CN116648619A - 用于确定涂层性质的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于确定测量组件(100)的测量管(110)的内侧表面上的可变涂层的涂层性质的方法，该测量组件用于确定待传导的介质的介质性质，测量组件(100)具有第一微波天线(130)，其被布置在测量管(110)的第一容器中，测量组件(100)具有第二微波天线(131)，其特别是相对于第一微波天线(130)径向地布置，并且特别是以触碰介质的方式被布置在测量管(110)的第二容器中，所述方法包括以下方法步骤：‑借助于第一微波天线(130)发射激励信号，该激励信号包括高频信号的序列；‑借助于第二微波天线(131)接收激励信号；‑基于接收到的激励信号和/或基于接收到的激励信号的变换、特别是积分变换，来确定第一测试变量，该第一测试变量是激励信号沿着第一传播路径传播的特征，该第一传播路径描述激励信号通过内圆周表面上的可变涂层的至少成比例的传播；以及‑基于第一测试变量确定可变涂层的涂层性质、特别是取决于可变涂层的涂层厚度的变量。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于确定可变涂层的涂层性质的方法和涉及一种测量组件。
背景技术
特别地，微波能够被用于确定工艺管线中介质的介电常数和耗散因数的物理变量。从这两个变量——以一个或多个不同频率测量——可以得出关于特定应用参数的结论——例如，关于水在水和其他非极性或低极性成分的混合物中的比例。
在L.F.Chen、C.K.Ong、C.P.Neo、V.V.Varadan、V.K.Varadan的–“MicrowaveElectronics,Measurement and Materials Characterization(微波电子、测量和材料表征)”，John Wiley&Sons Ltd.，2004中描述了已建立的发射/反射测量。为此，微波信号在两个不同的位置耦合到容器或测量管中的介质，这些耦合结构之间的散射参数(发射和可能的反射)被测量，并且根据测量的散射参数，提到的介质的物理性质被计算。
WO 2018/121927 A1公开了一种用于借助于微波分析流动介质的性质的测量组件。测量组件除了微波天线外，在测量管的内圆周表面上还具有电绝缘衬套层。该衬套层形成介电波导，微波能够经由该介电波导至少部分地从第一微波天线行进到第二微波天线。这种测量组件的应用是确定要引导的介质中的固体分数。这种应用会在测量管的内圆周表面和微波天线上形成涂层——例如，由于介质中的固体。
发明内容
因此，本发明的目的是提供一种用于微波装置的涂层检测的方法，利用该方法能够检测测量管的内圆周表面上的可变涂层的存在。
该目的通过根据权利要求1的方法实现。
根据本发明的用于确定测量组件的测量管的内圆周表面上的可变涂层的涂层性质的方法，该测量组件用于确定待引导的介质特别是多相介质的介质性质，
其中，测量组件具有第一微波天线，该第一微波天线特别是以介质接触方式被布置在测量管的第一容器中，
其中，测量组件具有特别是相对于第一微波天线径向地布置的第二微波天线，该第二微波天线特别是以介质接触方式被布置在测量管的第二容器中，
其中，所述方法包括以下方法步骤：
-借助于第一微波天线发射激励信号，
其中，激励信号包括高频信号的序列；
-借助于第二微波天线接收激励信号；
-基于所接收到的激励信号和/或基于所接收到的激励信号的变换、特别是积分变换，来确定第一测试变量，
其中，第一测试变量是激励信号沿第一传播路径传播的特征，
其中，第一传播路径描述了激励信号通过内圆周表面上的可变涂层的至少部分传播；
-基于第一测试变量，确定可变涂层的涂层性质、特别是取决于可变涂层的涂层厚度的变量。
本发明的有利实施例是从属权利要求的主题。
一个实施例规定，第一测试变量包括第一频率，所接收到的激励信号的衰减在该第一频率处具有全局极值、特别是最大值，
其中，当第一频率偏离频率目标范围时，推断出内圆周表面上存在可变涂层。
一个实施例规定，第一测试变量包括第一频率和第二频率之间的频率差，
其中，在第一频率处存在全局极值、特别是衰减的最大值，
