CN116399879A - 液晶基板玻璃破损起点的检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种液晶基板玻璃破损起点的检测方法，属于液晶基板玻璃技术领域。所述液晶基板玻璃破损起点的检测方法包括：获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路，以得到目标获取结果；以及根据材料波纹原理对所述目标获取结果进行分析，以确定破损起点的位置；其中，所述材料波纹原理为物体在受到冲击后释放应力呈波纹向外延展。本发明实施例可以对液晶基板玻璃的破损起点进行检测，达到指导加工工艺调整及提升良品率的目的。

Description

液晶基板玻璃破损起点的检测方法

技术领域

本发明涉及液晶基板玻璃技术领域，具体地涉及一种液晶基板玻璃破损起点的检测方法。

背景技术

现有技术中液晶基板玻璃在加工过程中存在多道工序，容易造成液晶基板玻璃粉碎性破损和出现裂纹破损的情况，而往往因为液晶基板玻璃破损的范围较大，无法确定破损起点，进而无法确定造成破损的外部受力点，导致破损原因无法查明，加工工艺和良品率无法得到改善和提高。液晶基板玻璃的破损是普遍发生的情况，如无法找到破损起点，将无法改善破损的发生情况，持续性的不良将造成原材的浪费与设备的耗损及工时的损失。因此，急需提出一种技术方案来解决现有技术中的上述技术问题。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种液晶基板玻璃破损起点的检测方法，该方法解决了现有技术中液晶基板玻璃破损起点的无法检测的技术问题。

为了实现上述目的，本发明实施例提供一种液晶基板玻璃破损起点的检测方法，包括：获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路，以得到目标获取结果；以及根据材料波纹原理对目标获取结果进行分析，以确定破损起点的位置；其中，材料波纹原理为物体在受到冲击后释放应力呈波纹向外延展。

在本发明实施例中，获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路，以得到目标获取结果的步骤包括：通过显微镜获取破损纹路，以得到目标获取结果。

在本发明实施例中，液晶基板玻璃破损起点的检测方法还包括：在获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路之前，将液晶基板玻璃沿着破损断面裁切为适于放置在显微镜下的至少一对第一液晶基板玻璃块；通过显微镜获取破损纹路，以得到目标获取结果的步骤包括：通过显微镜获取至少一对第一液晶基板玻璃块破损断面的破损纹路，得到目标获取结果；其中，每对第一液晶基板玻璃块共用同一段破损断面且位于破损断面两侧；第一液晶基板玻璃块在垂直于破损断面方向的高度为适于放置在显微镜下的高度。

在本发明实施例中，液晶基板玻璃破损起点的检测方法还包括：在获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路之前，初步获取破损纹路得到初始获取结果；根据材料波纹原理对初始获取结果进行分析，以确定破损起点的初步位置。

在本发明实施例中，液晶基板玻璃破损起点的检测方法还包括：在获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路之前，将液晶基板玻璃沿着初步位置处的破损断面裁切为适于放置在显微镜下的一对第二液晶基板玻璃块；通过显微镜获取破损纹路，以得到目标获取结果的步骤包括：通过显微镜获取一对第二液晶基板玻璃块破损断面的破损纹路，以得到目标获取结果；其中，一对第二液晶基板玻璃块共用初步位置处的破损断面且位于破损断面两侧；第二液晶基板玻璃块在垂直于破损断面方向的高度为适于放置在显微镜下的高度。

在本发明实施例中，液晶基板玻璃破损起点的检测方法还包括：在获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路之前，根据材料波纹原理对液晶基板玻璃表面的破损裂纹进行分析，以确定破损起点所在的目标区域。

在本发明实施例中，获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路，以得到目标获取结果的步骤包括：获取目标区域的破损纹路，以得到目标获取结果。

在本发明实施例中，液晶基板玻璃破损起点的检测方法还包括：根据材料波纹原理对液晶基板玻璃表面的破损裂纹进行分析，以确定破损起点所在的目标区域的步骤包括：若破损裂纹存在分叉，则分叉的聚集处开始及向前延伸的区域为目标区域。

在本发明实施例中，液晶基板玻璃破损起点的检测方法还包括：根据液晶基板玻璃生产设备的坐标数据以及破损起点的位置进行坐标比对，以确定生产设备上造成破损的外部受力点。

在本发明实施例中，液晶基板玻璃破损起点的检测方法还包括：在获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路之前，收集液晶基板玻璃的破损碎片；将破损碎片进行拼接复原。

