CN111930574A - Ssd测试系统及ssd测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种SSD测试系统，该SSD测试系统包括依次连接的测试主机、拓展板和多个SSD测试载板，所述SSD测试载板用于安装SSD；所述测试主机，用于下发与待测功能对应的测试主信号；所述拓展板，用于接收所述测试主信号，将所述测试主信号解析成多个测试分信号并下发给所述SSD测试载板；所述SSD测试载板，用于对应接收所述测试分信号，以根据所述测试分信号对多个SSD进行功能测试。本发明的SSD测试系统可实现SSD多项功能的集中测试，简化了SSD功能测试过程，提高了测试能力以及测试效率。此外，本发明还公开了一种SSD测试方法。

Description

SSD测试系统及SSD测试方法
技术领域
本发明涉及固态硬盘测试技术领域，特别涉及一种SSD测试系统及SSD测试方法。
背景技术
随着互联网的飞速发展，人们对数据信息的存储需求也在不断提升，SSD(SolidState Drives，固态硬盘)作为一种用于存储数据信息的载体，因具有存储速度快、功耗低等特点，而被广泛应用于车载、工控、视频监控、网络监控等众多领域。
目前，SSD在生产过程中需进行一次开卡测试、RDT坏块测试、BIT机内自测试和二次开卡测试等多项测试，以验证其功能的完整性。然而，在现有的SSD测试的系统中，其对于SSD每一项功能的测试均配置有相应的测试载板，即具备较多测试工位，不同的测试工位可测试SSD的不同功能，故在SSD完成各项功能测试的过程中需进行多次拔插以及通断电操作，测试过程繁琐，工序复杂；并且，其所采用的为测试主机与测试终端直连的测试方式，单次测试的SSD数量有限，测试能力不足且测试效率低。
发明内容
本发明通过提出一种SSD测试系统及SSD测试方法，以解决目前SSD测试系统测试麻烦、测试能力不足且测试效率低的问题。
具体地，本发明提出一种SSD测试系统，该SSD测试系统包括依次连接的测试主机、拓展板和多个SSD测试载板，所述SSD测试载板用于安装SSD；
所述测试主机，用于下发与待测功能对应的测试主信号；
所述拓展板，用于接收所述测试主信号，将所述测试主信号解析成多个测试分信号并下发给所述SSD测试载板；
所述SSD测试载板，用于对应接收所述测试分信号，以根据所述测试分信号对多个SSD进行功能测试。
优选地，所述SSD测试载板上设有多个SSD接口和多个数据接口，每一个所述数据接口对应多个所述SSD接口。
优选地，所述拓展板为若干块，多个所述SSD测试载板组成SSD测试载板组，每一所述SSD测试载板组对应一块所述拓展板。
优选地，所述SSD测试系统还包括用于放置SSD、且可调节测试温度的高温箱。
优选地，所述高温箱上设有通风扇。
优选地，所述测试主机与所述拓展板通过8087集成数据线或8642集成数据线进行数据交互。
本发明还提出一种SSD测试方法，其中，该SSD测试方法包括：
测试主机接收测试操作指令，根据所述测试操作指令生成测试主信号并将所述测试主信号发送给拓展板；
所述拓展板将所述测试主信号解析成多个测试分信号，并将多个所述测试分信号对应发送给多个SSD测试载板；
所述SSD测试载板根据所述测试分信号对SSD进行功能测试。
优选地，所述测试主机接收测试操作指令，根据所述测试操作指令生成测试主信号并将所述测试主信号发送给拓展板包括：
测试主机接收测试操作指令，根据所述测试操作指令生成第一SAS信号，将所述第一SAS信号发送给所述拓展板；
则，所述拓展板将所述测试主信号解析成多个测试分信号，将多个所述测试分信号对应发送给多个SSD测试载板包括：所述拓展板对所述第一SAS信号进行解析，得到多路第一SATA信号，将多路所述第一SATA信号对应发送给所述SSD测试载板。
优选地，所述测试主机将所述测试主信号发送给拓展板包括：
所述测试主机将所述测试主信号通过多张SAS卡发送给多个所述拓展板。
优选地，其特征在于，所述SSD测试方法还包括：
所述SSD测试载板接收所述SSD完成功能测试的第二SATA信号，将所述第二SATA信号发送给所述拓展板；
所述拓展板对所述第二SATA信号进行处理，得到第二SAS信号，将所述第二SAS信号发送给所述测试主机。
