CN116593937A - 一种连接器微开路检测方法 - Google Patents

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CN116593937A
CN116593937A CN202310381292.7A CN202310381292A CN116593937A CN 116593937 A CN116593937 A CN 116593937A CN 202310381292 A CN202310381292 A CN 202310381292A CN 116593937 A CN116593937 A CN 116593937A
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CN
China
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connector
micro
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resistance value
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CN202310381292.7A
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Inventor
田野
曾小马
黄平洋
张丽霞
巫帮锡
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Shenzhen Tongxingda Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Tongxingda Technology Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/54Testing for continuity

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

本发明公开一种连接器微开路检测方法,包括以下步骤:步骤1:制作连接器公座和母座的扣合测试板;步骤2:选取若干组合格的连接器组通过扣合测试板进行扣合测试,检测并记录每一个针脚的阻值,并将检测获得的数据上传系统;步骤3:将需要检测的连接器组的公座和母模设置在扣合测试板上进行扣合测试,检测出每一针脚的阻值并与对应的系统数据进行对比;步骤4:根据对比结果判断连接器组是否出现微开路问题,并输出检测结果。本发明的有益效果在于:可以有效检测出连接器微开路的问题,避免无法通过显微镜与人工目视识别的缺陷,实现精准定位连接器问题,可以提升检测及分析的效率,避免人力物力成本浪费。

Description

一种连接器微开路检测方法
技术领域
本发明涉及显示模组技术领域,尤其涉及一种连接器微开路检测方法。
背景技术
在目前的液晶显示屏与触摸屏行业中,进行整机实验、模组实验等造成连接器不良问题比较多,通常连接器问题都使用显微镜或目视观察来判定连接器是否有异常,准确率不高,并且连接器电性能问题无法识别,导致异常经常重复出现,无法找到真正的问题,造成投入人力与物力的浪费。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术的不足,规避连接器因为出现微开路而难以识别的问题,提供一种连接器微开路检测方法。
本发明的技术方案如下:本发明提供一种连接器微开路检测方法,包括以下步骤:步骤1:制作连接器公座和母座的扣合测试板;步骤2:选取若干组合格的连接器组通过扣合测试板进行扣合测试,检测并记录每一个针脚的阻值,并将检测获得的数据上传系统;步骤3:将需要检测的连接器组的公座和母模设置在扣合测试板上进行扣合测试,检测出每一针脚的阻值并与对应的系统数据进行对比;步骤4:根据对比结果判断连接器组是否出现微开路问题,并输出检测结果。
进一步地,当需要检测的连接器组的任意一针脚的阻值大于对应的系统数据时,则连接器组出现微开路问题,检测结果为不合格,否则检测结果为合格。
进一步地,所述步骤2中至少选择10组合格的连接器组,并选取所有合格的连接器组中经过扣合测试中获得的每一针脚的最大的阻值作为比较基准,当需要检测的连接器组的对应针脚的阻值大于比较基准时,则连接器组出现微开路问题,检测结果为不合格,否则检测结果为合格。
采用上述方案,本发明的有益效果在于:可以有效检测出连接器微开路的问题,避免无法通过显微镜与人工目视识别的缺陷,实现精准定位连接器问题,可以提升检测及分析的效率,避免人力物力成本浪费。
具体实施方式
以下结合具体实施例,对本发明进行详细说明。
在本实施例中,本发明提供一种连接器微开路检测方法,包括:步骤1:用EDA软件先按照连接器组(包括公座和母座)实物规格参数制作连接器公座和母座的扣合测试板。
步骤2:选取若干组合格的连接器组通过扣合测试板进行扣合测试,检测并记录每一个针脚的阻值,并将检测获得的数据上传系统,获得的数据用于作为后续检测的比较基准。
步骤3:将需要检测的连接器组的公座和母模设置在扣合测试板上进行扣合测试,检测出该连接器组的每一针脚的阻值并与对应的系统数据进行对比。
步骤4:根据对比结果判断连接器组是否出现微开路问题,并输出检测结果,当检测结果为合格时,系统可以亮绿灯,当检测结果为不合格时,系统可以亮红灯,并输出数据和标记不良,后续可以对不良进行分析。
具体地,当需要检测的连接器组的任意一针脚的阻值大于对应的系统数据时,则连接器组出现微开路问题,检测结果为不合格,否则检测结果为合格。
进一步地,所述步骤2中至少选择10组合格的连接器组,并选取所有合格的连接器组中经过扣合测试中获得的每一针脚的最大的阻值作为比较基准,当需要检测的连接器组的对应针脚的阻值大于比较基准时,则连接器组出现微开路问题,检测结果为不合格,否则检测结果为合格。例如,选取的10组合格的连接器组中的某一针脚测得的最大阻值为R,则R为需要测试的连接器组的相应针脚的比较基准,当需要测试的连接器组的该针脚的阻值大于R时,则连接器组出现微开路问题,检测结果为不合格,当需要测试的连接器组的所有针脚的阻值均不大于对应的比较基准时,则需要测试的连接器组未出现微开路的问题,连接器组是合格的。
综上所述,本方案的有益效果在于:可以有效检测出连接器微开路的问题,避免无法通过显微镜与人工目视识别的缺陷,实现精准定位连接器问题,可以提升检测及分析的效率,避免人力物力成本浪费。
以上仅为本发明的较佳实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种连接器微开路检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:制作连接器公座和母座的扣合测试板;步骤2:选取若干组合格的连接器组通过扣合测试板进行扣合测试,检测并记录每一个针脚的阻值,并将检测获得的数据上传系统;步骤3:将需要检测的连接器组的公座和母模设置在扣合测试板上进行扣合测试,检测出每一针脚的阻值并与对应的系统数据进行对比;步骤4:根据对比结果判断连接器组是否出现微开路问题,并输出检测结果。
2.根据权利要求1所述的连接器微开路检测方法,其特征在于,当需要检测的连接器组的任意一针脚的阻值大于对应的系统数据时,则连接器组出现微开路问题,检测结果为不合格,否则检测结果为合格。
3.根据权利要求1或2所述的连接器微开路检测方法,其特征在于,所述步骤2中至少选择10组合格的连接器组,并选取所有合格的连接器组中经过扣合测试中获得的每一针脚的最大的阻值作为比较基准,当需要检测的连接器组的对应针脚的阻值大于比较基准时,则连接器组出现微开路问题,检测结果为不合格,否则检测结果为合格。
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