CN116484081A - 一种芯片电气参数的线上处理方法、装置及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种芯片电气参数的线上处理方法、装置及电子设备，芯片电气参数的线上数据处理方法包括：获取目标产品对应的至少一个目标项目的目标参数测试数据；针对任一目标参数测试数据，将目标参数测试数据与目标产品的预设产品项目参数规范库进行匹配，确定与目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范；针对任一目标参数测试数据，基于目标产品项目参数规范，确定目标参数测试数据对应的目标项目的测试结果；根据测试结果，确定是否完成对目标项目的测试，以便完成对目标参数测试数据的处理。本申请通过线上数据库匹配的方式，提高了处理效率，同时可以实现对目标参数测试数据进行追踪和溯源，降低了处理成本。
Description
技术领域
本申请涉及芯片生产技术领域，尤其是涉及一种芯片电气参数的线上处理方法、装置及电子设备。
背景技术
随着半导体行业的迅速发展，性能更好、功能更新以及功能更强的新型半导体芯片正在彻底改变人类的生活和许多其他行业，在半导体行业里，芯片更新换代的需求速度大大提高。
随着半导体芯片的产品设计越来越复杂，构建符合规范的芯片并缩短时间成本的难度越来越大，因此，需要对芯片产品的数据表和电气参数进行处理，传统的对产品的电气参数的处理方通常为使用Excel进行线下处理，但是，传统的Excel线下处理需要设置的行和列比较多，处理起来费时费力，且传统的Excel线下处理无法将测试数据和参数规范相关联，无法对测试数据进行关联，导致传统的Excel线下处理无法对不同的测试数据进行追踪和溯源，且处理效率低下。
发明内容
有鉴于此，本申请的目的在于提供一种芯片电气参数的线上处理方法、装置及电子设备，通过线上数据库匹配的方式，提高了处理效率，同时可以实现对目标参数测试数据进行追踪和溯源，降低了处理成本。
本申请实施例提供了一种芯片电气参数的线上处理方法，所述芯片电气参数的线上处理方法包括：
获取目标产品对应的至少一个目标项目的目标参数测试数据；
针对任一所述目标参数测试数据，将所述目标参数测试数据与所述目标产品的预设产品项目参数规范库进行匹配，确定与所述目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范，其中，所述预设产品项目参数规范库是基于预设产品项目的市场需求和所述预设产品项目的属性信息确定的参数规范库；
针对任一所述目标参数测试数据，基于所述目标产品项目参数规范，确定所述目标参数测试数据对应的所述目标项目的测试结果；
根据所述测试结果，确定是否完成对所述目标项目的测试，以便完成对目标参数测试数据的处理。
进一步的，所述目标产品项目参数规范包括所述目标产品项目参数的预设阈值区间，所述针对任一所述目标参数测试数据，基于所述目标产品项目参数规范，确定所述目标参数测试数据对应的所述目标项目的测试结果，包括：
针对任一所述目标参数测试数据，将目标参数测试数据的至少一个数据值分别与目标产品项目参数规范的预设阈值区间进行比较，判断各个所数据值是否均在所述预设阈值区间内，并将判断结果确定为目标参数测试数据对应的目标项目的测试结果。
进一步的，所述根据所述测试结果，确定是否完成对所述目标项目的测试，包括：
若目标参数测试数据的各个数据值均在预设阈值区间内，则确定目标产品项目参数规范正确，则确定完成对目标项目的测试。
进一步的，所述根据所述测试结果，确定是否完成对所述目标项目的测试，还包括：
若目标参数测试数据的任一数据值不在预设阈值区间内，则确定目标产品项目参数规范不正确，或所述目标项目对应的所述目标参数测试数据不正确，则重新对所述目标项目进行测试。
进一步的，在针对任一所述目标参数测试数据，基于所述目标产品项目参数规范，确定所述目标参数测试数据对应的所述目标项目的测试结果之前，所述芯片电气参数的线上处理方法还包括：
将目标产品项目参数规范分别与对应的目标项目以及所述目标项目对应的目标产品进行绑定。
进一步的，在所述根据所述测试结果，确定是否完成对所述目标项目的测试之后，所述芯片电气参数的线上处理方法还包括：
在确定未完成对目标项目的测试时，更新目标产品项目参数规范，并根据更新后的所述目标产品项目参数规范，对目标项目进行测试。
本申请实施例还提供了一种芯片电气参数的线上处理装置，所述芯片电气参数的线上数据处理系统装置：
获取模块，用于获取目标产品对应的至少一个目标项目的目标参数测试数据；
