CN116381973B - 一种液晶透镜变焦响应测试方法、系统、设备及介质 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 236
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims abstract description 186
- 230000004044 response Effects 0.000 title claims abstract description 113
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 34
- 238000013101 initial test Methods 0.000 claims description 29
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 26
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 18
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 9
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 8
- 101100129500 Caenorhabditis elegans max-2 gene Proteins 0.000 claims description 6
- 101100083446 Danio rerio plekhh1 gene Proteins 0.000 claims description 6
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 5
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Classifications
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
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- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
本发明实施例提供了一种液晶透镜变焦响应测试方法、系统、设备及介质，在置零方式驱动下，只需在最大驱动电压区间范围内选取特定组数的测试电压组合，进行波形测试，就可以根据波形测试结果通过拟合得到满足整个电压区间的置零初始电压与置零响应时间之间的关系曲线。这样就可以通过数据拟合的关系曲线公式，直接计算出置零方式驱动下任一置零初始电压与零值末态电压之间切换液晶达到稳定所需的响应时间，从而解决当前无法对液晶透镜变焦响应时间进行测试的技术问题。
Description
技术领域
本发明涉及大口径电子变焦液晶透镜技术领域，具体涉及一种液晶透镜变焦响应测试方法、系统、设备及介质。
背景技术
基于固定盒厚的液晶透镜，可以通过控制不同电压大小使液晶分子具有不同的指向矢，从而获得所需的折射率分布。
当液晶透镜需要在不同焦距之间任意切换时，需要通过施加不同大小的电压来改变液晶分子的指向式状态，在这个过程中液晶分子的偏转是需要一定的时间来达到稳定。因此，通常需要在焦距切换(即电压变化)的过程中，加入过压控制或者置零控制，来快速提升液晶透镜的变焦响应时间。但是当前无法对过压控制和置零控制的具体响应时间进行测试。
发明内容
为此，本发明实施例提供一种液晶透镜变焦响应测试方法、系统、设备及介质，以解决当前无法对液晶透镜变焦响应时间进行测试的技术问题。
为了实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：
根据本发明实施例的第一方面，本申请实施例提供了一种液晶透镜变焦响应测试方法，所述方法包括：
选取第一预设数量的第一置零初始测试电压，分别与设置为零值的置零末态电压形成对应的第一测试电压组合；
利用各个第一测试电压组合作为驱动信号，分别对待测液晶透镜进行第一测试，得到对应的第一光强变化波形；
对各个第一光强变化波形进行第一相位分析，得到对应的第一相位；
以各个第一置零初始测试电压与对应的第一相位作为第一样值对，通过多项式拟合构建任一置零初始电压与置零相位之间的第一关系；
选取最大驱动电压作为第二置零初始测试电压，与设置为零值的置零末态电压形成对应的第二测试电压组合；
利用所述第二测试电压组合作为驱动信号，对待测液晶透镜进行第二测试，得到对应的第二光强变化波形；
从所述第二光强变化波形选取第二预设数量的第一点位；
基于选取的各个第一点位，对所述第二光强变化波形进行第二相位分析，得到对应的第二相位；
以各个第二相位与对应第一点位的响应时间作为第二样值对，通过多项式拟合构建任一置零相位与置零响应时间之间的第二关系；
结合所述第一关系和所述第二关系，得到任一置零初始电压与所述置零响应时间之间第三关系。
进一步地，所述方法还包括：
选取第三预设数量的第一过压末态测试电压，分别与设置为零值的过压初始电压形成对应的第三测试电压组合；
利用各个第三测试电压组合作为驱动信号，分别对待测液晶透镜进行第三测试，得到对应的第三光强变化波形；
对各个第三光强变化波形进行第三相位分析，得到对应的第三相位；
以各个第一过压末态测试电压与对应的第三相位作为第三样值对，通过多项式拟合构建任一过压末态电压与过压相位之间的第四关系；
选取最大驱动电压作为第二过压末态测试电压，与设置为零值的过压初始电压形成对应的第四测试电压组合；
利用所述第四测试电压组合作为驱动信号，对待测液晶透镜进行第四测试，得到对应的第四光强变化波形；
从所述第四光强变化波形选取第四预设数量的第二点位；
基于选取的各个第二点位，对所述第四光强变化波形进行第四相位分析，得到对应的第四相位；
以各个第四相位与对应第二点位的响应时间作为第四样值对，通过多项式拟合构建任一过压相位与过压响应时间之间的第五关系；
结合所述第四关系和所述第五关系，得到任一过压末态电压与所述过压响应时间之间第六关系。
根据本发明实施例的第二方面，本申请实施例提供了一种液晶透镜变焦响应测试系统，所述系统包括：
测试电压组合设置模块，用于选取第一预设数量的第一置零初始测试电压，分别与设置为零值的置零末态电压形成对应的第一测试电压组合；选取最大驱动电压作为第二置零初始测试电压，与设置为零值的置零末态电压形成对应的第二测试电压组合；
