插入三十二个测试端口100中。示例性地，装置1可扫描全部的待测固态硬盘进而一次性获得一组相关数据。在装置1对已安装的这三十二个固态硬盘进行测试时，操作者可以向另外一个转接盒的盒体中安装待测固态硬盘。
在装置1对已安装的这三十二个固态硬盘进行测试后，操作者可将安装在测试板10上的转接盒30拔出，进而测试过的这三十二个固态硬盘被同步拔出。然后操作者可将另一个转接盒安装至测试板10，进而另外的三十二个待测固态硬盘被同步地一一对应地插入三十二个测试端口中。
表1中的数据基于示例性实施方式的机台测算，该机台所连接的测试端口共有四排、每排三十二个。
表1：生产率对比
表1中示出了单片模式和本公开提供的批量模式各自的工作时间及生产率，具体地测试站别可以是功能测试(Functional Tester，FT)。
“纯粹测试时间”表示测试程序运行的时间。如表1所示，正常运行程序检测完多个固态硬盘例如三十二个固态硬盘的纯粹测试时间是5分钟。
“在线插拔时间”表示测试程序不能运行，必须等待的拔插操作所占用的时间。如表1所示，单片模式下，拔掉每排的三十二个固态硬盘再插入新的三十二个固态硬盘所耗费的时间长达10分钟。本公开的批量模式下，利用转接盒一次可拔插三十二个固态硬盘，在线拔插时间为1分钟。
“单层Cycle时间”表示机台的一排测试端口对一批又一批固态硬盘进行测试时对每一批固态硬盘所耗费的时间。一批例如三十二个固态硬盘从开始测试到完全结束而可以开始对下一批固态硬盘进行测试所经过的时间等于纯粹测试时间加在线拔插时间，如表1所示，单片模式下，单层Cycle时间是15分钟。批量模式下，单层Cycle时间是6分钟。
“整机Cycle时间”该示例性机台的四排测试端口对128个固态硬盘开始测试到结束并将可以对下一组128个固态硬盘开始测试所经过的时间。如表1所示，在单片模式下，对该机台操作时，插入一排待测固态硬盘，再拔掉已完成检测的一排固态硬盘所耗费的时间也是10分钟。由于纯粹测试时间比在线拔插时间短，因此在四排循环时，拔插的过程中前一排的就已经测试完，则整机的循环时间是40分钟。在批量模式下，整机循环作业时，在拔插完三排固态硬盘后，还需等待测试程序运行完成，整机Cycle时间为8分钟。
“每小时产出”是指机台持续工作时，每一个小时能产出的固态硬盘的数量。如表1所示，单片模式下，每40分钟测试完成128片，则测试机台每小时产出192片经过测试的固态硬盘。在本公开的批量模式下，可每8分钟测试完成128片，则测试机台每小时产出960片经过测试的固态硬盘。
具体地，利用本公开的测试装置时，可以准备数量大于四个的多个转接盒30并可调配人员。在对安装于测试板10的固态硬盘进行测试时，同步向多余的转接盒30中安装待测的固态硬盘，保证机台循环工作。
从表1的上述比较可以看出，多个固态硬盘同步拔插，并设置多个转接盒，插入各转接盒的操作可以并行进行，减少装置1的等待时 间，使得在线拔插时间很短少，而运行程序纯粹进行测试的时间占整体时间的比例更大。批量检测时，该装置的循环使用时间、每个固态硬盘平均耗费的工时都大大减少，继而每小时检测完毕的固态硬盘的数量大大增加。
由于测试板的面积所限，多个测试端口之间的距离较近，而且测试端口与固态硬盘之间的结合力较大，例如可达到20N。大力拔插单个固态硬盘时容易发生碰撞，继而可能造成破损。
本公开提供的测试固态硬盘的装置，相比于手动拔下单个固态硬盘，利用转接盒可比较轻易地固定多个固态硬盘的外周结构，使得多个固态硬盘之间的相对位置稳定。在将固态硬盘插入测试板时或在将固态硬盘从测试板拔下时，固态硬盘相互之间受转接盒的限制从而不会发生碰撞。转接盒与测试板之间受第一定位部和第二定位部的限制，使得操作者可以稳定地操作转接盒，进而间接操作固态硬盘的金手指相对测试板的测试端口拔插。此外，由于转接盒限制固态硬盘的外周结构，因此相比于手动拔下单个固态硬盘，将固态硬盘从转接盒取出也比较容易。
