CN116302726A - 计算设备的测试方法及装置、电子设备、存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请是关于一种计算设备的测试方法及装置、电子设备、存储介质，所述方法包括：对待测试计算设备进行有效性检查，确定所述待测试计算设备是否有效；在所述待测试计算设备有效的情况下，获取所述待测试计算设备中预配置的工作点信息；根据所述工作点信息在所述待测试计算设备的本地进行模式pattern测试，且在测试过程中，拒绝连接所述待测试计算设备的生产服务器而获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息，并拒绝对所述待测试计算设备的预配置的工作点信息的更新。本申请确保了对计算设备的测试过程中对测试方的服务器访问约束，不会对后台服务器造成威胁，确保了测试进程中的后台服务器的安全，同样也实现了计算设备的正常测试进行。
Description
技术领域
本申请涉及计算设备的测试技术，尤其涉及一种计算设备的测试方法及装置、电子设备、存储介质。
背景技术
在电子设备的处理板生产过程中，一般需要通过治具程序对处理板进行，以为处理板确定工作点，并将扫码信息比如板卡序列号、芯片相关信息等存入处理板中。在测试过程中，需要从生产服务器获取相关工作点信息或者从本地配置文件中获取工作点信息，并将测试结果写入处理板并上传结果到生产服务器上，方便后续进行分析。而外部维修点也有前述测试的类似需求，在维修损坏处理板时，需要治具程序来定位板卡的问题芯片，或者问题器件。如果直接将生产中使用的维修治具程序交给维修点使用的话，会带来以下问题：生产治具程序访问公司生产服务器，将带来网络安全隐患。例如维修点可能会尝试在本地配置文件中设置超频运行档位，这可能对计算设备及电源造成较大的损害，进而对计算设备的后台服务器造成严重影响，如导致超负荷运转等后果。
发明内容
有鉴于此，本申请提供一种计算设备的测试方法及装置、电子设备、存储介质，以至少解决前述的技术问题。
根据本申请实施例的第一方面，提供一种计算设备的测试方法，所述方法包括：
对待测试计算设备进行有效性检查，确定所述待测试计算设备是否有效；
在所述待测试计算设备有效的情况下，获取所述待测试计算设备中预配置的工作点信息；
根据所述工作点信息在所述待测试计算设备的本地进行模式pattern测试，且在测试过程中，拒绝连接所述待测试计算设备的生产服务器而获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息，并拒绝对所述待测试计算设备的预配置的工作点信息的更新。
在一些实施例中，所述方法还包括：
在测试过程中，拒绝从所述待测试计算设备的本地配置文件中获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息。
在一些实施例中，所述方法还包括：
获取针对所述待测试计算设备的pattern测试结果，若接收到针对所述pattern测试结果的上传请求，则拒绝所述上传请求。
在一些实施例中，所述方法还包括：
在pattern测试完成后，将所述pattern测试结果通过本地显示单元输出。
在一些实施例中，所述方法还包括：
在当前测试为芯片基本测试的情况下，则查找所述待测试计算设备的所有芯片，并确定所述芯片的焊接信息。
在一些实施例中，所述工作点信息包括以下至少之一：工作点电压、工作频率。
根据本申请实施例的第二方面，提供一种计算设备的测试装置，包括：
确定单元，用于对待测试计算设备进行有效性检查，确定所述待测试计算设备是否有效；
第一获取单元，用于在所述待测试计算设备有效的情况下，获取所述待测试计算设备中预配置的工作点信息；
第一测试单元，用于根据所述工作点信息在所述待测试计算设备的本地进行模式pattern测试，且在测试过程中，拒绝连接所述待测试计算设备的生产服务器而获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息，并拒绝对所述待测试计算设备的预配置的工作点信息的更新。
在一些实施例中，所述第一测试单元，还用于：
在测试过程中，拒绝从所述待测试计算设备的本地配置文件中获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息。
在一些实施例中，所述装置还包括：
第二获取单元，用于获取针对所述待测试计算设备的pattern测试结果；
所述第一测试单元，还用于在接收到针对所述pattern测试结果的上传请求的情况下，拒绝所述上传请求。
在一些实施例中，所述装置还包括：
输出单元，用于在pattern测试完成后，将所述pattern测试结果通过本地显示单元输出。
在一些实施例中，所述装置还包括：
第二测试单元，用于在当前测试为芯片基本测试的情况下，查找所述待测试计算设备的所有芯片，确定所述芯片的焊接信息。
在一些实施例中，所述工作点信息包括以下至少之一：工作点电压、工作频率。
根据本公开实施例的第三方面，提供一种电子设备，包括处理器和用于存储处理器可执行指令的存储器，所述处理器被配置为在调用存储器中的可执行指令时，能够执行所述的计算设备的测试方法的步骤。
根据本公开实施例的第四方面，提供一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行所述的计算设备的测试方法的步骤。
