TWI683316B

TWI683316B - 測試設備

Info

Publication number: TWI683316B
Application number: TW108125104A
Authority: TW
Inventors: 詹彥綸; 陳世恭; 呂元戎
Original assignee: 力成科技股份有限公司
Priority date: 2019-07-16
Filing date: 2019-07-16
Publication date: 2020-01-21
Also published as: TW202105403A

Abstract

一種測試設備，包含一測試平台、一承載盤以及一驅動機構。測試平台包含複數個第一連接器。承載盤可移動地設置於測試平台上。承載盤包含複數個容置槽。每一個容置槽分別對應複數個第一連接器的其中之一。每一個容置槽容置一電子裝置。電子裝置具有一第二連接器。驅動機構連接於承載盤。驅動機構驅動承載盤相對測試平台於一測試位置與一非測試位置之間移動。當承載盤移動至測試位置時，電子裝置之第二連接器連接至第一連接器。當承載盤移動至非測試位置時，電子裝置之第二連接器與第一連接器分離。

Description

測試設備

本發明關於一種測試設備，尤指一種可同時且自動測試複數個電子裝置之測試設備。

固態硬碟(solid-state disk，SSD)是一種主要以快閃記憶體作為永久性記憶體的電腦儲存裝置。目前，由於M.2固態硬碟之外觀尺寸可以較小的體積展現更好的效能，因此，M.2固態硬碟已逐漸成為固態硬碟技術發展的未來趨勢。於先前技術中，在對M.2固態硬碟進行測試時，需藉由人工手動將M.2固態硬碟插設至測試板上的插槽。測試完成後，再藉由人工手動將M.2固態硬碟自測試板上的插槽拔除。上述方式不僅浪費時間，且耗費人力，使得生產效率降低，且生產成本增加。

本發明提供一種可同時且自動測試複數個電子裝置之測試設備，以解決上述問題。

根據一實施例，本發明之測試設備包含一測試平台、一承載盤以及一驅動機構。測試平台包含複數個第一連接器。承載盤可移動地設置於測試平台上。承載盤包含複數個容置槽。每一個容置槽分別對應複數個第一連接器的其中之一。每一個容置槽容置一電子裝置。電子裝置具有一第二連接器。驅動機構連接於承載盤。驅動機構驅動承載盤相對測試平台於一測試位置與一非測試位置之間移動。當承載盤移動至測試位置時，電子裝置之第二連接器連接至第一連接器。當承載盤移動至非測試位置時，電子裝置之第二連接器與第一連接器分離。

綜上所述，本發明係利用承載盤之複數個容置槽容置複數個電子裝置(例如，M.2固態硬碟)，且於測試平台上設置對應複數個容置槽之複數個第一連接器。驅動機構可驅動承載盤相對測試平台移動至測試位置，使得每一個電子裝置之第二連接器連接至對應的第一連接器，以同時對複數個電子裝置進行測試。在測試完成後，驅動機構可驅動承載盤相對測試平台移動至非測試位置，使得每一個電子裝置之第二連接器與對應的第一連接器分離。藉此，本發明之測試設備即可同時且自動測試複數個電子裝置，以節省時間與人力，使得生產效率提高，且生產成本降低。

關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。

1‧‧‧測試設備

3‧‧‧電子裝置

10‧‧‧測試平台

12‧‧‧承載盤

14‧‧‧驅動機構

16‧‧‧過壓保護機構

30‧‧‧第二連接器

100‧‧‧第一連接器

102‧‧‧第一導引部

120‧‧‧容置槽

122‧‧‧第二導引部

124‧‧‧夾持機構

160‧‧‧滑塊

162‧‧‧滑動件

164‧‧‧固定座

166‧‧‧彈性件

168‧‧‧感測器

170‧‧‧警報器

1240‧‧‧夾持件

A‧‧‧箭頭

第1圖為根據本發明一實施例之測試設備的俯視示意圖。

第2圖為第1圖中的每一個容置槽分別容置一個電子裝置的示意圖。

第3圖為第2圖中的承載盤移動至測試位置的示意圖。

第4圖為第3圖中的過壓保護機構的側視示意圖。

請參閱第1圖至第4圖，第1圖為根據本發明一實施例之測試設備1的俯視示意圖，第2圖為第1圖中的每一個容置槽120分別容置一個電子裝置3的示意圖，第3圖為第2圖中的承載盤12移動至測試位置的示意圖，第4圖為第3圖中的過壓保護機構16的側視示意圖。

如第1圖至第4圖所示，測試設備1包含一測試平台10、一承載盤12、一驅動機構14以及複數個過壓保護機構16。測試平台10包含複數個第一連接器 100以及二第一導引部102，其中複數個第一連接器100間隔設置，且二第一導引部102位於複數個第一連接器100之相對二側。