此外，本公开提供的测试固态硬盘的装置，可以稳定地将待测固态硬盘插入测试板，可避免插接偏差继而不得不反复拔插的现象。继而减弱了对测试端口的磨损，也在一定程度上减弱了对固态硬盘的金手指的磨损，还降低了碎屑残留在测试端口中的概率。进而测试板的测试端口使用寿命长。
在示例性实施方式中，本公开提供的用于测试固态硬盘的装置，可以与上位机通信连接。上位机可用于运行制造执行系统(manufacturing execution system,简称MES)。
示例性地，处理器可以执行如下步骤。通过MES接口而与制造执行系统通信连接。将多个固态硬盘的数据存储为数据组，并处理该数据组。
参考图4至图6，在示例性地实施方式中，第一定位部20可包括滑槽401，第二定位部302可包括滑轨402。滑轨402可以与滑槽401滑动连接。
示例性地，第二定位部302的两个挡板21设置在转接盒30的两侧，第二定位部302上至少设置一个滑轨402，滑轨402和滑槽401的位置匹配，滑轨402按照转接盒30安装和拆卸的方向在滑槽401上移动。
参考图5，具体地，在滑轨402包括定位支点4021～4023。当该装置1包括托板22时，可包括至少一个定位支点4021/4022/4023，例如第三定位支点4023可与锁定组件50相结合，用于将滑轨402与滑槽401在安装方向上锁定，以防止转接盒30从测试转接板303脱落，进而保证在测试过程中待测固态硬盘始终与测试端口100保持良好、稳定的连接。当装置1不包括托板时，可包括至少两个定位支点4021/4022/4023作为导轨402并用于定位。
参考图6及图4，具体地，本公开实施方式提供的装置1包括锁定组件50，锁定组件50包括：压杆501和挡块502。压杆501与第一定位部20转动连接以在锁定状态和避让状态之间切换。示例性地，图6示出了压杆501处于避让状态时的示意性结构。挡块502设置在压杆501上以随压杆501转动，其中，挡块502的至少一部分可扣合于一个定位支点4021/4022/4023的背对测试板10的一侧。
挡块502包括在压杆501的转动平面内延伸的限位槽5021，其中，压杆501处于如图7所示的锁定状态时，限位槽5021的上端(即前文所述的第一端)扣合于第三定位支点4023以使待测固态硬盘与测试端口100插接至预设位置以保证形成通信连接。示例性地，限位槽5021的下端(即前文所述的第二端)与压杆501的转动中心的距离比上端距转动中心的距离远，压杆501处于避让状态时，限位槽5021的下端可推顶第三定位支点4023以使待测固态硬盘从测试端口100拔出以断开二者的通信连接。
参考图7，当压杆501由上至下地运动，即由避让状态转变为锁定状态的过程中，操作者压动压杆501的第一力臂是L1，第三定位支点4023给挡块502的反作用力的第二力臂为L2。通过设置第一力臂L1、第二力臂L2以及限位槽5021的槽型，可控制该反作用力在安装方向上的分力，进而保证每个待测固态硬盘受较少的压力而插接到测 试端口100中。相比于拔下单个固态硬盘时，需要操作者的手指用力较大因此存在导致手指感觉疼痛或受伤的潜在风险，相反，操作者使用本公开的装置时，压动压杆501所施加的压力较小尤其是接触面积大继而手指受到的压强较小，从而在一定程度上起到保护操作者的手指的作用。
在示例性实施方式中，挡块502与压杆501固定连接。在另一些实施方式中，挡块与第一定位部滑动连接并与压杆滑动连接。
参考图8，在示例性实施方式中，转接盒30还包括多个测试转接板303，每个测试转接板303用于安装至盒体301的一个安装位置处。测试转接板303可包含线路板3001、第一端口3002和第二端口3003。第二端口3003通过线路板3001与第一端口3002通信连接。
