CN116593570A - 微量元素分析仪检出限性能测试方法、装置与电子设备 - Google Patents

微量元素分析仪检出限性能测试方法、装置与电子设备 Download PDF

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CN116593570A CN202310715503.6A CN202310715503A CN116593570A CN 116593570 A CN116593570 A CN 116593570A CN 202310715503 A CN202310715503 A CN 202310715503A CN 116593570 A CN116593570 A CN 116593570A
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Abstract

本申请提供了一种微量元素分析仪检出限性能测试方法、装置、计算机可读存储介质与电子设备。该方法包括：对微量元素分析仪进行点火控制，并且在微量元素分析仪点火成功后对微量元素分析仪进行调谐控制；在经过调谐控制且微量元素分析仪满足测试标准的情况下，对微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对目标参数进行编辑，其中，目标参数为对微量元素分析仪进行检出限性能测试所需要的参数，其中，编辑为对目标参数的相关性能进行设置；对选择和编辑后的目标参数进行样本相关性能检测，并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。实现了对微量元素分析仪检出限性能的规范化测试。

Description

微量元素分析仪检出限性能测试方法、装置与电子设备
技术领域
本申请涉及微量元素分析领域，具体而言，涉及一种微量元素分析仪检出限性能测试方法、装置、计算机可读存储介质与电子设备。
背景技术
质谱检测高灵敏度、高特异性、重现性好，兼具高通量、高效率和低成本优势。随着临床质谱的不断发展与进步，其应用也越加普遍。最常用的质谱技术有：气相色谱质谱、液相色谱质谱、飞行时间质谱与电感耦合等离子体质谱。
稳定性是仪器随时间推移保持特性一致性的能力，是仪器必须具备的基础属性，是确保仪器使用过程中有效性的重要指标。因此，质谱仪器除了满足常规的性能要求外，更应该针对使用场景，满足对应的关键性能稳定性的使用要求。
然而，为了实现对质谱仪器在使用中的关键性能稳定性的准确评价，得到关键性能尤为重要，关键性能测试中微量元素分析仪检出限性能测试尤为重要，目前的技术中缺乏一种规范性的微量元素分析仪检出限性能测试流程。
发明内容
本申请的主要目的在于提供一种微量元素分析仪检出限性能测试方法、装置、计算机可读存储介质与电子设备，以至少解决目前的技术中缺乏一种规范性的微量元素分析仪检出限性能测试流程问题。
为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种微量元素分析仪检出限性能测试方法，包括：对微量元素分析仪进行点火控制，并且在所述微量元素分析仪点火成功后对所述微量元素分析仪进行调谐控制；在经过所述调谐控制且所述微量元素分析仪满足测试标准的情况下，对所述微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对所述目标参数进行编辑，其中，目标参数为对所述微量元素分析仪进行检出限性能测试所需要的参数，其中，所述编辑为对所述目标参数的相关性能进行设置；对选择和编辑后的所述目标参数进行样本相关性能检测，并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。
根据本申请的另一个方面，提供了一种微量元素分析仪检出限性能测试装置，包括：第一控制单元，用于对微量元素分析仪进行点火控制，并且在所述微量元素分析仪点火成功后对所述微量元素分析仪进行调谐控制；第一处理单元，用于在经过所述调谐控制且所述微量元素分析仪满足测试标准的情况下，对所述微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对所述目标参数进行编辑，其中，目标参数为对所述微量元素分析仪进行检出限性能测试所需要的参数，其中，所述编辑为对所述目标参数的相关性能进行设置；第二处理单元，用于对选择和编辑后的所述目标参数进行样本相关性能检测，并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。
根据本申请的又一个方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行任一种所述的微量元素分析仪检出限性能测试方法。
根据本申请的再一个方面，提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器，存储器，以及一个或多个程序，其中，所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个程序包括用于执行任一种所述的微量元素分析仪检出限性能测试方法。
