CN116840072B - 一种用于电子连接器的自动检校系统 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及电子连接器检校技术领域，具体公开一种用于电子连接器的自动检校系统，包括：预处理模块、线体极限测试模块、器体极限测试模块、检校分析模块、系统终端和数据库。通过对制造工厂对对应的各待检连接器进行筛选，并对各待检连接器对应的线体进行不同折线弯曲度测试和不同的力度测试，得到各待检连接器对应线体的极限参数，由此分析得到电子连接器对应线体的极限评估值，能够直观地了解电子连接器对应线体的承受极限，便于后续对电子连接器对应线体的检校状态分析提供了有力的数据支撑。

Description

一种用于电子连接器的自动检校系统
技术领域
本发明涉及电子连接器检校技术领域，具体为一种用于电子连接器的自动检校系统。
背景技术
电子连接器是一种用于连接和传输电信号、电力或数据的设备或组件。电子连接器在电子设备和系统中起着关键的作用，它们可以广泛用于连接电源、传感器、开关、显示器、存储设备、通信设备、计算机等各种电子组件和设备。由此可见，对电子连接器自动检校有着至关重要的作用。
当前对电子连接器进行检校时，通常通过人工进行检校，不仅容易存在因人为检校的主观因素造成的误差和偏差，还造成了大量的人力资源和物力资源的浪费，且检测维度较为单一，使得电子连接器的检校结果不够精准和可靠。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于电子连接器的自动检校系统，为了解决当前技术中因检测维度单一造成的检校结果不够精准和可靠的问题。
本发明的目的可以通过以下技术方案实现：一种用于电子连接器的自动检校系统，包括：
预处理模块，用于从制造工厂对应当前批次的电子连接器中随机选取若干电子连接器，作为待检连接器。
线体极限测试模块，用于对各待检连接器对应的线体进行极限测试，得到各待检连接器对应线体的极限参数，作为电子连接器对应线体的极限参数，并基于电子连接器对应线体的极限参数对电子连接器对应线体的极限评估值进行分析，得到电子连接器对应线体的极限评估值。
优选地，对各待检连接器对应的线体进行极限测试，得到各待检连接器对应线体的极限参数，作为电子连接器对应线体的极限参数，具体测试方式如下：
将各待检连接器按照设定的折线弯曲度测试组进行分组，得到各折线弯曲度测试组对应的各待检连接器。
将各折线弯曲度测试组对应的各待检连接器按照设定的力度测试进行划分，得到各折线弯曲度测试组对应各力度测试的各待检连接器。
从数据库中提取各折线弯曲度测试组对应各力度测试中电子连接器线体的参考折线次数阈值，将各折线弯曲度测试组对应各力度测试的各待检连接器按照其对应的参考折线次数阈值进行相应的折线测试，得到测试后的各折线弯曲度测试组对应各力度测试的各待检连接器，记为各折线弯曲度测试组对应各力度测试的各测试连接器。
通过智能摄像头对各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试连接器的线体图像进行采集，得到各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试连接器的线体图像，并将各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试连接器的线体图像与设定的正常线体图像进行匹配，若某测试连接器的线体图像与设定的正常线体图像匹配成功，则将该测试连接器记为通过器，统计各折线弯曲度测试组对应各力度测试中通过器的数量，反之，则将该测试连接器记为测试器，得到各折线弯曲度测试组对应各力度测试的各测试器，统计各折线弯曲度测试组对应各力度测试的测试器数量。
从各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试连接器的线体图像中提取各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试器的线体图像。
从各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试器的线体图像中提取各折线弯曲度测试组内各力度测试中各测试器对应线体的开裂面积，并对各折线弯曲度测试组内各力度测试中各测试器对应线体的开裂面积进行求和，得到各折线弯曲度测试组内各力度测试中测试器线体的总开裂面积。
