CN116576913A - 一种滤棒物理指标二次验证系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种滤棒物理指标二次验证系统，包括，四台单管指标一次验证装置对滤棒物理指标进行第一统计计算；如果被检测滤棒的物理指标有缺陷，四管指标二次验证装置提取两只物理指标有缺陷的滤棒，分别进行两次滤棒物理指标第二统计计算，如果第二统计计算结果与第一统计计算结果的缺陷项偏向一样，则调用报警器，提醒操作人员进行介入，进行设备保养或者结构参数调整。本发明公开的技术内容，通过四管指标二次验证装置，与每台单管指标一次验证装置进行互动，快速对缺陷项进行二次验证，减少出现滤棒缺陷项就报警的情况出现，能自动定位到取样点缺陷滤棒所在滤棒盒位置以及在某一盒子的具体高度，方便进行质量追溯，降低滤棒被废弃的数量。
Description
技术领域
本发明涉及卷烟设备技术领域，更具体地，涉及一种滤棒物理指标二次验证系统。
背景技术
滤棒物理指标关系到卷制成型运行稳定性与成品卷烟吸阻、外观缺陷指标，尤其当圆周超过一定的偏差后，将导致卷烟机滤棒接收装置入口堵塞，烟支漏气，水松纸搓接不良，当吸阻超标后，影响感官质量，将不利于卷烟产品均质化。
为及时掌握滤棒成型设备生产的滤棒物理指标波动情况，在装盘机入口安装在线吸取装置，利用压缩空气将滤棒通过输送弯管传送到综合测量台入口，管道入口的检测装置，检测到滤棒后，利用压缩空气形成反向缓冲，滤棒在管道内浮动，然后依靠自重下落到综合测量台测量通道内。出于降低消耗的目标，综合测试台设置：每12S吸取一只滤棒，连续30支为一组进行物理指标(质量、长度、圆周、吸阻、圆度)统计计算，现在KDF4成型机生产常规滤棒速度为：6000支/分钟，而每一个滤棒盒可以装4600支滤棒，现有的滤棒盒两端被气缸夹持，随着YJ37型装盘机将一排滤棒不断平推逐渐降低一个滤棒端面高度，最后通过气缸两端的磁性开关触发，滤棒盒满的信号，进行下一轮装盘，如果圆周或者吸阻指标超限，如果等待第二次缺陷滤棒依然存在，12秒内可能大约1200支滤棒无法进行二次验证，需要人工抓一定数量的滤棒到综合测试台进行复测量，等到测量结果出来，可能产生2500支缺陷滤棒，而因为无法判定缺陷的滤棒具体在那个滤嘴盒内，更无法进行研判缺陷滤棒具体位置，因此将最近两盒滤棒直接当成废弃滤棒处理，造成烟用材料的浪费。
由于现有综合测试台无报警功能，操作人员如果不一直关注测量结果，可能进入到下一组测量界面，人工不能观察到最近物理指标波动情况，只有通过历史测试数据进行追溯，经过时间进行推理出该缺陷滤棒盒的大概位置，滤棒浪费量将增加。
现有卷烟企业在综合测试台安装报警装置，当综合测量台出现缺陷数据时候，报警器将报警，提示操作人员进行关注设备运行状态，当连续两次测量的滤棒出现相同缺陷项时，需要操作人员进行人工送检复测，当复测依然是相同故障缺陷时候，需进行设备调整或者保养操作，工艺质量人员通过MES检测数据统计结果，结合车间摄像视频关注操作人员是否按照规定进行操作。这种制度能有效保证不会出现大规模物理指标缺陷的滤棒，但是需要操作人员精力高度集中，无法精准判定缺陷产生滤棒所在具体滤棒盒具体位置，造成滤棒严重的浪费。
因此，如何提供一种滤棒物理指标二次验证系统成为本领域亟需解决的技术难题。
发明内容
本发明的目的是提供一种滤棒物理指标二次验证系统。
根据本发明，提供了一种滤棒物理指标二次验证系统，包括，四台单管指标一次验证装置和四管指标二次验证装置；
所述四管指标二次验证装置通过滤棒采集通道与所述四台单管指标一次验证装置连接；所述四台单管指标一次验证装置对滤棒物理指标进行第一统计计算；如果被检测滤棒的物理指标有缺陷，所述四管指标二次验证装置提取两只物理指标有缺陷的滤棒，分别进行两次滤棒物理指标第二统计计算，如果所述第二统计计算结果与所述第一统计计算结果的缺陷项偏向一样，则调用报警器，提醒操作人员进行介入，进行设备保养或者结构参数调整。