本申请实施例中，在对待测试的计算设备进行测试时，首先对待测试计算设备的有效性进行检查，在确定待测试计算设备有效时，获取计算设备的预配置工作点信息，并依据预配置工作点信息进行pattern的测试，在测试过程中，拒绝向生产服务器访问频率运行档位信息，并拒绝对待测试计算设备的预配置的工作点信息的更新。本申请确保了对计算设备的测试过程中对测试方的服务器访问约束，不会对后台服务器造成威胁，确保了测试进程中的后台服务器的安全，同样也实现了计算设备的正常测试进行。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例的计算设备的测试方法的流程示意图；
图2为本申请实施例的计算设备的测试方法的流程示意图；
图3为本申请实施例的计算设备的测试装置的组成结构示意图；
图4为本申请实施例的计算设备的测试装置的组成结构示意图；
图5为本申请实施例的电子设备的组成结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图，详细阐明本申请实施例技术方案的实质。
图1为本申请实施例的计算设备的测试方法的流程示意图，如图1所示，本申请实施例的计算设备的测试方法包括以下处理步骤：
步骤101，对待测试计算设备进行有效性检查，确定所述待测试计算设备是否有效。
本申请实施例中，可以通过治具程序对待测试计算设备进行测试，治具程序可以是计算设备制造方向维修方授权的测试程序，可以由维修方利用治具程序对计算设备进行相关的测试，如计算设备的芯片基本测试、计算设备的pattern测试等。本申请实施例中，pattern测试是对测试芯片进行时序特征的测试。在测试芯片的过程中，ATE(AutomatedTest Equipment)会向被测试芯片的输入管脚发送一系列的时序，而在芯片的输出管脚比较输出时序，由此测试芯片是否满足其功能。pattern测试就是芯片的真值表测试，与IC设计产生的时序不同，一般测试用的pattern中的时序都是预先分割好周期的。
本申请实施例中，为了保证与计算设备连接的后台服务器的安全保障，需要对授权给维修方的治具程序进行测试限制，如不能任由维修方对计算设备的频率运行能力进行非授权的调整，任意访问后台服务器等。
本申请实施例中，当对计算设备进行pattern测试之前，需要对计算设备中的预配置信息进行完整性检查，以确定计算设备的预配置信息是否被篡改，以确定待测试的计算设备的合法性。作为一种实现方式，可以以hash值的方式来确定待测试计算设备的有效性，即通过计算待测试设备的设定存储区域的存储信息的hash值，来确定待测试设备的预配置信息是否被篡改，以此来确定待测试计算设备是否有效。
本申请实施例中，pattern测试包括时序特征的测试。
步骤102，在所述待测试计算设备有效的情况下，获取所述待测试计算设备中预配置的工作点信息。
当确定计算设备中的预配置信息未被篡改的情况下，获取所述待测试计算设备中预配置的工作点信息。
本申请实施例中，工作点信息包括以下至少之一：工作点电压、工作频率。对待测试计算设备进行pattern测试，主要是对待测试计算设备的工作点电压、工作频率等进行测试，以确定待测试的计算设备是否达标，以此保证计算设备的频率运行，维护其基本计算性能。
步骤103，根据所述工作点信息在所述待测试计算设备的本地进行模式pattern测试，且在测试过程中，拒绝连接所述待测试计算设备的生产服务器而获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息，并拒绝对所述待测试计算设备的预配置的工作点信息的更新。
本申请实施例中，在对待测试计算设备进行pattern测试的情况下，拒绝连接所述待测试计算设备的生产服务器而获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息。通过禁止治具程序对后台服务器的访问，保证了后台服务器的安全性，不会因此泄露后台服务器中其他计算设备的频率运行信息等。本申请实施例同样拒绝治具程序对所述待测试计算设备的预配置的工作点信息的更新，即避免对计算设备的预配置工作点信息进行篡改，保证计算设备频率运行的稳定，以与其预先配置的频率运行相适配。
为了进一步杜绝治具程序对计算设备的频率运行能力进行篡改等，在对待测试计算设备的测试过程中，拒绝从所述待测试计算设备的本地配置文件中获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息。
本申请实施例中，在对待测试计算设备进行测试的过程中，还拒绝将相关测试结果向后台服务器上报，以避免后台服务器负荷超载。具体地，当通过治具程序获取针对所述待测试计算设备的pattern测试结果后，若接收到针对所述pattern测试结果的上传请求，则拒绝所述上传请求。本申请实施例仅支持将pattern测试结果在本地显示单元上输出，以便于测试人员确定计算设备的运转情况是否正常等，方便维修方把握待测试计算设备的运行是否存在故障等。本申请实施例中，在pattern测试完成后，将所述pattern测试结果通过本地显示单元输出。
本申请实施例中，治具程序还支持除pattern测试之外的芯片基本测试，即对计算设备中的芯片是否存在故障进行检测，以确定芯片的焊接等是否存在虚接、焊点断开等情况进行测试。具体地，在当前测试为芯片基本测试的情况下，则查找所述待测试计算设备的所有芯片，并确定所述芯片的焊接信息。