实际操作时，首先将待测固态硬盘设置在测试转接板303上，使第一端口3002与待测固态硬盘通信连接。再利用测试转接板303将待测固态硬盘组装到转接盒30。多个测试转接板303的第二端口3003与测试板10的测试端口100同步插接进而实现通信连接。进而实现了多个待测固态硬盘与测试板10通信连接。
测试转接板303还包括卡扣3004和至少一个固定位3005，示例性地，卡扣3004适于可拆卸地固定于至少一个固定位3005。具体地，在线路板3001的背离第一端口3002的方向上设置多个固定位3005，固定位3005与第一端口3002之间的距离适配于不同适配器尺寸的待测固态硬盘。例如固态硬盘包括M.2接口，即固态硬盘的金手指为M.2接口，而M.2接口的固态硬盘又例如包括2230、2242、2260、2280以及22120五种规格。这五种规格的固态硬盘长度分别是30mm、42mm、60mm、80mm和110mm。五个固定位3005与第一端口3002之间的距离可以按照这五种规格的长度设定。在这里虽然以举例的方式描述了五种规格的固态硬盘长度，但是本领域技术人员应该理解，这些描述是示例性的而非限制性的。
在示例性实施方式中，固态硬盘上的金手指可以是M.2接口，第一端口3002是M.2插槽。将待测固态硬盘的M.2接口插入测试转接板303的M.2插槽中，将待测固态硬盘的另一端用卡扣3004固定， 具体地，卡扣3004根据待测固态硬盘的长度设置在合适的固定位3005上。
固定位3005包括在垂直于固态硬盘的拔插方向的方向上的两个缺口。卡扣3004包括相对设置的两个卡爪，当卡爪配合缺口时，卡扣3004定位于该固定位3005处。卡扣3004的定位端3004-1用于顶住待测固态硬盘的尾部，以保证待测固态硬盘的金手指稳定地插接于第一端口3002。
在示例性实施方式中，第二端口3003可以是U.2金手指，相应地，测试端口100可以是U.2插槽，即实现第二端口3003与测试端口100通信连接。
参考图8和图9，在示例性实施方式中，转接盒30还包括防呆结构304，防呆结构304包含位于盒体301的第一部件305和位于测试转接板303的第二部件306。如图9和图10所示，第一部件205可示例性地为凹槽，第二部件306可示例性地为凸起。
第一部件305与第二部件306匹配以使盒体按预设方向安装至测试转接板第一部件305和第二部件306确保测试转接板303按照预设的正确姿势放进转接盒30，继而保证多个待测固态硬盘的金手指按预设方式排列，即与多个测试端口100的排列方式相同。
示例性地，盒体301包含多个插槽，插槽的横截面边界大致为矩形。若没有防呆结构则测试转接板可能反转地插入插槽，进而待测固态硬盘与测试端口会插反。示例性地，第一部件305可以是设置在每个插槽的开口处一侧的凸起结构或凹槽结构，第二部件306可以是设置在测试转接板303上与第一部件305对应的凹槽结构或凸起结构，当测试转接板303以正确的姿势放入插槽时，第一部件305和第二部件306恰好咬合在一起，当测试转接板303以错误的姿势放入插槽时，第一部件305和第二部件306错位，会导致测试转接板303无法放进插槽，操作者无法进行下一步操作。防呆设计让操作者不需要花费注意力，可准确无误地将安装有待测固态硬盘的测试转接板303放入转接盒30，防止有粗心或着急的操作者仓促间插反待测固态硬盘的现象。
参考图9并进一步参考图5，转接盒30还包括锁紧杆31。示例性地，锁紧杆31横向地设置于插槽外侧，其相对盒体301可运动。图9示出锁紧杆31打开时的状态，此时可以向插槽中插入测试转接板303。当测试转接板303安装至插槽后，锁紧杆31运动为如图5所示的锁紧状态，可锁紧测试转接板303的尾部，放置测试转接板303从盒体301中脱落。