可选地，所述系统还包括：如果所述第二统计计算结果与所述第一统计计算结果的缺陷项偏向一样，则通过滤棒盒计数和高度计算装置自动定位物理指标有缺陷的滤棒所在的滤棒盒，以及所述滤棒所处的高度。
可选地，所述系统还包括：如两只滤棒的第二统计计算结果在正常范围内，取样结束；如果第二统计计算结果异常，两只滤棒的第二统计计算结果分别对应着所述物理指标的两个极限，即一大一小，计算结束，则丝束正处于开包或者包尾阶段，丝束运行不稳定。
可选地，所述四管指标二次验证装置包括：转盘、底板、对射开关、空心管、安装板、螺栓、综合测试台和步进电机；
所述对射开关安装在所述空心管的上面，空心管下部的螺纹与所述转盘环面的螺纹孔进行连接固定，转盘与所述步进电机的输出轴利用阶梯轴与轴键配合连接，步进电机穿过所述安装板的中间部位，利用两个螺栓进行固定，安装板通过四个螺栓固定在综合测量台的顶部；所述底板对称轴心线与转盘轴心线重合，底部通过三个均布的螺栓固定在安装板的上端面。
可选地，所述滤棒盒计数和高度计算装置包括：两个激光传感器和漫反射开关；
第一个激光传感器安装在盒体一侧顶部的上方，测量第一高度H1；
第二个激光传感器安装在盒体中心顶部的上方，测量第二高度H2；
所述漫反射开关设置于滤棒盒输送通道一侧，计数为滤棒盒数量J，在设备工作时间段，J从0不断进行累加，实时显示生产的滤棒盒数量J和滤棒盒内滤棒即将换滤棒盒的高度H3。
可选地，所述四管指标二次验证装置提取2只物理指标有缺陷的滤棒，分别进行两次滤棒物理指标第二统计计算的方法包括：
间隔3秒提取2只物理指标有缺陷的滤棒，所述滤棒经过发送、减速阶段后，对射开关检测到所述滤棒的信号后，进入到空心管内，步进电机驱动转盘转动一定角度后，在综合测试台测试入口上方停止转动，底板上开设有孔洞，滤棒从所述孔洞进入综合测试台内，而综合测试台根据检测缺陷的项目与机台信息，对所述缺陷的项目进行滤棒物理指标第二统计计算。
可选地，所述机台信息包括：缺陷产生的时间、滤棒盒的高度和成型设备产量数据。
可选地，所述自动定位物理指标有缺陷的滤棒所在的滤棒盒，以及所述滤棒所处的高度的方法包括：
当S>4600，缺陷滤棒所处的位置高度＝(S-INT(S/4600)*4600)*H3/4600，缺陷的滤棒所在的滤棒盒数＝J+INT(S/4600)+1；
当S≤4600，缺陷滤棒所处的位置高度＝(S/4600)*H3，缺陷的滤棒所在的滤棒盒数＝J+1；
其中，S为滤棒总数量，且S＝(H1+H0-H2)*4600/H3+N；H0为滤棒盒高度；N＝从滤棒在线取样点到滤棒装盘机即将推送到滤棒盒内的通道内所有滤棒数量。
根据本发明公开的技术内容，具有如下有益效果：通过四管指标二次验证装置，与每台单管指标一次验证装置进行互动，快速对缺陷项进行二次验证，减少出现滤棒缺陷项就报警的情况出现，能自动定位到取样点缺陷滤棒所在滤棒盒位置以及在某一盒子的具体高度，方便进行质量追溯，降低滤棒被废弃的数量。
通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。
附图说明
被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。
图1为根据实施例提供的四管指标二次验证装置示意图；
图2为根据实施例提供的滤棒提取示意图；
图3为根据实施例提供的滤棒盒计数和高度计算装置第一视角示意图；
图4为根据实施例提供的滤棒盒计数和高度计算装置第二视角示意图。
附图标记说明：1-转盘，2-底板，3-对射开关，4-空心管，5-安装板，6-螺栓，7-综合测试台，8-步进电机，9-激光传感器，10-漫反射开关，21-孔洞。
具体实施方式
现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。
以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。