应用本申请的技术方案，通过对微量元素分析仪进行点火控制，并且在所述微量元素分析仪点火成功后对所述微量元素分析仪进行调谐控制，在经过所述调谐控制且所述微量元素分析仪满足测试标准的情况下，对所述微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对所述目标参数进行编辑，对选择和编辑后的所述目标参数进行样本相关性能检测，并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。本申请的方案实现了对微量元素分析仪检出限的规范性测试。
附图说明
构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
图1示出了根据本申请的实施例中提供的一种执行微量元素分析仪检出限性能测试方法的移动终端的硬件结构框图；
图2示出了根据本申请的实施例提供的一种微量元素分析仪检出限性能测试方法的流程示意图；
图3示出了根据本申请的实施例提供的第一种显示界面示意图；
图4示出了根据本申请的实施例提供的第二种显示界面示意图；
图5示出了根据本申请的实施例提供的第三种显示界面示意图；
图6示出了根据本申请的实施例提供的第四种显示界面示意图；
图7示出了根据本申请的实施例提供的第五种显示界面示意图；
图8示出了根据本申请的实施例提供的第六种显示界面示意图；
图9示出了根据本申请的实施例提供的第七种显示界面示意图；
图10示出了根据本申请的实施例提供的第八种显示界面示意图；
图11示出了根据本申请的实施例提供的第九种显示界面示意图；
图12示出了根据本申请的实施例提供的第十种显示界面示意图；
图13示出了根据本申请的实施例提供的第十一种显示界面示意图；
图14出了根据本申请的实施例提供的第十二种显示界面示意图；
图15出了根据本申请的实施例提供的第十三种显示界面示意图；
图16出了根据本申请的实施例提供的第十四种显示界面示意图；
图17出了根据本申请的实施例提供的第十五种显示界面示意图；
图18出了根据本申请的实施例提供的一种具体的微量元素分析仪检出限性能测试方法的流程示意图；
图19出了根据本申请的实施例提供的Li、Y、Tl三元素检出限均值-极差控制图中的均值控制图。
图20出了根据本申请的实施例提供的Li、Y、Tl三元素检出限数据转换后的直方图。
图21示出了根据本申请的实施例提供的一种微量元素分析仪检出限性能测试装置的结构框图。
具体实施方式
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
为了便于描述，以下对本申请实施例涉及的部分名词或术语进行说明：
微量元素分析仪：微量元素分析仪大多是指测试人体微量元素含量的仪器。正规的测试结果准确的应属电化学分析方法、原子吸收法及质谱法(ICP-MS)。大部分都使用电化学分析仪器，市场占有率最大。电化学分析法属一种中高端产品，其操作简单，测试结果准确可靠，此类产品日耗品低廉，得到广大医院的青睐。
正如背景技术中所介绍的，现有技术中缺乏一种规范性的微量元素分析仪检出限性能测试流程，为解决缺乏一种规范性的微量元素分析仪检出限性能测试流程的问题，本申请的实施例提供了一种微量元素分析仪检出限性能测试方法、装置、计算机可读存储介质与电子设备。
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
本申请实施例中所提供的方法实施例可以在移动终端、计算机终端或者类似的运算装置中执行。以运行在移动终端上为例，图1是本发明实施例的一种微量元素分析仪检出限性能测试方法的移动终端的硬件结构框图。如图1所示，移动终端可以包括一个或多个(图1中仅示出一个)处理器102(处理器102可以包括但不限于微处理器MCU或可编程逻辑器件FPGA等的处理装置)和用于存储数据的存储器104，其中，上述移动终端还可以包括用于通信功能的传输设备106以及输入输出设备108。本领域普通技术人员可以理解，图1所示的结构仅为示意，其并不对上述移动终端的结构造成限定。例如，移动终端还可包括比图1中所示更多或者更少的组件，或者具有与图1所示不同的配置。
存储器104可用于存储计算机程序，例如，应用软件的软件程序以及模块，如本发明实施例中的微量元素分析仪检出限性能测试方法对应的计算机程序，处理器102通过运行存储在存储器104内的计算机程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，即实现上述的方法。存储器104可包括高速随机存储器，还可包括非易失性存储器，如一个或者多个磁性存储装置、闪存、或者其他非易失性固态存储器。在一些实例中，存储器104可进一步包括相对于处理器102远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至移动终端。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。传输设备106用于经由一个网络接收或者发送数据。上述的网络具体实例可包括移动终端的通信供应商提供的无线网络。在一个实例中，传输设备106包括一个网络适配器(Network InterfaceController，简称为NIC)，其可通过基站与其他网络设备相连从而可与互联网进行通讯。在一个实例中，传输设备106可以为射频(Radio Frequency，简称为RF)模块，其用于通过无线方式与互联网进行通讯。
在本实施例中提供了一种运行于移动终端、计算机终端或者类似的运算装置的微量元素分析仪检出限性能测试方法，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
