CN116295172A - 膜电极生产线的检测方法、系统、终端设备以及存储介质 - Google Patents

膜电极生产线的检测方法、系统、终端设备以及存储介质 Download PDF

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CN116295172A CN202310541648.9A CN202310541648A CN116295172A CN 116295172 A CN116295172 A CN 116295172A CN 202310541648 A CN202310541648 A CN 202310541648A CN 116295172 A CN116295172 A CN 116295172A
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Abstract

本申请适用于智能控制的技术领域，提供了一种膜电极生产线的检测方法、系统、终端设备以及存储介质，其方法应用于膜电极生产线，膜电极生产线包括多个生产设备，包括获取第一设备针对目标物料反馈的第一实际尺寸值和第二设备针对目标物料反馈的第二实际尺寸值；根据第一实际尺寸值和第二实际尺寸值生成偏差波动值；比对偏差波动值与预设的偏差阈值；若偏差波动值大于或等于偏差阈值，则标记第一设备和第二设备为重点检测设备。本申请能够有利于生产人员在众多生产设备中影响产品质量相关性最高生产设备，便于生产人员得知目标物料在膜电极生产线中各个生产节点的偏差趋势和具体偏差情况，有利于对膜电极生产线进行针对性改进。

Description

膜电极生产线的检测方法、系统、终端设备以及存储介质
技术领域
本申请涉及智能控制的技术领域，具体而言，涉及一种膜电极生产线的检测方法、系统、终端设备以及存储介质。
背景技术
燃料电池是一种高效并且环保的能量转化装置，可以广泛地应用于交通运输行业，而膜电极是燃料电池的核心组件之一，膜电极的成品质量会直接影响燃料电池的性能。
目前，在膜电极的批量生产过程中，通常只在膜电极生产线的最末端对膜电极的成品质量进行检测，不能得知膜电极具体在膜电极生产线中的哪个生产节点出现异常情况，存在不利于对膜电极生产线进行针对性改进的问题，有待进一步改进。
发明内容
基于此，本申请实施例提供了一种膜电极生产线的检测方法、系统、终端设备以及存储介质，以解决现有技术中不利于对膜电极生产线进行针对性改进的问题。
第一方面，本申请实施例提供了一种膜电极生产线的检测方法，应用于膜电极生产线，所述膜电极生产线包括多个生产设备，所述方法包括：
获取第一设备针对目标物料反馈的第一实际尺寸值和第二设备针对所述目标物料反馈的第二实际尺寸值，其中，所述第一设备为除位于最末端的生产设备外的任意一个所述生产设备，所述第二设备为另一个所述生产设备，所述第二设备在所述膜电极生产线中的位置与所述第一设备在所述膜电极生产线中的位置相邻，所述第二设备相较于所述第一设备更靠近所述最末端的生产设备；
根据所述第一实际尺寸值和所述第二实际尺寸值生成偏差波动值；
比对所述偏差波动值与预设的偏差阈值；
若所述偏差波动值大于或等于所述偏差阈值，则标记所述第一设备和所述第二设备为重点检测设备。
与现有技术相比存在的有益效果是：本申请实施例提供的膜电极生产线的检测方法，终端设备可以先获取第一设备针对目标物料反馈的第一实际尺寸值和第二设备针对目标物料反馈的第二实际尺寸值，然后根据第一实际尺寸值和第二实际尺寸值生成偏差波动值，再比对偏差波动值与预设的偏差阈值，如果偏差波动值大于或等于偏差阈值，则标记第一设备和第二设备为重点检测设备，从而有利于生产人员从众多生产设备中高效地确定出与影响产品质量相关性最高的生产设备，便于生产人员得知目标物料在膜电极生产线中各个生产节点的偏差趋势和具体偏差情况，有利于对膜电极生产线进行针对性改进，在一定程度上解决了当前不利于对膜电极生产线进行针对性改进的问题。
第二方面，本申请实施例提供了一种膜电极生产线的检测系统，应用于膜电极生产线，所述膜电极生产线包括多个生产设备，所述系统包括：
实际尺寸值获取模块：用于获取第一设备的第一实际尺寸值和第二设备的第二实际尺寸值，其中，所述第一设备为除位于最末端的生产设备外的任意一个所述生产设备，所述第二设备为另一个所述生产设备，所述第二设备在所述膜电极生产线中的位置与所述第一设备在所述膜电极生产线中的位置相邻，所述第二设备相较于所述第一设备更靠近所述最末端的生产设备；