本发明实施例通过根据材料波纹原理对液晶基板玻璃破损断面的破损纹路进行分析，能够确定破损起点的位置，可以解决现有技术中液晶基板玻璃破损起点的无法检测的技术问题，进而达到指导加工工艺调整及提升良品率的目的。

本发明实施例的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

附图说明

附图是用来提供对本发明实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明实施例，但并不构成对本发明实施例的限制。在附图中：

图1是本发明实施例的液晶基板玻璃破损起点的检测方法100的流程示意图。

图2是本发明实施例的液晶基板玻璃破损起点的检测方法100中的材料波纹原理的示意图。

图3是将液晶基板玻璃沿着目标区域或者是所有破损断面裁切为适于放置在显微镜下的至少一对液晶基板玻璃块的示意图。

图4是将液晶基板玻璃沿着初步位置处的破损断面裁切为适于放置在显微镜下的一对液晶基板玻璃块的示意图。

图5是液晶基板玻璃的表面的破损裂纹存在分叉的示意图。

图6是一个不包括破损起点的液晶基板玻璃块的破损断面的破损纹路的示意图。

图7是一个包括破损起点的液晶基板玻璃块的破损断面的破损纹路的示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明实施例的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明实施例，并不用于限制本发明实施例。

如图1所示，本发明实施例提供了一种液晶基板玻璃破损起点的检测方法100，液晶基板玻璃破损起点的检测方法100例如可包括：

步骤S110：获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路，以得到目标获取结果。步骤S110例如可具体包括：通过显微镜获取破损纹路，以得到目标获取结果。通过显微镜获取破损纹路可以得到准确的目标获取结果，保证后续对破损起点位置的确认的准确度。具体例如通过显微镜观察破损纹路，以得到目标获取结果。当然，本发明实施例并不局限于此，本发明实施例中所提及的“通过显微镜获取”均还可以是通过其它方法来获取，例如通过高分辨率的图像采集设备等获取。

以及步骤S120：根据材料波纹原理对目标获取结果进行分析，以确定破损起点的位置。其中，材料波纹原理为物体在受到冲击后释放应力呈波纹向外延展。在具体实施时，例如会使用记号笔等在确定的破损起点的位置处进行标记。如图2所示为材料波纹原理的示意图，物体在受到力F的冲击后释放应力会呈波纹向外延展。

进一步地，液晶基板玻璃破损起点的检测方法100例如还可包括：

步骤S130：根据液晶基板玻璃生产设备的坐标数据以及破损起点的位置进行坐标比对，以确定生产设备上造成破损的外部受力点。从而，本发明实施例可以根据外部受力点进一步找出破损原因。本领域技术人员应当理解的是，本发明实施例为了确认破损起点的位置的具体坐标还可以包括将液晶基板玻璃重新拼接完整，测量破损起点的位置的具体坐标的步骤。

进一步地，液晶基板玻璃破损起点的检测方法100例如还可包括：

步骤S101：在获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路之前，收集液晶基板玻璃的破损碎片。在具体实施过程中，可以尽可能完整地收集玻璃破损的碎片，也可以只收集对于分析破损起点的位置来说比较关键的碎片，例如包含破损起点的碎片。

以及步骤S103：将破损碎片进行拼接复原。在一些实施例中，还可以依照拼接复原的情况，人工或者通过图像识别方法自动绘制液晶基板玻璃表面的破损裂纹的草图，用于留档参考，记录破损裂纹的原始形态，避免遗忘，以及用于后续的资料整理。

进一步地，液晶基板玻璃破损起点的检测方法100例如还可包括：

步骤S105：在获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路之前，根据材料波纹原理对液晶基板玻璃表面的破损裂纹进行分析，以确定破损起点所在的目标区域。步骤S105例如可具体包括：若破损裂纹存在分叉，则分叉的聚集处开始及向前延伸的区域为目标区域。相应地，此种情况下，步骤S110例如可具体包括：获取目标区域的破损纹路，以得到目标获取结果。也即在此种情况下，液晶基板玻璃破损起点的检测方法100的后续相关步骤只需对在目标区域内的对象执行即可，通过对破损裂纹存在的分叉进行预分析，可以提前确定破损起点所在的目标区域，排除掉一些不可能包含破损起点的区域，进而减少了后续相关步骤的工作量，提高了确认破损起点位置的速度和效率。