图2是根据本申请实施例的微量元素分析仪检出限性能测试方法的流程图。如图2所示，该方法包括以下步骤：
步骤S201，对微量元素分析仪进行点火控制，并且在微量元素分析仪点火成功后对微量元素分析仪进行调谐控制；
其中，对微量元素分析仪进行点火控制为的是实现微量元素分析仪进入运行状态，以实现后续的检出限性能测试；
其中，调谐控制为的是通过调整相关参数实现所期望的信号强度和分辨率。
步骤S202，在经过调谐控制且微量元素分析仪满足测试标准的情况下，对微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对目标参数进行编辑，其中，目标参数为对微量元素分析仪进行检出限性能测试所需要的参数，其中，编辑为对目标参数的相关性能进行设置；
仪器点火成功后进行自动调谐，当响应值满足Li≥100000、Co≥600000、In≥1000000、U≥1000000、氧化率≤3％、双电荷率≤3％时，其中，Li表示锂、Co表示钴、In表示铟、U表示铀，认为自动调谐满足测试标准。
其中，检出限是能以适当的置信水平被检出的最小测量值所对应的分析物浓度。其中在JJF1159-2006标准中规定，ICP-MS的主要技术指标中检出限校准元素包含了Li，Y，Tl三个元素，同时Li，Y，Tl等元素作为人体检测元素的需求，上述元素的质量数包含了低中高三个档次，覆盖了整个质量轴的质量范围，作为评价设备性能的重要依据。即目标参数可以选择Li，Y，Tl等元素。
其中，目标参数的相关性能包括：时间、蠕动泵速度、进样器孔位等性能。目标参数不同的对应的相关性能可能相同也可能不同。
步骤S203，对选择和编辑后的目标参数进行样本相关性能检测，并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。
其中，相关性能检测包括均值、极差等，进而分析得到各目标参数的检出限。
本申请的微量元素分析仪检出限性能测试方法，通过对微量元素分析仪进行点火控制，并且在微量元素分析仪点火成功后对微量元素分析仪进行调谐控制，在经过调谐控制且微量元素分析仪满足测试标准的情况下，对微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对目标参数进行编辑，对选择和编辑后的目标参数进行样本相关性能检测，并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。本申请的方案实现了对微量元素分析仪检出限的规范性测试。
本申请的性能测试方法实施例中，对微量元素分析仪进行点火控制，包括：
响应于作用在仪器控件上的第一预设操作，在显示屏幕中展示操作仪器界面；
仪器控件在图3的右下角，操作仪器界面显示在图3的中间；
响应于作用在操作仪器界面中的连接仪器控件上的第二预设操作，以连接微量元素分析仪，并且在显示屏幕中弹出打开真空控件和仪器点火控件；
其中，第二预设操作可以是单击操作、双击操作等操作；
连接仪器控件即图3中的断开连接控件，点击断开连接控件断开与微量元素分析仪之间的连接，再次点击断开连接控件与微量元素分析仪之间连接；打开真空控件即图3中的关闭真空控件，点击关闭真空控件关闭真空，再次点击关闭真空控件打开真空；
响应于作用在打开真空控件上的第三预设操作，控制微量元素分析仪进入真空就绪状态；
其中，第三预设操作可以是单击操作、双击操作等操作；
响应于作用在仪器点火控件上的第四预设操作，控制微量元素分析仪进入运行状态。
其中，第四预设操作可以是单击操作、双击操作等操作；
如上，通过连接仪器、打开真空和点火实现控制微量元素分析仪进入运行状态。
本申请的性能测试方法实施例中，在微量元素分析仪点火成功后对微量元素分析仪进行调谐控制，包括：
响应于作用在显示界面中的仪器控制控件上的第五预设操作，在仪器控制控件的下方弹出手动调谐控件和自动调谐控件；
其中，第五预设操作可以是单击操作、双击操作等操作；
具体如图4所示，仪器控制控件的下方显示有手动调谐控件和自动调谐控件；
响应于作用在自动调谐控件上的第六预设操作，在显示界面上展示自动调谐方法列表，响应于作用在自动调谐方法列表上的第七预设操作从自动调谐方法列表中选中目标自动调谐方法，以采用目标自动调谐方法对微量元素分析仪进行自动调谐；
其中，第六预设操作可以是单击操作、双击操作等操作；
其中，第七预设操作可以是单击操作、双击操作等操作；
其中，自动调谐方法列表显示在图5(a)的左侧，自动调谐方法有：标准模式-完整版-双模式-test2；标准模式-简单版-双模式-test2；碰撞模式-完整版-双模式-test2；碰撞模式-简单版-双模式-test2等等；一种调谐模式下，分为多个调谐阶段，并且显示有增加阶段控件、删除阶段控件、阶段上移控件、阶段下移控件、修改阶段名称控件和调谐参数设置控件等。并且显示有调谐参数特征码，调谐参数特征码进行模式的设置；
其中，如图5(b)所示，标准模式-完整版-双模式-test2下的显示界面中还显示有阶段参数控件、仪器参数控件和元素参数控件；阶段参数包括：阶段、迭代次数、精调百分比、粗调平均次数、精调平均次数、样品引入时间；
响应于作用在手动调谐控件上的第八预设操作，调用自动调谐过程得到的历史数据，以对微量元素分析仪进行调谐控制。
其中，第八预设操作可以是单击操作、双击操作等操作；