匹配模块，用于针对任一所述目标参数测试数据，将所述目标参数测试数据与所述目标产品的预设产品项目参数规范库进行匹配，确定与所述目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范，其中，所述预设产品项目参数规范库是基于预设产品项目的市场需求和所述预设产品项目的属性信息确定的参数规范库；
测试模块，用于针对任一所述目标参数测试数据，基于所述目标产品项目参数规范，确定所述目标参数测试数据对应的所述目标项目的测试结果；
决策模块，用于根据所述测试结果，确定是否完成对所述目标项目的测试，以便完成对目标参数测试数据的处理。
进一步的，芯片电气参数的线上处理装置，所述芯片电气参数的线上数据处理系统装置：
获取模块，用于获取目标产品对应的至少一个目标项目的目标参数测试数据；
匹配模块，用于针对任一所述目标参数测试数据，将所述目标参数测试数据与所述目标产品的预设产品项目参数规范库进行匹配，确定与所述目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范，其中，所述预设产品项目参数规范库是基于预设产品项目的市场需求和所述预设产品项目的属性信息确定的参数规范库；
测试模块，用于针对任一所述目标参数测试数据，基于所述目标产品项目参数规范，确定所述目标参数测试数据对应的所述目标项目的测试结果；
决策模块，用于根据所述测试结果，确定是否完成对所述目标项目的测试。
本申请实施例还提供一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行如上述的芯片电气参数的线上处理方法的步骤。
本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行如上述的芯片电气参数的线上处理方法的步骤。
本申请实施例提供的芯片电气参数的线上处理方法、装置及电子设备，与现有技术中的参数处理方法相比，本申请提供的实施例通过将目标项目的目标参数测试数据与预设产品项目参数规范库进行匹配，确定与目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范，并根据目参数规范，对目标参数测试数据对应的目标项目进行测试，以便完成对目标参数测试数据的处理，通过线上数据库匹配的方式，提高了处理效率，同时可以实现对目标参数测试数据进行追踪和溯源，降低了处理成本。
为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1示出了本申请实施例所提供的一种芯片电气参数的线上处理方法的流程图之一；
图2示出了本申请实施例所提供的一种芯片电气参数的线上处理方法的流程图之二；
图3示出了本申请实施例所提供的一种芯片电气参数的线上处理装置的结构框图之一；
图4示出了本申请实施例所提供的一种芯片电气参数的线上处理装置的结构框图之二；
图5示出了本申请实施例所提供的一种电子设备的结构示意图。
图中：
300-芯片电气参数的线上处理装置；310-获取模块；320-匹配模块；330-绑定模块；340-测试模块；350-更新模块；500-电子设备；510-处理器；520-存储器；530-总线。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的每个其他实施例，都属于本申请保护的范围。
首先，对本申请可适用的应用场景进行介绍。本申请可应用于芯片生产技术领域。
经研究发现，随着半导体芯片的产品设计越来越复杂构建符合规范的芯片，并缩小市场时间表的难度越来越大，因此，需要对芯片产品的数据表和电气参数进行处理，传统的对产品的电气参数的处理方通常为使用Excel进行线下处理，但是，传统的Excel线下处理需要设置的行和列比较多，处理起来费时费力，且传统的Excel线下处理无法将测试数据和参数规范相关联，无法对测试数据进行关联，导致传统的Excel线下处理无法对不同的测试数据进行追踪和溯源，且处理效率低下。
且现有技术中，对芯片产品的生产是根据电气参数规范(即数据表)的指定条件进行生产的，且从半导体产品的生命周期角度出发而言，它开始于产品工程师编写的电气参数设计规范，并由芯片设计师进行设计，仿真工程师进行仿真，然后由验证工程师验证芯片性能，再通过测试工程师测试超过数百组芯片，最终交付到生产并进行质量管控，目前，参与生产芯片产品生命周期的不同部门都使用自己的一套工具来处理自己的工作流程，而这些工具要么是非半导体行业逻辑的产品，要么就是自研产品，这样就导致不同部门间的工作流程处理工具无法兼容，且无法相互协调，进而导致效率低下，数据错乱风险高，最终影响芯片产品的质量和芯片产品投入市场的时间。