本申请实施例的技术方案与现有技术相比，其有益效果在于：本SSD测试系统由测试主机、拓展板和SSD测试载板等组成，其通过测试主机下发与待测功能对应的测试主信号，并经拓展板将测试主信号解析成多个测试分信号以对应发送至多个SSD测试载板，从而使得SSD测试载板根据测试分信号对其所连接的SSD进行功能测试。其中，通过所设拓展板实现测试信号传输路径的扩充，以连接多块SSD测试载板，使SSD的测试数量大量增加，测试能力及测试效率大大提高；并且，测试主机可通过下发对应不同待测功能的测试主信号，以使得SSD测试载板对SSD的不同功能进行测试，将SSD原本分散的功能测试集中于一块SSD测试载板上，从而避免多次拔插以及通断电操作，使测试过程和测试工序得以简化。
附图说明
图1为本发明一实施例提供的SSD测试系统的结构示意图；
图2为本发明一实施例提供的SSD测试方法的流程图；
图3为本发明又一实施例提供的SSD测试方法的流程图；
图4为本发明又一实施例提供的SSD测试方法的流程图；
图5为本发明又一实施例提供的SSD测试方法的流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的方案进行清楚完整的描述，显然，所描述的实施例仅是本发明中的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提出一种SSD测试系统，参照图1至图3，该SSD测试系统包括依次连接的测试主机10、拓展板20和多个SSD测试载板30，SSD测试载板30用于安装SSD；
测试主机10，用于下发与待测功能对应的测试主信号；
拓展板20，用于接收测试主信号，将测试主信号解析成多个测试分信号并下发给SSD测试载板30；
SSD测试载板30，用于对应接收测试分信号，以根据测试分信号对多个SSD进行功能测试。
本实施例所涉及的SSD测试系统用于对SSD进行功能测试，其可实现SSD多项功能的统一测试，如一次开卡测试、RDT坏块测试、BIT机内自测试和二次开卡测试等。具体地，该SSD测试系统主要由测试主机10、拓展板20和SSD测试载板30等组成，测试主机10、拓展板20、SSD测试载板30、SSD依次连接，并且依此连接顺序进行数据交互，如进行测试信号的传输，以对SSD进行功能测试，或者进行测试结果的传输，在SSD完成相关的功能测试后，该SSD的测试结果依次通过SSD测试载板30、拓展板20传输至测试主机10进行结果解析或判断。
其中，测试主机10的作用在于下发与待测功能对应的测试主信号，该测试主机10可为PC电脑主机或其它，包括但不限于此，本领域技术人员可根据实际情况进行选择。测试主机10可通过接收人为下达的测试操作指令以下发测试主信号，并且不同的测试操作指令对应SSD的不同功能测试，以及下发不同的测试主信号，其通过预先存储在测试主机10内的控制程序所实现。进一步地，测试主机10包括测试主板，测试主板上设有PCIE插槽并对应插装有SAS(Serial Attached SCSI)卡，SAS卡上设有用于传输测试主信号的SAS接口，SAS卡可兼容并支持多个SATA接口，该测试主信号即为SAS信号。
拓展板20的作用在于接收测试主机下发的测试主信号，以将测试主信号解析成多个测试分信号并下发，即将测试主机10用于与SSD测试载板30连接以进行测试的一个端口扩充为多个端口，具体地，该拓展板20上设有输入接口和若干个输出接口，其输入接口通过数据线与测试主机10的SAS接口连接，其若干个输出接口通过数据线与多个SSD测试载板30对应连接；拓展板20上还设有处理器，该处理器可将测试主信号解析分成多个测试分信号。SSD测试载板30的作用在于接收测试分信号以对SSD进行功能测试，SSD测试载板30内设有测试电路，SSD测试载板30上设有数据接口、SSD接口以及电源接口，数据接口用于与拓展板20连接，SSD接口用于与待测SSD连接，电源接口则通过电源线连接供电电源，以实现通电测试。其中，SSD接口为SATA接口，测试分信号即为SATA信号。