本申请的性能测试方法实施例中，对微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对目标参数进行编辑，包括：
响应于作用在显示界面中的方法编辑控件上的第九预设操作，在显示屏幕上展示参数选择编辑画面；
其中，第九预设操作可以是单击操作、双击操作等操作；
如图6所示，点击显示界面中的方法编辑控件，显示出参数选择编辑画面；
响应于作用在参数选择编辑画面中的采样参数控件，在参数选择编辑画面上弹出参数显示列表，并且响应于作用在参数显示列表上的第十预设操作，以添加元素或者减少元素，并且添加或删除调谐；
采样参数控件见图6的左侧第一个选项，其中，第十预设操作可以是单击操作、双击操作等操作，单击操作具体可以是在图6中的右侧框右击进行元素的或者减少元素；
如图6左下角的调谐方式，可以通过右击调谐界面添加或删除调谐。
响应于作用在参数选择编辑画面中的分析参数控件，在参数选择编辑画面上弹出参数分析列表，并且响应于作用在参数分析列表上的第十一预设操作，选中需要修改项，以进行修改；
响应于作用在参数选择编辑画面中的分析参数控件如图7所示，参数分析列表包括扫码添加、浓度级别、质控级别、向下填充等；
其中，第十一预设操作可以是单击操作、双击操作等操作；
响应于作用在参数选择编辑画面中的进样参数控件，在参数选择编辑画面上弹出参数编辑画面，响应于作用在参数编辑画面中的参数编辑控件上的第十二预设操作，以进行参数编辑。
其中，第十二预设操作可以是单击操作、双击操作等操作；
响应于作用在参数选择编辑画面中的进样参数控件如图8所示，进样参数设置包括各步骤是否使用，以及各步骤的时间、蠕动泵速度、进样器孔位、冲洗定量环是否选用；
本申请的性能测试方法实施例中，在响应于作用在参数编辑画面中的参数编辑控件上的第十二预设操作，以进行参数编辑之后，方法还包括：
响应于作用在参数选择编辑画面中的样本列表控件，在参数选择编辑画面的第四预设区域弹出样本列表画面，并且响应于作用在样本列表画面上的第十三预设操作，以至少进行样本的添加。
其中，第十三预设操作可以是单击操作、双击操作等操作；
响应于作用在参数选择编辑画面中的样本列表控件，如图9所示，样本列表画面中包括：添加样本、插入样本、向下填充、优先采集、再次采集、删除采集、消除数据、消除位置等。
本申请的性能测试方法实施例中，在对微量元素分析仪进行调谐控制之后，方法还包括：对微量元素分析仪进行样本检测控制；
其中，对微量元素分析仪进行样本检测控制，包括：
响应于作用在显示界面中的样本检测控件上的第十四预设操作，在显示屏幕上展示样本检测画面，并且响应于作用在样本检测画面上的创建控件上的第十五预设操作，在样本检测画面上弹出选择检测模板列表，以从选择检测模板列表中选择出目标检测模板，以采用目标检测模板进行样本检测。
检出限测试所需试剂如表1所示。
表1检出限测试所需试剂表
序号 试剂名称 作用
1 纯水 用于设备检测
2 检出限测试液 用于设备检测
其中，第十四预设操作、第十五预设操作可以是单击操作、双击操作等操作；
如图10(a)和图10(b)所示，创建控件在图10(b)中，点击创建，弹出编辑好的模板，编辑好的模板在图10(a)中，点选需要的模板后，点击确定；
还包括：如图11所示，鼠标放置操作区右击进行设置，点击调谐设置，选择需要的调谐参数，如图12所示。
设置完成后，点击开始，检测过程中，如需重新检测可点击重新检测按钮，如图13所示。
检测完成后，点击关闭，弹出是否保存界面，点击“是”，保存检测文件，如图14所示。
本申请的性能测试方法实施例中，对样本相关性能检测结果进行分析包括：
响应于作用在显示界面中的样本分析控件上的第十六预设操作，在显示界面中上显示出检测列表和分析控件；
响应于作用在分析控件上的第十七预设操作，以进行样本分析；
其中，响应于作用在分析控件上的第十七预设操作，以进行样本分析，包括：
响应于作用在分析控件上的第十七预设操作，在显示界面中中展示样本分析画面；
响应于作用在样本分析画面上的下拉列表上的第十八预设操作，选中下一级分析项，以进行样本分析。
在响应于作用在样本分析画面上的下拉列表上的第十八预设操作，选中下一级分析项，以进行样本分析之后，方法还包括：
响应于作用在样本分析画面上的第十九预设操作，弹出文件导出方式列表，文件导出方式列表中包括导出文件格式、文件显示信息。
其中，第十六预设操作、第十七预设操作可以是单击操作、双击操作等操作；
如图15所示，分析控件在图15的右下角；进入分析页面后，点击左侧小三角可展示下一级测试项，如图16所示。
右击可以选择导出格式、显示情况等(测试完显示N/A，可点击显示CPS)，如图17(a)所示。图17(b)示出微量元素分析结果、微量元素拟合参数、标准微量元素和待测微量元素。
为了使得本领域技术人员能够更加清楚地了解本申请的技术方案，以下将结合具体的实施例对本申请的微量元素分析仪检出限性能测试方法的实现过程进行详细说明。
本实施例涉及一种具体的微量元素分析仪检出限性能测试方法，如图18所示，包括：仪器点火、仪器控制、自动调谐、方法编辑、样本检测和样本分析，在自动调谐响应值不达标的情况下，进行手动调谐。
需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
本实施例涉及一种具体的关键性能试验，包括：
1)实验平台
实验在Inspector SQ60上进行，配备高效率同心雾化器与小体积旋流型雾化室，雾化效率高、死体积小、记忆效应低。自激式全固态RF发生器，频率为27.12MHz。采用六极杆碰撞反应池，兼顾离子聚焦效果与全质量范围的最佳传输效率。