其中，在第二频率处，存在偏离全局极值、特别是衰减的最大值的局部极值，
其中，当频率差偏离频率差目标范围时，推断出内圆周表面上存在可变涂层。
一个实施例规定，第一测试变量包括根据频率的所发射的激励信号和所接收到的激励信号之间的相位差的变化，
其中，当变化偏离变化目标范围时，推断出内圆周表面上存在可变涂层。
一个实施例规定，确定第一测试变量包括确定与所接收到的激励信号的实部和虚部之间的右唯一性偏离的数量，
其中，当该数量偏离目标范围时，推断出内圆周表面上存在可变涂层。
一个实施例提供了以下方法步骤：
-特别是借助于积分变换，并且优选地借助于逆傅立叶变换，将接收到的激励信号变换成时间段
其中，变换后的激励信号具有第一时间范围，
其中，至少根据第一时间范围的值来确定第一测试变量。
一个实施例规定，第一时间范围具有下限和上限，
其中，对于测量管的接触的特征长度L，下限大于或等于0.7·L/mm ps，特别是大于或等于2.3·L/mm ps，并且优选地大于或等于4·L/mm ps，
其中，上限小于或等于17·L/mm ps，特别是小于或等于13·L/mm ps，并且优选地小于或等于9·L/mm ps。
已经发现在先前描述的第一时间范围的限制内确定第一测试变量是特别有利的。这消除了要引导的介质的影响并防止过早地生成错误警报。
一个实施例规定，第一测试变量包括第一时间值或对应第一时间值的第一振幅值，
其中，所分配的第一振幅值在第一时间值处最大。
一个实施例规定，测试变量包括在第一时间子范围上从所接收到的激励信号的频谱导出的振幅信号的总和或积分，
其中，第一时间子范围在第一时间范围内。
一个实施例提供了以下方法步骤：
-根据第一测试变量、特别是第一测试变量的时间变化，确定直到测量组件的维护措施为止的剩余操作时间。
这具有测量组件的操作者被及时通知并且能够在维护间隔之外安排维护或者能够采取早期行动以去除涂层或减少涂层的形成的优点。
一个实施例提供了以下方法步骤：
-根据接收到的激励信号或特别是所接收到的激励信号中的一个的变换，确定第二测试变量，
其中，该第二测试变量是激励信号沿第二传播路径传播的特征，
其中，第二传播路径描述了激励信号沿连接第一微波天线和第二微波天线的直线的传播，
其中，变换后的激励信号具有第二时间范围，
其中，该第二时间范围不同于第一时间范围，
其中，在第二时间范围中确定第二测试变量；
-根据第二测试变量确定要引导的介质特别是多相介质的介质特征。
特别有利的是，除了检测涂层形成之外，还能够检测介质中的固体部分。这是基于第二测试变量完成的，该第二测试变量优选地也基于接收到的激励信号的变换来确定。
一个实施例规定，第二时间范围具有下限和上限，
其中，下限大于或等于10·L/mm ps，特别是大于或等于15·L/mm ps，并且优选地大于或等于21·L/mm ps，
其中，上限小于或等于40·L/mm ps，特别是小于或等于33·L/mm ps，并且优选地小于或等于27·L/mm ps，
其中，特征长度L是第一微波天线和第二微波天线之间的特别是最小距离。
恰恰对于要引导的介质包含水的应用，确定第二测试变量的上述限制中的第二时间范围的限制已被证明是特别有利的。
一个实施例规定，第二时间范围具有第二时间值，与第二时间值相关联的第二振幅值在该第二时间值处最大，
其中，第一测试变量包括第一时间值与第二时间值之间的比率、第一振幅值与第二振幅值之间的比率、和/或振幅信号在第一时间子范围上的总和或积分与振幅信号在第二时间子范围上的总和或积分之间的比率，
其中，该第二时间子范围在第二时间范围内。
一个实施例提供了以下方法步骤：
-在第一微波天线处接收反射的激励信号；
-根据该反射的激励信号和/或该反射激励信号的变换，特别是积分变换，确定第三测试变量；
-根据第三测试变量确定校正的管横截面，和/或根据第一测试变量和第三测试变量、特别是第三测试变量和/或第一测试变量的时间变化，来确定直到测量组件的维护措施为止的剩余操作时间。