由各折线弯曲度测试组对应各力度测试中通过器的数量、测试器数量以及各折线弯曲度测试组内各力度测试中测试器线体的总开裂面积构成各待检连接器对应线体的极限参数，作为电子连接器对应线体的极限参数。
优选地，基于电子连接器对应线体的极限参数对电子连接器对应线体的极限评估值进行分析，得到电子连接器对应线体的极限评估值，具体分析过程为：
从电子连接器对应线体的极限参数中提取各折线弯曲度测试组对应各力度测试中通过器的数量、测试器数量以及各折线弯曲度测试组内各力度测试中测试器线体的总开裂面积的数值，分别记为TGi j、CSi j、KSi j，i表示为各折线弯曲度测试组的编号，i=1，2，…，n，j表示为各力度测试的编号，j=1，2，…，m。
依据公式计算出电子连接器对应线体的极限评估值XJ，/>表示为设定的第i个折线弯曲度测试组的参考极限评估值，a1、a2、a3分别表示为设定的权值因子。
器体极限测试模块，用于对各待检连接器对应的器体进行极限测试，得到各待检连接器对应器体的极限参数，作为电子连接器对应器体的极限参数，并基于电子连接器对应器体的极限参数对电子连接器对应器体的极限评估值进行分析，得到电子连接器对应器体的极限评估值。
优选地，对各待检连接器对应的器体进行极限测试，得到各待检连接器对应器体的极限参数，作为电子连接器对应器体的极限参数，具体测试方式如下：
将各待检连接器按照设定的操作力度测试组进行分组，得到各操作力度测试组对应的各待检连接器；
从数据库中提取各操作力度测试组中电子连接器对应器体的参考操作次数阈值，将各操作力度测试组中各待检连接器对应的器体按照其对应的参考操作次数阈值进行相应的插拔测试，统计各操作力度测试组中各待检连接器对应的器体在相应插拔测试中的卡顿次数和各次卡顿的卡顿时长，记为各操作力度测试组中各待检连接器对应器体的测试卡顿次数和各次测试卡顿的卡顿时长，将各操作力度测试组中各待检连接器对应器体的各次测试卡顿的卡顿时长进行综合，得到各操作力度测试组中各待检连接器对应器体的测试卡顿总时长；
将测试后的各操作力度测试组中各待检连接器对应的器体记为各操作力度测试组对应各测试连接器的器体；
通过智能摄像头对各操作力度测试组对应各测试连接器的器体图像进行采集，得到各操作力度测试组对应各测试连接器的器体图像，并将各操作力度测试组对应各测试连接器的器体图像与设定的正常器体图像进行匹配，若某测试连接器的器体图像与设定的正常器体图像匹配成功，则将该测试连接器记为通过器，统计各操作力度测试组对应通过器的数量，反之，则将该测试连接器记为检测器，得到各操作力度测试组对应检测器的数量；
从各操作力度测试组对应各测试连接器的器体图像中提取各操作力度测试组对应各检测器的器体图像，得到各操作力度测试组对应各检测器的器体图像；
从各操作力度测试组对应各检测器的器体图像中提取各操作力度测试组中各检测器对应器体的表观磨损面积，得到各操作力度测试组中各检测器对应器体的表观磨损面积；
由各操作力度测试组中各待检连接器对应器体的测试卡顿次数、测试卡顿总时长以及各操作力度测试组对应通过器的数量和各操作力度测试组中各检测器对应器体的表观磨损面积构成各待检连接器对应器体的极限参数，作为电子连接器对应器体的极限参数。
优选地，基于电子连接器对应器体的极限参数对电子连接器对应器体的极限评估值进行分析，得到电子连接器对应器体的极限评估值，具体分析方式为：
从电子连接器对应器体的极限参数中提取各操作力度测试组中各待检连接器对应器体的测试卡顿次数、测试卡顿总时长以及各操作力度测试组对应通过器的数量和各操作力度测试组中各检测器对应器体的表观磨损面积的数值，分别记为CCf r、CTf r、GTf、MSf t，f表示为各操作力度测试组的编号，f=1，2，…，g，r表示为各待检连接器的编号，r=1，2，…，p，t表示为各检测器的编号，t=1，2，…，q；
依据公式计算出各操作力度测试组对应待检连接器的器体评估值LJf，e表示为自然常数，CCf 0表示为设定的第f个操作力度测试组对应待检连接器的参考测试卡顿次数，CTf 0表示为第f个操作力度测试组对应待检连接器的参考测试卡顿总时长，b1、b2分别表示为测试卡顿次数、测试卡顿总时长对应的权值因子；