2)实验试剂
自制调谐液(Li、Co、In、U、Ce、Ba溶液)；
检出限测试液(Li，Y，Tl溶液)；
18.2MΩ.cm超纯水，由Milli-Q超纯水机制得；
自制稀释液(模拟血液样本)。
3)实验方法
将仪器性能调至最佳，模拟实际使用环境，进行检出限检测。测试流程：
1、先将仪器点火后，进行标准模式自动调谐，此时仪器在标准模式下性能达到最佳。
2、以18MΩ.cm高纯水进样，测量质量数7、89、205处的离子计数率。以检出限测试液高纯水进样，测量质量数7、89、205处的离子计数率。驻留时间为50ms，通道数为3，扫描次数为10，分别测量11个数据，用测量结果的标准偏差的3倍除以Li、Y、Tl的灵敏度，即为检出限。
3、泵入自制稀释液，模拟血液样本进样。
4、四小时后，重复步骤2)
5、进行日常清洗与维护。
得出如下结果：
表2检出限关键性能指标各子组的均值与极差表
表3检出限关键性能指标各子组均值的平均值与各子组极差的平均值表
计算得出各元素检出限控制限如表4所示。
表4 Li、Y、Tl元素检出限控制限
Li Y Tl
UCL 2.2374 0.1970 0.6738
CL 1.5300 0.1417 0.4852
LCL 0.8226 0.0864 0.2966
根据表2及表4数据绘制出Li、Y、Tl三元素检出限均值-极差控制图中的均值控制图，如图19所示。
由图19中Li、Y、Tl三元素检出限均值-极差控制图里的均值控制图可得：每个元素子组检出限均值的总数量都为75个，而Li元素样本子组检出限均值在控制限界外的点数为1个，Y元素样本子组检出限均值在控制限界外的点数为8个，Tl元素样本子组检出限均值在控制限界外的点数为6个，如表5所示。
表5 Li、Y、Tl三元素检出限均值-极差控制图中的均值控制图界外点数统计
使用minitab17软件Box-Cox功能，对检出限性能指标数据集进行变换，接着绘制出变换后的频率直方图，如图20所示，并计算出均值和标准差，如表6、表7所示。
表6检出限数据变换后均值与标准差表
使用k-s检验法对转换后的数据集进行正态性检验，如表7、表8、表9所示。
表7Li元素检出限数据变换后正态分布检验表
由表7可得：Dn＝max{δi}＝0.0340。
由显著性水平α＝0.05，样本量n＝375，通过计算得d(375,0.05)＝0.07023，Dn＜d(375,0.05)，所以接受原假设H0，即Tl元素检出限变换后的数据集服从正态分布N[0.9108，(0.08405)2]。
表8Y元素检出限数据变换后正态分布检验表
由表8可得：Dn＝max{δi}＝0.0391。
由显著性水平α＝0.05，样本量n＝375，通过计算得d(375,0.05)＝0.07023，Dn＜d(375,0.05)，所以接受原假设H0，即Y元素检出限变换后的数据集服从正态分布N[0.7833，(0.04086)2]。
表9Tl元素检出限数据变换后正态分布检验表
由表9可得：Dn＝max{δi}＝0.0440。
由显著性水平α＝0.05，样本量n＝375，通过计算得d(375,0.05)＝0.0702，Dn＜d(375,0.05)，所以接受原假设H0，即Tl元素检出限变换后的数据集服从正态分布N[1.024，
(0.01063)2]。
对检出限性能指标变换后符合正态分布的数据集进行稳定性指数SCI值计算，详细结果如表10所示。
表10检出限性能指标SCI值
序号 性能名称 SCI值 SCI等级
1 Li元素检出限 1.48 A级
2 Y元素检出限 4.36 A++级
3 Tl元素检出限 2.84 A++级
由表10得出：Li元素检出限SCI等级为A级，Y元素检出限SCI等级为A++级，Tl元素检出限SCI等级为A++级。
依据键性能技术稳态评价标准，由表10可得：Li、Y、Tl元素检出限SCI等级都属于A++级，故技术稳态满足要求。
临床质谱仪关键性能指标稳定性结果如表11所示。
表11关键性能指标稳定性结果
序号 关键性能指标名称 统计稳态结果 技术稳态结果 稳定性状态结果
1 Li元素检出限 统计稳定 满足要求 Ⅰ
2 Y元素检出限 统计失稳 满足要求 Ⅲ
3 Tl元素检出限 统计失稳 满足要求 Ⅲ
由表11可得：Li元素检出限性能指标稳定性为状态Ⅰ，故该项性能稳定性较好，属于理想水平。Y、Tl元素检出限性能处于统计失稳状态，但技术稳定性能力指数满足规定的要求，即技术稳态，可以接收。但由于Y、Tl元素处于统计失稳，故对仪器进行检修，发现ICP-MS主机RF功放板电源线存在烧绝缘层故障现象。进一步分析得出，RF功放板工作时电流较大，电源线允许的额定电流与工作电流几乎相同，无电流余量。仪器长时间作业，因为电流较大，造成线材发热严重，从而产生烧绝缘层的故障，最终影响仪器检出限性能稳定性。通过更换额定电流更大的电源线后，电源线发热量明显减小，此故障得到解决，仪器检出限性能稳定性达到要求。
本申请实施例还提供了一种微量元素分析仪检出限性能测试装置，需要说明的是，本申请实施例的微量元素分析仪检出限性能测试装置可以用于执行本申请实施例所提供的用于微量元素分析仪检出限性能测试方法。该装置用于实现上述实施例及优选实施方式，已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的，术语“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。