以下通过具体示例，进一步阐明本申请实施例的技术方案的实质。
为了既满足维修点真实合理的维修测试需求，又杜绝针对计算设备及后台服务器的各种安全隐患，提出了本申请实施例的维修模式治具程序，以完成对待测试计算设备的相关测试项目，又保证了后台服务器等的安全。
本申请实施例的维修治具程序仅读取存储在计算设备如处理板卡上EEPROM中的已有工作点重复进行测试，拒绝新的工作点测试需求，同时不对EEPROM进行任何修改。在整个测试过程中，不会连接计算设备的生产服务器获取或者上传任何信息，既满足了维修方的处理板故障问题定位功能需求，又堵塞了安全漏洞。本申请实施例中，仅以计算设备为电子设备中的处理板为例进行说明，这并不意味着对本申请实施例的限制。
本申请实施例的维修模式治具程序，在启动阶段，首先进行必要的初始化工作。然后对计算设备如处理板的EEPROM进行有效性检查。当EEPROM内容真实有效时，则读取相应的工作点信息，包括工作点电压和工作频率。同时软件获取配置信息，如果是芯片基本测试的话，则进行处理板中芯片数量查找测试，确定处理板有无基本的焊接问题。如果是芯片pattern测试的话，则需要首先读取计算设备如处理板中的pattern文件，并且采用EEPROM中存储的工作电压和工作频率进行pattern测试，测试过程中，本申请实施例的治具程序不连接生产服务器获取处理板的档位，不从处理板本地配置文件中获取处理板的档位，不上传测试结果，不对EEPROM进行工作点信息的更新。测试完成之后，将测试结果反馈到治具程序的显示单元如液晶显示器LCD上供测试人员参考，以使本申请实施例的测试过程没有安全漏洞。
图2为本申请实施例的计算设备的测试方法的流程示意图，如图2所示，本申请实施例的计算设备的测试方法包括以下处理步骤：
步骤201、本申请实施例的治具程序，在启动阶段首先进行必要的初始化工作。这是为了后续各项功能能够正常运行。这里的初始化工作，是指基本必要的初始化，如治具程序的外设初始化、FPGA初始化、电源初始化、软件内部数据结构初始化等。
步骤202、对处理板EEPROM进行内容完整性校验，作为一种实现方式，可以采用循环冗余校验(Cyclic Redundancy Check，CRC)的方法对数据进行完整性校验。本步骤中，还可以采用奇偶校验(Parity Check)、BCC异或校验法、MD5、SHA、MAC等摘要算法对EEPROM中存储的信息进行有效性检查。由于治具程序的模式测试的工作点是基于EEPROM中存储的信息。所以必须对其进行完整性有效性的检查，防止错误的工作点被当作测试点。这里可以通过计算hash值的方式来确定EEPROM中存储的信息的有效性的检查。如果计算设备未满足完整性测试，则需要将计算设备返厂维修，不再进行后续的测试。
步骤203、判断EEPROM内容是否完整有效。若是则执行步骤204，否则执行步骤205；步骤205，确定EEPROM内容缺失，需将处理板返厂进行维修。
步骤204、判断测试类型是否是基本芯片测试，若否则执行步骤206，若是则执行步骤207；步骤207，进行基本芯片查找测试，确定板卡芯片的基本焊接情况，并将测试结果反馈到显示屏上。本过程不连接生产服务器，不写处理板的EEPROM。
本申请实施例的治具程序获取待测试计算设备的配置文件信息，如果是芯片基本测试的话，则进行板卡芯片个数查找测试，确定板卡有无基本的焊接问题。这一步是维修治具的基本测试方法之一，一般在进行pattern测试之前首先进行本测试。为的是首先排除基本的硬件问题。当进行基本芯片查找测试的情况下，确定处理板中的芯片的基本焊接情况，并将测试结果反馈到本地显示单元上，本芯片基本测试过程不连接生产服务器，并拒绝对EEPROM进行任何的写操作。
步骤207、判断当前测试类似是否为pattern测试，若是则执行步骤206。
步骤208、采用EEPROM里存储的工作电压和工作频率进行pattern测试，测试过程中，不连接生产服务器获取频率运行档位，不从处理板本地配置文件中获取频率运行档位，不上传测试结果，不对EEPROM进行工作点信息更新。
步骤209、测试完成之后，将测试结果反馈到治具LCD上供测试人员参考。
本申请实施例中，如果是计算设备的pattern测试的话，则需要首先读取pattern文件，并且采用EEPROM里存储的工作电压和工作频率进行pattern测试。测试的目的是为了判断当前的处理板是否具备在当前工作点下进行工作的能力。测试过程中，不连接生产服务器获取处理板的档位，不从处理板的本地配置文件中获取档位，不上传测试结果，不对EEPROM进行工作点更新。测试完成之后，将测试结果反馈到治具LCD上供测试人员参考。这是保障维修治具程序安全工作的前提条件。
图3为本申请实施例的计算设备的测试装置的组成结构示意图，如图3所示，本申请实施例的计算设备的测试装置包括：
确定单元30，用于对待测试计算设备进行有效性检查，确定所述待测试计算设备是否有效；
第一获取单元31，用于在所述待测试计算设备有效的情况下，获取所述待测试计算设备中预配置的工作点信息；
第一测试单元32，用于根据所述工作点信息在所述待测试计算设备的本地进行模式pattern测试，且在测试过程中，拒绝连接所述待测试计算设备的生产服务器而获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息，并拒绝对所述待测试计算设备的预配置的工作点信息的更新。