基于第一测试变量，至少能够确定测量管的内圆周表面上涂层的存在。另外，能够确定涂层厚度。为了明确或更准确地确定这一点，考虑第三测试变量也是有利的。考虑到涂层厚度，能够确定内部测量管横截面的减小程度，这在用于确定介质的进一步的过程性质的设备中是特别有利的，其发生在了解内部测量管横截面的情况下，以避免对所确定的过程性质的歪曲。
根据本发明的测量组件包括：
-用于引导介质的测量管，
其中，测量管具有外圆周表面、内圆周表面和两个特别是径向的容器；
-第一微波天线，其被布置在测量管的第一容器中；
-第二微波天线，其被布置在测量管的第二容器中；
-测量电路，
其中，测量电路具有高频发生器，其用于向第一微波天线馈送激励信号，特别是高频信号的序列，
其中，测量电路被配置为基于从第二微波天线接收到的激励信号来确定在测量管中引导的介质特别是多相介质的至少一个特征，
其中，测量电路附加地被配置为执行根据本发明的方法。
附图说明
参考以下附图更详细地解释本发明。如下示出：
图1a：根据现有技术的测量组件的示例性实施例的空间表示；
图1b：图1a的测量组件的侧视图；
图1c：图1b的测量组件在平面C-C中的横截面；
图1d：图1b的测量组件在平面D-D中的横截面；
图1e：图1d的测量组件在由E标识的位置处的详细视图；
图2：在具有和不具有可变涂层的测量管中发射的激励信号的波传播的示例性表示；
图3：波传播在根据本发明的具有连续可变涂层的测量组件中的场分布的示例性模拟结果；
图4：在1.8至3.0GHz频率范围上发射的激励信号和发射的激励信号的逆快速傅立叶变换；
图5：具有和不具有可变涂层的测量管中反射的波传播的示例性表示；
图6：根据本发明的测量组件的另一实施例的立体图；
图7：1.8至3.0GHz频率范围上的反射的激励信号和根据涂层厚度的反射的激励信号的平均值；
图8：具有根据本发明的测量组件的过程装置的示意表示；以及
图9：根据本发明的用于确定可变涂层的涂层性质的方法的方法链。
具体实施方式
图1a至1e所示的测量组件100包括部分为圆柱形并具有端侧金属连接凸缘112的测量管110，该测量管衬有衬套120，该衬套120对本发明不是必需的并且包括塑料——例如聚氨酯或含氟聚合物，诸如PFA或PTFE。衬套120可以具有面侧密封表面122，其引出测量管110并且抵靠在凸缘112的面侧上。为了能够耦合进和耦合出微波，测量组件100包括两个微波天线130、131，其细节在图1e中具体示出，它们彼此相对地布置在测量管110的圆周表面上。在微波天线130、131的区域，测量管110分别具有一个孔径114，其在测量管110的外圆周表面处被螺纹套筒116包围，夹紧环118拧入该螺纹套筒116以夹紧陶瓷板132，其形成用于平面天线的支撑体，以及末端板134，末端板134布置在陶瓷板132的外侧抵靠衬套120。为了补偿温度波动和制造公差，可以在夹紧环118与陶瓷板132或末端板134之间另外布置弹性环136。在陶瓷板132的位置，衬套120从其外侧具有凹陷124，该凹陷124被陶瓷板132完全填充。结果，平面天线的支撑体被引入到衬套120中，而不影响衬套120朝向测量管内部的完整性。另外，测量组件的抗压强度通过陶瓷板132和夹紧环118的合适尺寸来保持。对于所图示的测量组件100，如果衬套120在测量管110的纵向方向上由特别是金属的导电材料另外界定，这将是有利的。这方面的示例是经由过程连接件112连接的管道的金属管。此外，测量组件100包括连接到微波天线130、131的测量电路260。测量电路260具有高频发生器用于向第一微波天线130馈送激励信号，特别是高频信号的序列，并且被配置为基于从第二微波天线131接收到的激励信号来确定在测量管110中引导的介质的至少一个过程性质，其中该过程性质对应于介质中的固体分数。此外，测量电路260还被配置为执行根据本发明的方法。
图2是在没有可变涂层(左)和具有可变涂层(右)的测量管的情况下发射的激励信号的波传播的示例性表示。横截面示出了第一微波天线130和第二微波天线131，它们沿径向布置在测量管110上并且以最短距离dMA间隔开。第一微波天线130被配置为生成激励信号并将其馈入要引导的介质中。第二微波天线131被配置为检测发射的激励信号。微波天线130、131均适用于生成和检测激励信号。在这种情况下，测量管110包括在内圆周表面上没有电绝缘衬套的金属支撑管。如果测量组件100中没有可变涂层，则激励信号基本上通过具有介电常数εm的介质传播。为了简单起见，省略了激励信号沿着支撑管的传播。白色箭头指示激励信号的最短路径。激励信号通过介质的行进时间的下限是