进一步地，液晶基板玻璃破损起点的检测方法100例如还可包括：

步骤S107：在获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路之前，将液晶基板玻璃沿着破损断面裁切为适于放置在显微镜下的至少一对第一液晶基板玻璃块。如此，可以在通过显微镜来获取至少一对第一液晶基板玻璃块破损断面的破损纹路。其中，每对第一液晶基板玻璃块例如共用同一段破损断面且位于破损断面两侧。第一液晶基板玻璃块例如在垂直于破损断面方向的高度为适于放置在显微镜下的高度。相应地，通过显微镜获取破损纹路，以得到目标获取结果也即步骤S110例如具体包括：使用显微镜获取至少一对第一液晶基板玻璃块破损断面的破损纹路，得到目标获取结果。具体实施时，如图3所示，裁切时例如可以在破损断面DM左右两侧分别延伸至少20毫米的距离作为预留缓冲区，避免破损起点的位置遭到破坏，当然，本发明实施例裁切的每一对第一液晶基板玻璃块的整体形状并不限制于图中的矩形形状，还可以是满足要求的其他规则或不规则形状，例如圆形、梯形、椭圆形等。在通过显微镜获取至少一对第一液晶基板玻璃块破损断面的破损纹路时，例如将裁切好的第一液晶基板玻璃块垂直放于显微镜平台上，破损断面平行于显微镜镜面，调整显微镜，直至可清晰看到破损断面的破损纹路。第一液晶基板玻璃块例如在垂直于破损断面方向的高度为10毫米。本发明实施例可以仅仅获取每一对第一液晶基板玻璃块中的任意一块的破损断面的破损纹路，得到目标获取结果以进行后续的分析确定破损起点的位置，也可以进一步地获取每一对第一液晶基板玻璃块中的每一块的破损断面的破损纹路得到目标获取结果，以进行后续的分析确定破损起点的位置，从而达到双重保证破损起点的位置确认正确的目的。

在其他一些实施例中，液晶基板玻璃破损起点的检测方法100例如还可包括：在获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路之前，初步获取破损纹路得到初始获取结果；以及根据材料波纹原理对初始获取结果进行分析，以确定破损起点的初步位置。本发明实施例所提及的初步获取是指在获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路，以得到目标获取结果之前，对破损纹路所进行的一次获取，初始获取结果的精度例如可以是低于目标获取结果的精度的，例如可以为通过肉眼观察获取，还可以是通过图像采集设备等来获取，以大致确定破损起点的位置范围，当然，本发明实施例并不局限于此。进一步地，液晶基板玻璃破损起点的检测方法100例如还可包括：在获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路之前，将液晶基板玻璃沿着初步位置处的破损断面裁切为适于放置在显微镜下的一对第二液晶基板玻璃块。其中，一对第二液晶基板玻璃块例如共用初步位置处的破损断面且位于破损断面两侧。第二液晶基板玻璃块例如在垂直于破损断面方向的高度为适于放置在显微镜下的高度。相应地，通过显微镜获取破损纹路，以得到目标获取结果也即步骤S110例如可包括：通过显微镜获取一对第二液晶基板玻璃块破损断面的破损纹路，以得到目标获取结果。也即，在此种情况下，液晶基板玻璃破损起点的检测方法100的后续步骤只需对在初步位置处的对象执行即可。在具体实施时，如果液晶基板玻璃比较小，方便进行初步获取例如拿取来肉眼观察的情况下，可以不用裁切直接进行初步获取例如肉眼观察破损断面的破损纹路，最终确定破损起点的初步位置；若液晶基板玻璃比较大，不方便初步获取例如拿取来肉眼观察的情况下，就需要分段裁切然后再看破损断面的破损纹路，最终确定破损起点的初步位置。在此种情况下，通过肉眼观察等方法来初步获取破损断面的破损纹路，实现预分析，可以提前确定破损起点所在的初步位置，排除掉很多不可能包含破损起点的区域，进而大幅减少了后续各个步骤的工作量，提高了确认破损起点位置的速度和效率。具体实施过程中，如图4所示，裁切时例如可以在初步位置P0处左右两侧分别延伸至少20毫米作为预留缓冲区，避免破损起点的位置遭到破坏，当然，本发明实施例裁切的一对第二液晶基板玻璃块的整体形状并不限制于图中的矩形形状，还可以是满足要求的其他规则或不规则形状，例如圆形、梯形、椭圆形等。在通过显微镜对第二液晶基板玻璃块进行获取时，例如将裁切好的第二液晶基板玻璃块垂直放于显微镜平台上，破损断面平行于显微镜镜面，调整显微镜，直至可清晰看到破损断面的破损纹路。第二液晶基板玻璃块例如在垂直于破损断面方向的高度为10毫米。本发明实施例可以仅仅获取一对第二液晶基板玻璃块中的任意一块的破损断面的破损纹路得到目标获取结果，以进行后续的分析确定破损起点的位置，也可以进一步地对一对第二液晶基板玻璃块中的每一块的破损断面的破损纹路进行获取得到目标获取结果，以进行后续的分析确定破损起点的位置，从而达到双重保证破损起点的位置确认正确的目的。