以下对本申请实施例提供的微量元素分析仪检出限性能测试装置进行介绍。
图21是根据本申请实施例的微量元素分析仪检出限性能测试装置的示意图。如图21所示，该装置包括：
第一控制单元10，用于对微量元素分析仪进行点火控制，并且在微量元素分析仪点火成功后对微量元素分析仪进行调谐控制；
第一处理单元20，用于在经过调谐控制且微量元素分析仪满足测试标准的情况下，对微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对目标参数进行编辑，其中，目标参数为对微量元素分析仪进行检出限性能测试所需要的参数，其中，编辑为对目标参数的相关性能进行设置；
第二处理单元30，用于对选择和编辑后的目标参数进行样本相关性能检测，并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。
本申请的微量元素分析仪检出限性能测试装置，第一控制单元对微量元素分析仪进行点火控制，第一处理单元在微量元素分析仪点火成功后对微量元素分析仪进行调谐控制，在经过调谐控制且微量元素分析仪满足测试标准的情况下，对微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对目标参数进行编辑，第二处理单元对选择和编辑后的目标参数进行样本相关性能检测，并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。本申请的方案实现了对微量元素分析仪检出限的规范性测试。
本申请的装置实施例中，第一控制单元包括第一响应模块、第二响应模块、第三响应模块和第四响应模块，第一响应模块用于响应于作用在仪器控件上的第一预设操作，在显示屏幕中展示操作仪器界面；第二响应模块用于响应于作用在操作仪器界面中的连接仪器控件上的第二预设操作，以连接微量元素分析仪，并且在显示屏幕中弹出打开真空控件和仪器点火控件；第三响应模块响应于作用在打开真空控件上的第三预设操作，控制微量元素分析仪进入真空就绪状态；第四响应模块用于响应于作用在仪器点火控件上的第四预设操作，控制微量元素分析仪进入运行状态。如上，通过连接仪器、打开真空和点火实现控制微量元素分析仪进入运行状态。
本申请的装置实施例中，第一控制单元还包括第五响应模块、第六响应模块和第七响应模块，第五响应模块用于响应于作用在显示界面中的仪器控制控件上的第五预设操作，在仪器控制控件的下方弹出手动调谐控件和自动调谐控件；第六响应模块用于响应于作用在自动调谐控件上的第六预设操作，在显示界面上展示自动调谐方法列表，响应于作用在自动调谐方法列表上的第七预设操作从自动调谐方法列表中选中目标自动调谐方法，以采用目标自动调谐方法对微量元素分析仪进行自动调谐；第七响应模块用于响应于作用在手动调谐控件上的第八预设操作，调用自动调谐过程得到的历史数据，以对微量元素分析仪进行调谐控制。实现对微量元素分析仪的调谐控制。
本申请的装置实施例中，第一处理单元包括第八响应模块、第九响应模块、第十响应模块和第十一响应模块，第八响应模块用于响应于作用在显示界面中的方法编辑控件上的第九预设操作，在显示屏幕上展示参数选择编辑画面；第九响应模块用于响应于作用在参数选择编辑画面中的采样参数控件，在参数选择编辑画面上弹出参数显示列表，并且响应于作用在参数显示列表上的第十预设操作，以添加元素或者减少元素，并且添加或删除调谐；第十响应模块用于响应于作用在参数选择编辑画面中的分析参数控件，在参数选择编辑画面上弹出参数分析列表，并且响应于作用在参数分析列表上的第十一预设操作，选中需要修改项，以进行修改；第十一响应模块用于响应于作用在参数选择编辑画面中的进样参数控件，在参数选择编辑画面上弹出参数编辑画面，响应于作用在参数编辑画面中的参数编辑控件上的第十二预设操作，以进行参数编辑。实现对参数的编辑。
本申请的装置实施例中，装置还包括第一响应单元，第一响应单元用于在响应于作用在参数编辑画面中的参数编辑控件上的第十二预设操作，以进行参数编辑之后，响应于作用在参数选择编辑画面中的样本列表控件，在参数选择编辑画面的第四预设区域弹出样本列表画面，并且响应于作用在样本列表画面上的第十三预设操作，以至少进行样本的添加。至少实现对样本的添加。
本申请的装置实施例中，装置还包括第二控制单元，第二控制单元用于在对微量元素分析仪进行调谐控制之后，对微量元素分析仪进行样本检测控制；
其中，第二控制单元包括第十二响应模块，第十二响应模块用于响应于作用在显示界面中的样本检测控件上的第十四预设操作，在显示屏幕上展示样本检测画面，并且响应于作用在样本检测画面上的创建控件上的第十五预设操作，在样本检测画面上弹出选择检测模板列表，以从选择检测模板列表中选择出目标检测模板，以采用目标检测模板进行样本检测。实现从选择检测模板列表中选择出目标检测模板。
本申请的装置实施例中，第二处理单元包括第十三响应模块和第十四响应模块，第十三响应模块用于响应于作用在显示界面中的样本分析控件上的第十六预设操作，在显示界面中上显示出检测列表和分析控件；第十四响应模块用于响应于作用在分析控件上的第十七预设操作，以进行样本分析。
本申请的装置实施例中，第十四响应模块包括第一响应子模块和第二响应子模块，第一响应子模块用于响应于作用在分析控件上的第十七预设操作，在显示界面中中展示样本分析画面；第二响应子模块用于响应于作用在样本分析画面上的下拉列表上的第十八预设操作，选中下一级分析项，以进行样本分析。实现对样本分析。