偏差波动值生成模块：用于根据所述第一实际尺寸值和所述第二实际尺寸值生成偏差波动值；
偏差阈值比对模块：用于比对所述偏差波动值与预设的偏差阈值；
重点检测设备标记模块：用于若所述偏差波动值大于或等于所述偏差阈值，则标记所述第一设备和所述第二设备为重点检测设备。
第三方面，本申请实施例提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述第一方面的方法的步骤。
第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面的方法的步骤。
可以理解的是，上述第二方面至第四方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
图1是本申请一实施例提供的检测方法的流程示意图；
图2是本申请一实施例提供的膜电极生产线的示意图；
图3是本申请一实施例提供的检测方法中步骤S210的流程示意图；
图4是本申请一实施例提供的检测方法中步骤S510的流程示意图；
图5是本申请一实施例提供的检测方法中步骤S610的流程示意图；
图6是本申请一实施例提供的检测方法中步骤S621的流程示意图；
图7是本申请一实施例提供的检测系统的模块框图；
图8是本申请一实施例提供的终端设备的示意图。
具体实施方式
以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
在本申请说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本申请说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本申请的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。
为了说明本申请所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。
请参阅图1，图1是本申请实施例提供的膜电极生产线的检测方法的流程示意图。在本实施例中，检测方法的执行主体为终端设备。可以理解的是，终端设备的类型包括但不限于手机、平板电脑、笔记本电脑、超级移动个人计算机(ultra-mobile personalcomputer，UMPC)、上网本、个人数字助理(personal digital assistant，PDA)等，本申请实施例对终端设备的具体类型不作任何限制。
请参阅图1，本申请实施例提供的检测方法包括但不限于以下步骤：
在S100中，获取第一设备针对目标物料反馈的第一实际尺寸值和第二设备针对目标物料反馈的第二实际尺寸值。
不失一般性地，本申请实施例可以应用于膜电极生产线，譬如：膜电极组件(Membrane Electrode Assembly，MEA)全自动封装检测线，该种膜电极生产线可以以自动流水线的形式实现从燃料电池芯片(Catalyst Coated Membrane，CCM)的裁切到膜电极组件成品的包装下线；其中，膜电极生产线包括多个生产设备,譬如五合一贴合设备、七合一贴合设备和膜电极组件成品检测机。
示例性地，第一设备为除位于最末端的生产设备外的任意一个生产设备，第二设备为另一个生产设备,第二设备在膜电极生产线中的位置与第一设备在膜电极生产线中的位置相邻，第二设备相较于第一设备更靠近最末端的生产设备；为了便于理解本申请实施例，请参阅图2，图2中带有字母“A”、“B”、“C”、“D”或“E”的矩形均表示生产设备，图2中有字母“B”的矩形表示第一设备，图2中与第一设备相邻且带有字母“C”的矩形表示第二设备,图2中的膜电极生产线的生产顺序从“A”到“E”，目标物料按照生产顺序通过各个生产设备。需要说明的是，图2中生产设备的数量仅作示例而为五个，具体的生产设备的数量不作限定，在其他一些可能的实现方式中，生产设备的数量可以是大于或等于二的正整数。