在现有的固态硬盘测试技术中，需要人工将固态硬盘一块一块地插到测试设备的端口中，通常插拔一块固态硬盘的应力大约为20N。
本公开实施方式提供的用于测试固态硬盘的装置通过设置转接盒为镂空结构，有利于减轻转接盒的重量。示例性地，在保证转接盒的机械强度的情况下，将转接盒设置为镂空结构，可使转接盒的重量在3Kg以下。继而可以达到转接盒同时安装了三十二块固态硬盘的总质量在4Kg以内。另外，利用锁定组件50一次性将三十二块固态硬盘同时插入测试机台时，锁定组件50满足的杠杆原理使应力可以控制在20N以内。以上仅是示例性说明，实际使用时可安装的固态硬盘数量也不局限于三十二块，可以根据需要设计更多的测试端口。
图11是根据本公开实施方式的测试装置与待测固态硬盘的连接框图。如图11所示，根据本公开实施方式的测试装置1还可包括测试转接板303、测试板10、第一处理器61和第一存储器62。待测固态硬盘11与测试转接板303通信连接，从而使待测固态硬盘11通过测试转接板303、测试板10实现与第一存储器61的通信连接。第一处理器61控制对待测固态硬盘11的扫描处理，并可将获得的数据存储至第一存储器62。
如图12所示为根据本公开实施方式提供的一种测试机台7。该测试机台7可包括第二处理器71、第二存储器72、测试接口73、输出接口74以及用于连接各部件的接口，包括高速接口和低速接口。各个部件可利用不同的总线互相连接，并且可以被安装在公共主板上或者根据需要以其它方式安装。
测试机台7可通过测试接口73与测试装置1的测试板10通信连接，从而实现第二处理器71与待测固态硬盘11的通信连接。
第二存储器72可为非瞬时计算机可读存储介质。第二存储器72存储有可由至少一个第二处理器71执行的计算机可读指令，以使至少一个第二处理器71执行本公开所提供的测试方法。第二存储器72还可用于存储第二处理器71获得或生成的数据。测试机台7可通过输出接口74与外部系统通信连接，使得测试机台7可以传输数据，例如检测结果。
图13示出了本公开的实施方式提供的一种测试方法。该测试方法1000包括如下步骤。
步骤S101，利用前述的装置安装多个固态硬盘。
步骤S102，扫描多个固态硬盘。
该方法耗费时间少，单位时间检测效率高。
在一个实施方式中，该测试方法还包括：将多个固态硬盘的数据存储为数据组。对于批量式生产的固态硬盘，多次执行测试方法后可以获得多个数据组。示例性地，该测试方法可对数据组进行处理。具体地，可以将数据组上传至制造执行系统(MES)，以实现对产品生命周期的追踪；还可根据数据组获得测试结果，例如判断出固态硬盘的各种指标是否合格，并可区分出不合格的固态硬盘。
以上描述仅为本公开的较佳实施方式以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本公开中所涉及的保护范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述技术构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本公开中的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。
Claims (19)
- 一种测试装置，其特征在于，包括：测试板，包括：测试端口；第一定位部，设置于所述测试板；以及转接盒，包括：盒体，用于可拆卸地安装多个待测固态硬盘；以及第二定位部，设置于所述盒体，适于与所述第一定位部配合以使所述多个待测固态硬盘与所述测试端口形成通信连接。
- 根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述第一定位部包括滑槽；以及所述第二定位部包括用于与所述滑槽滑动连接的滑轨。