依据公式计算出各操作力度测试组对应检测器的耐磨值JMf，MSf 0表示为设定的第f个操作力度测试组对应检测器的允许表观磨损面积，b3表示为设定的影响因子；
依据公式计算出电子连接器对应器体的极限评估值QJ，a4、a5、a6分别表示为器体评估值、耐磨值、通过器数量对应的权值因子。
检校分析模块，用于对电子连接器对应线体的检校状态进行分析，同时对电气连接器对应器体的检校状态进行分析，得到电子连接器对应线体的检校状态和器体的检校状态，并将其发送至系统终端。
优选地，对电子连接器对应线体的检校状态进行分析，具体分析方式为：
将电子连接器对应线体的极限评估值与设定的线体极限评估阈值进行对比，若电子连接器对应线体的极限评估值小于设定的线体极限评估阈值，则判定电子连接器对应线体的检校状态为异常状态，反之，则判定电子链接器对应线体的检校状态为正常状态。
优选地，对电气连接器对应器体的检校状态进行分析，具体分析方式为：
将电子连接器对应器体的极限评估值与设定的器体极限评估阈值进行对比，若电子连接器对应器体的极限评估值小于设定的器体极限评估阈值，则判定电子连接器对应器体的检校状态为异常状态，反之，则判定电子链接器对应器体的检校状态为正常状态。
系统终端，用于基于电子连接器对应线体的检校状态和器体的检校状态执行相应的操作，具体操作为：
若电子连接器对应线体的检校状态为异常状态，则通过显示屏对电子连接器对应的线体检校结果进行异常显示。
若电子连接器对应线体的检校状态为正常状态，则通过显示屏对电子连接器对应线体检校结果进行正常显示。
若电子连接器对应器体的检校状态为异常状态，则通过显示屏对电子连接器对应的器体检校结果进行异常显示。
若电子连接器对应器体的检校状态为正常状态，则通过显示屏对电子连接器对应器体检校结果进行正常显示。
本发明的有益效果：
本发明通过对制造工厂对对应的各待检连接器进行筛选，并对各待检连接器对应的线体进行不同折线弯曲度测试和不同的力度测试，得到各待检连接器对应线体的极限参数，由此分析得到电子连接器对应线体的极限评估值，能够直观地了解电子连接器对应线体的承受极限，便于后续对电子连接器对应线体的检校状态分析提供了有力的数据支撑。
本发明通过对各待检连接器对应的器体进行不同操作力度的极限测试，得到得到各待检连接器对应器体的极限参数，由此分析得到电子连接器对应器体的极限评估值，不仅能够有效判断电子连接器对应器体的质量，同时还综合考虑了多方面因素对电子连接器对应器体质量的影响，大幅度提高了电子连接器对应器体极限状态分析结果的可靠性和精准性。
本发明通过对电子连接器对应线体的检校状态和器体的检校状态进行分析，并执行相应的处理，能够有效地提高电子连接器的可靠性和耐用性，使得电子连接器的检校更具有实际意义。
附图说明
下面结合附图对本发明作进一步的说明。
图1是本发明的系统框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1所示，本发明为一种用于电子连接器的自动检校系统，包括：预处理模块、线体极限测试模块、器体极限测试模块、检校分析模块、系统终端和数据库。
预处理模块，用于从制造工厂对应当前批次的电子连接器中随机选取若干电子连接器，作为待检连接器。
线体极限测试模块，用于对各待检连接器对应的线体进行极限测试，得到各待检连接器对应线体的极限参数，作为电子连接器对应线体的极限参数，具体测试过程如下：
将各待检连接器按照设定的折线弯曲度测试组进行分组，得到各折线弯曲度测试组对应的各待检连接器；其中设定的折线度测试组具体为设定的待检连接器线的弯曲度区间，例如：第一折线度测试组为待检连接器线弯曲度为20度，第二折线度测试组为待检连接器线弯曲度为40等。
需要说明的是，待检连接器的弯曲度测量方式参照：获取待检连接器对应线体的弯曲长度，同时获取待检连接器对应线体的直线长度，将待检连接器对应线体的弯曲长度与其对应的直线长度进行对比，得到待检连接器对应线体的弯曲长度与其对应的直线长度对比值，并将其与设定的各对比值对应的弯曲度进行匹配，得到待检连接器对应线体的弯曲度。其中待检连接器对应线体的直线长度的获取方式为：获取待检连接器对应线体的起点和终点，并将待检连接器对应线体的起点和终点进行直线连接，得到待检连接器对应线体的直线，进而获取待检连接器对应线体的直线长度。