其中c0是真空中的光速，水的值假定为介电常数εM。如果在测量管的内表面上形成介电常数为εcoating的连续涂层，该涂层将两个微波天线130、131彼此连接并分别覆盖端面，则形成进一步的路径，沿着该路径优选地传播激励信号(见弯曲箭头)。进一步的路径的行进时间能够由下式确定
其中，饱和碳的典型值被假定为介电常数εcoating的值。激励信号沿着进一步的路径的行进时间因此明显低于激励信号通过介质的行进时间的下限。根据本发明的用于确定可变涂层的涂层性质的存在的方法利用了这一点并且基于所确定的发射的信号的行进时间推导出涂层的存在及其涂层性质。
主要在可变涂层中传播的每种模式导致导电边界表面中相关联的电流密度分布。然而，衬套的介质接触边界层中的这种电流密度分布也导致电磁场传播到非理想导电介质中。边界层因此实现了天线的功能。与典型的水介质相比，可变涂层中更快的传播速度导致通过介质电磁功率的定向发射，如图3所示。这里的灰度级对应于电场强度。
作为示例，图4示出了在作为要引导的介质的水上发射的激励信号，其中该激励信号是具有不同频率的多个信号。如果忽略噪声或测量误差，则其中不存在涂层的H2O参考测量的测量的激励信号在整个频率范围上连续下降，即，激励信号的衰减随着频率的增加而增加。在测量管的内圆周表面上存在连续涂层的情况下，不管涂层的厚度(1、3或5mm)，在每种情况下在激励信号中形成两个具有不同衰减值的最小值。随着涂层厚度的增加，最小值的频率也移动到更高的频率。逆傅立叶变换——在该情况下为逆快速傅立叶变换(IFFT)——将激励信号从频率范围变换到时间范围。对于0到4ns的时间范围中的参考测量，变换后的激励信号在大约2.4ns的行进时间只有一个最大值，这也对应于激励信号通过水的预期行进时间。如果存在涂层，则在较短的行进时间(约0.7ns)会形成进一步的最大值。在涂层厚度为1mm的涂层的情况下，该最大值仅是肩的形式，但随着涂层厚度的增加而增加，使得例如，对于5mm的涂层厚度，振幅值已经高于通过水的激励信号的贡献。第二个最大值的原因是由于涂层形成了进一步的路径，激励信号沿着该路径以更短的行进时间传播。沿最短距离的行进时间的振幅值随着涂层的存在而增加。这是由于通过微波天线的端面上的涂层，激励信号与水的耦合得到改善。
图5示出了反射的激励信号在没有可变涂层(左)和具有可变涂层(右)的测量管中的波传播的示例性表示。另外，图5示出了上述两种情况的特写视图。在无涂层的情况下，所生成的激励信号(介质方向上的第一个宽箭头)在具有介电常数εm的介质的界面处至少部分地反射(与第一个箭头相反的第二个窄箭头)。然而，大部分激励信号被馈送到介质中(介质中的第三个箭头)。如果微波天线的端面上有介电常数εcoating＜εm的涂层，则大部分激励信号在涂层的界面处被反射，并且被微波天线处的测量检测到。这对检测反射的激励信号的微波天线的测量信号有很大影响。测量信号，特别是测量信号的衰减值，随着涂层厚度的增加而增加。
最后，图6示出了测量组件200的另一示例性实施例，其基本上对应于图1a至1e的测量组件。除了用于微波信号的两个微波天线230、231之外，两个励磁线圈组件240在用于磁感应流量测量(MID)的测量管210上以相同的定向布置。在励磁线圈组件240的轴向位置，两个相对的电极245被布置成垂直于作用在励磁线圈组件240之间的磁场的方向并且垂直于测量管的轴向方向，这些电极延伸穿过测量管210和衬套220进入测量管210的内部，以便检测流动介质的取决于流动的电势。(在图中，只示出了一个电极。)另外，测量组件200包括用于检测介质的温度的温度传感器250。测量组件200还包括测量电路260，微波天线230、231、励磁线圈组件240、电极245和温度传感器250连接到该测量电路260。测量电路260能够具有多个子单元，其分别处理测量组件200的不同测量任务。此外，测量电路260包括被配置成将不同频率的高频信号的序列馈送到微波天线230、231中的至少一个的高频发生器。在修改中，也能够使用在电极245的位置处具有集成MID电极的空心导体天线，而不是分离的微波天线230、231。