测试模块，用于利用各个第一测试电压组合作为驱动信号，分别对待测液晶透镜进行第一测试，得到对应的第一光强变化波形；利用所述第二测试电压组合作为驱动信号，对待测液晶透镜进行第二测试，得到对应的第二光强变化波形；
相位分析模块，用于对各个第一光强变化波形进行第一相位分析，得到对应的第一相位；从所述第二光强变化波形选取第二预设数量的第一点位；基于选取的各个第一点位，对所述第二光强变化波形进行第二相位分析，得到对应的第二相位；
多项式拟合模块，用于以各个第一置零初始测试电压与对应的第一相位作为第一样值对，通过多项式拟合构建任一置零初始电压与置零相位之间的第一关系；以各个第二相位与对应第一点位的响应时间作为第二样值对，通过多项式拟合构建任一置零相位与置零响应时间之间的第二关系；
关系转化模块，用于结合所述第一关系和所述第二关系，得到任一置零初始电压与所述置零响应时间之间第三关系。
进一步地，所述测试电压组合设置模块还用于选取第三预设数量的第一过压末态测试电压，分别与设置为零值的过压初始电压形成对应的第三测试电压组合；选取最大驱动电压作为第二过压末态测试电压，与设置为零值的过压初始电压形成对应的第四测试电压组合；
所述测试模块还用于利用各个第三测试电压组合作为驱动信号，分别对待测液晶透镜进行第三测试，得到对应的第三光强变化波形；利用所述第四测试电压组合作为驱动信号，对待测液晶透镜进行第四测试，得到对应的第四光强变化波形；
所述相位分析模块还用于对各个第三光强变化波形进行第三相位分析，得到对应的第三相位；从所述第四光强变化波形选取第四预设数量的第二点位；基于选取的各个第二点位，对所述第四光强变化波形进行第四相位分析，得到对应的第四相位；
所述多项式拟合模块还用于以各个第一过压末态测试电压与对应的第三相位作为第三样值对，通过多项式拟合构建任一过压末态电压与过压相位之间的第四关系；以各个第四相位与对应第二点位的响应时间作为第四样值对，通过多项式拟合构建任一过压相位与过压响应时间之间的第五关系；
所述关系转化模块还用于结合所述第四关系和所述第五关系，得到任一过压末态电压与所述过压响应时间之间第六关系。
根据本发明实施例的第三方面，提供了一种液晶透镜变焦响应测试系统，所述设备包括：处理器和存储器；
所述存储器用于存储一个或多个程序指令；
所述处理器，用于运行一个或多个程序指令，用以执行如上任一项所述的一种液晶透镜变焦响应测试方法的步骤。
根据本发明实施例的第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任一项所述的一种液晶透镜变焦响应测试方法的步骤。
与现有技术相比，本申请实施例提供的一种液晶透镜变焦响应测试方法、系统、设备及介质，在置零方式驱动下，只需在最大驱动电压区间范围内选取特定组数的测试电压组合，进行波形测试，就可以根据波形测试结果通过拟合得到满足整个电压区间的置零初始电压与置零响应时间之间的关系曲线。这样就可以通过数据拟合的关系曲线公式，直接计算出置零方式驱动下任一置零初始电压与零值末态电压之间切换液晶达到稳定所需的响应时间，从而解决当前无法对液晶透镜变焦响应时间进行测试的技术问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是示例性的，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。
本说明书所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。
图1为本发明实施例提供的一种液晶透镜变焦响应测试系统的逻辑结构示意图；
图2为本发明实施例提供的液晶透镜测试光路的示意图；
图3为本发明一个实施例提供的一种液晶透镜变焦响应测试方法的流程示意图；
图4为本发明实施例提供的对待测液晶透镜进行第一测试的流程示意图；
图5为本发明实施例提供的第一置零初始测试电压为2V时与零值的置零末态电压形成的第一测试电压组合对应的第一光强变化波形的示意图；
图6为本发明实施例提供的第一置零初始测试电压为3V时与零值的置零末态电压形成的第一测试电压组合对应的第一光强变化波形的示意图；
图7为本发明实施例提供的第一置零初始测试电压为4V时与零值的置零末态电压形成的第一测试电压组合对应的第一光强变化波形的示意图；
图8为本发明实施例提供的任一置零初始电压与置零相位之间的第一关系的多项式拟合曲线示意图；
图9为本发明实施例提供的对待测液晶透镜进行第二测试的流程示意图；
图10为本发明实施例提供的最大驱动电压为7V时与零值的置零末态电压形成的第二测试电压组合对应的第二光强变化波形的示意图；
图11为本发明实施例提供的任一置零相位与置零响应时间之间的第二关系的多项式拟合曲线示意图；
图12为本发明另一个实施例提供的一种液晶透镜变焦响应测试方法的流程示意图；
图13为本发明实施例提供的对待测液晶透镜进行第三测试的流程示意图；
图14为本发明实施例提供的对待测液晶透镜进行第四测试的流程示意图；
图15为本发明实施例提供的对液晶透镜测试光路进行调试的流程示意图。
具体实施方式
以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本申请的目的在于：针对大口径电子变焦液晶透镜，在有快速变焦的需求的相关应用场景，如VRAR显示器件、工业变焦对位透镜等。主要通过光电二极管探测经液晶透镜透过的激光光束，在不同电压作用下的光强变化，并用示波器实时采集记录相应的波形变化信号；再根据波形的变化规律，拟合输出不同电压与相位的曲线关系，以及相位与变焦响应时间的曲线关系，这样通过数据拟合的曲线公式，可以快速计算出液晶透镜不同焦距切换液晶达到稳定所需的响应时间，进一步提升变焦响应速度，增强体验效果。
为了解决上述技术问题，如图1所示，本申请实施例提供了一种液晶透镜变焦响应测试系统，其具体包括：测试电压组合设置模块1、测试模块2、相位分析模块3、多项式拟合模块4、关系转化模块5。
参考图2，测试模块2包括液晶透镜测试光路，液晶透镜测试光路具体包括：光源21、第一偏振片22、待测液晶透镜23、第二偏振片24、聚焦透镜25、光电二极管26以及示波器27。
光源21利用驱动信号向待测液晶透镜23发射激光，第一偏振片22和第二偏振片24位于待测液晶透镜23的两侧，第一偏振片22位于待测液晶透镜23的光源输入侧，第二偏振片24位于待测液晶透镜23的光源输出侧，利用光电二极管26通过聚焦透镜25探测从第二偏振片24输出端透过待测液晶透镜23的激光光束，示波器27将光电二极管26的探测信号进行放大并记录对应的探测信号波形。