下面结合具体示例来说明本发明实施例的液晶基板玻璃破损起点的检测方法100的执行过程：

首先，收集液晶基板玻璃的破损碎片并将收集的破损碎片进行拼接复原。

然后，可以根据材料波纹原理对拼接复原后得到的液晶基板玻璃表面的破损裂纹进行分析，以确定破损起点所在的目标区域。若破损裂纹存在分叉，则分叉的聚集处开始及向前延伸的区域为目标区域。后续步骤获取目标区域的破损纹路，得到目标获取结果。若破损裂纹不存在分叉，无法确定目标区域，则获取拼接复原后得到的液晶基板玻璃所有破损断面的破损纹路，得到目标获取结果。如图5所示，为液晶基板玻璃的表面UM的破损裂纹LW存在Y字形分叉的情况的一种情形的示意图，分叉的聚集处O开始及向前延伸的区域为目标区域，实际操作时通常会取更大的范围作为目标区域，如图5中所示的目标区域PZ。

之后，可以先初步获取例如肉眼观察目标区域的破损纹路得到初始获取结果，并根据材料波纹原理对初始获取结果进行分析，确定破损起点的初步位置。如图4所示，然后将液晶基板玻璃沿着初步位置P0处的破损断面DM裁切为适于放置在显微镜下的一对液晶基板玻璃块A0和B0。其中，一对液晶基板玻璃块A0和B0例如共用初步位置P0处的破损断面DM且位于破损断面DM两侧，如图4中的A侧和B侧。液晶基板玻璃块例如在垂直于破损断面方向的高度为适于放置在显微镜下的高度。再通过显微镜获取一对液晶基板玻璃块破损断面的破损纹路，得到目标获取结果。另外，也可不用初步获取例如肉眼预先观察确定破损起点的初步位置，或者有时会出现初步获取例如肉眼无法确定破损起点的初步位置的情况，这时若确定了目标区域，会直接通过显微镜获取目标区域的破损断面的破损纹路，得到目标获取结果。若未确定目标区域，会直接通过显微镜获取拼接复原后得到的液晶基板玻璃所有破损断面的破损纹路，得到目标获取结果。此种情况下，具体会将液晶基板玻璃沿着目标区域或者是所有破损断面裁切为适于放置在显微镜下的至少一对液晶基板玻璃块，如图3所示，为将液晶基板玻璃沿着目标区域或者是所有破损断面裁切为适于放置在显微镜下的至少一对液晶基板玻璃块的一种情形的示意图，其中，沿着破损断面DM裁切为了3对液晶基板玻璃块，分别为位于AB两侧的A1和B1、A2和B2及A3和B3。同样的，每对液晶基板玻璃块例如共用同一段破损断面且位于破损断面两侧。液晶基板玻璃块例如在垂直于破损断面方向的高度为适于放置在显微镜下的高度。

在得到目标获取结果之后，根据材料波纹原理对目标获取结果进行分析，确定破损起点的位置。如图6所示，为一个不包括破损起点的液晶基板玻璃块的破损断面DM的破损纹路的示意图，其中，根据材料波纹原理，对其破损断面DM的破损纹路进行分析，可以判断液晶基板玻璃在受到冲击后释放应力向外延展的大致方向如YD所示，破损起点所在的大致方向如PD所示。如图7所示，为一个包括破损起点P的液晶基板玻璃块的破损断面DM的破损纹路的示意图，其中，根据材料波纹原理，对其破损断面DM的破损纹路进行分析，可以判断液晶基板玻璃在受到冲击后释放应力向外延展的大致方向如YD所示，破损起点的位置如P所示，且图7所示的液晶基板玻璃中的破损起点位于液晶基板玻璃的表面UM上，当然，在其他情况下，破损起点也可能位于液晶基板玻璃的背面DM上，甚至是可能出现在液晶基板玻璃的任意一个面上。