图7示出了1.8至3.0GHz频率范围上的反射的激励信号(左图)以及根据涂层厚度的相应反射的激励信号的平均值(右图)。在无涂层状态下反射的激励信号有两个明显的极值。在从1.8到大约2.9GHz的频率范围中，激励信号强度低于存在涂层的情况。随着涂层厚度的增加，激励信号强度也在1.8至约2.9GHz的频率范围中增加。报告频率子范围上的信号强度示出了对涂层厚度的依赖性。在报告的基础上——例如，频率子范围上的平均、求和或积分——能够确定涂层厚度。
图8示意性地示出了具有根据本发明的测量组件100和用于确定介质的另一过程性质、特别是体积流量的设备310的过程装置300，该设备具有用于确定取决于过程性质的测量变量的测量电路320。该测量电路320被配置成根据所确定的测量变量和借助于测量组件100确定的涂层性质来确定校正的过程性质。进一步的过程性质例如能够是当由于测量管的内圆周表面上的涂层而改变流动横截面面积时偏离实际体积流量的计算体积流量。
图9示出了根据本发明的用于确定涂层性质的方法序列。方法序列具有以下方法步骤，这些步骤不一定必须按预定顺序进行：
-借助于第一微波天线发射激励信号，其中该激励信号包括高频信号的序列或者是高频信号的序列。
-借助于第二微波天线接收激励信号，其中接收到的激励信号是取决于频率的信号强度或取决于频率的衰减值。
-借助于逆傅立叶变换将接收到的激励信号变换成时间段，其中变换后的激励信号具有第一时间范围，其中第一测试变量至少根据第一时间范围的值加以确定。第一时间范围具有与特征长度L相关的下限和上限，其对应于例如测量管的标称宽度或微波天线的最小距离。因此，下限大于或等于0.7·L/mm ps，特别是大于或等于2.3·L/mm ps，优选地大于或等于4·L/mm ps，并且上限小于或等于17·L/mm ps，特别是小于或等于13·L/mmps，优选地小于或等于9·L/mm ps。
替代地，能够使用其他变换(例如，拉普拉斯变换、Z变换等)将取决于频率的激励信号变换为时间段。
-基于接收到的激励信号的积分变换确定第一测试变量，其中第一测试变量是激励信号沿第一传播路径传播的特征，其中第一传播路径描述通过内圆周表面上的可变涂层至少部分传播的激励信号。当涂层的介电常数εcoating明显小于介质的介电常数εm时，通过测量管内圆周表面上的可变涂层的部分激励信号具有(尽管行进路径长)更短的行进时间。
例如，第一测试变量能够是第一频率，接收到的激励信号的衰减在该频率处具有全局极值，特别是最大值。在这种情况下，当第一频率偏离频率目标范围时，推断出内圆周表面上存在可变涂层。
第一测试变量也能够是存在于第一频率和第二频率之间的频率差，其中全局极值，特别是衰减的最大值，存在于第一频率处，并且不同于全局极值特别是衰减的最大值的局部极值，存在于第二频率处。如果频率差偏离频率差目标范围，则能够推断出内圆周表面上存在可变涂层。
第一测试变量也能够是根据频率的发射的激励信号和接收到的激励信号之间的相位差的变化。在这种情况下，当变化偏离变化目标范围时，推断出内圆周表面上存在可变涂层。
替代地，确定第一测试变量能够包括确定与接收到的激励信号的实部和虚部之间的右唯一性偏离的数量。在测量的激励信号的Smith图中，这些右唯一性能够清楚地识别为循环。如果该数量偏离目标范围，则推断出内圆周表面上存在可变涂层。
第一测试变量替代地是第一时间值或对应的第一时间值的第一振幅值，其中所分配的第一振幅值在第一时间值处最大。测试变量还能够是从接收到的激励信号的频谱导出的振幅信号在第一时间子范围上的总和或积分，其中该第一时间子范围在第一时间范围内。
-在第一测试变量的基础上确定可变涂层的涂层性质。例如，涂层性质能够是是否已经形成将两个微波天线彼此连接的涂层的标准。在这种情况下，形成用于激励信号的路径，在该路径中激励信号具有比在最小距离上更短的行进时间。
-在第一微波天线处接收反射的激励信号。
测量电路还被配置为测量在与介质和/或涂层的界面处反射的激励信号。