对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。
在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
根据本发明，提供了一种滤棒物理指标二次验证系统，包括，四台单管指标一次验证装置和四管指标二次验证装置；证装置连接；所述四台单管指标一次验证装置对滤棒物理指标进行第一统计计算；如果被检测滤棒的物理指标有缺陷，所述四管指标二次验证装置提取两只物理指标有缺陷的滤棒，分别进行两次滤棒物理指标第二统计计算，如果所述第二统计计算结果与所述第一统计计算结果的缺陷项偏向一样，则调用报警器，提醒操作人员进行介入，进行设备保养或者结构参数调整。
所述系统还包括：如果所述第二统计计算结果与所述第一统计计算结果的缺陷项偏向一样，则通过滤棒盒计数和高度计算装置自动定位物理指标有缺陷的滤棒所在的滤棒盒，以及所述滤棒所处的高度。
所述系统还包括：如两只滤棒的第二统计计算结果在正常范围内，取样结束；如果第二统计计算结果异常，两只滤棒的第二统计计算结果分别对应着所述物理指标的两个极限，即一大一小，计算结束，则丝束正处于开包或者包尾阶段，丝束运行不稳定。
如图1和图2所示，所述四管指标二次验证装置包括：转盘1、底板2、对射开关3、空心管4、安装板5、螺栓6、综合测试台7和步进电机8；所述对射开关3安装在所述空心管4的上面，空心管4下部的螺纹与所述转盘1环面的螺纹孔进行连接固定，转盘1与所述步进电机8的输出轴利用阶梯轴与轴键配合连接，步进电机穿过所述安装板5的中间部位，利用两个螺栓6进行固定，安装板5通过四个螺栓6固定在综合测试台7的顶部；所述底板2对称轴心线与转盘1轴心线重合，底板2通过三个均布的螺栓固定在安装板5的上端面。
如图3和图4所示，所述滤棒盒计数和高度计算装置包括：两个激光传感器9和漫反射开关10；第一个激光传感器9安装在盒体一侧顶部的上方，测量第一高度H1；第二个激光传感器9安装在盒体中心顶部的上方，测量第二高度H2；所述漫反射开关10设置于滤棒盒输送通道一侧，计数为滤棒盒数量J，在设备工作时间段，J从0不断进行累加，实时显示生产的滤棒盒数量J和滤棒盒内滤棒即将换滤棒盒的高度H3。
所述四管指标二次验证装置提取2只物理指标有缺陷的滤棒，分别进行两次滤棒物理指标第二统计计算的方法包括：间隔3秒提取2只物理指标有缺陷的滤棒，所述滤棒经过发送、减速阶段后，对射开关3检测到所述滤棒的信号后，进入到空心管4内，步进电机8驱动转盘1转动一定角度后，在综合测试台7测试入口上方停止转动，底板2上开设有孔洞21，滤棒从所述孔洞21进入综合测试台内，而综合测试台根据检测缺陷的项目与机台信息，对所述缺陷的项目进行滤棒物理指标第二统计计算。
所述机台信息包括：缺陷产生的时间、滤棒盒的高度和成型设备产量数据。
所述自动定位物理指标有缺陷的滤棒所在的滤棒盒，以及所述滤棒所处的高度的方法包括：
当S>4600，缺陷滤棒所处的位置高度＝(S-INT(S/4600)*4600)*H3/4600，缺陷的滤棒所在的滤棒盒数＝J+INT(S/4600)+1；
当S≤4600，缺陷滤棒所处的位置高度＝(S/4600)*H3，缺陷的滤棒所在的滤棒盒数＝J+1；
其中，S为滤棒总数量，且S＝(H1+H0-H2)*4600/H3+N；H0为滤棒盒高度；N＝从滤棒在线取样点到滤棒装盘机即将推送到滤棒盒内的通道内所有滤棒数量，根据KFD4成型机到装盘机具体数量进行设置。
人工在设备进行停机保养的时候，根据控制显示的滤棒缺陷所处于盒数与J显示数据，便能判断滤棒盒通道那一盘是缺陷盘。
综上，本发明公开的技术内容，通过四管指标二次验证装置，与每台单管指标一次验证装置进行互动，快速对缺陷项进行二次验证，减少出现滤棒缺陷项就报警的情况出现，能自动定位到取样点缺陷滤棒所在滤棒盒位置以及在某一盒子的具体高度，方便进行质量追溯，降低滤棒被废弃的数量。
虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。
Claims (8)
1.一种滤棒物理指标二次验证系统，其特征在于，包括：四台单管指标一次验证装置和四管指标二次验证装置；
所述四管指标二次验证装置通过滤棒采集通道与所述四台单管指标一次验证装置连接；所述四台单管指标一次验证装置对滤棒物理指标进行第一统计计算；如果被检测滤棒的物理指标有缺陷，所述四管指标二次验证装置提取两只物理指标有缺陷的滤棒，分别进行两次滤棒物理指标第二统计计算，如果所述第二统计计算结果与所述第一统计计算结果的缺陷项偏向一样，则调用报警器，提醒操作人员进行介入，进行设备保养或者结构参数调整。
2.根据权利要求1所述的滤棒物理指标二次验证系统，其特征在于，所述系统还包括：如果所述第二统计计算结果与所述第一统计计算结果的缺陷项偏向一样，则通过滤棒盒计数和高度计算装置自动定位物理指标有缺陷的滤棒所在的滤棒盒，以及所述滤棒所处的高度。
3.根据权利要求1所述的滤棒物理指标二次验证系统，其特征在于，所述系统还包括：如两只滤棒的第二统计计算结果在正常范围内，取样结束；如果第二统计计算结果异常，两只滤棒的第二统计计算结果分别对应着所述物理指标的两个极限即最大值和最小值，计算结束，则丝束正处于开包或者包尾阶段，丝束运行不稳定。
4.根据权利要求1所述的滤棒物理指标二次验证系统，其特征在于，所述四管指标二次验证装置包括：转盘、底板、对射开关、空心管、安装板、螺栓、综合测试台和步进电机；
所述对射开关安装在所述空心管的上面，空心管下部的螺纹与所述转盘环面的螺纹孔进行连接固定，转盘与所述步进电机的输出轴利用阶梯轴与轴键配合连接，步进电机穿过所述安装板的中间部位，利用两个螺栓进行固定，安装板通过四个螺栓固定在综合测量台的顶部；所述底板对称轴心线与转盘轴心线重合，底部通过三个均布的螺栓固定在安装板的上端面。
5.根据权利要求2所述的滤棒物理指标二次验证系统，其特征在于，所述滤棒盒计数和高度计算装置包括：漫反射开关和两个激光传感器；
第一个激光传感器安装在盒体一侧顶部的上方，测量第一高度H1；
第二个激光传感器安装在盒体中心顶部的上方，测量第二高度H2；
所述漫反射开关设置于滤棒盒输送通道一侧，计数为滤棒盒数量J，在设备工作时间段，J从0不断进行累加，实时显示生产的滤棒盒数量J和滤棒盒内滤棒即将换滤棒盒的高度H3。
6.根据权利要求4所述的滤棒物理指标二次验证系统，其特征在于，所述四管指标二次验证装置提取两只物理指标有缺陷的滤棒，分别进行两次滤棒物理指标第二统计计算的方法包括：
间隔3秒提取两只物理指标有缺陷的滤棒，所述滤棒经过发送、减速阶段后，对射开关检测到所述滤棒的信号后，进入到空心管内，步进电机驱动转盘转动一定角度后，在综合测试台测试入口上方停止转动，底板上开设有孔洞，滤棒从所述孔洞进入综合测试台内，而综合测试台根据检测缺陷的项目与机台信息，对所述缺陷的项目进行滤棒物理指标第二统计计算。
7.根据权利要求6所述的滤棒物理指标二次验证系统，其特征在于，所述机台信息包括：缺陷产生的时间、滤棒盒的高度和成型设备产量数据。
8.根据权利要求5所述的滤棒物理指标二次验证系统，其特征在于，所述自动定位物理指标有缺陷的滤棒所在的滤棒盒，以及所述滤棒所处的高度的方法包括：
当S>4600，缺陷滤棒所处的位置高度＝(S-INT(S/4600)*4600)*H3/4600，缺陷的滤棒所在的滤棒盒数＝J+INT(S/4600)+1；
当S≤4600，缺陷滤棒所处的位置高度＝(S/4600)*H3，缺陷的滤棒所在的滤棒盒数＝J+1；
其中，S为滤棒总数量，且S＝(H1+H0-H2)*4600/H3+N；H0为滤棒盒高度；N＝从滤棒在线取样点到滤棒装盘机即将推送到滤棒盒内的通道内所有滤棒数量。
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