具体来说，各个生产设备可以均预先安装有非接触式尺寸测量传感器，在第一设备对目标物料进行加工处理之后，第一设备可以通过对应的非接触式尺寸测量传感器确定目标物料的第一实际尺寸值；在第二设备对目标物料进行加工处理之后，第二设备可以通过对应的非接触式尺寸测量传感器确定目标物料的第二实际尺寸值，然后终端设备可以获取第一设备针对目标物料反馈的第一实际尺寸值，同时获取第二设备针对目标物料反馈的第二实际尺寸值。
在S200中，根据第一实际尺寸值和第二实际尺寸值生成偏差波动值。
具体来说，在终端设备获取第一实际尺寸值和第二实际尺寸值之后，终端设备可以根据第一实际尺寸值和第二实际尺寸值生成偏差波动值，从而提供一个可以量化局部生产线生产偏差的参考量。
在一些可能的实现方式中，为了提高偏差波动值的准确性和有效性，请参阅图3，步骤S200包括但不限于以下步骤：
在S210中，获取第一设备对应的第一允许偏差范围信息和第二设备对应的第二允许偏差范围信息。
具体来说，第一允许偏差范围信息用于描述目标物料在第一设备中的允许偏差范围，譬如
Figure SMS_1
，第二允许偏差范围信息用于描述目标物料在第二设备中的允许偏差范围，譬如/>
Figure SMS_2
；每个生产设备对应的允许偏差范围信息均可以在膜电极生产线运作前由生产人员人工输入；终端设备可以获取预设于第一设备中的第一允许偏差范围信息和预设于第二设备中的第二允许偏差范围信息。
在S220中，比对第一实际尺寸值和第一允许偏差范围信息。
具体来说，在终端设备获取第一允许偏差范围信息之后，终端设备可以比对第一实际尺寸值和第一允许偏差范围信息，从而确定出一个第一设备对应的实际生产偏差值。
在S230中，若第一实际尺寸值大于第一允许偏差范围信息，或第一实际尺寸值小于第一允许偏差范围信息，则输入第一实际尺寸值和第一允许偏差范围信息至预设的偏差值计算公式中，确定目标物料的第一偏差值。
具体来说，如果第一实际尺寸值大于第一允许偏差范围信息的最大值，或者第一实际尺寸值小于第一允许偏差范围信息的最小值，则终端设备可以输入第一实际尺寸值和第一允许偏差范围信息至预设的偏差值计算公式中，从而精准确定出目标物料的第一偏差值，即上述第一设备对应的实际生产偏差值。
在一些可能的实现方式中，为了有利于提高偏差值的有效性和针对性，上述偏差值计算公式可以为：
Figure SMS_3
,
式中，
Figure SMS_10
表示偏差值，偏差值越大，表示第一实际尺寸值越偏离允许偏差范围；
Figure SMS_6
表示目标物料在第/>
Figure SMS_11
个设备中的实际尺寸值，譬如当第/>
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个设备具体为第一设备时，
Figure SMS_9
，当第/>
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个设备具体为第二设备时，/>
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；/>
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表示预设的第一权重分值；/>
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表示目标物料在第/>
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个设备中的允许偏差范围信息的最大值，譬如当允许偏差范围信息为/>
Figure SMS_8
至/>
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时，/>
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；/>
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表示预设的第二权重分值；/>
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表示目标物料在第/>
Figure SMS_5
个设备中的理论尺寸值，即不带生产偏差的理论正确尺寸。
在S240中，比对第二实际尺寸值和第二允许偏差范围信息。