-根据反射的激励信号或基于激励信号在预定或可变频率范围上的积分确定第三测试变量。
-根据第三测试变量确定涂层厚度。
替代地，提供进一步的方法步骤：
-根据第三测试变量确定校正后的管横截面；
-根据第一测试变量和第三测试变量，特别是第三测试变量和/或第一测试变量的时间变化，确定直到测量组件的维护措施为止的剩余操作时间；
-根据第一测试变量，特别是第一测试变量的时间变化，确定直到测量组件的维护措施为止的剩余操作时间。
使用测量组件来确定可流动介质中的固体分数需要以下方法步骤：
-根据接收到的激励信号或特别是所接收到的激励信号中的一个的变换，确定第二测试变量，其中第二测试变量是激励信号沿着第二传播路径传播的特征，其中，第二传播路径描述了激励信号沿连接第一微波天线和第二微波天线的直线的传播。变换后的激励信号具有不同于第一时间范围的第二时间范围并且在其中确定第二测试变量。第二时间范围具有下限和上限，其中下限大于或等于10·L/mm ps，特别是大于或等于15·L/mm ps，优选地大于或等于21·L/mm ps，上限小于或等于40·L/mm ps，特别是小于或等于33·L/mmps，优选地小于或等于27·L/mm ps。从第二时间范围确定第二时间值，与第二时间值相关联的第二振幅值在该第二时间值处最大。第一测试变量为第一时间值与第二时间值的比率、第一振幅值与第二振幅值的比率、和/或振幅信号在第一时间子范围上的总和或积分与振幅信号在第二时间子范围上的总和或积分的比率，其中，该第二时间子范围在第二时间范围内。
-根据第二测试变量确定要引导的介质的介质特征或固体分数。
Claims (15)
1.一种用于确定测量组件(100)的测量管(110)的内圆周表面上的可变涂层的涂层性质的方法，所述测量组件用于确定待引导的介质、特别是多相介质的介质性质，
其中，所述测量组件(100)具有第一微波天线(130)，所述第一微波天线特别是以介质接触方式被布置在所述测量管(110)的第一容器中，
其中，所述测量组件(100)具有特别是相对于所述第一微波天线(130)径向地布置的第二微波天线(131)，所述第二微波天线特别是以介质接触方式被布置在所述测量管(110)的第二容器中，
其中，所述方法包括以下方法步骤：
-借助于所述第一微波天线(130)发射激励信号，
其中，所述激励信号包括高频信号的序列；
-借助于所述第二微波天线(131)接收所述激励信号；
-基于所接收到的激励信号和/或基于所接收到的激励信号的变换、特别是积分变换，来确定第一测试变量，
其中，所述第一测试变量是所述激励信号沿第一传播路径传播的特征，
其中，所述第一传播路径描述了所述激励信号通过所述内圆周表面上的可变涂层的至少部分传播；
-基于所述第一测试变量，确定所述可变涂层的涂层性质、特别是取决于所述可变涂层的涂层厚度的变量。
2.根据前一权利要求所述的方法，
其中，所述第一测试变量包括第一频率，所接收到的激励信号的衰减在所述第一频率处具有全局极值、特别是最大值，
其中，当所述第一频率偏离频率目标范围时，推断出所述内圆周表面上存在可变涂层。
3.根据权利要求1所述的方法，
其中，所述第一测试变量包括第一频率和第二频率之间的频率差，
其中，在所述第一频率处存在全局极值、特别是衰减的最大值，
其中，在所述第二频率处，存在偏离所述全局极值、特别是所述衰减的最大值的局部极值，
其中，当所述频率差偏离频率差目标范围时，推断出所述内圆周表面上存在可变涂层。
4.根据权利要求1所述的方法，
其中，所述第一测试变量包括根据所述频率的所发射的激励信号和所接收到的激励信号之间的相位差的变化，
其中，当所述变化偏离变化目标范围时，推断出所述内圆周表面上存在可变涂层。
5.根据权利要求1所述的方法，
其中，确定所述第一测试变量包括确定与所接收到的激励信号的实部和虚部之间的右唯一性偏离的数量，
其中，当所述数量偏离目标范围时，推断出所述内圆周表面上存在可变涂层。
6.根据前述权利要求中的一项所述的方法，包括以下方法步骤：
-特别是借助于积分变换，并且优选地借助于逆傅立叶变换，将接收到的激励信号变换至时间段
其中，变换后的激励信号具有第一时间范围，