基于此，本申请实施例提供了一种芯片电气参数的线上处理方法、装置及电子设备，通过线上数据库匹配的方式，提高了处理效率，同时可以实现对目标参数测试数据进行追踪和溯源，降低了处理成本。
请参阅图1，图1为本申请实施例所提供的一种芯片电气参数的线上处理方法的流程图之一。如图1中所示，本申请实施例提供的芯片电气参数的线上处理方法，包括以下步骤：
S101、获取目标产品对应的至少一个目标项目的目标参数测试数据。
上述中，本申请提供的实施例是基于信息发布(browser/server，B/S)系统设计的线上数据处理方法，且本申请提供的实施例可以根据信息发布系统将芯片电气参数的线上处理方法部署到云端以及客户端中。
本申请提供的实施例中的目标产品根据不同的应用场景进行自定义设置，本申请提供的实施例可以支持线下导入或线下上传不同类型的目标参数测试数据。
上述中，目标参数测试数据的具体类型包括但不限制为CSV文件格式以及STDF文件格式。
这里，一个目标产品对应至少一个目标项目，且每个目标项目对应多个目标参数测试数据，且每个目标项目的多个目标参数测试数据中均具有最大值和最小值，其中，确定每个目标项目中目标参数测试数据的最大值和最小值。
S102、针对任一所述目标参数测试数据，将所述目标参数测试数据与所述目标产品的预设产品项目参数规范库进行匹配，确定与所述目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范，其中，所述预设产品项目参数规范库是基于预设产品项目的市场需求和所述预设产品项目的属性信息确定的参数规范库。
该步骤中，当想要对任一目标参数测试数据进行数据规范的对齐匹配和测试处理时，首先根据目标参数测试数据的名称在预设产品项目参数规范库中进行对齐匹配，确定与该目标参数测试数据的名称相对应的目标产品项目参数规范。
这里，预设产品项目参数规范库向上承接市场需求和预设产品项目的属性信息，向下预设产品项目参数规范库作为预设产品项目测试需求的输入。
这里，本申请提供的实施例中的预设产品项目的属性信息可以具体包括预设产品项目完成所需的必要的各项参数的信息以及时长对该预设产品项目的评价维度信息。
其中，本申请提供的实施例中的预设产品项目参数规范库可以具体为芯片电气参数的数据手册。
上述中，当对目标参数测试数据进行测试后，需要对目标项目参数规范进行修改，预设产品项目参数规范库的设置解决了传统的Excel中在目标项目参数规范修改后，对修改前后的目标项目参数规范无法处理，且无法目标项目参数规范修改前后差异的问题，实现了对目标参数测试数据和目标产品项目参数规范修改及调整前后的溯源。
这样，数据手册用于表征有关产品技术特征的基本描述，包含产品的基本配置(如内置Flash和RAM的容量、外设的数量等)，管脚的数量和分配，电气特性，封装信息以及定购代码等。
S103、针对任一所述目标参数测试数据，基于所述目标产品项目参数规范，确定所述目标参数测试数据对应的所述目标项目的测试结果。
该步骤中，在针对任一所述目标参数测试数据，基于所述目标产品项目参数规范，确定所述目标参数测试数据对应的所述目标项目的测试结果之前，首先需要将目标产品项目参数规范分别与对应的目标项目以及所述目标项目对应的目标产品进行绑定，然后针对任一目标参数测试数据，将该目标参数测试数据对应的最大值和最小值分别与目标产品项目参数规范会规定的预设阈值区间进行比较，并将对应的比较结果确定为目标参数测试数据对应的目标项目的测试结果。
这里，本申请提供的实施例通过将目标产品项目参数规范分别与对应的目标项目以及该目标项目对应的目标产品进行绑定，实现了通过目标产品和/或目标项目来管控目标产品项目参数规范，进而能够实现对目标参数测试数据和目标产品项目参数规范的溯源，提高了对目标参数测试数据的处理效率。
其中，本申请提供的实施例中的对于目标产品项目参数规范的更新方式包括但不限制于对目标产品项目参数规范中的关键字段进行更改，或导入线下的新的Excel格式的目标产品项目参数规范。
这样，线上建立目标产品项目参数规范的方式使得预设产品项目参数规范库中的各个目标产品项目参数规范都具有唯一的IP地址和名称，解决了在传统的Excel线下处理过程中，由于Excel格式的参数规范容易被修改造成多个版本或多钟格式而导致参数规范缺乏唯一性的问题，进而降低了处理的时间成本。
可选的，所述目标产品项目参数规范包括所述目标产品项目参数的预设阈值区间，所述步骤S103包括以下子步骤：