具体地，测试电压组合设置模块1用于选取第一预设数量的第一置零初始测试电压，分别与设置为零值的置零末态电压形成对应的第一测试电压组合；选取最大驱动电压作为第二置零初始测试电压，与设置为零值的置零末态电压形成对应的第二测试电压组合；测试模块2用于利用各个第一测试电压组合作为驱动信号，分别对待测液晶透镜23进行第一测试，得到对应的第一光强变化波形；利用第二测试电压组合作为驱动信号，对待测液晶透镜23进行第二测试，得到对应的第二光强变化波形；相位分析模块3用于对各个第一光强变化波形进行第一相位分析，得到对应的第一相位；从第二光强变化波形选取第二预设数量的第一点位；基于选取的各个第一点位，对所述第二光强变化波形进行第二相位分析，得到对应的第二相位；多项式拟合模块4用于以各个第一置零初始测试电压与对应的第一相位作为第一样值对，通过多项式拟合构建任一置零初始电压与置零相位之间的第一关系；以各个第二相位与对应第一点位的响应时间作为第二样值对，通过多项式拟合构建任一置零相位与置零响应时间之间的第二关系；关系转化模块5用于结合第一关系和第二关系，得到任一置零初始电压与所述置零响应时间之间第三关系。
与现有技术相比，本申请实施例提供的一种液晶透镜变焦响应测试系统，在置零方式驱动下，只需在最大驱动电压区间范围内选取特定组数的测试电压组合，进行波形测试，就可以根据波形测试结果通过拟合得到满足整个电压区间的置零初始电压与置零响应时间之间的关系曲线。这样就可以通过数据拟合的关系曲线公式，直接计算出置零方式驱动下任一置零初始电压与零值末态电压之间切换液晶达到稳定所需的响应时间，从而解决当前无法对液晶透镜变焦响应时间进行测试的技术问题。
另外，测试电压组合设置模块1还用于选取第三预设数量的第一过压末态测试电压，分别与设置为零值的过压初始电压形成对应的第三测试电压组合；选取最大驱动电压作为第二过压末态测试电压，与设置为零值的过压初始电压形成对应的第四测试电压组合；测试模块2还用于利用各个第三测试电压组合作为驱动信号，分别对待测液晶透镜23进行第三测试，得到对应的第三光强变化波形；利用第四测试电压组合作为驱动信号，对待测液晶透镜23进行第四测试，得到对应的第四光强变化波形；相位分析模块3还用于对各个第三光强变化波形进行第三相位分析，得到对应的第三相位；从第四光强变化波形选取第四预设数量的第二点位；基于选取的各个第二点位，对第四光强变化波形进行第四相位分析，得到对应的第四相位；多项式拟合模块4还用于以各个第一过压末态测试电压与对应的第三相位作为第三样值对，通过多项式拟合构建任一过压末态电压与过压相位之间的第四关系；以各个第四相位与对应第二点位的响应时间作为第四样值对，通过多项式拟合构建任一过压相位与过压响应时间之间的第五关系；关系转化模块5还用于结合第四关系和第五关系，得到任一过压末态电压与所述过压响应时间之间第六关系。
与现有技术相比，本申请实施例提供的一种液晶透镜变焦响应测试系统，在过压方式驱动下，只需在最大驱动电压区间范围内选取特定组数的测试电压组合，进行波形测试，就可以根据波形测试结果通过拟合得到满足整个电压区间的过压末态电压与过压响应时间之间的关系曲线。这样就可以通过数据拟合的关系曲线公式，直接计算出过压方式驱动下零值的过压初始电压与任一过压末态电压之间切换液晶达到稳定所需的响应时间，从而解决当前无法对液晶透镜变焦响应时间进行测试的技术问题。
与上述公开的一种液晶透镜变焦响应测试系统相对应，本发明实施例还公开了一种液晶透镜变焦响应测试方法。以下结合上述描述的一种液晶透镜变焦响应测试系统详细介绍本发明实施例中公开的一种液晶透镜变焦响应测试方法。
如图3所示，以置零方式为例，即以从某个值下降至零值的驱动电压组合向待测液晶透镜发射激光来进行测试，以下对本申请一个实施例提供的一种液晶透镜变焦响应测试方法具体步骤进行详细描述。
通过测试电压组合设置模块1选取第一预设数量的第一置零初始测试电压，分别与设置为零值的置零末态电压形成对应的第一测试电压组合。
在本发明实施例中，第一预设数量至少为3个或者3个以上，并且第一置零初始测试电压小于或等于最大驱动电压，以下最大驱动电压Umax为7V为例进行说明，第一置零初始测试电压可以在0～7v之间的进行选择，实际测试时可以将0～7v以一定的步长分割，例如，第一置零初始测试电压可以选择0.5v、1v、1.5v、2v、2.5v、3v、3.5v、4v、5.5v、6v、6.5v、7v。这样，形成的第一测试电压组合分别为0.5～0v、1～0v、1.5～0v、2～0v、2.5～0v、3～0v、3.5～0v、4～0v、4.5～0v、5～0v、5.5～0v、6～0v、6.5～0v、7～0v。
通过测试模块2利用各个第一测试电压组合作为驱动信号，分别对待测液晶透镜23进行第一测试，得到对应的第一光强变化波形。
参考图2，测试模块2包括液晶透镜测试光路，液晶透镜测试光路具体包括：光源21、第一偏振片22、待测液晶透镜23、第二偏振片24、聚焦透镜25、光电二极管26以及示波器27。
在进行第一测试之前，需要对液晶透镜测试光路进行调试，参考图15，对液晶透镜测试光路进行调试具体包括以下步骤：向待测液晶透镜23发射预设波长的调试激光，在本发明实施例中，上述预设波长以543.5nm波长的绿光为例进行说明；调整位于待测液晶透镜23两侧的第一偏振片22和第二偏振片24，使第一偏振片22、第二偏振片24的偏光轴方向相互平行或垂直，且均与待测液晶透镜23的摩擦方向成预设角度的夹角，在本发明实施例中，上述预设角度的夹角可以选择45°夹角；利用光电二极管26通过聚焦透镜25探测从第二偏振片24输出端经待测液晶透镜23透过的激光光束；调试示波器27接收信号的阈值范围，使阈值范围涵盖待测液晶透镜23测试所需电压对应的光强范围。
参考图4，上述对待测液晶透镜进行第一测试的步骤具体包括：光源21向待测液晶透镜23发射第一检测激光，利用各个第一测试电压组合作为驱动信号驱动液晶透镜23，使液晶透镜23从第一稳定态变化为第二稳定态；由光电二极管26通过聚焦透镜25获取第一检测激光在各个稳定态变化过程中透过液晶透镜23的第一光强信号；由示波器27将各组第一光强信号放大，记录放大后的各组第一光强信号随时间变化的第一波形，作为对应的第一光强变化波形。