本申请的装置实施例中，装置还包括第二响应单元，第二响应单元用于在响应于作用在样本分析画面上的下拉列表上的第十八预设操作，选中下一级分析项，以进行样本分析之后，响应于作用在样本分析画面上的第十九预设操作，弹出文件导出方式列表，文件导出方式列表中包括导出文件格式、文件显示信息。实现对分析结果的保存。
微量元素分析仪检出限性能测试装置包括处理器和存储器，上述第一控制单元、第一处理单元和第二处理单元等均作为程序单元存储在存储器中，由处理器执行存储在存储器中的上述程序单元来实现相应的功能。上述模块均位于同一处理器中；或者，上述各个模块以任意组合的形式分别位于不同的处理器中。
处理器中包含内核，由内核去存储器中调取相应的程序单元。内核可以设置一个或以上，通过调整内核参数来解决目前的技术中缺乏一种规范性的微量元素分析仪检出限性能测试流程的问题。
存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)，存储器包括至少一个存储芯片。
本发明实施例提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器，存储器，以及一个或多个程序，其中，一个或多个程序被存储在存储器中，并且被配置为由一个或多个处理器执行，一个或多个程序包括用于执行的微量元素分析仪检出限性能测试方法。
本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，在程序运行时控制计算机可读存储介质所在设备执行微量元素分析仪检出限性能测试方法。
本发明实施例提供了一种处理器，处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行微量元素分析仪检出限性能测试方法。
本发明实施例提供了一种设备，设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，处理器执行程序时实现微量元素分析仪检出限性能测试方法的步骤。本文中的设备可以是服务器、PC、PAD、手机等。
本申请还提供了一种计算机程序产品，当在数据处理设备上执行时，适于执行初始化有微量元素分析仪检出限性能测试方法的步骤。
显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。
存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。存储器是计算机可读介质的示例。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。
还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
从以上的描述中，可以看出，本申请上述的实施例实现了如下技术效果：
1)、本申请的微量元素分析仪检出限性能测试方法，通过对微量元素分析仪进行点火控制，并且在微量元素分析仪点火成功后对微量元素分析仪进行调谐控制，在经过调谐控制且微量元素分析仪满足测试标准的情况下，对微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对目标参数进行编辑，对选择和编辑后的目标参数进行样本相关性能检测，并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。本申请的方案实现了对微量元素分析仪检出限的规范性测试。
2)、本申请的微量元素分析仪检出限性能测试装置，第一控制单元对微量元素分析仪进行点火控制，第一处理单元在微量元素分析仪点火成功后对微量元素分析仪进行调谐控制，在经过调谐控制且微量元素分析仪满足测试标准的情况下，对微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对目标参数进行编辑，第二处理单元对选择和编辑后的目标参数进行样本相关性能检测，并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。本申请的方案实现了对微量元素分析仪检出限的规范性测试。
以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (12)

1.一种微量元素分析仪检出限性能测试方法，其特征在于，包括：
对微量元素分析仪进行点火控制，并且在所述微量元素分析仪点火成功后对所述微量元素分析仪进行调谐控制；
在经过所述调谐控制且所述微量元素分析仪满足测试标准的情况下，对所述微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对所述目标参数进行编辑，其中，目标参数为对所述微量元素分析仪进行检出限性能测试所需要的参数，其中，所述编辑为对所述目标参数的相关性能进行设置；
对选择和编辑后的所述目标参数进行样本相关性能检测，并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对微量元素分析仪进行点火控制，包括：
响应于作用在仪器控件上的第一预设操作，在显示屏幕中展示操作仪器界面；
响应于作用在所述操作仪器界面中的连接仪器控件上的第二预设操作，以连接所述微量元素分析仪，并且在所述显示屏幕中弹出打开真空控件和仪器点火控件；