子步骤1031、针对任一所述目标参数测试数据，将目标参数测试数据的至少一个数据值分别与目标产品项目参数规范的预设阈值区间进行比较，判断各个所数据值是否均在所述预设阈值区间内，并将判断结果确定为目标参数测试数据对应的目标项目的测试结果。
该步骤中，在确定与目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范后，将目标参数测试数据的各个数据值与目标产品项目参数规范规定的预设阈值区间进行比较，并将数据值在预设阈值区间内的目标参数测试数据确定为合格数据，将数据值不在预设阈值区间内的目标参数测试数据确定为不合格数据。
这里，针对不合格数据对应的目标项目，则重新获取新的该目标项目的目标参数测试数据，或者对该目标项目对应的预设产品项目参数规范库中的目标产品项目参数规范进行修改和调整。
S104、根据所述测试结果，确定是否完成对所述目标项目的测试，以便完成对目标参数测试数据的处理。
该步骤中，若目标参数测试数据的各个数据值均在预设阈值区间内，则确定目标产品项目参数规范正确，则确定完成对目标项目的测试；若目标参数测试数据的任一数据值不在预设阈值区间内，则确定目标产品项目参数规范不正确，或所述目标项目对应的所述目标参数测试数据不正确，则重新对所述目标项目进行测试。
上述中，本申请提供的实施例根据测试结果中目标参数测试数据不正确的数量、目标参数测试数据正确的数量以及目标参数测试数据的总数量，确定对目标项目的验证覆盖率，避免验证测试过程中出现遗漏。
这里，在完成对该目标参数测试数据的测试后，将该目标参数测试数据应用在其他的各个芯片产品的生产阶段，如本申请提供的实施中的目标参数测试数据可以应用在基准测试、ATE测试设备测试、系统级测试、仿真测试以及新产品导入等阶段。
基准测试是指通过设计科学的测试方法、测试工具和测试系统，实现对一类测试对象的某项性能指标进行定量和对比的测试。
ATE测试设备测试是一种通过计算机控制进行器件、电路板和子系统等测试的设备，通过计算机编程取代人工劳动，自动化的完成测试序列。
这里，本申请提供的实施例保证了目标参数测试数据对应的目标项目的目标产品项目参数规范的一致性，解决了Excel线下处理在不同产品生产阶段出现的规范版本、规范类型以及规范分类的不一致性，进而降低了对于不同产品生产阶段的目标产品项目参数规范的重复测试验证成本，本申请提供的实施例实现了对目标产品中不同目标项目的跨目标项目测试。
本申请实施例提供的芯片电气参数的线上处理方法，与现有技术中的芯片处理方法相比，本申请提供的实施例通过将目标项目的目标参数测试数据与预设产品项目参数规范库进行匹配，确定与目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范，并根据目参数规范，对目标参数测试数据对应的目标项目进行测试，以便完成对目标参数测试数据的处理，通过线上数据库匹配的方式，提高了处理效率，同时可以实现对目标参数测试数据进行追踪和溯源，降低了处理成本。
且本申请提供的实施例可以根据目标参数测试数据真实数值，确定目标产品项目参数规范的预设阈值区间，以保证目标项目在实际生产和测试过程中存在的多种可能性，提高了对芯片电气参数测量的准确性。
请参阅图2，图2为本申请另一实施例提供的一种芯片电气参数的线上处理方法的流程图之二。如图2中所示，本申请实施例提供的芯片电气参数的线上处理方法，包括以下步骤：
S201、获取目标产品对应的至少一个目标项目的目标参数测试数据。
S202、针对任一所述目标参数测试数据，将所述目标参数测试数据与所述目标产品的预设产品项目参数规范库进行匹配，确定与所述目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范，其中，所述预设产品项目参数规范库是基于预设产品项目的市场需求和所述预设产品项目的属性信息确定的参数规范库。
S203、针对任一所述目标参数测试数据，基于所述目标产品项目参数规范，确定所述目标参数测试数据对应的所述目标项目的测试结果。
S204、根据所述测试结果，确定是否完成对所述目标项目的测试，以便完成对目标参数测试数据的处理。
S205、在确定未完成对目标项目的测试时，更新目标产品项目参数规范，并根据更新后的所述目标产品项目参数规范，对目标项目进行测试。
该步骤中，当标参数测试数据的任一数据值不在预设阈值区间内后，确定目标产品项目参数规范不正确，进而确定未完成对目标项目的测试时，此时需要修改以及调整目标产品项目参数规范，或重新获取该目标项目的目标参数测试数据，进而实现更新该目标产品项目参数规范，解决了传统的Excel线下处理中实际项目的测试数据与目标产品项目参数规范相割裂，需要手动在Excel里对齐目标产品项目参数规范与测试数据的问题，本申请提供的实施例可以自动化实现将目标参数测试数据与预设产品项目参数规范库中的目标产品项目参数规范相对齐和匹配。