其中，至少根据所述第一时间范围的值来确定所述第一测试变量。
7.根据前一权利要求所述的方法，
其中，所述第一时间范围具有下限和上限，
其中，对于所述测量管的接触的特征长度L，所述下限大于或等于0.7·L/mm ps，特别是大于或等于2.3·L/mm ps，并且优选地大于或等于4·L/mm ps，
其中，所述上限小于或等于17·L/mm ps，特别是小于或等于13·L/mm ps，并且优选地小于或等于9·L/mm ps。
8.根据权利要求6和/或7所述的方法，
其中，所述第一测试变量包括第一时间值或对应第一时间值的第一振幅值，
其中，所分配的第一振幅值在所述第一时间值处最大。
9.根据权利要求6和/或7所述的方法，
其中，所述测试变量包括从所接收到的激励信号的频谱导出的振幅信号在第一时间子范围上的总和或积分，
其中，所述第一时间子范围在所述第一时间范围内。
10.根据前述权利要求中的至少一项所述的方法，包括以下方法步骤：
-根据所述第一测试变量、特别是所述第一测试变量的时间变化，确定直到所述测量组件(100)的维护措施为止的剩余操作时间。
11.根据权利要求6所述的方法，包括以下方法步骤：
-根据所接收到的激励信号或特别是所接收到的激励信号中的一个的变换，确定第二测试变量，
其中，所述第二测试变量是所述激励信号沿第二传播路径传播的特征，
其中，所述第二传播路径描述了所述激励信号沿连接所述第一微波天线和所述第二微波天线的直线的传播，
其中，变换后的激励信号具有第二时间范围，
其中，所述第二时间范围不同于所述第一时间范围，
其中，在所述第二时间范围中确定所述第二测试变量，
-根据所述第二测试变量确定待引导的介质、特别是多相介质的介质特征。
12.根据前一权利要求所述的方法，
其中，所述第二时间范围具有下限和上限，
其中，所述下限大于或等于10·L/mm ps，特别是大于或等于15·L/mm ps，并且优选地大于或等于21·L/mm ps，
其中，所述上限小于或等于40·L/mm ps，特别是小于或等于33·L/mm ps，并且优选地小于或等于27·L/mm ps，
其中，所述特征长度L是所述第一微波天线和所述第二微波天线之间的特别是最小距离。
13.根据权利要求11和/或12所述的方法，
其中，所述第二时间范围具有第二时间值，与所述第二时间值相关联的第二振幅值在所述第二时间值处最大，
其中，所述第一测试变量包括所述第一时间值与所述第二时间值之间的比率、所述第一振幅值与所述第二振幅值之间的比率、和/或所述振幅信号在所述第一时间子范围上的总和或积分与所述振幅信号在第二时间子范围上的总和或积分之间的比率，
其中，所述第二时间子范围在所述第二时间范围内。
14.根据前述权利要求中的一项所述的方法，包括以下方法步骤：
-在所述第一微波天线(130)处接收反射激励信号，
-根据所述反射激励信号和/或所述反射激励信号的变换、特别是积分变换，确定第三测试变量，
-根据所述第三测试变量确定校正的管横截面，和/或根据所述第一测试变量和所述第三测试变量、特别是所述第三测试变量和/或所述第一测试变量的时间变化，来确定直到所述测量组件(100)的维护措施为止的剩余操作时间。
15.一种测量组件(100)，包括：
-用于引导介质的测量管(110)，
其中，所述测量管(110)具有外圆周表面、内圆周表面和两个特别是径向的容器；
-第一微波天线(130)，所述第一微波天线被布置在所述测量管(110)的第一容器中；
-第二微波天线(131)，所述第二微波天线被布置在所述测量管(110)的第二容器中；
-测量电路(260)，
其中，所述测量电路(260)具有高频发生器(150)，所述高频发生器用于向所述第一微波天线(130)馈送激励信号、特别是高频信号的序列，
其中，所述测量电路(260)被配置为基于从所述第二微波天线(131)接收到的激励信号来确定在所述测量管(110)中引导的介质、特别是多相介质的至少一个特征，
其中，所述测量电路(260)附加地被配置为执行根据前述权利要求中的至少一项所述的方法。
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