如上所述，以下最大驱动电压Umax为7V为例，第一置零初始测试电压为2V时，对应的第一测试电压组合为2～0v，经上述步骤得到的第一光强变化波形如图5所示。第一置零初始测试电压为3V时，对应的第一测试电压组合为3～0v，经上述步骤得到的第一光强变化波形如图6所示。第一置零初始测试电压为4V时，对应的第一测试电压组合为4～0v，经上述步骤得到的第一光强变化波形如图7所示。根据上述图5至图7所示的2v～0v、3v～0v、4v～0v的第一光强变化波形可知，第一稳定态转换到第二稳定态的变化过程是存在波形重叠的，并随着第一置零初始测试电压增大波形不断延申。因此，根据不同的置零初始电压切换到0v各自对应的置零相位，得出不同置零初始电压与置零相位的数值关系曲线。
通过相位分析模块3对各个第一光强变化波形进行第一相位分析，得到对应的第一相位。
进一步地，上述步骤具体包括：从各个第一光强变化波形中提取出各自对应的第一稳定态的第一光强强度值、第一波形峰值、第一波形谷值；利用各个第一光强强度值、第一波形峰值、第一波形谷值计算出对应的第一相位，第一相位的计算公式如下：
Pi＝arcsin(|Ii-Imid1|/A1)
A1＝(Imax1-Imin1)/2
Imid1＝A+Imin1＝(Imax1+Imin1)/2
其中，Pi为第i个第一光强变化波形对应的第一相位，Ii为第i个第一光强变化波形第一稳定态的第一光强强度值，Imax1为各个第一光强变化波形的第一波形峰值，Imin1为各个第一光强变化波形的第一波形谷值，A1为各个第一光强变化波形的第一振幅，Imid1为各个第一光强变化波形的中值线对应的第一中值线光强强度值。
通过多项式拟合模块4以各个第一置零初始测试电压与对应的第一相位作为第一样值对，通过多项式拟合构建任一置零初始电压与置零相位之间的第一关系。
在本发明实施例中，第一关系的第一多项式拟合公式如下：
其中，u为任一置零初始电压，x(u)为与任一置零初始电压u对应的置零相位，bk1为第k1个第一多项式拟合系数，n1为第一多项式拟合公式的求和项总数。
参考图8，上述第一关系的第一多项式拟合公式可以利用多项式拟合曲线表示，根据上述第一多项式拟合公式，可以计算任意两个电压之间的相位差值(OPD)，无需对所有电压都进行测试。
通过测试电压组合设置模块1选取最大驱动电压作为第二置零初始测试电压，与设置为零值的置零末态电压形成对应的第二测试电压组合。
如上所述，以下最大驱动电压Umax为7V为例，第二置零初始测试电压为7V，对应的第二测试电压组合为7～0v。
通过测试模块2利用第二测试电压组合作为驱动信号，对待测液晶透镜23进行第二测试，得到对应的第二光强变化波形。
参考图2，测试模块2包括液晶透镜测试光路，液晶透镜测试光路具体包括：光源21、第一偏振片22、待测液晶透镜23、第二偏振片24、聚焦透镜25、光电二极管26以及示波器27。
在进行第二测试之前，需要对液晶透镜测试光路进行调试，参考图15，对液晶透镜测试光路进行调试具体包括以下步骤：向待测液晶透镜23发射预设波长的调试激光，在本发明实施例中，上述预设波长以543.5nm波长的绿光为例进行说明；调整位于待测液晶透镜23两侧的第一偏振片22和第二偏振片24，使第一偏振片22、第二偏振片24的偏光轴方向相互平行或垂直，且均与待测液晶透镜23的摩擦方向成预设角度的夹角，在本发明实施例中，上述预设角度的夹角可以选择45°夹角；利用光电二极管26通过聚焦透镜25探测从第二偏振片24输出端经待测液晶透镜23透过的激光光束；调试示波器27接收信号的阈值范围，使阈值范围涵盖待测液晶透镜23测试所需电压对应的光强范围。
参考图9，上述对待测液晶透镜进行第二测试的步骤具体包括：光源21向待测液晶透镜23发射第二检测激光，利用第二测试电压组合作为驱动信号驱动液晶透镜23，使液晶透镜23从第三稳定态变化为第四稳定态；由光电二极管26通过聚焦透镜25获取第二检测激光在稳定态变化过程中透过液晶透镜23的第二光强信号；由示波器27将第二光强信号放大，记录放大后的第二光强信号随时间变化的第二波形，作为对应的第二光强变化波形。
最大驱动电压Umax为7V为例，第二置零初始测试电压为7V，对应的第二测试电压组合为7～0v时，此时对应的第二光强变化波形如图10所示，该曲线包含了小于7v的所有电压作为置零初始电压对应的置零相位与置零响应时间的对应关系(曲线上任一点坐标对应特定的相位和响应时间)。因此，我们通过在波形曲线上选取特定的第一点位，分别记录对应的第二光强强度值和置零响应时间坐标，从而得到任一置零相位与置零响应时间的数据曲线。
通过相位分析模块3从第二光强变化波形选取第二预设数量的第一点位。
在本发明实施例中，第二预设数量至少为3个或者3个以上。
通过相位分析模块3基于选取的各个第一点位，对所述第二光强变化波形进行第二相位分析，得到对应的第二相位。
进一步地，上述步骤具体包括：从第二光强变化波形中提取出各个第一点位对应的第三稳定态的第二光强强度值、第二波形峰值、第二波形谷值；利用各个第二光强强度值、第二波形峰值、第二波形谷值计算出对应的第二相位，第二相位的计算公式如下：
Pj＝arcsin(|Ij-Imid2|/A2)
A2＝(Imax2-Imin2)/2
Imid2＝A2+Imin2＝(Imax2+Imin2)/2
其中，Pj为第二光强变化波形中第j个第一点位对应的第二相位，Ij为第一光强变化波形中第j个第一点位对应的第三稳定态的第二光强强度值，Imax2为第二光强变化波形的第二波形峰值，Imin2为第二光强变化波形的第二波形谷值，A2为第二光强变化波形的第二振幅，Imid2为第二光强变化波形的中值线对应的第二中值线光强强度值。
通过多项式拟合模块4以各个第二相位与对应第一点位的响应时间作为第二样值对，通过多项式拟合构建任一置零相位与置零响应时间之间的第二关系。
在本发明实施例中，第二关系的第二多项式拟合公式如下：
其中，x表示任一置零相位，t(x)为与任一置零相位x对应的置零响应时间，ck2为第k2个第二多项式拟合系数，n2为第二多项式拟合公式的求和项总数。
参考图11，上述第二关系的第二多项式拟合公式可以利用多项式拟合曲线表示，根据上述第二多项式拟合公式，可以计算任意两个置零相位之间的切换所需的时间(置零响应时间)。
通过关系转化模块5结合第一关系和第二关系，得到任一置零初始电压与所述置零响应时间之间第三关系。
在本发明实施例中，第三关系的公式如下：
其中，x表示任一置零相位，t(x)为与任一置零相位x对应的置零响应时间，ck2为第k2个第二多项式拟合系数，n2为第二多项式拟合公式的求和项总数，u为任一置零初始电压，x(u)为与任一置零初始电压u对应的置零相位，bk1为第k1个第一多项式拟合系数，n1为第一多项式拟合公式的求和项总数。