在一些实施例中，所述第一测试单元32，还用于：
在测试过程中，拒绝从所述待测试计算设备的本地配置文件中获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息。
在一些实施例中，在图3所示的计算设备的测试装置的基础上，本申请实施例的计算设备的测试装置还包括：
第二获取单元(图3中未示出)，用于获取针对所述待测试计算设备的pattern测试结果；
所述第一测试单元32，还用于在接收到针对所述pattern测试结果的上传请求的情况下，拒绝所述上传请求。
在一些实施例中，在图3所示的计算设备的测试装置的基础上，本申请实施例的计算设备的测试装置还包括：
输出单元(图3中未示出)，用于在pattern测试完成后，将所述pattern测试结果通过本地显示单元输出。
在一些实施例中，在图3所示的计算设备的测试装置的基础上，本申请实施例的计算设备的测试装置还包括：
第二测试单元(图3中未示出)，用于在当前测试为芯片基本测试的情况下，查找所述待测试计算设备的所有芯片，确定所述芯片的焊接信息。
在一些实施例中，所述工作点信息包括以下至少之一：工作点电压、工作频率。
在示例性实施例中，确定单元30、第一获取单元31、第一测试单元32、第二获取单元、输出单元、第二测试单元等可以被一个或多个中央处理器(CPU，Central ProcessingUnit)、图形处理器(GPU，Graphics Processing Unit)、基带处理器(BP，Base Processor)、应用专用集成电路(ASIC，Application Specific Integrated Circuit)、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、可编程逻辑器件(PLD，Programmable Logic Device)、复杂可编程逻辑器件(CPLD，Complex Programmable Logic Device)、现场可编程门阵列(FPGA，Field-Programmable Gate Array)、通用处理器、控制器、微控制器(MCU，MicroController Unit)、微处理器(Microprocessor)、或其他电子元件实现。
在本公开实施例中，图3示出的计算设备的测试装置中各个单元执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。
图4为本申请实施例的计算设备的测试装置的组成结构示意图，如图4所示，本申请实施例的计算设备的测试装置包括：
确定单元40，用于对待测试计算设备进行有效性检查，确定所述待测试计算设备是否有效；
第一获取单元41，用于在所述待测试计算设备有效的情况下，获取所述待测试计算设备中预配置的工作点信息；
第一测试单元42，用于根据所述工作点信息在所述待测试计算设备的本地进行模式pattern测试，且在测试过程中，拒绝连接所述待测试计算设备的生产服务器而获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息，并拒绝对所述待测试计算设备的预配置的工作点信息的更新。
第二获取单元43，用于获取针对所述待测试计算设备的pattern测试结果；
输出单元44，用于在pattern测试完成后，将所述pattern测试结果通过本地显示单元输出。
第二测试单元45，用于在当前测试为芯片基本测试的情况下，查找所述待测试计算设备的所有芯片，确定所述芯片的焊接信息。
作为一种实现方式，所述第一测试单元42，还用于在接收到针对所述pattern测试结果的上传请求的情况下，拒绝所述上传请求。
在一些实施例中，所述第一测试单元42，还用于：在测试过程中，拒绝从所述待测试计算设备的本地配置文件中获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息。
在一些实施例中，所述工作点信息包括以下至少之一：工作点电压、工作频率。
在示例性实施例中，确定单元40、第一获取单元41、第一测试单元42、第二获取单元43、输出单元44、第二测试单元45等可以被一个或多个中央处理器(CPU，CentralProcessing Unit)、图形处理器(GPU，Graphics Processing Unit)、基带处理器(BP，BaseProcessor)、应用专用集成电路(ASIC，Application Specific Integrated Circuit)、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、可编程逻辑器件(PLD，ProgrammableLogic Device)、复杂可编程逻辑器件(CPLD，Complex Programmable Logic Device)、现场可编程门阵列(FPGA，Field-Programmable Gate Array)、通用处理器、控制器、微控制器(MCU，Micro Controller Unit)、微处理器(Microprocessor)、或其他电子元件实现。