将各折线弯曲度测试组对应的各待检连接器按照设定的力度测试进行划分，得到各折线弯曲度测试组对应各力度测试的各待检连接器；其中设定的力度测试具体为：第一测试中：0.1N的力度对该折线弯曲度测试组的待检连接器进行折线测试。
从数据库中提取各折线弯曲度测试组对应各力度测试中电子连接器线体的参考折线次数阈值，将各折线弯曲度测试组对应各力度测试的各待检连接器按照其对应的参考折线次数阈值进行相应的折线测试，得到测试后的各折线弯曲度测试组对应各力度测试的各待检连接器，记为各折线弯曲度测试组对应各力度测试的各测试连接器；
通过智能摄像头对各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试连接器的线体图像进行采集，得到各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试连接器的线体图像，并将各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试连接器的线体图像与设定的正常线体图像进行匹配，若某测试连接器的线体图像与设定的正常线体图像匹配成功，则将该测试连接器记为通过器，统计各折线弯曲度测试组对应各力度测试中通过器的数量，反之，则将该测试连接器记为测试器，得到各折线弯曲度测试组对应各力度测试的各测试器，统计各折线弯曲度测试组对应各力度测试的测试器数量；
从各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试连接器的线体图像中提取各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试器的线体图像；
从各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试器的线体图像中提取各折线弯曲度测试组内各力度测试中各测试器对应线体的开裂面积，并对各折线弯曲度测试组内各力度测试中各测试器对应线体的开裂面积进行求和，得到各折线弯曲度测试组内各力度测试中测试器线体的总开裂面积；
由各折线弯曲度测试组对应各力度测试中通过器的数量、测试器数量以及各折线弯曲度测试组内各力度测试中测试器线体的总开裂面积构成各待检连接器对应线体的极限参数，作为电子连接器对应线体的极限参数。
基于电子连接器对应线体的极限参数对电子连接器对应线体的极限评估值进行分析，得到电子连接器对应线体的极限评估值，具体分析步骤如下：
从电子连接器对应线体的极限参数中提取各折线弯曲度测试组对应各力度测试中通过器的数量、测试器数量以及各折线弯曲度测试组内各力度测试中测试器线体的总开裂面积的数值，分别记为TGi j、CSi j、KSi j，i表示为各折线弯曲度测试组的编号，i=1，2，…，n，j表示为各力度测试的编号，j=1，2，…，m；n表示为折线弯曲度测试组编号的总数，m表示为力度测试编号的总数。
依据公式计算出电子连接器对应线体的极限评估值XJ，/>表示为设定的第i个折线弯曲度测试组的参考极限评估值，a1、a2、a3分别表示为设定的权值因子。
器体极限测试模块，用于对各待检连接器对应的器体进行极限测试，得到各待检连接器对应器体的极限参数，作为电子连接器对应器体的极限参数，具体测试步骤如下：
将各待检连接器按照设定的操作力度测试组进行分组，得到各操作力度测试组对应的各待检连接器。
需要说明的是，各操作力度表示为插拔电子连接器对应器体的力度。
从数据库中提取各操作力度测试组中电子连接器对应器体的参考操作次数阈值，将各操作力度测试组中各待检连接器对应的器体按照其对应的参考操作次数阈值进行相应的插拔测试，统计各操作力度测试组中各待检连接器对应的器体在相应插拔测试中的卡顿次数和各次卡顿的卡顿时长，记为各操作力度测试组中各待检连接器对应器体的测试卡顿次数和各次测试卡顿的卡顿时长，将各操作力度测试组中各待检连接器对应器体的各次测试卡顿的卡顿时长进行综合，得到各操作力度测试组中各待检连接器对应器体的测试卡顿总时长。
将测试后的各操作力度测试组中各待检连接器对应的器体记为各操作力度测试组对应各测试连接器的器体。