具体来说，在终端设备获取第二允许偏差范围信息之后，终端设备可以比对第二实际尺寸值和第二允许偏差范围信息，从而确定出一个第二设备对应的实际生产偏差值。
在S250中，若第二实际尺寸值大于第二允许偏差范围信息，或第二实际尺寸值小于第二允许偏差范围信息，则输入第二实际尺寸值和第二允许偏差范围信息至预设的偏差值计算公式中，确定目标物料的第二偏差值。
具体来说，如果第二实际尺寸值大于第二允许偏差范围信息的最大值，或者第二实际尺寸值小于第二允许偏差范围信息的最小值，则终端设备可以输入第二实际尺寸值和第二允许偏差范围信息至上述偏差值计算公式中，从而精准确定出目标物料的第二偏差值，即上述第二设备对应的实际生产偏差值。
在S260中，根据第一偏差值与第二偏差值的相差值之间的相差值生成偏差波动值。
具体来说，在终端设备确定目标物料的第二偏差值之后，终端设备可以根据第一偏差值与第二偏差值之间的相差值生成偏差波动值。
在S300中，比对偏差波动值与预设的偏差阈值。
具体来说，在终端设备生成偏差波动值之后，终端设备可以比对偏差波动值与预设的偏差阈值，该偏差阈值可以根据实际生产要求进行取值。
在S400中，若偏差波动值大于或等于偏差阈值，则标记第一设备和第二设备为重点检测设备。
具体来说，如果偏差波动值大于或等于偏差阈值，则终端设备可以标记第一设备和第二设备为重点检测设备，从而实现追溯产品质量在膜电极生产线中由合格变为不合格的具体节点，有利于生产人员在膜电极生产线的众多生产设备中针对重点检测设备进行检测与改进，缩短修护周期以及提高改进效率。
在一些可能的实现方式中，为了有利于生产人员对膜电极生产线进行针对性改进，请参阅图4，在步骤S400之后，该方法还包括但不限于以下步骤：
在S510中，若偏差波动值大于或等于偏差阈值，则生成第一报警指令和第二报警指令。
具体来说，多个生产设备均可以预设有报警器，譬如产品型号为HU-12085-W的蜂鸣器；如果偏差波动值大于或等于偏差阈值，则终端设备可以生成第一报警指令和第二报警指令，第一报警指令用于启动第一设备对应的第一报警器，第二报警指令用于启动第二设备对应的第二报警器。
在S520中，根据第一报警指令触发第一设备对应的第一报警器进行报警。
具体来说，在终端设备生成第一报警指令之后，终端设备可以根据第一报警指令触发第一设备对应的第一报警器以进行报警，从而有利于生产人员在众多生产设备中确定第一设备，满足实际生产需求。
在S530中，根据第二报警指令触发第二设备对应的第二报警器进行报警。
具体来说，在终端设备生成第二报警指令之后，终端设备可以根据第二报警指令触发第二设备对应的第二报警器以进行报警，从而有利于生产人员在众多生产设备中确定第二设备，符合实际生产环境的需求。
在一些可能的实现方式中，为了有利于结合大数据管理膜电极生产线，请参阅图5，在步骤S400之后，该方法还包括但不限于以下步骤：
在S610中，针对膜电极生产线中至少四个连续的生产设备：根据多个偏差波动值生成波动趋势信息。
具体来说，终端设备可以针对膜电极生产线中至少四个连续的生产设备执行该操作：根据多个偏差波动值生成波动趋势信息；示例性地，请参阅图2，终端设备可以针对图2中前四个生产设备执行步骤S610，即针对带有字母“A”、“B”、“C”和“D”这四个矩形对应的生产设备执行步骤S610，由于字母“A”的生产设备和字母“B”的生产设备之间对应一个第一偏差波动值，字母“B”的生产设备和字母“C”的生产设备之间对应一个第二偏差波动值，字母“C”的生产设备和字母“D”的生产设备之间对应一个第三偏差波动值，终端设备可以根据第一偏差波动值、第二偏差波动值和第三偏差波动值生成波动趋势信息，其中，波动趋势信息包括上升趋势信息或下降趋势信息，譬如当第二偏差波动值大于第一偏差波动值且第三偏差波动值大于第二偏差波动值时，波动趋势信息为上升趋势信息；当第一偏差波动值大于第二偏差波动值且第二偏差波动值大于第三偏差波动值时，波动趋势信息为下降趋势信息。
在S620中，若波动趋势信息为上升趋势信息，则生成检测预警信息。
具体来说，如果波动趋势信息为上升趋势信息，则终端设备可以生成检测预警信息，从而有利于生产人员得知生产偏差逐渐增大，存在影响产品质量的隐患，可以选择对存在隐患的生产设备进行维护或检修。
在S630中，若波动趋势信息为下降趋势信息，则生成检测安全信息。