这里，本申请提供的实施例可以通过上传或导入波形图(或其他形式的图形数据)来实现对于芯片产品的非电气参数的测试数据与测试规范的匹配和对齐。
其中，S201至S204的描述可以参照S101至S104的描述，并且能达到相同的技术效果，对此不做赘述。
本申请实施例提供的芯片电气参数的线上处理方法，与现有技术中的芯片处理方法相比，本申请提供的实施例通过将目标项目的目标参数测试数据与预设产品项目参数规范库进行匹配，确定与目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范，并根据目参数规范，对目标参数测试数据对应的目标项目进行测试，以便完成对目标参数测试数据的处理，通过线上数据库匹配的方式，提高了处理效率，同时可以实现对目标参数测试数据进行追踪和溯源，降低了处理成本。
请参阅图3、图4，图3为本申请实施例所提供的一种芯片电气参数的线上处理装置的结构框图之一，图4为本申请实施例所提供的一种芯片电气参数的线上处理装置的结构框图之二。如图3中所示，所述芯片电气参数的线上处理装置300包括：
获取模块310，用于获取目标产品对应的至少一个目标项目的目标参数测试数据。
匹配模块320，用于针对任一所述目标参数测试数据，将所述目标参数测试数据与所述目标产品的预设产品项目参数规范库进行匹配，确定与所述目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范，其中，所述预设产品项目参数规范库是基于预设产品项目的市场需求和所述预设产品项目的属性信息确定的参数规范库。
测试模块340，用于针对任一所述目标参数测试数据，基于所述目标产品项目参数规范，确定所述目标参数测试数据对应的所述目标项目的测试结果。
可选的，所述目标产品项目参数规范包括所述目标产品项目参数的预设阈值区间，所述测试模块340，具体用于：
针对任一所述目标参数测试数据，将目标参数测试数据的至少一个数据值分别与目标产品项目参数规范的预设阈值区间进行比较，判断各个所数据值是否均在所述预设阈值区间内，并将判断结果确定为目标参数测试数据对应的目标项目的测试结果。
决策模块，用于根据所述测试结果，确定是否完成对所述目标项目的测试，以便完成对目标参数测试数据的处理。
可选的，所述决策模块，具体用于：
若目标参数测试数据的各个数据值均在预设阈值区间内，则确定目标产品项目参数规范正确，则确定完成对目标项目的测试。
可选的，所述决策模块，还具体用于：
若目标参数测试数据的任一数据值不在预设阈值区间内，则确定目标产品项目参数规范不正确，或所述目标项目对应的所述目标参数测试数据不正确，则重新对所述目标项目进行测试。
本申请实施例提供的芯片电气参数的线上处理装置300，与现有技术中的参数处理方法相比，本申请提供的实施例通过将目标项目的目标参数测试数据与预设产品项目参数规范库进行匹配，确定与目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范，并根据目参数规范，对目标参数测试数据对应的目标项目进行测试，以便完成对目标参数测试数据的处理，通过线上数据库匹配的方式，提高了处理效率，同时可以实现对目标参数测试数据进行追踪和溯源，降低了处理成本。
进一步的，图4为本申请实施例所提供的一种芯片电气参数的线上处理装置的结构框图之二。如图4所示，所述芯片电气参数的线上处理装置300包括：
获取模块310，用于获取目标产品对应的至少一个目标项目的目标参数测试数据。
匹配模块320，用于针对任一所述目标参数测试数据，将所述目标参数测试数据与所述目标产品的预设产品项目参数规范库进行匹配，确定与所述目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范，其中，所述预设产品项目参数规范库是基于预设产品项目的市场需求和所述预设产品项目的属性信息确定的参数规范库。
绑定模块330，用于若目标参数测试数据的任一数据值不在预设阈值区间内，则确定目标产品项目参数规范不正确，或所述目标项目对应的所述目标参数测试数据不正确，则重新对所述目标项目进行测试。
测试模块340，用于针对任一所述目标参数测试数据，基于所述目标产品项目参数规范，确定所述目标参数测试数据对应的所述目标项目的测试结果。