最后，根据液晶基板玻璃生产设备的坐标数据以及破损起点的位置进行坐标比对，以确定生产设备上造成破损的外部受力点。

综上所述，本发明实施例提出的液晶基板玻璃破损起点的检测方法100，通过将材料波纹原理应用于对破损断面的破损纹路甚至是破损裂纹的分析中，以实现对液晶基板玻璃破损起点的位置的快速确认，解决现有技术中液晶基板玻璃破损起点的无法检测的技术问题。后续可以通过坐标对比的方法找到造成液晶基板玻璃破损的外部受力点，甚至进一步找到造成液晶基板玻璃破损的原因，从而对液晶玻璃基板的破损起到改善指引作用，提高产品的品质和生产的产出及良率。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (10)

1.一种液晶基板玻璃破损起点的检测方法，其特征在于，包括：

获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路，以得到目标获取结果；以及

根据材料波纹原理对所述目标获取结果进行分析，以确定破损起点的位置；

其中，所述材料波纹原理为物体在受到冲击后释放应力呈波纹向外延展。

2.根据权利要求1所述的液晶基板玻璃破损起点的检测方法，其特征在于，所述获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路，以得到目标获取结果的步骤包括：

通过显微镜获取所述破损纹路，以得到所述目标获取结果。

3.根据权利要求2所述的液晶基板玻璃破损起点的检测方法，其特征在于，还包括：

在所述获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路之前，将所述液晶基板玻璃沿着所述破损断面裁切为适于放置在显微镜下的至少一对第一液晶基板玻璃块；

所述通过显微镜获取所述破损纹路，以得到所述目标获取结果的步骤包括：

通过所述显微镜获取所述至少一对第一液晶基板玻璃块破损断面的破损纹路，得到所述目标获取结果；

其中，每对所述第一液晶基板玻璃块共用同一段所述破损断面且位于所述破损断面两侧；

所述第一液晶基板玻璃块在垂直于所述破损断面方向的高度为适于放置在所述显微镜下的高度。

4.根据权利要求2所述的液晶基板玻璃破损起点的检测方法，其特征在于，还包括：

在所述获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路之前，初步获取所述破损纹路得到初始获取结果；

根据所述材料波纹原理对所述初始获取结果进行分析，以确定所述破损起点的初步位置。

5.根据权利要求4所述的液晶基板玻璃破损起点的检测方法，其特征在于，还包括：

在所述获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路之前，将所述液晶基板玻璃沿着所述初步位置处的所述破损断面裁切为适于放置在所述显微镜下的一对第二液晶基板玻璃块；

所述通过显微镜获取所述破损纹路，以得到所述目标获取结果的步骤包括：

通过所述显微镜获取所述一对第二液晶基板玻璃块破损断面的破损纹路，以得到所述目标获取结果；

其中，所述一对第二液晶基板玻璃块共用所述初步位置处的所述破损断面且位于所述破损断面两侧；

所述第二液晶基板玻璃块在垂直于所述破损断面方向的高度为适于放置在所述显微镜下的高度。

6.根据权利要求1所述的液晶基板玻璃破损起点的检测方法，其特征在于，还包括：

在所述获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路之前，根据所述材料波纹原理对所述液晶基板玻璃表面的破损裂纹进行分析，以确定所述破损起点所在的目标区域。

7.根据权利要求6所述的液晶基板玻璃破损起点的检测方法，其特征在于，所述获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路，以得到目标获取结果的步骤包括：

获取所述目标区域的所述破损纹路，以得到所述目标获取结果。

8.根据权利要求6所述的液晶基板玻璃破损起点的检测方法，其特征在于，所述根据所述材料波纹原理对所述液晶基板玻璃表面的破损裂纹进行分析，以确定所述破损起点所在的目标区域的步骤包括：

若所述破损裂纹存在分叉，则所述分叉的聚集处开始及向前延伸的区域为所述目标区域。

9.根据权利要求1所述的液晶基板玻璃破损起点的检测方法，其特征在于，还包括：

根据所述液晶基板玻璃生产设备的坐标数据以及所述破损起点的位置进行坐标比对，以确定所述生产设备上造成所述破损的外部受力点。

10.根据权利要求1所述的液晶基板玻璃破损起点的检测方法，其特征在于，还包括：

在所述获取液晶基板玻璃破损断面的破损纹路之前，收集所述液晶基板玻璃的破损碎片；

将所述破损碎片进行拼接复原。

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