响应于作用在所述打开真空控件上的第三预设操作，控制所述微量元素分析仪进入真空就绪状态；
响应于作用在所述仪器点火控件上的第四预设操作，控制所述微量元素分析仪进入运行状态。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述微量元素分析仪点火成功后对所述微量元素分析仪进行调谐控制，包括：
响应于作用在显示界面中的仪器控制控件上的第五预设操作，在所述仪器控制控件的下方弹出手动调谐控件和自动调谐控件；
响应于作用在所述自动调谐控件上的第六预设操作，在所述显示界面上展示自动调谐方法列表，响应于作用在所述自动调谐方法列表上的第七预设操作从所述自动调谐方法列表中选中目标自动调谐方法，以采用所述目标自动调谐方法对所述微量元素分析仪进行自动调谐；
响应于作用在所述手动调谐控件上的第八预设操作，调用自动调谐过程得到的历史数据，以对所述微量元素分析仪进行调谐控制。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对所述目标参数进行编辑，包括：
响应于作用在显示界面中的方法编辑控件上的第九预设操作，在显示屏幕上展示参数选择编辑画面；
响应于作用在所述参数选择编辑画面中的采样参数控件，在所述参数选择编辑画面上弹出参数显示列表，并且响应于作用在所述参数显示列表上的第十预设操作，以添加元素或者减少元素，并且添加或删除调谐；
响应于作用在所述参数选择编辑画面中的分析参数控件，在所述参数选择编辑画面上弹出参数分析列表，并且响应于作用在所述参数分析列表上的第十一预设操作，选中需要修改项，以进行修改；
响应于作用在所述参数选择编辑画面中的进样参数控件，在所述参数选择编辑画面上弹出参数编辑画面，响应于作用在所述参数编辑画面中的参数编辑控件上的第十二预设操作，以进行参数编辑。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在响应于作用在所述参数编辑画面中的参数编辑控件上的第十二预设操作，以进行参数编辑之后，所述方法还包括：
响应于作用在所述参数选择编辑画面中的样本列表控件，在所述参数选择编辑画面的第四预设区域弹出样本列表画面，并且响应于作用在所述样本列表画面上的第十三预设操作，以至少进行样本的添加。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在对所述微量元素分析仪进行调谐控制之后，所述方法还包括：对所述微量元素分析仪进行样本检测控制；
其中，对所述微量元素分析仪进行样本检测控制，包括：
响应于作用在显示界面中的样本检测控件上的第十四预设操作，在显示屏幕上展示样本检测画面，并且响应于作用在所述样本检测画面上的创建控件上的第十五预设操作，在所述样本检测画面上弹出选择检测模板列表，以从所述选择检测模板列表中选择出目标检测模板，以采用所述目标检测模板进行样本检测。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对样本相关性能检测结果进行分析包括：
响应于作用在显示界面中的样本分析控件上的第十六预设操作，在所述显示界面中上显示出检测列表和分析控件；
响应于作用在所述分析控件上的第十七预设操作，以进行样本分析。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，响应于作用在所述分析控件上的第十七预设操作，以进行样本分析，包括：
响应于作用在所述分析控件上的第十七预设操作，在显示界面中中展示样本分析画面；
响应于作用在所述样本分析画面上的下拉列表上的第十八预设操作，选中下一级分析项，以进行所述样本分析。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，在响应于作用在所述样本分析画面上的下拉列表上的第十八预设操作，选中下一级分析项，以进行所述样本分析之后，所述方法还包括：
响应于作用在所述样本分析画面上的第十九预设操作，弹出文件导出方式列表，所述文件导出方式列表中包括导出文件格式、文件显示信息。
10.一种微量元素分析仪检出限性能测试装置，其特征在于，包括：
第一控制单元，用于对微量元素分析仪进行点火控制，并且在所述微量元素分析仪点火成功后对所述微量元素分析仪进行调谐控制；
第一处理单元，用于在经过所述调谐控制且所述微量元素分析仪满足测试标准的情况下，对所述微量元素分析仪进行参数的选择得到目标参数，并对所述目标参数进行编辑，其中，目标参数为对所述微量元素分析仪进行检出限性能测试所需要的参数，其中，所述编辑为对所述目标参数的相关性能进行设置；
第二处理单元，用于对选择和编辑后的所述目标参数进行样本相关性能检测，并对样本相关性能检测结果进行分析并且得到检出限性能测试的分析结果。
11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行权利要求1至9中任意一项所述的微量元素分析仪检出限性能测试方法。
12.一种电子设备，其特征在于，包括：一个或多个处理器，存储器，以及一个或多个程序，其中，所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个程序包括用于执行权利要求1至9中任意一项所述的微量元素分析仪检出限性能测试方法。
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