本SSD测试系统的测试原理为：根据SSD的所需测试功能对应下达测试指令，测试主机10接收到测试指令后下发与待测功能对应的测试主信号并传输至拓展板20，拓展板20将接收到的测试主信号解析成多个测试分信号以对应下发给多个SSD测试载板30，SSD测试载板30根据所接收的测试分信号对与其连接的SSD进行功能测试；并且，待SSD测试完成后，SSD测试载板30将表示测试结果的反馈信号经拓展板20传输至测试主机10，以向测试主机10反馈测试结果。
进一步地，测试主机10可接收SSD待测功能A的测试指令，并经SAS卡传输测试信号以及经拓展板20对测试信号进行解析处理，从而对多个SSD测试载板30所连接的SSD统一进行功能A的测试；此外，测试主机10还可同时接收SSD待测功能A、B等多个功能的测试指令，并经SAS卡指定分配传输不同的测试信号以及拓展板20解析处理，对多个SSD测试载板30所连接的SSD分别进行功能A、B等的测试。
因此，容易理解的是，本SSD测试系统通过所设拓展板20实现测试信号传输路径的扩充，以连接多块SSD测试载板30，使SSD的测试数量大量增加，测试能力及测试效率大大提高；并且，测试主机10可通过下发对应不同待测功能的测试信号，以使得SSD测试载板30对SSD的不同功能进行测试，将SSD原本分散的功能测试集中于一块SSD测试载板30上，从而避免多次拔插以及通断电操作，使测试过程和测试工序得以简化。
在一较佳实施例中，SSD测试载板30上设有多个SSD接口和多个数据接口，每一个数据接口对应多个SSD接口。已知的是，SSD测试载板30用于对其所连接的SSD进行功能测试，在SSD测试载板30上设置多个数据接口和多个SSD接口，并采用一个数据接口对应多个SSD接口的通信设置，以通过增加SSD测试载板10上数据接口以及SSD接口的数量，而增加SSD测试载板30上测试SSD的数量，从而进一步提高测试产能及测试效率。具体地，数据接口可为12个，SSD接口可为48个，1个数据接口对应4个SSD接口，应当注意的是，此仅为示例性的，而非限制性的，对于数据接口和SSD接口的数量设置以及对应关系，本领域技术人员可根据实际情况进行选择。
进一步地，参照图1，拓展板20为若干块，多个SSD测试载板30组成SSD测试载板组，每一SSD测试载板30组对应一块拓展板20。本实施例中，上述所提及的测试主机10的测试主板可选用多路服务器主板或多资源PCIE主板，以设置多张SAS卡，因一张SAS卡连接一块拓展板20，从而多张SAS卡可对应连接多块拓展板20。因拓展板20连接多个SSD测试载板30以进行测试信号传输，拓展板20的增设，使得SSD的测试数量成倍增加，进一步提高测试产能及测试效率。其中，对于拓展板20以及测试主机10上SAS卡的数量设置，本领域技术人员可根据实际情况选择，在此不作限定。
在一较佳实施例中，参照图1，SSD测试系统还包括用于放置SSD、且可调节测试温度的高温箱40。该高温箱40可将所有待测SSD进行统一装箱，用于为待测SSD提供高温测试环境以及测试空间，以辅助其进行功能测试。高温箱40内设有加热器41，以通过加热器41的加热使得箱内温度达到SSD功能测试的温度要求，并且，当SSD进行不同功能测试时，其温度要求不同，则可通过调节加热器41以对箱内温度进行控制。作为优设，加热器41位于高温箱40的内顶壁。
进一步地，参照图1，高温箱40上设有通风扇42。因加热器41的加热，以及SSD在测试过程中自身发热，从而会产生大量热量，箱内热量过多无处散发容易聚集，所设通风扇42可实现高温箱40内外通气，以使高温箱40内温度恒定，不易聚热，保证SSD测试的稳定性。作为优设，通风扇42可设置多个，且在高温箱40的外壁均匀分布。
在一较佳实施例中，测试主机与拓展板通过8087集成数据线或8642集成数据线进行数据交互。其中，所采用的8087集成数据线或8643集成数据线，可使测试主机与拓展板之间的数据信号传输更加稳定，以提高测试的可靠性。
本发明还提出一种SSD测试方法，参照图2，其中，该SSD测试方法包括：
步骤S100：测试主机10接收测试操作指令，根据测试操作指令生成测试主信号并将测试主信号发送给拓展板20；
步骤S200：拓展板20将测试主信号解析成多个测试分信号，并将多个测试分信号对应发送给多个SSD测试载板30；