根据上述给出的第一多项式拟合公式和第二多项式拟合公式可以得出任一置零初始电压与置零响应时间的第三关系，也就是说根据这两个公式的关系转换，我们可以直接计算出置零方式下，任一置零初始电压与设置为零值的置零末态电压之间切换液晶达到稳定所需的置零响应时间；而液晶透镜通常具有多个电极通道，那么根据此关系公式，我们可以对液晶透镜每个通道都快速给出相应的置零响应时间，从而解决当前无法对液晶透镜变焦响应时间进行测试的技术问题。
与现有技术相比，本申请实施例提供的一种液晶透镜变焦响应测试系统，在置零方式驱动下，只需在最大驱动电压区间范围内选取特定组数的测试电压组合，进行波形测试，就可以根据波形测试结果通过拟合得到满足整个电压区间的置零初始电压与置零响应时间之间的关系曲线。这样就可以通过数据拟合的关系曲线公式，直接计算出置零方式驱动下任一置零初始电压与零值末态电压之间切换液晶达到稳定所需的响应时间，从而有效提升液晶透镜变焦响应速度，增强液晶透镜的工作性能。
与上述置零方式同理，我们可以对液晶透镜过压方式进行不同电压组合的波形测试，以及0v到最大驱动电压的波形测试，并分别拟合出过压方式下所需的过压末态电压与过压相位、过压相位与过压响应时间的关系曲线及公式，根据这两个曲线公式，同样可以快速计算出过压方式下，设置为零值的过压初始电压与任一过压末态电压之间切换液晶达到稳定所需的时间。以上测试电压只需测试最大驱动电压区间范围内的特定组数的电压，就可以通过拟合得到满足整个电压区间关系曲线。
参考图12，以过压方式为例，即以从零值上升至某个值的驱动电压组合向待测液晶透镜发射激光来进行测试，以下对本申请另一个实施例提供的一种液晶透镜变焦响应测试方法具体步骤进行详细描述。
通过测试电压组合设置模块1选取第三预设数量的第一过压末态测试电压，分别与设置为零值的过压初始电压形成对应的第三测试电压组合。
在本发明实施例中，第三预设数量至少为3个或者3个以上，第一过压末态测试电压小于或等于最大驱动电压，以下最大驱动电压Umax为7V为例进行说明，第一过压末态测试电压可以在0～7v之间的进行选择，实际测试时可以将0～7v以一定的步长分割，例如，第一过压末态测试电压可以选择0.5v、1v、1.5v、2v、2.5v、3v、3.5v、4v、5.5v、6v、6.5v、7v。这样，形成的第一测试电压组合分别为0～0.5v、1～0v、0～1.5v、0～2v、0～2.5v、0～3v、0～3.5v、0～4v、0～4.5v、0～5v、0～5.5v、0～6v、0～6.5v、0～7v。
通过测试模块2利用各个第三测试电压组合作为驱动信号，分别对待测液晶透镜23进行第三测试，得到对应的第三光强变化波形。
参考图2，测试模块2包括液晶透镜测试光路，液晶透镜测试光路具体包括：光源21、第一偏振片22、待测液晶透镜23、第二偏振片24、聚焦透镜25、光电二极管26以及示波器27。
在进行第三测试之前，需要对液晶透镜测试光路进行调试，参考图15，对液晶透镜测试光路进行调试具体包括以下步骤：向待测液晶透镜23发射预设波长的调试激光，在本发明实施例中，上述预设波长以543.5nm波长的绿光为例进行说明；调整位于待测液晶透镜23两侧的第一偏振片22和第二偏振片24，使第一偏振片22、第二偏振片24的偏光轴方向相互平行或垂直，且均与待测液晶透镜23的摩擦方向成预设角度的夹角，在本发明实施例中，上述预设角度的夹角可以选择45°夹角；利用光电二极管26通过聚焦透镜25探测从第二偏振片24输出端经待测液晶透镜23透过的激光光束；调试示波器27接收信号的阈值范围，使阈值范围涵盖待测液晶透镜23测试所需电压对应的光强范围。
参考图13，上述对待测液晶透镜进行第三测试的步骤具体包括：光源21向待测液晶透镜23发射第三检测激光，利用各个第三测试电压组合作为驱动信号驱动液晶透镜23，使液晶透镜23从第五稳定态变化为第六稳定态；由光电二极管26通过聚焦透镜25获取第三检测激光在各个稳定态变化过程中透过液晶透镜23的第三光强信号；由示波器27将各组第三光强信号放大，记录放大后的各组第三光强信号随时间变化的第一波形，作为对应的第三光强变化波形。
通过相位分析模块3对各个第三光强变化波形进行第三相位分析，得到对应的第三相位。
进一步地，上述步骤具体包括：从各个第三光强变化波形中提取出各自对应的第六稳定态的第三光强强度值、第三波形峰值、第三波形谷值；利用各个第三光强强度值、第三波形峰值、第三波形谷值计算出对应的第三相位，第三相位的计算公式如下：
Pm＝arcsin(|Im-Imid3|/A3)
A3＝(Imax3-Imin3)/2
Imid3＝A+Imin3＝(Imax3+Imin3)/2
其中，Pm为第m个第三光强变化波形对应的第三相位，Im为第m个第三光强变化波形第六稳定态的第三光强强度值，Imax3为各个第三光强变化波形的第三波形峰值，Imin3为各个第三光强变化波形的第三波形谷值，A3为各个第三光强变化波形的第三振幅，Imid3为各个第三光强变化波形的中值线对应的第三中值线光强强度值。
通过多项式拟合模块4以各个第一过压末态测试电压与对应的第三相位作为第三样值对，通过多项式拟合构建任一过压末态电压与过压相位之间的第四关系。
在本发明实施例中，第四关系的第三多项式拟合公式如下：
/>
其中，U为任一过压末态电压，X(U)为与任一过压末态电压U对应的过压相位，dk3为第k3个第三多项式拟合系数，n3为第三多项式拟合公式的求和项总数。
通过测试电压组合设置模块1选取最大驱动电压作为第二过压末态测试电压，与设置为零值的过压初始电压形成对应的第四测试电压组合。
如上所述，以下最大驱动电压Umax为7V为例，第二过压末态测试电压为7V，对应的第四测试电压组合为0～7v。
通过测试模块2利用第四测试电压组合作为驱动信号，对待测液晶透镜23进行第四测试，得到对应的第四光强变化波形。
参考图2，测试模块2包括液晶透镜测试光路，液晶透镜测试光路具体包括：光源21、第一偏振片22、待测液晶透镜23、第二偏振片24、聚焦透镜25、光电二极管26以及示波器27。
在进行第四测试之前，需要对液晶透镜测试光路进行调试，参考图15，对液晶透镜测试光路进行调试具体包括以下步骤：向待测液晶透镜23发射预设波长的调试激光，在本发明实施例中，上述预设波长以543.5nm波长的绿光为例进行说明；调整位于待测液晶透镜23两侧的第一偏振片22和第二偏振片24，使第一偏振片22、第二偏振片24的偏光轴方向相互平行或垂直，且均与待测液晶透镜23的摩擦方向成预设角度的夹角，在本发明实施例中，上述预设角度的夹角可以选择45°夹角；利用光电二极管26通过聚焦透镜25探测从第二偏振片24输出端经待测液晶透镜23透过的激光光束；调试示波器27接收信号的阈值范围，使阈值范围涵盖待测液晶透镜23测试所需电压对应的光强范围。