在本公开实施例中，图4示出的计算设备的测试装置中各个单元执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。
图5为本申请实施例的电子设备800的框图，如图5所示，电子设备800支持多屏输出，电子设备800可以包括以下一个或多个组件：处理组件802，存储器804，电源组件806，多媒体组件808，音频组件810，输入/输出(I/O)的接口812，传感器组件814，以及通信组件816。
处理组件802通常控制电子设备800的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件802可以包括一个或多个处理器820来执行指令，以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件802可以包括一个或多个模块，便于处理组件802和其他组件之间的交互。例如，处理组件802可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件808和处理组件802之间的交互。
存储器804被配置为存储各种类型的数据以支持在设备800的操作。这些数据的示例包括用于在电子设备800上操作的任何应用程序或方法的指令，联系人数据，电话簿数据，消息，图片，视频等。存储器804可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。
电源组件806为电子设备800的各种组件提供电力。电力组件806可以包括电源管理系统，一个或多个电源，及其他与为电子设备800生成、管理和分配电力相关联的组件。
多媒体组件808包括在所述电子设备800和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件808包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当设备800处于操作模式，如拍摄模式或视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。
音频组件810被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件810包括一个麦克风(MIC)，当电子设备800处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器804或经由通信组件816发送。在一些实施例中，音频组件810还包括一个扬声器，用于输出音频信号。
I/O接口812为处理组件802和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。
传感器组件814包括一个或多个传感器，用于为电子设备800提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件814可以检测到设备800的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为电子设备800的显示器和小键盘，传感器组件814还可以检测电子设备800或电子设备800一个组件的位置改变，用户与电子设备800接触的存在或不存在，电子设备800方位或加速/减速和电子设备800的温度变化。传感器组件814可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件814还可以包括光传感器，如CMOS或CCD图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件814还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。
通信组件816被配置为便于电子设备800和其他设备之间有线或无线方式的通信。电子设备800可以接入基于通信标准的无线网络，如Wi-Fi，2G或3G，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件816经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件816还包括近场通信(NFC)模块，以促进短程通信。例如，在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术，红外数据协会(IrDA)技术，超宽带(UWB)技术，蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。
在示例性实施例中，电子设备800可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述实施例的所述的计算设备的测试方法的步骤。
在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器804，上述指令可由电子设备800的处理器820执行以完成上述实施例的所述的计算设备的测试方法的步骤。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。
本公开实施例还记载了一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行前述实施例的所述的计算设备的测试方法的步骤。