具体来说，如果波动趋势信息为下降趋势信息，则终端设备可以生成检测安全信息，从而有利于生产人员得知生产偏差逐渐减小，存在影响产品质量的隐患的可能性较低。
在S640中，发送检测预警信息或检测安全信息至指定的云端服务器。
具体来说，在终端设备生成检测预警信息或检测安全信息之后，终端设备可以发送检测预警信息或检测安全信息至指定的云端服务器，从而提高数据的鲁棒性。
在一些可能的实现方式中，为了进一步有利于在众多生产设备中对膜电极生产线进行针对性改进，请参阅图6，在步骤S620之后，该方法还包括但不限于以下步骤：
在S621中，根据检测预警信息生成第一预警指令。
具体来说，各个生产设备均预设有第一预警灯和第二预警灯，第一预警灯的灯光颜色可以是黄色，第二预警灯的灯光颜色可以是红色；终端设备可以根据检测预警信息生成第一预警指令，第一预警指令用于控制第一预警灯。
在S622中，根据第一预警指令控制第一预警灯进行闪烁。
具体来说，在终端设备生成第一预警指令之后，终端设备可以根据第一预警指令控制第一预警灯进行闪烁，从而有利于生产人员在众多生产设备中根据第一预警灯是否闪烁便可确定任意一个生产设备的具体情况，有利于对膜电极生产线进行针对性改进。
在S623中，若生产设备已被标记为重点检测设备，则生成第二预警指令。
具体来说，如果生产设备已经被标记为重点检测设备，则终端设备可以生成第二预警指令，第二预警指令用于控制第二预警灯。
在S624中，根据第二预警指令控制第二预警灯进行闪烁。
具体来说，在终端设备生成第二预警指令之后，终端设备可以根据第二预警指令控制第二预警灯进行闪烁，从而进一步有利于生产人员在众多生产设备中根据第二预警灯是否闪烁便可确定任意一个生产设备的具体情况，进一步有利于对膜电极生产线进行针对性改进。
本申请实施例膜电极生产线的检测方法的实施原理为：终端设备可以先获取目标物料的第一实际尺寸值和第二实际尺寸值，然后根据第一实际尺寸值、第二实际尺寸值、第一允许偏差范围信息、第二允许偏差范围信息和预设的偏差值计算公式生成偏差波动值，再比对偏差波动值与预设的偏差阈值，如果偏差波动值大于或等于偏差阈值，则标记第一设备和第二设备为重点检测设备，从而有利于生产人员从膜电极生产线的众多生产设备中，直观地得知与影响产品质量相关性最高的生产设备，便于生产人员得知目标物料在膜电极生产线中各个生产节点的偏差趋势和具体偏差情况，有利于对膜电极生产线进行针对性改进。
需要说明的是，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
本申请的实施例还提供了一种膜电极生产线的检测系统，为便于说明，仅示出与本申请相关的部分，如图7所示，该系统70应用于膜电极生产线，膜电极生产线包括多个生产设备，包括：
实际尺寸值获取模块71：用于获取第一设备针对目标物料反馈的第一实际尺寸值和第二设备针对目标物料反馈的第二实际尺寸值，其中，第一设备为除位于最末端的生产设备外的任意一个生产设备，第二设备为另一个生产设备，第二设备在膜电极生产线中的位置与第一设备在膜电极生产线中的位置相邻，第二设备相较于第一设备更靠近最末端的生产设备；
偏差波动值生成模块72：用于根据第一实际尺寸值和第二实际尺寸值生成偏差波动值；
偏差阈值比对模块73：用于比对偏差波动值与预设的偏差阈值；
重点检测设备标记模块74：用于若偏差波动值大于或等于偏差阈值，则标记第一设备和第二设备为重点检测设备。
可选的，上述偏差波动值生成模块72包括：
允许偏差范围信息获取子模块：用于获取第一设备对应的第一允许偏差范围信息和第二设备对应的第二允许偏差范围信息，其中，第一允许偏差范围信息用于描述目标物料在第一设备中的允许偏差范围，第二允许偏差范围信息用于描述目标物料在第二设备中的允许偏差范围；
第一比对子模块：用于比对第一实际尺寸值和第一允许偏差范围信息；
第一偏差值确定子模块：用于若第一实际尺寸值大于第一允许偏差范围信息，或第一实际尺寸值小于第一允许偏差范围信息，则输入第一实际尺寸值和第一允许偏差范围信息至预设的偏差值计算公式中，确定目标物料的第一偏差值；
第二比对子模块：用于比对第二实际尺寸值和第二允许偏差范围信息；
第二偏差值确定子模块：用于若第二实际尺寸值大于第二允许偏差范围信息，或第二实际尺寸值小于第二允许偏差范围信息，则输入第二实际尺寸值和第二允许偏差范围信息至预设的偏差值计算公式中，确定目标物料的第二偏差值；