步骤S300：SSD测试载板30根据测试分信号对SSD进行功能测试。
本实施步骤中，当要对SSD进行某项功能测试时，首先，测试主机10接收测试操作指令，根据该测试操作指令生成测试主信号并将测试主信号发送给拓展板，其中，该测试主机10可为PC电脑主机或其它，包括但不限于此，本领域技术人员可根据实际情况进行选择。测试主机10所接收的测试操作指令可通过人为下达，并且不同的测试操作指令对应SSD的不同功能测试，以及下发不同的测试主信号，其通过预先存储在测试主机10内的控制程序所实现。进一步地，测试主机10包括测试主板，测试主板上设有PCIE插槽并对应插装有SAS(Serial Attached SCSI)卡，SAS卡上设有用于传输测试主信号的SAS接口，SAS卡可兼容并支持多个SATA接口，该测试主信号即为SAS信号。
然后，拓展板20将测试主信号解析成多个测试分信号，并将多个测试分信号对应发送给多个SSD测试载板，即将测试主机10用于与SSD测试载板30连接以进行测试的一个端口扩充为多个端口，具体地，该拓展板20上设有输入接口和若干个输出接口，其输入接口通过数据线与测试主机10的SAS接口连接，其若干个输出接口通过数据线与多个SSD测试载板30对应连接；拓展板20上还设有处理器，该处理器可将测试主信号解析成多个测试分信号。其中，数据线优选8087或8643集成数据线，数据信号传输稳定，测试可靠。
最后，SSD测试载板30根据测试分信号以对其所连接的SSD进行功能测试，SSD测试载板30内设有测试电路，SSD测试载板30上设有数据接口、SSD接口以及电源接口，数据接口用于与拓展板20连接，SSD接口用于与待测SSD连接，电源接口则通过电源线连接供电电源，以实现通电测试。其中，SSD接口为SATA接口，测试分信号即为SATA信号。
另外，需要说明的是，所使用的测试主机10可接收SSD待测功能A、B等多个功能的测试指令，并经SAS卡指定分配传输不同的测试主信号以及经拓展板20对测试主信号进行解析处理，使得SSD测试载板30接收到不同的测试分信号，以对其所连接的不同的SSD分别进行功能A、功能B等功能测试。
当然，除此以外，测试主机10也可接收SSD待测功能A的测试指令，并经SAS卡传输测试信号以及拓展板20解析处理，对SSD测试载板30所连接的SSD统一进行功能A的测试。
即在本SSD测试方法中，根据SSD的所需测试功能对应下达测试指令，测试主机10接收到测试指令后下发与待测功能对应的测试主信号传输至拓展板20，拓展板20将其所接收到的测试主信号解析成多个测试分信号以对应下发给多个SSD测试载板30，SSD测试载板30根据所接收的测试分信号对与其连接的SSD进行功能测试，从而使SSD的测试数量大量增加，测试能力及测试效率大大提高，并且将SSD原本分散的功能测试集中进行，使测试过程和测试工序得以简化。
在一较佳实施例中，参照图3，步骤S100中包括：
步骤S110：测试主机10接收测试操作指令，根据测试操作指令生成第一SAS信号，将第一SAS信号发送给拓展板20；
则，步骤200中包括：步骤S210：拓展板20对第一SAS信号进行解析，得到多路第一SATA信号，将多路第一SATA信号对应发送给SSD测试载板30。
具体地，在本实施步骤中，测试主机10向拓展板20发送一组第一SAS信号(即两路第一SAS信号)，拓展板20对该组第一SAS信号进行解析处理，以得到三组第一SATA信号(即六路第一SATA信号)，且将六路第一SATA信号对应发送给SSD测试载板，SSD载板上设置多个SSD接口，每一路第一SATA信号对应四个SSD接口，即相应实现四个SSD的功能测试。
当然，在实际应用中，也可根据实际需要解析成其他数量的SATA信号，以及使一路第一SATA信号对应其他数量的SSD接口，在此不作限制。
本实施步骤中，所使用的SSD测试载板30上可设置多个SSD接口，以对应与多个SSD连接，即SSD测试载板30接收一个测试分信号，可对多个SSD进行功能测试，可增加SSD测试数量，提升测试能力及测试效率。
在一较佳实施例中，参照图4，步骤S100中包括：
步骤S120：测试主机将测试主信号通过多张SAS卡发送给多个拓展板。
