CN116242414B - 响应时间检测系统及检测设备 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种响应时间检测系统及检测设备，其中，响应时间检测系统包括待测仪器模块根据测试控制信号发出待测信号至信号影响模块，并结合信号影响模块的反馈信号确定间隔时间发送至计时控制模块；信号影响模块根据影响控制信号工作对待测信号进行影响处理，并生成反馈信号；计时控制模块发出测试控制信号和影响控制信号，并根据间隔时间确定待测仪器的响应时间。本申请通过待测仪器模块发出待测信号和接收反馈信号以确定间隔时间，信号影响模块对待测信号进行影响处理得到反馈信号，计时控制模块根据间隔时间确定待测仪器的响应时间，整个响应时间检测系统结构简单、成本较低，可以适用于大多数光电传感器的制造厂商。

Description

响应时间检测系统及检测设备

技术领域

本申请属于响应时间检测技术领域，尤其涉及一种响应时间检测系统及检测设备。

背景技术

在光电传感器的制造过程中，往往需要对光电传感器的响应时间进行检测。响应时间即为光电传感器从发出光线到接收光线的这段时间，通过检测光电传感器的响应时间可以判断光电传感器的响应速度和稳定性，从而为光电传感器的制造和研发提供重要的参考依据。

现有光电传感器在制造过程中，一般采用专门的测试设备对响应时间进行检测，但是该响应时间的测试设备往往内部结构复杂、设备成本较高，并不适用于大多数光电传感器的制造厂商。

发明内容

本申请的目的在于提供一种响应时间检测系统及检测设备，旨在解决传统响应时间检测设备内部结构复杂、设备成本较高的问题。

为了实现上述目的，第一方面，本申请实施例提供了一种响应时间检测系统，包括待测仪器模块、信号影响模块和计时控制模块；

所述待测仪器模块与所述信号影响模块设置于同一水平线，所述计时控制模块分别与所述待测仪器模块和所述信号影响模块电连接；

所述待测仪器模块，被配置为根据测试控制信号发出待测信号至所述信号影响模块，并结合所述信号影响模块的反馈信号确定间隔时间发送至所述计时控制模块；

所述信号影响模块，被配置为根据影响控制信号工作对所述待测信号进行影响处理，并生成所述反馈信号发送至所述待测仪器模块；

所述计时控制模块，被配置为发出测试控制信号至所述待测仪器模块，发出所述影响控制信号至所述信号影响模块，并根据所述间隔时间确定所述待测仪器的响应时间。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述待测仪器模块包括支撑架、移动测试架和待测仪器；

所述支撑架上设有多个距离所述信号影响模块不同位置的安装孔，所述移动测试架可拆卸地安装于所述支撑架的安装孔，所述待测仪器固定于所述移动测试架。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述信号影响模块包括电机和测试圆盘；

所述测试圆盘安装于所述电机的转动部分，所述测试圆盘与所述待测仪器模块设置于同一水平线。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述测试圆盘包括颜色测试盘，所述颜色测试盘内设有多个第一同心圆环，每个所述第一同心圆环内间隔设有多种颜色。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述测试圆盘包括镂空测试盘，所述镂空测试盘设有多个第二同心圆环，每个所述第二同心圆环内间隔设有多个镂空孔。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述计时控制模块包括电机控制单元、计数单元和主控单元；

所述主控单元分别与所述电机控制单元和所述计数单元电连接；

所述电机控制单元，被配置为生成影响控制信号至所述信号影响模块，以使所述信号影响模块工作；

所述计数单元，被配置为生成测试控制信号至所述待测仪器模块，以使所述待测仪器模块确定所述间隔时间；

所述主控单元，被配置为根据所述间隔时间确定所述待测仪器的响应时间。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述主控单元包括第一芯片和第一开关；

所述第一芯片的开关接入引脚与所述第一开关的一端电连接，所述第一芯片的数据输入引脚、数据输出引脚、时钟引脚和计数引脚均与所述计数单元电连接，所述第一芯片的电源引脚与所述电机控制单元电连接。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述电机控制单元包括电机接口、第二开关、第三开关和第二电阻；

所述电机接口的供电引脚与所述第二开关的一端电连接，所述电机接口的制动引脚与所述第三开关的一端电连接，所述电机接口的电源引脚与所述第二电阻的滑动引脚电连接，所述第二电阻的一个定引脚接入第一电源，第二开关的另一端、第三开关的另一端和所述第二电阻的另一个定引脚均接地。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述计数单元包括第四开关、继电器、第一二极管、第一三极管、第二三极管和第二芯片；