决策模块，用于根据所述测试结果，确定是否完成对所述目标项目的测试，以便完成对目标参数测试数据的处理。
更新模块350，用于在确定未完成对目标项目的测试时，更新目标产品项目参数规范，并根据更新后的所述目标产品项目参数规范，对目标项目进行测试。
本申请实施例提供的芯片电气参数的线上处理装置300，与现有技术中的参数处理方法相比，本申请提供的实施例通过将目标项目的目标参数测试数据与预设产品项目参数规范库进行匹配，确定与目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范，并根据目参数规范，对目标参数测试数据对应的目标项目进行测试，以便完成对目标参数测试数据的处理，通过线上数据库匹配的方式，提高了处理效率，同时可以实现对目标参数测试数据进行追踪和溯源，降低了处理成本。
请参阅图5，图5为本申请实施例所提供的一种电子设备的结构示意图。如图5中所示，所述电子设备500包括处理器510、存储器520和总线530。
所述存储器520存储有所述处理器510可执行的机器可读指令，当电子设备500运行时，所述处理器510与所述存储器520之间通过总线530通信，所述机器可读指令被所述处理器510执行时，可以执行如上述图1以及图2所示方法实施例中的芯片电气参数的线上处理方法的步骤，具体实现方式可参见方法实施例，在此不再赘述。
本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时可以执行如上述图1以及图2所示方法实施例中的芯片电气参数的线上处理方法的步骤，具体实现方式可参见方法实施例，在此不再赘述。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本申请的具体实施方式，用以说明本申请的技术方案，而非对其限制，本申请的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请实施例技术方案的精神和范围，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种芯片电气参数的线上处理方法，其特征在于，所述芯片电气参数的线上数据处理方法包括：
获取目标产品对应的至少一个目标项目的目标参数测试数据；
针对任一所述目标参数测试数据，将所述目标参数测试数据与所述目标产品的预设产品项目参数规范库进行匹配，确定与所述目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范，其中，所述预设产品项目参数规范库是基于预设产品项目的市场需求和所述预设产品项目的属性信息确定的参数规范库；
针对任一所述目标参数测试数据，基于所述目标产品项目参数规范，确定所述目标参数测试数据对应的所述目标项目的测试结果；
根据所述测试结果，确定是否完成对所述目标项目的测试，以便完成对目标参数测试数据的处理。
2.根据权利要求1所述的芯片电气参数的线上处理方法，其特征在于，所述目标产品项目参数规范包括所述目标产品项目参数的预设阈值区间，所述针对任一所述目标参数测试数据，基于所述目标产品项目参数规范，确定所述目标参数测试数据对应的所述目标项目的测试结果，包括：
针对任一所述目标参数测试数据，将目标参数测试数据的至少一个数据值分别与目标产品项目参数规范的预设阈值区间进行比较，判断各个所数据值是否均在所述预设阈值区间内，并将判断结果确定为目标参数测试数据对应的目标项目的测试结果。
3.根据权利要求2所述的芯片电气参数的线上处理方法，其特征在于，所述根据所述测试结果，确定是否完成对所述目标项目的测试，包括：
若目标参数测试数据的各个数据值均在预设阈值区间内，则确定目标产品项目参数规范正确，则确定完成对目标项目的测试。
4.根据权利要求2所述的芯片电气参数的线上处理方法，其特征在于，所述根据所述测试结果，确定是否完成对所述目标项目的测试，还包括：
若目标参数测试数据的任一数据值不在预设阈值区间内，则确定目标产品项目参数规范不正确，或所述目标项目对应的所述目标参数测试数据不正确，则重新对所述目标项目进行测试。
5.根据权利要求1所述的芯片电气参数的线上处理方法，其特征在于，在针对任一所述目标参数测试数据，基于所述目标产品项目参数规范，确定所述目标参数测试数据对应的所述目标项目的测试结果之前，所述芯片电气参数的线上处理方法还包括：
将目标产品项目参数规范分别与对应的目标项目以及所述目标项目对应的目标产品进行绑定。
6.根据权利要求4所述的芯片电气参数的线上处理方法，其特征在于，在所述根据所述测试结果，确定是否完成对所述目标项目的测试之后，所述芯片电气参数的线上处理方法还包括：