通过智能摄像头对各操作力度测试组对应各测试连接器的器体图像进行采集，得到各操作力度测试组对应各测试连接器的器体图像，并将各操作力度测试组对应各测试连接器的器体图像与设定的正常器体图像进行匹配，若某测试连接器的器体图像与设定的正常器体图像匹配成功，则将该测试连接器记为通过器，统计各操作力度测试组对应通过器的数量，反之，则将该测试连接器记为检测器，得到各操作力度测试组对应检测器的数量。
从各操作力度测试组对应各测试连接器的器体图像中提取各操作力度测试组对应各检测器的器体图像，得到各操作力度测试组对应各检测器的器体图像。
从各操作力度测试组对应各检测器的器体图像中提取各操作力度测试组中各检测器对应器体的表观磨损面积，得到各操作力度测试组中各检测器对应器体的表观磨损面积。
由各操作力度测试组中各待检连接器对应器体的测试卡顿次数、测试卡顿总时长以及各操作力度测试组对应通过器的数量和各操作力度测试组中各检测器对应器体的表观磨损面积构成各待检连接器对应器体的极限参数，作为电子连接器对应器体的极限参数。
基于电子连接器对应器体的极限参数对电子连接器对应器体的极限评估值进行分析，得到电子连接器对应器体的极限评估值，具体分析过程如下：
从电子连接器对应器体的极限参数中提取各操作力度测试组中各待检连接器对应器体的测试卡顿次数、测试卡顿总时长以及各操作力度测试组对应通过器的数量和各操作力度测试组中各检测器对应器体的表观磨损面积的数值，分别记为CCf r、CTf r、GTf、MSf t，f表示为各操作力度测试组的编号，f=1，2，…，g，r表示为各待检连接器的编号，r=1，2，…，p，t表示为各检测器的编号，t=1，2，…，q。g表示为操作力度测试组编号的总数，p表示为待检连接器编号的总数，q表示为检测器编号的总数。
依据公式计算出各操作力度测试组对应待检连接器的器体评估值LJf，e表示为自然常数，CCf 0表示为设定的第f个操作力度测试组对应待检连接器的参考测试卡顿次数，CTf 0表示为第f个操作力度测试组对应待检连接器的参考测试卡顿总时长，b1、b2分别表示为测试卡顿次数、测试卡顿总时长对应的权值因子。
依据公式计算出各操作力度测试组对应检测器的耐磨值JMf，MSf 0表示为设定的第f个操作力度测试组对应检测器的允许表观磨损面积，b3表示为设定的影响因子。
依据公式计算出电子连接器对应器体的极限评估值QJ，a4、a5、a6分别表示为器体评估值、耐磨值、通过器数量对应的权值因子。
检校分析模块，用于对电子连接器对应线体的检校状态进行分析，得到电子连接器对应器体的检校状态，并将其发送至系统终端，具体分析方式为：
将电子连接器对应线体的极限评估值与设定的线体极限评估阈值进行对比，若电子连接器对应线体的极限评估值小于设定的线体极限评估阈值，则判定电子连接器对应线体的检校状态为异常状态，反之，则判定电子链接器对应线体的检校状态为正常状态。
对电气连接器对应器体的检校状态进行分析，得到电子连接器对应线体的检校状态和器体的检校状态，并将其发送至系统终端，具体分析方式为：
将电子连接器对应器体的极限评估值与设定的器体极限评估阈值进行对比，若电子连接器对应器体的极限评估值小于设定的器体极限评估阈值，则判定电子连接器对应器体的检校状态为异常状态，反之，则判定电子链接器对应器体的检校状态为正常状态。
系统终端，用于基于电子连接器对应线体的检校状态和器体的检校状态执行相应的操作。
若电子连接器对应线体的检校状态为异常状态，则通过显示屏对电子连接器对应的线体检校结果进行异常显示，例如：“电子连接器对应线体的检校结果为异常”，同时对该行字体进行闪烁显示。
若电子连接器对应线体的检校状态为正常状态，则通过显示屏对电子连接器对应线体检校结果进行正常显示，例如：“电子连接器对应线体的检校结果为正常”，同时对改行字体进行标绿并常亮显示。
若电子连接器对应器体的检校状态为异常状态，则通过显示屏对电子连接器对应的器体检校结果进行异常显示，例如：“电子连接器对应器体的检校结果为异常”，同时对该行字体进行闪烁显示。
若电子连接器对应器体的检校状态为正常状态，则通过显示屏对电子连接器对应器体检校结果进行正常显示，例如：“电子连接器对应器体的检校结果为正常”，同时对改行字体进行标绿并常亮显示。
数据库，用于存储各折线弯曲度测试组对应各力度测试中电子连接器线体的参考折线次数阈值，存储各操作力度测试组中电子连接器对应器体的参考操作次数阈值。
需要说明的是，各折线弯曲度测试组对应各力度测试中电子连接器线体的参考折线系数阈值，例如：折线弯曲度测试组为电子连接器线体的弯曲度为40度，力度测试为0.2N，参考次数阈值为50次。