参考图14，上述对待测液晶透镜进行第四测试的步骤具体包括：光源21向待测液晶透镜发射第四检测激光，利用第四测试电压组合作为驱动信号驱动液晶透镜23，使液晶透镜23从第七稳定态变化为第八稳定态；由光电二极管26通过聚焦透镜25获取第四检测激光在稳定态变化过程中透过液晶透镜23的第四光强信号；由示波器27将第四光强信号放大，记录放大后的第四光强信号随时间变化的第四波形，作为对应的第四光强变化波形。
通过相位分析模块3从第四光强变化波形选取第四预设数量的第二点位。
在本发明实施例中，第四预设数量至少为3个或者3个以上。
通过相位分析模块3基于选取的各个第二点位，对第四光强变化波形进行第四相位分析，得到对应的第四相位。
进一步地，上述步骤具体包括：从第四光强变化波形中提取出各个第二点位对应的第八稳定态的第四光强强度值、第四波形峰值、第四波形谷值；利用各个第四光强强度值、第四波形峰值、第四波形谷值计算出对应的第四相位，第四相位的计算公式如下：
Pn＝arcsin(|In-Imid4|/A4)
A4＝(Imax4-Imin4)/2
Imid4＝A4+Imin4＝(Imax4+Imin4)/2
其中，Pn为第四光强变化波形中第n个第二点位对应的第四相位，In为第四光强变化波形中第n个第二点位对应的第八稳定态的第四光强强度值，Imax4为第四光强变化波形的第四波形峰值，Imin4为第四光强变化波形的第四波形谷值，A4为第四光强变化波形的第四振幅，Imid4为第四光强变化波形的中值线对应的第四中值线光强强度值。
通过多项式拟合模块4以各个第四相位与对应第二点位的响应时间作为第四样值对，通过多项式拟合构建任一过压相位与过压响应时间之间的第五关系。
在本发明实施例中，第五关系的第四多项式拟合公式如下：
其中，X表示任一过压相位，T(X)为与任一过压相位X对应的过压响应时间，ek4为第k4个第四多项式拟合系数，n4为第四多项式拟合公式的求和项总数。
通过关系转化模块5结合第四关系和第五关系，得到任一过压末态电压与过压响应时间之间第六关系。
在本发明实施例中，第六关系的公式如下：
其中，X表示任一过压相位，T(X)为与任一过压相位X对应的过压响应时间，ek4为第k4个第四多项式拟合系数，n4为第四多项式拟合公式的求和项总数，U为任一过压末态电压，X(U)为与任一过压末态电压U对应的过压相位，dk3为第k3个第三多项式拟合系数，n3为第三多项式拟合公式的求和项总数。
根据上述给出的第三多项式拟合公式和第四多项式拟合公式可以得出任一过压末态电压与过压响应时间的第六关系，也就是说根据这两个公式的关系转换，我们可以直接计算出过压方式下，设置为零值的过压初始电压与任一过压末态电压之间切换液晶达到稳定所需的过压响应时间；而液晶透镜通常具有多个电极通道，那么根据此关系公式，我们可以对液晶透镜每个通道都快速给出相应的过压响应时间，从而解决当前无法对液晶透镜变焦响应时间进行测试的技术问题。
与现有技术相比，本申请实施例提供的一种液晶透镜变焦响应测试系统，在过压方式驱动下，只需在最大驱动电压区间范围内选取特定组数的测试电压组合，进行波形测试，就可以根据波形测试结果通过拟合得到满足整个电压区间的过压末态电压与过压响应时间之间的关系曲线。这样就可以通过数据拟合的关系曲线公式，直接计算出过压方式驱动下零值的过压初始电压与任一过压末态电压之间切换液晶达到稳定所需的响应时间，从而解决当前无法对液晶透镜变焦响应时间进行测试的技术问题。
另外，本发明实施例还提供了一种液晶透镜变焦响应测试设备，所述设备包括：处理器和存储器；所述存储器用于存储一个或多个程序指令；所述处理器，用于运行一个或多个程序指令，用以执行如上任一项所述的一种液晶透镜变焦响应测试方法的步骤。
另外，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任一项所述一种液晶透镜变焦响应测试方法的步骤。
在本发明实施例中，处理器可以是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。处理器可以是通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，简称DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，简称ASIC)、现场可编程门阵列(FieldProgrammable Gate Array，简称FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。
可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。处理器读取存储介质中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。
存储介质可以是存储器，例如可以是易失性存储器或非易失性存储器，或可包括易失性和非易失性存储器两者。
其中，非易失性存储器可以是只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)、可编程只读存储器(Programmable ROM，简称PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable PROM，简称EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(Electrically EPROM，简称EEPROM)或闪存。
易失性存储器可以是随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的RAM可用，例如静态随机存取存储器(Static RAM，简称SRAM)、动态随机存取存储器(Dynamic RAM，简称DRAM)、同步动态随机存取存储器(Synchronous DRAM，简称SDRAM)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(Double Data RateSDRAM，简称DDRSDRAM)、增强型同步动态随机存取存储器(EnhancedSDRAM，简称ESDRAM)、同步连接动态随机存取存储器(Synchlink DRAM，简称SLDRAM)和直接内存总线随机存取存储器(DirectRambus RAM，简称DRRAM)。