承載盤12可移動地設置於測試平台10上。承載盤12包含複數個容置槽120、二第二導引部122以及複數個夾持機構124。每一個容置槽120分別對應複數個第一連接器100的其中之一。換言之，複數個容置槽120係對應複數個第一連接器100間隔設置。於此實施例中，第一連接器100與容置槽120之數量皆為八個，但不以此為限。第一連接器100與容置槽120之數量可根據實際應用而決定。此外，二第二導引部122位於複數個容置槽120之相對二側且對應二第一導引部102。於此實施例中，第一導引部102可為導引桿，第二導引部122可為導引孔，但不以此為限。於另一實施例中，第一導引部102亦可為導引孔，第二導引部122亦可為導引桿，視實際應用而定。再者，每一個夾持機構124分別對應複數個容置槽120的其中之一設置。於此實施例中，每一個夾持機構124可包含二夾持件1240，其中二夾持件1240係分別位於容置槽120的相對二側。

驅動機構14連接於承載盤12。驅動機構14係用以驅動承載盤12相對測試平台10於一測試位置(如第3圖所示)與一非測試位置(如第2圖所示)之間移動。於此實施例中，驅動機構14可由馬達與其它連動結構組成。

每一個過壓保護機構16分別對應複數個容置槽120的其中之一中設置。於此實施例中，過壓保護機構16可包含一滑塊160、一滑動件162、一固定座164、一彈性件166、一感測器168以及一警報器170，如第4圖所示。滑塊160與固定座164係設置於容置槽120中。滑動件162之一端固定於滑塊160，且滑動件162之另一端可滑動地連接於固定座164。彈性件166套設於滑動件162上，使得彈性件166之相對二端分別抵接於滑塊160與固定座164。感測器168對應滑塊160設置。警報器170電性連接於感測器168。於此實施例中，彈性件166可為彈簧或其它彈性體，感測器168可為光學式感測器、機械式感測器或其它感測器，且警報器170可為揚聲器、光源或其它警報裝置。

以測試設備1進行測試時，可利用吸盤(未繪示於圖中)吸取複數個電子裝置3，再以吸盤將複數個電子裝置3分別放置於承載盤12之複數個容置槽120中。此時，每一個容置槽120即容置一個電子裝置3，如第2圖所示。於此實施例中，電子裝置3可為M.2固態硬碟或其它電子裝置。當電子裝置3為M.2固態硬碟時，電子裝置3之長度可為2230毫米、2242毫米、2260毫米、2280毫米、22110毫米或其它長度，視實際應用而定。每一個電子裝置3具有一第二連接器30。接著，驅動機構14會驅動承載盤12相對測試平台10自第2圖所示之非測試位置移動至第3圖所示之測試位置。如第3圖所示，當承載盤12移動至測試位置時，每一個電子裝置3之第二連接器30即會連接至對應的第一連接器100，以同時對複數個電子裝置3進行測試。此外，當承載盤12移動至測試位置時，二第一導引部102與二第二導引部122即會相互配合，以將承載盤12導正，使得每一個電子裝置3之第二連接器30可與對應的第一連接器100準確地對位。

在測試完成後，可先驅動夾持機構124之二夾持件1240夾持電子裝置3。於此實施例中，可藉由汽缸(未繪示於圖中)或其它驅動機構驅動夾持機構124，視實際應用而定。接著，再由驅動機構14驅動承載盤12相對測試平台10自第3圖所示之測試位置移動至第2圖所示之非測試位置。如第2圖所示，當承載盤12移動至非測試位置時，每一個電子裝置3之第二連接器30即會與對應的第一連接器100分離。接著，可利用吸盤(未繪示於圖中)將容置槽120中的電子裝置3移走，以進行下一批電子裝置3的測試。

於此實施例中，當承載盤12移動至第3圖所示之測試位置且電子裝置3被過度擠壓時，過壓保護機構16可發出一警示訊息，以提醒相關人員注意。當電子裝置3容置於容置槽120中時，電子裝置3可抵靠於滑塊160，如第4圖所示。因此，當電子裝置3被過度擠壓時，電子裝置3即會朝箭頭A的方向推動滑塊160 而觸發感測器168。當感測器168被觸發時，感測器168即會傳送一感測訊號至警報器170，使得警報器170發出警示訊息(例如，聲音、光線或其它訊息)，以提醒相關人員注意。當電子裝置3朝箭頭A的方向推動滑塊160時，滑塊160會壓縮彈性件166，以提供電子裝置3朝箭頭A的方向退縮的空間。藉此，可防止電子裝置3因過度擠壓而損壞。

以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。