所述第四开关的动触点接入第二电源，所述第四开关的定触点与所述继电器的线圈引脚电连接，所述继电器的公共引脚与所述待测仪器模块电连接，所述继电器的常开引脚与所述第一二极管的负极电连接，所述第一二极管的正极与所述第一三极管的集电极电连接，所述第一三极管的发射极接入第一电源，所述第一三极管的发射极与所述第二芯片的计数引脚电连接，所述继电器的常闭引脚与所述第二三极管的基极电连接，所述第二三极管的集电极与所述第一二极管的负极电连接，所述第二三极管的发射极接地。

第二方面，本申请实施例提供了一种检测设备，包括上述任一项所述的响应时间检测系统。

在本申请实施例中，通过待测仪器模块发出待测信号和接收反馈信号以确定间隔时间，通过信号影响模块对待测信号进行影响处理得到反馈信号，通过计时控制模块根据间隔时间确定待测仪器的响应时间，整个响应时间检测系统结构简单、成本较低，可以满足大多数光电传感器制造厂商的检测需求。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的响应时间检测系统的第一种结构示意图；

图2为本申请实施例提供的响应时间检测系统的第二种结构示意图；

图3为本申请实施例提供的响应时间检测系统的第一种测试圆盘的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的响应时间检测系统的第二种测试圆盘的结构示意图；

图5为本申请实施例提供的响应时间检测系统的计时控制模块的结构示意图；

图6为本申请实施例提供的响应时间检测系统的计时控制模块的第一种电路图；

图7为本申请实施例提供的响应时间检测系统的计时控制模块的第二种电路图。

附图标记说明：

10-响应时间检测系统，101-待测仪器模块，1011-支撑架，1012-移动测试架，1013-待测仪器，102-信号影响模块，1021-电机，1022-测试圆盘，10221-第一同心圆环，10222-第二同心圆环，103-计时控制模块，1031-主控单元，1032-电机控制单元，1033-计数单元，1034-电机控制单元，1035-计数单元，1036-主控单元，1037-电源单元，1038-显示单元。

具体实施方式

为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多条该特征。在本申请的描述中，“多条”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在光电传感器的制造过程中，往往需要对新制造的光电传感器的响应时间进行检测，从而判断新制造的光电传感器的性能，例如光电传感器的响应快慢和稳定性等，进而为光电传感器的制造和研发提供重要的参考依据。现有光电传感器在制造过程中，一般采用专门的测试设备对响应时间进行检测，但是该响应时间的测试设备往往内部结构复杂、设备成本较高，并不适用于大多数光电传感器的制造厂商。

为此，本申请提供了一种响应时间检测系统，通过待测仪器模块发出待测信号和接收反馈信号以确定间隔时间，通过信号影响模块对待测信号进行影响处理得到反馈信号，通过计时控制模块根据间隔时间确定待测仪器的响应时间，整个响应时间检测系统结构简单、成本较低，可以适用于大多数光电传感器的制造厂商。

下面结合附图，对本申请提供的响应时间检测系统，进行实例性的说明。

图1为本申请实施例提供的响应时间检测系统的第一种结构示意图。如图1所示，示例性地，一种响应时间检测系统10，包括待测仪器模块101、信号影响模块102和计时控制模块103；待测仪器模块101与信号影响模块102设置于同一水平线，计时控制模块103分别与待测仪器模块101和信号影响模块102电连接。

待测仪器模块101，被配置为根据测试控制信号发出待测信号至信号影响模块102，并结合信号影响模块102的反馈信号确定间隔时间发送至计时控制模块103。

信号影响模块102，被配置为根据影响控制信号工作对待测信号进行影响处理，并生成反馈信号发送至待测仪器模块101。

计时控制模块103，被配置为发出测试控制信号至待测仪器模块101，发出影响控制信号至信号影响模块102，并根据间隔时间确定待测仪器的响应时间。

在本申请实施例中，当需要对待测仪器（例如光电传感器）的响应时间进行检测时，将待测仪器安装于待测仪器模块101。通过计时控制模块103发出测试控制信号至待测仪器模块101，以使待测仪器模块101开始工作，发出待测信号至信号影响模块102。与此同时，通过计时控制模块103发出影响控制信号至信号影响模块102，以使信号影响模块102开始工作，对接收到的待测信号进行影响或者干扰处理并生成反馈信号发送至待测仪器模块101。待测仪器模块101根据待测信号和反馈信号确定至少一次待测信号发出到接收的间隔时间并发送至计时控制模块103，从而使计时控制模块103根据一次或者多次的间隔时间确定待测仪器的响应时间。本申请的响应时间检测系统结构简单，检测过程简单，整体成本较低，可以满足大多数光电传感器制造厂商的检测需求。