以上内容仅仅是对本发明结构所作的举例和说明，所属本技术领域的技术人员对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离发明的结构或者超越本权利要求书所定义的范围，均应属于本发明的保护范围。

Claims (4)

1.一种用于电子连接器的自动检校系统，其特征在于，包括：
线体极限测试模块，用于对各待检连接器对应的线体进行极限测试，得到各待检连接器对应线体的极限参数，作为电子连接器对应线体的极限参数，并基于电子连接器对应线体的极限参数对电子连接器对应线体的极限评估值进行分析，得到电子连接器对应线体的极限评估值，具体分析过程为：
从电子连接器对应线体的极限参数中提取各折线弯曲度测试组对应各力度测试中通过器的数量、测试器数量以及各折线弯曲度测试组内各力度测试中测试器线体的总开裂面积的数值，分别记为TGi j、CSi j、KSi j，i表示为各折线弯曲度测试组的编号，i=1，2，…，n，j表示为各力度测试的编号，j=1，2，…，m；n表示为折线弯曲度测试组编号的总数，m表示为力度测试编号的总数；
依据公式计算出电子连接器对应线体的极限评估值XJ，/>表示为设定的第i个折线弯曲度测试组的参考极限评估值，a1、a2、a3分别表示为设定的权值因子；
器体极限测试模块，用于对各待检连接器对应的器体进行极限测试，得到各待检连接器对应器体的极限参数，作为电子连接器对应器体的极限参数，并基于电子连接器对应器体的极限参数对电子连接器对应器体的极限评估值进行分析，得到电子连接器对应器体的极限评估值，具体分析方式为：
从电子连接器对应器体的极限参数中提取各操作力度测试组中各待检连接器对应器体的测试卡顿次数、测试卡顿总时长以及各操作力度测试组对应通过器的数量和各操作力度测试组中各检测器对应器体的表观磨损面积的数值，分别记为CCf r、CTf r、GTf、MSf t，f表示为各操作力度测试组的编号，f=1，2，…，g，r表示为各待检连接器的编号，r=1，2，…，p，t表示为各检测器的编号，t=1，2，…，q；g表示为操作力度测试组编号的总数，p表示为待检连接器编号的总数，q表示为检测器编号的总数；
依据公式计算出各操作力度测试组对应待检连接器的器体评估值LJf，e表示为自然常数，CCf 0表示为设定的第f个操作力度测试组对应待检连接器的参考测试卡顿次数，CTf 0表示为第f个操作力度测试组对应待检连接器的参考测试卡顿总时长，b1、b2分别表示为测试卡顿次数、测试卡顿总时长对应的权值因子；
依据公式计算出各操作力度测试组对应检测器的耐磨值JMf，MSf 0表示为设定的第f个操作力度测试组对应检测器的允许表观磨损面积，b3表示为设定的影响因子；依据公式/>计算出电子连接器对应器体的极限评估值QJ，a4、a5、a6分别表示为器体评估值、耐磨值、通过器数量对应的权值因子；
检校分析模块，用于对电子连接器对应线体的检校状态进行分析，同时对电气连接器对应器体的检校状态进行分析，得到电子连接器对应线体的检校状态和器体的检校状态；
所述对各待检连接器对应的线体进行极限测试的具体测试方式如下：
将各待检连接器按照设定的折线弯曲度测试组进行分组，得到各折线弯曲度测试组对应的各待检连接器；
将各折线弯曲度测试组对应的各待检连接器按照设定的力度测试进行划分，得到各折线弯曲度测试组对应各力度测试的各待检连接器；
从数据库中提取各折线弯曲度测试组对应各力度测试中电子连接器线体的参考折线次数阈值，将各折线弯曲度测试组对应各力度测试的各待检连接器按照其对应的参考折线次数阈值进行相应的折线测试，得到测试后的各折线弯曲度测试组对应各力度测试的各待检连接器，记为各折线弯曲度测试组对应各力度测试的各测试连接器；
通过智能摄像头对各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试连接器的线体图像进行采集，得到各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试连接器的线体图像，并将各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试连接器的线体图像与设定的正常线体图像进行匹配，若某测试连接器的线体图像与设定的正常线体图像匹配成功，则将该测试连接器记为通过器，统计各折线弯曲度测试组对应各力度测试中通过器的数量，反之，则将该测试连接器记为测试器，得到各折线弯曲度测试组对应各力度测试的各测试器，统计各折线弯曲度测试组对应各力度测试的测试器数量；