具体地，在本实施步骤中，测试主机10的测试主板可选用多路服务器主板或多资源PCIE主板，以可设置多张SAS卡，因一张SAS卡连接一块拓展板20，从而多张SAS卡可对应连接多块拓展板20。因拓展板20连接多个SSD测试载板30以进行测试信号传输，测试主机10将测试主信号发送给多个拓展板20，使得SSD的测试数量成倍增加，进一步提高测试产能及测试效率。其中，对于拓展板20以及测试主机10上SAS卡的数量设置，本领域技术人员可根据实际情况选择，在此不作限定。
在一较佳实施例中，参照图5，SSD测试方法还包括：
步骤S400：SSD测试载板30接收SSD完成功能测试的第二SATA信号，将第二SATA信号发送给拓展板20；
步骤S500：拓展板20对第二SATA信号进行处理，得到第二SAS信号，将第二SAS信号发送给测试主机10。
本实施步骤中，当SSD所进行的功能测试完成后，SSD测试载板30接收SSD完成功能测试的第二SATA信号并将其发送给拓展板20，拓展板20对该第二SATA信号进行处理而得到第二SAS信号，并将第二SAS信号发送给测试主机10，以向测试主机10反馈测试结果。
以上所述的仅为本发明的部分或优选实施例，无论是文字还是附图都不能因此限制本发明保护的范围，凡是在与本发明一个整体的构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明保护的范围内。

Claims (10)

1.一种SSD测试系统，其特征在于，包括依次连接的测试主机、拓展板和多个SSD测试载板，所述SSD测试载板用于安装SSD；
所述测试主机，用于下发与待测功能对应的测试主信号；
所述拓展板，用于接收所述测试主信号，将所述测试主信号解析成多个测试分信号并下发给所述SSD测试载板；
所述SSD测试载板，用于对应接收所述测试分信号，以根据所述测试分信号对多个SSD进行功能测试。
2.根据权利要求1所述的SSD测试系统，其特征在于，所述SSD测试载板上设有多个SSD接口和多个数据接口，每一个所述数据接口对应多个所述SSD接口。
3.根据权利要求2所述的SSD测试系统，其特征在于，所述拓展板为若干块，多个所述SSD测试载板组成SSD测试载板组，每一所述SSD测试载板组对应一块所述拓展板。
4.根据权利要求1所述的SSD测试系统，其特征在于，还包括用于放置SSD、且可调节测试温度的高温箱。
5.根据权利要求4所述的SSD测试系统，其特征在于，所述高温箱上设有通风扇。
6.根据权利要求1所述的SSD测试系统，其特征在于，所述测试主机与所述拓展板通过8087集成数据线或8642集成数据线进行数据交互。
7.一种SSD测试方法，其特征在于，包括：
测试主机接收测试操作指令，根据所述测试操作指令生成测试主信号并将所述测试主信号发送给拓展板；
所述拓展板将所述测试主信号解析成多个测试分信号，并将多个所述测试分信号对应发送给多个SSD测试载板；
所述SSD测试载板根据所述测试分信号对SSD进行功能测试。
8.根据权利要求7所述的SSD测试方法，其特征在于，所述测试主机接收测试操作指令，根据所述测试操作指令生成测试主信号并将所述测试主信号发送给拓展板包括：
测试主机接收测试操作指令，根据所述测试操作指令生成第一SAS信号，将所述第一SAS信号发送给所述拓展板；
则，所述拓展板将所述测试主信号解析成多个测试分信号，将多个所述测试分信号对应发送给多个SSD测试载板包括：
所述拓展板对所述第一SAS信号进行解析，得到多路第一SATA信号，将多路所述第一SATA信号对应发送给所述SSD测试载板。
9.根据权利要求8所述的SSD测试方法，其特征在于，所述测试主机将所述测试主信号发送给拓展板包括：
所述测试主机将所述测试主信号通过多张SAS卡发送给多个所述拓展板。
10.根据权利要求7至9任意一项所述的SSD测试方法，其特征在于，所述SSD测试方法还包括：
所述SSD测试载板接收所述SSD完成功能测试的第二SATA信号，将所述第二SATA信号发送给所述拓展板；
所述拓展板对所述第二SATA信号进行处理，得到第二SAS信号，将所述第二SAS信号发送给所述测试主机。
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