在确定未完成对目标项目的测试时，更新目标产品项目参数规范，并根据更新后的所述目标产品项目参数规范，对目标项目进行测试。
7.一种芯片电气参数的线上处理装置，其特征在于，所述芯片电气参数的线上数据处理系统装置：
获取模块，用于获取目标产品对应的至少一个目标项目的目标参数测试数据；
匹配模块，用于针对任一所述目标参数测试数据，将所述目标参数测试数据与所述目标产品的预设产品项目参数规范库进行匹配，确定与所述目标参数测试数据相对应的目标产品项目参数规范，其中，所述预设产品项目参数规范库是基于预设产品项目的市场需求和所述预设产品项目的属性信息确定的参数规范库；
测试模块，用于针对任一所述目标参数测试数据，基于所述目标产品项目参数规范，确定所述目标参数测试数据对应的所述目标项目的测试结果；
决策模块，用于根据所述测试结果，确定是否完成对所述目标项目的测试，以便完成对目标参数测试数据的处理。
8.根据权利要求7所述的芯片电气参数的线上处理装置，其特征在于，所述目标产品项目参数规范包括所述目标产品项目参数的预设阈值区间，所述测试模块，具体用于：
针对任一所述目标参数测试数据，将目标参数测试数据的至少一个数据值分别与目标产品项目参数规范的预设阈值区间进行比较，判断各个所数据值是否均在所述预设阈值区间内，并将判断结果确定为目标参数测试数据对应的目标项目的测试结果。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器运行时执行如上述权利要求1至6中任一所述的芯片电气参数的线上处理方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行如上述权利要求1至6中任一所述的芯片电气参数的线上处理方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310429714.3A CN116484081A (zh) | 2023-04-20 | 2023-04-20 | 一种芯片电气参数的线上处理方法、装置及电子设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310429714.3A CN116484081A (zh) | 2023-04-20 | 2023-04-20 | 一种芯片电气参数的线上处理方法、装置及电子设备 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116484081A true CN116484081A (zh) | 2023-07-25 |
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ID=87218898
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310429714.3A Pending CN116484081A (zh) | 2023-04-20 | 2023-04-20 | 一种芯片电气参数的线上处理方法、装置及电子设备 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116484081A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117148091A (zh) * | 2023-11-01 | 2023-12-01 | 杭州高坤电子科技有限公司 | 一种半导体测试方法、系统、终端及存储介质 |
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2023
- 2023-04-20 CN CN202310429714.3A patent/CN116484081A/zh active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117148091A (zh) * | 2023-11-01 | 2023-12-01 | 杭州高坤电子科技有限公司 | 一种半导体测试方法、系统、终端及存储介质 |
| CN117148091B (zh) * | 2023-11-01 | 2024-02-06 | 杭州高坤电子科技有限公司 | 一种半导体测试方法、系统、终端及存储介质 |
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