偏差波动值生成子模块：用于根据第一偏差值与第二偏差值之间的相差值生成偏差波动值。
可选的，上述偏差值计算公式为：
Figure SMS_20
,
式中，
Figure SMS_22
为偏差值；/>
Figure SMS_25
为目标物料在第/>
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个设备中的实际尺寸值；/>
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为预设的第一权重分值；/>
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为目标物料在第/>
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个设备中的允许偏差范围信息的最大值；/>
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为预设的第二权重分值；/>
Figure SMS_21
为目标物料在第/>
Figure SMS_26
个设备中的理论尺寸值。
可选的，多个生产设备均预设有报警器；该系统70还包括：
报警指令生成模块：用于若偏差波动值大于或等于偏差阈值，则生成第一报警指令和第二报警指令；
第一报警模块：用于根据第一报警指令触发第一设备对应的第一报警器进行报警；
第二报警模块：用于根据第二报警指令触发第二设备对应的第二报警器进行报警。
可选的，该系统70还包括：
波动趋势信息生成模块：用于针对膜电极生产线中至少四个连续的生产设备：根据多个偏差波动值生成波动趋势信息，其中，波动趋势信息包括上升趋势信息或下降趋势信息；
检测预警信息生成模块：用于若波动趋势信息为上升趋势信息，则生成检测预警信息；
检测安全信息生成模块：用于若波动趋势信息为下降趋势信息，则生成检测安全信息；
上传模块：用于发送检测预警信息或检测安全信息至指定的云端服务器。
可选的，各个生产设备均预设有第一预警灯和第二预警灯；该系统70还包括：
第一预警指令生成模块：用于根据检测预警信息生成第一预警指令；
第一闪烁模块：用于根据第一预警指令控制第一预警灯进行闪烁；
第二预警指令生成模块：用于若生产设备已被标记为重点检测设备，则生成第二预警指令；
第二闪烁模块：用于根据第二预警指令控制第二预警灯进行闪烁。
需要说明的是，上述模块之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本申请方法实施例基于同一构思，其具体功能及带来的技术效果，具体可参见方法实施例部分，此处不再赘述。
本申请实施例还提供了一种终端设备，如图8所示，该实施例的终端设备80包括：处理器81、存储器82以及存储在存储器82中并可在处理器81上运行的计算机程序83。处理器81执行计算机程序83时实现上述流量处理方法实施例中的步骤，例如图1所示的步骤S100至S400；或者，处理器81执行计算机程序83时实现上述装置中各模块的功能，例如图7所示模块71至74的功能。
该终端设备80可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备，该终端设备80包括但不仅限于处理器81、存储器82。本领域技术人员可以理解，图8仅仅是终端设备80的示例，并不构成对终端设备80的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如终端设备80还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
其中，处理器81可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其它通用处理器、数字信号处理器 (Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路（Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA) 或者其它可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等；通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