- 根据权利要求2所述的测试装置，其中，所述滑轨包括沿所述滑轨的滑动方向设置的、与所述滑槽滑动连接的至少两个定位支点。
- 根据权利要求3所述的测试装置，其中，还包括锁定组件，所述锁定组件包括：压杆，与所述第一定位部转动连接；挡块，设置在所述压杆上以随所述压杆转动，其中，所述挡块的至少一部分可扣合于一个所述定位支点的背对所述测试板的一侧。
- 根据权利要求4所述的测试装置，其中，所述挡块包括在所述压杆的转动平面内延伸的限位槽，所述压杆相对于所述第一定位部处于锁定状态或避让状态；其中，所述压杆处于所述锁定状态时，所述限位槽的第一端扣合于所述一个定位支点以使所述多个待测固态硬盘与所述测试端口形成通信连接；以及所述限位槽的第二端与所述压杆的转动中心的距离比所述第一端距所述转动中心的距离远，其中，所述压杆处于所述避让状态时，所述限位槽的第二端推顶所述一个定位支点以使所述多个待测固态硬盘与所述测试端口断开通信连接。
- 根据权利要求4所述的测试装置，其中，所述挡块与所述压杆固定连接。
- 根据权利要求4所述的测试装置，其中，所述挡块与所述第一定位部滑动连接并与所述压杆滑动连接。
- 根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述转接盒还包括：多个测试转接板，可拆卸地安装至所述盒体并用于安装所述待测固态硬盘，其中，所述测试转接板包括：线路板；第一端口，适于与所述待测固态硬盘形成通信连接；以及第二端口，通过所述线路板与所述第一端口通信连接，并适于与所述测试端口形成通信连接。
- 根据权利要求8所述的测试装置，其中，所述测试转接板还包括卡扣和在背离所述第一端口的方向上设置的至少一个固定位，所述卡扣适于可拆卸地固定于所述至少一个固定位之一；所述固定位与所述第一端口之间的距离适配于不同规格型号的所述待测固态硬盘。
- 根据权利要求8所述的测试装置，其中，所述第一端口是M.2插槽，所述第二端口是U.2金手指，以及所述测试端口是U.2插槽。
- 根据权利要求8所述的测试装置，其中，所述转接盒还包括防呆结构，所述防呆结构包括位于所述盒体的第一部件和位于所述测试转接板的第二部件，所述第一部件与所述第二部件匹配以使所述盒体按预设方向安装至所述测试转接板。
- 根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述转接盒设置为镂空结构。
- 根据权利要求1所述的测试装置，其中，还包括与所述测试端口通信连接的处理器，所述处理器被配置为控制对所述多个待测固态硬盘的扫描处理。
- 一种测试机台，其特征在于，包括：处理器，用于与权利要求1所述的测试装置中的所述测试端口通信连接；以及存储器，与所述处理器通信连接，并存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令被所述处理器执行时通过所述测试端口扫描多个待测固态硬盘。
- 根据权利要求14所述的测试机台，其中，所述计算机可执行指令被所述处理器进一步执行以将通过所述扫描获得的所述多个待测固态硬盘的数据存储为数据组。
- 根据权利要求15所述的测试机台，其中，所述计算机可执行指令被所述处理器进一步执行以根据所述数据组确定所述固态硬盘是否合格。
- 一种测试方法，其特征在于，包括：利用如权利要求1至13中任一项所述的装置安装多个待测固态硬盘；以及扫描所述多个待测固态硬盘。
- 根据权利要求17所述的测试方法，其中，还包括：将所述多个待测固态硬盘的数据存储为数据组。
- 根据权利要求18所述的测试方法，其中，还包括：根据所述数据组确定所述固态硬盘是否合格。
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