本发明实施例描述的存储介质旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
本领域技术人员应该可以意识到，在上述一个或多个示例中，本发明所描述的功能可以用硬件与软件组合来实现。当应用软件时，可以将相应功能存储在计算机可读介质中或者作为计算机可读介质上的一个或多个指令或代码进行传输。计算机可读介质包括计算机存储介质和通信介质，其中通信介质包括便于从一个地方向另一个地方传送计算机程序的任何介质。存储介质可以是通用或专用计算机能够存取的任何可用介质。
虽然，上文中已经用一般性说明及具体实施例对本发明作了详尽的描述，但在本发明基础上，可以对之作一些修改或改进，这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此，在不偏离本发明精神的基础上所做的这些修改或改进，均属于本发明要求保护的范围。
Claims (10)
1.一种液晶透镜变焦响应测试方法，其特征在于，所述方法包括：
选取第一预设数量的第一置零初始测试电压，分别与设置为零值的置零末态电压形成对应的第一测试电压组合；
利用各个第一测试电压组合作为驱动信号，分别对待测液晶透镜进行第一测试，得到对应的第一光强变化波形；
对各个第一光强变化波形进行第一相位分析，得到对应的第一相位；
以各个第一置零初始测试电压与对应的第一相位作为第一样值对，通过多项式拟合构建任一置零初始电压与置零相位之间的第一关系；
选取最大驱动电压作为第二置零初始测试电压，与设置为零值的置零末态电压形成对应的第二测试电压组合；
利用所述第二测试电压组合作为驱动信号，对待测液晶透镜进行第二测试，得到对应的第二光强变化波形；
从所述第二光强变化波形选取第二预设数量的第一点位；
基于选取的各个第一点位，对所述第二光强变化波形进行第二相位分析，得到对应的第二相位；
以各个第二相位与对应第一点位的响应时间作为第二样值对，通过多项式拟合构建任一置零相位与置零响应时间之间的第二关系；
结合所述第一关系和所述第二关系，得到任一置零初始电压与所述置零响应时间之间第三关系。
2.如权利要求1所述的一种液晶透镜变焦响应测试方法，其特征在于，利用各个第一测试电压组合作为驱动信号，分别对待测液晶透镜进行第一测试，得到对应的第一光强变化波形，包括：
向待测液晶透镜发射第一检测激光，利用各个第一测试电压组合作为驱动信号驱动所述液晶透镜，使所述液晶透镜从第一稳定态变化为第二稳定态；
获取所述第一检测激光在各个稳定态变化过程中透过所述液晶透镜的第一光强信号；
将各组第一光强信号放大，记录放大后的各组第一光强信号随时间变化的第一波形，作为对应的第一光强变化波形；以及
利用所述第二测试电压组合作为驱动信号，对待测液晶透镜进行第二测试，得到对应的第二光强变化波形，包括：
向待测液晶透镜发射第二检测激光，利用所述第二测试电压组合作为驱动信号驱动所述液晶透镜，使所述液晶透镜从第三稳定态变化为第四稳定态；
获取所述第二检测激光在稳定态变化过程中透过所述液晶透镜的第二光强信号；
将所述第二光强信号放大，记录放大后的第二光强信号随时间变化的第二波形，作为对应的第二光强变化波形。
3.如权利要求2所述的一种液晶透镜变焦响应测试方法，其特征在于，对各个第一光强变化波形进行第一相位分析，得到对应的第一相位，包括：
从各个第一光强变化波形中提取出各自对应的第一稳定态的第一光强强度值、第一波形峰值、第一波形谷值；
利用各个第一光强强度值、所述第一波形峰值、所述第一波形谷值计算出对应的第一相位，所述第一相位的计算公式如下：
Pi＝arcsin(|Ii-Imid1|/A1)
A1＝(Imax1-Imin1)/2
Imid1＝A+Imin1＝(Imax1+Imin1)/2
其中，Pi为第i个第一光强变化波形对应的第一相位，Ii为第i个第一光强变化波形第一稳定态的第一光强强度值，Imax1为各个第一光强变化波形的第一波形峰值，Imin1为各个第一光强变化波形的第一波形谷值，A1为各个第一光强变化波形的第一振幅，Imid1为各个第一光强变化波形的中值线对应的第一中值线光强强度值；
基于选取的各个第一点位，对所述第二光强变化波形进行第二相位分析，得到对应的第二相位，包括：
从所述第二光强变化波形中提取出各个第一点位对应的第三稳定态的第二光强强度值、第二波形峰值、第二波形谷值；
利用各个第二光强强度值、所述第二波形峰值、所述第二波形谷值计算出对应的第二相位，所述第二相位的计算公式如下：
Pj＝arcsin(|Ij-Imid2|/A2)
A2＝(Imax2-Imin2)/2
Imid2＝A2+Imin2＝(Imax2+Imin2)/2
其中，Pj为第二光强变化波形中第j个第一点位对应的第二相位，Ij为第一光强变化波形中第j个第一点位对应的第三稳定态的第二光强强度值，Imax2为第二光强变化波形的第二波形峰值，Imin2为第二光强变化波形的第二波形谷值，A2为第二光强变化波形的第二振幅，Imid2为第二光强变化波形的中值线对应的第二中值线光强强度值。
4.如权利要求1至3任一项所述的一种液晶透镜变焦响应测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
选取第三预设数量的第一过压末态测试电压，分别与设置为零值的过压初始电压形成对应的第三测试电压组合；
利用各个第三测试电压组合作为驱动信号，分别对待测液晶透镜进行第三测试，得到对应的第三光强变化波形；
对各个第三光强变化波形进行第三相位分析，得到对应的第三相位；
以各个第一过压末态测试电压与对应的第三相位作为第三样值对，通过多项式拟合构建任一过压末态电压与过压相位之间的第四关系；
选取最大驱动电压作为第二过压末态测试电压，与设置为零值的过压初始电压形成对应的第四测试电压组合；
利用所述第四测试电压组合作为驱动信号，对待测液晶透镜进行第四测试，得到对应的第四光强变化波形；
从所述第四光强变化波形选取第四预设数量的第二点位；
基于选取的各个第二点位，对所述第四光强变化波形进行第四相位分析，得到对应的第四相位；
以各个第四相位与对应第二点位的响应时间作为第四样值对，通过多项式拟合构建任一过压相位与过压响应时间之间的第五关系；
结合所述第四关系和所述第五关系，得到任一过压末态电压与所述过压响应时间之间第六关系。
5.如权利要求4所述的一种液晶透镜变焦响应测试方法，其特征在于，利用各个第三测试电压组合作为驱动信号，分别对待测液晶透镜进行第三测试，得到对应的第三光强变化波形，包括：
向待测液晶透镜发射第三检测激光，利用各个第三测试电压组合作为驱动信号驱动所述液晶透镜，使所述液晶透镜从第五稳定态变化为第六稳定态；