存储器82可以是终端设备80的内部存储单元，例如终端设备80的硬盘或内存，存储器82也可以是终端设备80的外部存储设备，例如终端设备80上配备的插接式硬盘，智能存储卡（Smart Media Card,SMC），安全数字（Secure Digital，SD）卡，闪存卡（Flash Card）等；进一步地，存储器82还可以既包括终端设备80的内部存储单元也包括外部存储设备，存储器82还可以存储计算机程序83以及终端设备80所需的其它程序和数据，存储器82还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
本申请的一个实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该存储介质存储有计算机程序，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，计算机程序包括计算机程序代码，计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等；计算机可读介质可以包括：能够携带计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器（Read-OnlyMemory，ROM）、随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。
以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的方法、原理、结构所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种膜电极生产线的检测方法，应用于膜电极生产线，所述膜电极生产线包括多个生产设备，其特征在于，所述方法包括：
获取第一设备针对目标物料反馈的第一实际尺寸值和第二设备针对所述目标物料反馈的第二实际尺寸值，其中，所述第一设备为除位于最末端的生产设备外的任意一个所述生产设备，所述第二设备为另一个所述生产设备，所述第二设备在所述膜电极生产线中的位置与所述第一设备在所述膜电极生产线中的位置相邻，所述第二设备相较于所述第一设备更靠近所述最末端的生产设备；
根据所述第一实际尺寸值和所述第二实际尺寸值生成偏差波动值；
比对所述偏差波动值与预设的偏差阈值；
若所述偏差波动值大于或等于所述偏差阈值，则标记所述第一设备和所述第二设备为重点检测设备；
其中，所述根据所述第一实际尺寸值和所述第二实际尺寸值生成偏差波动值，包括：
获取所述第一设备对应的第一允许偏差范围信息和所述第二设备对应的第二允许偏差范围信息，其中，所述第一允许偏差范围信息用于描述所述目标物料在所述第一设备中的允许偏差范围，所述第二允许偏差范围信息用于描述所述目标物料在所述第二设备中的允许偏差范围；
比对所述第一实际尺寸值和所述第一允许偏差范围信息；
若所述第一实际尺寸值大于所述第一允许偏差范围信息，或所述第一实际尺寸值小于所述第一允许偏差范围信息，则输入所述第一实际尺寸值和所述第一允许偏差范围信息至预设的偏差值计算公式中，确定所述目标物料的第一偏差值；
比对所述第二实际尺寸值和所述第二允许偏差范围信息；
若所述第二实际尺寸值大于所述第二允许偏差范围信息，或所述第二实际尺寸值小于所述第二允许偏差范围信息，则输入所述第二实际尺寸值和所述第二允许偏差范围信息至预设的偏差值计算公式中，确定所述目标物料的第二偏差值；
根据所述第一偏差值与所述第二偏差值之间的相差值生成偏差波动值。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述偏差值计算公式为：
Figure QLYQS_1
,
式中，
Figure QLYQS_4
为所述偏差值；/>
Figure QLYQS_5
为所述目标物料在第/>
Figure QLYQS_9
个设备中的实际尺寸值；/>
Figure QLYQS_2
为预设的第一权重分值；/>
Figure QLYQS_6
为所述目标物料在第/>
Figure QLYQS_8
个设备中的允许偏差范围信息的最大值；/>
Figure QLYQS_10
为预设的第二权重分值；/>