以上结合具体实施例描述了本申请的基本原理，但是，需要指出的是，在本申请中提及的优点、优势、效果等仅是示例而非限制，不能认为这些优点、优势、效果等是本申请的各个实施例必须具备的。另外，上述公开的具体细节仅是为了示例的作用和便于理解的作用，而非限制，上述细节并不限制本申请为必须采用上述具体的细节来实现。
本申请中涉及的器件、装置、设备、系统的方框图仅作为例示性的例子并且不意图要求或暗示必须按照方框图示出的方式进行连接、布置、配置。如本领域技术人员将认识到的，可以按任意方式连接、布置、配置这些器件、装置、设备、系统。诸如“包括”、“包含”、“具有”等等的词语是开放性词汇，指“包括但不限于”，且可与其互换使用。这里所使用的词汇“或”和“和”指词汇“和/或”，且可与其互换使用，除非上下文明确指示不是如此。这里所使用的词汇“诸如”指词组“如但不限于”，且可与其互换使用。
还需要指出的是，在本申请的装置、设备和方法中，各部件或各步骤是可以分解和/或重新组合的。这些分解和/或重新组合应视为本申请的等效方案。
提供所公开的方面的以上描述以使本领域的任何技术人员能够做出或者使用本申请。对这些方面的各种修改对于本领域技术人员而言是非常显而易见的，并且在此定义的一般原理可以应用于其他方面而不脱离本申请的范围。因此，本申请不意图被限制到在此示出的方面，而是按照与在此公开的原理和新颖的特征一致的最宽范围。
为了例示和描述的目的已经给出了以上描述。此外，此描述不意图将本申请的实施例限制到在此公开的形式。尽管以上已经讨论了多个示例方面和实施例，但是本领域技术人员将认识到其某些变型、修改、改变、添加和子组合。
Claims (14)
1.一种计算设备的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
对待测试计算设备进行有效性检查，确定所述待测试计算设备是否有效；
在所述待测试计算设备有效的情况下，获取所述待测试计算设备中预配置的工作点信息；
根据所述工作点信息在所述待测试计算设备的本地进行模式pattern测试，且在测试过程中，拒绝连接所述待测试计算设备的生产服务器而获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息，并拒绝对所述待测试计算设备的预配置的工作点信息的更新。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
在测试过程中，拒绝从所述待测试计算设备的本地配置文件中获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取针对所述待测试计算设备的pattern测试结果，若接收到针对所述pattern测试结果的上传请求，则拒绝所述上传请求。
4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
在pattern测试完成后，将所述pattern测试结果通过本地显示单元输出。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
在当前测试为芯片基本测试的情况下，则查找所述待测试计算设备的所有芯片，并确定所述芯片的焊接信息。
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述工作点信息包括以下至少之一：工作点电压、工作频率。
7.一种计算设备的测试装置，其特征在于，所述装置包括：
确定单元，用于对待测试计算设备进行有效性检查，确定所述待测试计算设备是否有效；
第一获取单元，用于在所述待测试计算设备有效的情况下，获取所述待测试计算设备中预配置的工作点信息；
第一测试单元，用于根据所述工作点信息在所述待测试计算设备的本地进行模式pattern测试，且在测试过程中，拒绝连接所述待测试计算设备的生产服务器而获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息，并拒绝对所述待测试计算设备的预配置的工作点信息的更新。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一测试单元，还用于：
在测试过程中，拒绝从所述待测试计算设备的本地配置文件中获取所述待测试计算设备的频率运行档位信息。
9.根据权利要求7或8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
第二获取单元，用于获取针对所述待测试计算设备的pattern测试结果；
所述第一测试单元，还用于在接收到针对所述pattern测试结果的上传请求的情况下，拒绝所述上传请求。
10.根据权利要求7或8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
输出单元，用于在pattern测试完成后，将所述pattern测试结果通过本地显示单元输出。
11.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
第二测试单元，用于在当前测试为芯片基本测试的情况下，查找所述待测试计算设备的所有芯片，确定所述芯片的焊接信息。
12.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述工作点信息包括以下至少之一：工作点电压、工作频率。