从各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试连接器的线体图像中提取各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试器的线体图像；
从各折线弯曲度测试组对应各力度测试中各测试器的线体图像中提取各折线弯曲度测试组内各力度测试中各测试器对应线体的开裂面积，并对各折线弯曲度测试组内各力度测试中各测试器对应线体的开裂面积进行求和，得到各折线弯曲度测试组内各力度测试中测试器线体的总开裂面积；
由各折线弯曲度测试组对应各力度测试中通过器的数量、测试器数量以及各折线弯曲度测试组内各力度测试中测试器线体的总开裂面积构成各待检连接器对应线体的极限参数，作为电子连接器对应线体的极限参数；
所述对各待检连接器对应的器体进行极限测试的具体测试方式如下：
将各待检连接器按照设定的操作力度测试组进行分组，得到各操作力度测试组对应的各待检连接器；
从数据库中提取各操作力度测试组中电子连接器对应器体的参考操作次数阈值，将各操作力度测试组中各待检连接器对应的器体按照其对应的参考操作次数阈值进行相应的插拔测试，统计各操作力度测试组中各待检连接器对应的器体在相应插拔测试中的卡顿次数和各次卡顿的卡顿时长，记为各操作力度测试组中各待检连接器对应器体的测试卡顿次数和各次测试卡顿的卡顿时长，将各操作力度测试组中各待检连接器对应器体的各次测试卡顿的卡顿时长进行综合，得到各操作力度测试组中各待检连接器对应器体的测试卡顿总时长；
将测试后的各操作力度测试组中各待检连接器对应的器体记为各操作力度测试组对应各测试连接器的器体；
通过智能摄像头对各操作力度测试组对应各测试连接器的器体图像进行采集，得到各操作力度测试组对应各测试连接器的器体图像，并将各操作力度测试组对应各测试连接器的器体图像与设定的正常器体图像进行匹配，若某测试连接器的器体图像与设定的正常器体图像匹配成功，则将该测试连接器记为通过器，统计各操作力度测试组对应通过器的数量，反之，则将该测试连接器记为检测器，得到各操作力度测试组对应检测器的数量；
从各操作力度测试组对应各测试连接器的器体图像中提取各操作力度测试组对应各检测器的器体图像，得到各操作力度测试组对应各检测器的器体图像；
从各操作力度测试组对应各检测器的器体图像中提取各操作力度测试组中各检测器对应器体的表观磨损面积，得到各操作力度测试组中各检测器对应器体的表观磨损面积；
由各操作力度测试组中各待检连接器对应器体的测试卡顿次数、测试卡顿总时长以及各操作力度测试组对应通过器的数量和各操作力度测试组中各检测器对应器体的表观磨损面积构成各待检连接器对应器体的极限参数，作为电子连接器对应器体的极限参数。
2.根据权利要求1所述的一种用于电子连接器的自动检校系统，其特征在于，还包括：
预处理模块，用于从制造工厂对应当前批次的电子连接器中随机选取若干电子连接器，作为待检连接器；
系统终端，用于基于电子连接器对应线体的检校状态和器体的检校状态执行相应的操作。
3.根据权利要求1所述的一种用于电子连接器的自动检校系统，其特征在于，所述对电子连接器对应线体的检校状态进行分析，具体分析方式为：
将电子连接器对应线体的极限评估值与设定的线体极限评估阈值进行对比，若电子连接器对应线体的极限评估值小于设定的线体极限评估阈值，则判定电子连接器对应线体的检校状态为异常状态，反之，则判定电子链接器对应线体的检校状态为正常状态。
4.根据权利要求1所述的一种用于电子连接器的自动检校系统，其特征在于，所述对电气连接器对应器体的检校状态进行分析，具体分析方式为：
将电子连接器对应器体的极限评估值与设定的器体极限评估阈值进行对比，若电子连接器对应器体的极限评估值小于设定的器体极限评估阈值，则判定电子连接器对应器体的检校状态为异常状态，反之，则判定电子链接器对应器体的检校状态为正常状态。
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