获取所述第三检测激光在各个稳定态变化过程中透过所述液晶透镜的第三光强信号；
将各组第三光强信号放大，记录放大后的各组第三光强信号随时间变化的第一波形，作为对应的第三光强变化波形；以及
利用所述第四测试电压组合作为驱动信号，对待测液晶透镜进行第四测试，得到对应的第四光强变化波形，包括：
向待测液晶透镜发射第四检测激光，利用所述第四测试电压组合作为驱动信号驱动所述液晶透镜，使所述液晶透镜从第七稳定态变化为第八稳定态；
获取所述第四检测激光在稳定态变化过程中透过所述液晶透镜的第四光强信号；
将所述第四光强信号放大，记录放大后的第四光强信号随时间变化的第四波形，作为对应的第四光强变化波形。
6.如权利要求5所述的一种液晶透镜变焦响应测试方法，其特征在于，对各个第三光强变化波形进行第三相位分析，得到对应的第三相位，包括：
从各个第三光强变化波形中提取出各自对应的第六稳定态的第三光强强度值、第三波形峰值、第三波形谷值；
利用各个第三光强强度值、所述第三波形峰值、所述第三波形谷值计算出对应的第三相位，所述第三相位的计算公式如下：
Pm＝arcsin(|Im-Imid3|/A3)
A3＝(Imax3-Imin3)/2
Imid3＝A+Imin3＝(Imax3+Imin3)/2
其中，Pm为第m个第三光强变化波形对应的第三相位，Im为第m个第三光强变化波形第六稳定态的第三光强强度值，Imax3为各个第三光强变化波形的第三波形峰值，Imin3为各个第三光强变化波形的第三波形谷值，A3为各个第三光强变化波形的第三振幅，Imid3为各个第三光强变化波形的中值线对应的第三中值线光强强度值；
基于选取的各个第二点位，对所述第四光强变化波形进行第四相位分析，得到对应的第四相位，包括：
从所述第四光强变化波形中提取出各个第二点位对应的第八稳定态的第四光强强度值、第四波形峰值、第四波形谷值；
利用各个第四光强强度值、所述第四波形峰值、所述第四波形谷值计算出对应的第四相位，所述第四相位的计算公式如下：
Pn＝arcsin(|In-Imid4|/A4)
A4＝(Imax4-Imin4)/2
Imid4＝A4+Imin4＝(Imax4+Imin4)/2
其中，Pn为第四光强变化波形中第n个第二点位对应的第四相位，In为第四光强变化波形中第n个第二点位对应的第八稳定态的第四光强强度值，Imax4为第四光强变化波形的第四波形峰值，Imin4为第四光强变化波形的第四波形谷值，A4为第四光强变化波形的第四振幅，Imid4为第四光强变化波形的中值线对应的第四中值线光强强度值。
7.如权利要求6所述的一种液晶透镜变焦响应测试方法，其特征在于，在进行第一测试、第二测试、第三测试以及第四测试之前，所述方法还包括：
向所述待测液晶透镜发射预设波长的调试激光；
调整位于所述待测液晶透镜两侧的第一偏振片和第二偏振片，使所述第一偏振片、所述第二偏振片的偏光轴方向相互平行或垂直，且均与所述待测液晶透镜的摩擦方向成预设角度的夹角；
利用光电二极管通过聚焦透镜探测从所述第二偏振片输出端经所述待测液晶透镜透过的激光光束；
调试示波器接收信号的阈值范围，使所述阈值范围涵盖所述待测液晶透镜测试所需电压对应的光强范围。
8.一种液晶透镜变焦响应测试系统，其特征在于，所述系统包括：
测试电压组合设置模块，用于选取第一预设数量的第一置零初始测试电压，分别与设置为零值的置零末态电压形成对应的第一测试电压组合；选取最大驱动电压作为第二置零初始测试电压，与设置为零值的置零末态电压形成对应的第二测试电压组合；
测试模块，用于利用各个第一测试电压组合作为驱动信号，分别对待测液晶透镜进行第一测试，得到对应的第一光强变化波形；利用所述第二测试电压组合作为驱动信号，对待测液晶透镜进行第二测试，得到对应的第二光强变化波形；
相位分析模块，用于对各个第一光强变化波形进行第一相位分析，得到对应的第一相位；从所述第二光强变化波形选取第二预设数量的第一点位；基于选取的各个第一点位，对所述第二光强变化波形进行第二相位分析，得到对应的第二相位；
多项式拟合模块，用于以各个第一置零初始测试电压与对应的第一相位作为第一样值对，通过多项式拟合构建任一置零初始电压与置零相位之间的第一关系；以各个第二相位与对应第一点位的响应时间作为第二样值对，通过多项式拟合构建任一置零相位与置零响应时间之间的第二关系；
关系转化模块，用于结合所述第一关系和所述第二关系，得到任一置零初始电压与所述置零响应时间之间第三关系。
9.一种液晶透镜变焦响应测试设备，其特征在于，所述设备包括：处理器和存储器；
所述存储器用于存储一个或多个程序指令；
所述处理器，用于运行一个或多个程序指令，用以执行如权利要求1至7任一项所述的一种液晶透镜变焦响应测试方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述一种液晶透镜变焦响应测试方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310657392.8A CN116381973B (zh) | 2023-06-05 | 2023-06-05 | 一种液晶透镜变焦响应测试方法、系统、设备及介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310657392.8A CN116381973B (zh) | 2023-06-05 | 2023-06-05 | 一种液晶透镜变焦响应测试方法、系统、设备及介质 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116381973A CN116381973A (zh) | 2023-07-04 |
| CN116381973B true CN116381973B (zh) | 2023-08-11 |
Family
ID=86961951
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310657392.8A Active CN116381973B (zh) | 2023-06-05 | 2023-06-05 | 一种液晶透镜变焦响应测试方法、系统、设备及介质 |
Country Status (1)
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|---|---|
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