Figure QLYQS_3
为所述目标物料在第/>
Figure QLYQS_7
个设备中的理论尺寸值。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个生产设备均预设有报警器；在所述若所述偏差波动值大于或等于所述偏差阈值，则标记所述第一设备和所述第二设备为重点检测设备之后，所述方法还包括：
若所述偏差波动值大于或等于所述偏差阈值，则生成第一报警指令和第二报警指令；
根据所述第一报警指令触发所述第一设备对应的第一报警器进行报警；
根据所述第二报警指令触发所述第二设备对应的第二报警器进行报警。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述若所述偏差波动值大于或等于所述偏差阈值，则标记所述第一设备和所述第二设备为重点检测设备之后，所述方法还包括：
针对所述膜电极生产线中至少四个连续的所述生产设备：
根据多个所述偏差波动值生成波动趋势信息，其中，所述波动趋势信息包括上升趋势信息或下降趋势信息；
若所述波动趋势信息为所述上升趋势信息，则生成检测预警信息；
若所述波动趋势信息为所述下降趋势信息，则生成检测安全信息；
发送所述检测预警信息或所述检测安全信息至指定的云端服务器。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，各个所述生产设备均预设有第一预警灯和第二预警灯；在所述若所述波动趋势信息为所述上升趋势信息，则生成检测预警信息之后，所述方法还包括：
根据所述检测预警信息生成第一预警指令；
根据所述第一预警指令控制所述第一预警灯进行闪烁；
若所述生产设备已被标记为所述重点检测设备，则生成第二预警指令；
根据所述第二预警指令控制所述第二预警灯进行闪烁。
6.一种膜电极生产线的检测系统，应用于膜电极生产线，所述膜电极生产线包括多个生产设备，其特征在于，所述系统包括：
实际尺寸值获取模块：用于获取第一设备针对目标物料反馈的第一实际尺寸值和第二设备针对所述目标物料反馈的第二实际尺寸值，其中，所述第一设备为除位于最末端的生产设备外的任意一个所述生产设备，所述第二设备为另一个所述生产设备，所述第二设备在所述膜电极生产线中的位置与所述第一设备在所述膜电极生产线中的位置相邻，所述第二设备相较于所述第一设备更靠近所述最末端的生产设备；
偏差波动值生成模块：用于根据所述第一实际尺寸值和所述第二实际尺寸值生成偏差波动值；
偏差阈值比对模块：用于比对所述偏差波动值与预设的偏差阈值；
重点检测设备标记模块：用于若所述偏差波动值大于或等于所述偏差阈值，则标记所述第一设备和所述第二设备为重点检测设备；
其中，所述偏差波动值生成模块包括：
允许偏差范围信息获取子模块：用于获取所述第一设备对应的第一允许偏差范围信息和所述第二设备对应的第二允许偏差范围信息，其中，所述第一允许偏差范围信息用于描述所述目标物料在所述第一设备中的允许偏差范围，所述第二允许偏差范围信息用于描述所述目标物料在所述第二设备中的允许偏差范围；
第一比对子模块：用于比对所述第一实际尺寸值和所述第一允许偏差范围信息；
第一偏差值确定子模块：用于若所述第一实际尺寸值大于所述第一允许偏差范围信息，或所述第一实际尺寸值小于所述第一允许偏差范围信息，则输入所述第一实际尺寸值和所述第一允许偏差范围信息至预设的偏差值计算公式中，确定所述目标物料的第一偏差值；
第二比对子模块：用于比对所述第二实际尺寸值和所述第二允许偏差范围信息；
第二偏差值确定子模块：用于若所述第二实际尺寸值大于所述第二允许偏差范围信息，或所述第二实际尺寸值小于所述第二允许偏差范围信息，则输入所述第二实际尺寸值和所述第二允许偏差范围信息至预设的偏差值计算公式中，确定所述目标物料的第二偏差值；
偏差波动值生成子模块：用于根据所述第一偏差值与所述第二偏差值之间的相差值生成偏差波动值。
7.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任一项所述方法的步骤。
8.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述方法的步骤。
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