13.一种电子设备，包括处理器和用于存储处理器可执行指令的存储器，其特征在于，所述处理器被配置为在调用存储器中的可执行指令时，能够执行如权利要求1至6任一项所述的计算设备的测试方法的步骤。
14.一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行如权利要求1至6任一项所述的计算设备的测试方法的步骤。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202211105441.9A CN116302726A (zh) | 2022-09-09 | 2022-09-09 | 计算设备的测试方法及装置、电子设备、存储介质 |
| PCT/CN2023/113300 WO2024051457A1 (zh) | 2022-09-09 | 2023-08-16 | 计算设备的测试方法及装置、电子设备、存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202211105441.9A CN116302726A (zh) | 2022-09-09 | 2022-09-09 | 计算设备的测试方法及装置、电子设备、存储介质 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116302726A true CN116302726A (zh) | 2023-06-23 |
Family
ID=86789338
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202211105441.9A Pending CN116302726A (zh) | 2022-09-09 | 2022-09-09 | 计算设备的测试方法及装置、电子设备、存储介质 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116302726A (zh) |
| WO (1) | WO2024051457A1 (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2024051457A1 (zh) * | 2022-09-09 | 2024-03-14 | 北京比特大陆科技有限公司 | 计算设备的测试方法及装置、电子设备、存储介质 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005250531A (ja) * | 2004-03-01 | 2005-09-15 | Hitachi Ltd | コンピュータ装置の検査方法及び装置 |
| CN102279781B (zh) * | 2010-06-08 | 2013-12-25 | 联想(北京)有限公司 | 一种检测计算机芯片稳定性的方法、检测装置和计算机 |
| TWI539175B (zh) * | 2014-04-14 | 2016-06-21 | 呂俊毅 | 測試裝置以及測試系統 |
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| CN111475364A (zh) * | 2020-05-27 | 2020-07-31 | 中电海康无锡科技有限公司 | 一种片上系统芯片的测试方法及系统 |
| CN112612664B (zh) * | 2020-12-24 | 2024-04-02 | 百度在线网络技术（北京）有限公司 | 电子设备的测试方法、装置、电子设备和存储介质 |
| CN114220472A (zh) * | 2021-12-15 | 2022-03-22 | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 | 一种基于SOC通用测试平台的Nand Flash测试方法 |
| CN116302726A (zh) * | 2022-09-09 | 2023-06-23 | 北京比特大陆科技有限公司 | 计算设备的测试方法及装置、电子设备、存储介质 |
-
2022
- 2022-09-09 CN CN202211105441.9A patent/CN116302726A/zh active Pending
-
2023
- 2023-08-16 WO PCT/CN2023/113300 patent/WO2024051457A1/zh unknown
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|---|---|---|---|---|
| WO2024051457A1 (zh) * | 2022-09-09 | 2024-03-14 | 北京比特大陆科技有限公司 | 计算设备的测试方法及装置、电子设备、存储介质 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2024051457A1 (zh) | 2024-03-14 |
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