图2为本申请实施例提供的响应时间检测系统的第二种结构示意图。如图2所示，示例性地，待测仪器模块101包括支撑架1011、移动测试架1012和待测仪器1013。

支撑架1011上设有多个距离信号影响模块102不同位置的安装孔，移动测试架1012可拆卸地安装于支撑架1011的安装孔，待测仪器1013固定于移动测试架1012。

在本申请实施例中，支撑架1011用于固定移动测试架1012的底部。根据不同待测仪器101（例如光电传感器）响应时间的检测距离要求，将移动测试架1012安装于支撑架1011距离信号影响模块102的不同位置。待测仪器1013可以直接固定于移动测试架1012上，当待测仪器1013为多个时，可以分别安装在移动测试架1012的不同高度上，从而在一次检测中可以同时检测出多个待测仪器1013的响应时间。

如图2所示，示例性地，信号影响模块102包括电机1021和测试圆盘1022。

测试圆盘1022安装于电机1021的转动部分，测试圆盘1022与待测仪器模块101设置于同一水平线。

在本申请实施例中，电机1021用于使测试圆盘1022按照一定速度转动，从而使测试圆盘1022能够对待测信号进行不同的影响处理，以向待测仪器模块101输出反馈信号。

图3为本申请实施例提供的响应时间检测系统的第一种测试圆盘的结构示意图。如图3所示，示例性地，测试圆盘1022包括颜色测试盘，颜色测试盘内设有多个第一同心圆环，每个第一同心圆环10221内间隔设有多种颜色。

在本申请实施例中，将待测仪器可以设为光电传感器，该待测仪器发出的待测信号可以设为光电信号。每个第一同心圆环10221内可以间隔设置两种色块，例如黑色块和白色块，当光电信号照射在第一同心圆环10221的不同色块时，会得到不同的反馈信号。例如，当以检测到黑色块的反馈信号进行计数时，颜色测试盘旋转一周，从内至外的多个第一同心圆环10221的计数比例为2:2:3:4。其中，色块的尺寸不得小于待测仪器光斑的最小尺寸。颜色测试盘可以设为易于更换的贴纸。

图4为本申请实施例提供的响应时间检测系统的第二种测试圆盘的结构示意图。如图4所示，在本申请的另一种实施例中，示例性地，测试圆盘1022包括镂空测试盘，镂空测试盘设有多个第二同心圆环10222，每个第二同心圆环10222内间隔设有多个镂空孔。

在本申请实施例中，将待测仪器可以设为光电传感器，该待测仪器发出的待测信号可以设为光电信号。当测试圆盘1022选用镂空测试盘时，可以采用两个移动测试架1012，分别设置在信号影响模块102的两侧，分别用于安装信号发射器和信号接收器。每个第二同心圆环10222内一般可以间隔设置镂空块和实体块。当光电信号照射在第二同心圆环10222的不同块时，会得到不同的反馈信号，即当照射到镂空块时信号接收器可以接收到反馈信号，当照射到实体块时，信号接收器无法接收到反馈信号。例如，当以检测到镂空块的反馈信号进行计数时，镂空测试盘旋转一周，从内至外的多个第二同心圆环10222的计数比例为4:4:8。其中，镂空块的尺寸不得小于待测仪器光斑的最小尺寸。

示例性地，在本申请实施例中，可以根据预设时间内待测仪器的反馈信号对黑色块或者镂空块的计数值，确定出待测信号的速度，进行根据待测信号的速度的倒数的一半计算出待测仪器的响应时间。例如，如图2所示，以最内圈的第一同心圆环10221为参考圆环，当从内往外的第二圈的第一同心圆环10221对应某一待测仪器，计时控制模块103得到1000个黑色块的计数值、待测仪器的输出速率为300Hz时，确定该待测仪器的响应时间为1/300/2≈1.66ms。随着测试圆盘1022转速的变化，预设时间内黑色块的计数值也会发生变化，当待测仪器对应的第一同心圆环10221的计数值与参考圆环的计数值不满足比例关系时，表明该待测仪器对应的响应时间已到达极限值，从而输出该待测仪器最终的响应时间。其他第一同心圆环10221亦可参照与参考圆环的计数比例对应关系分别获得各自的响应时间，从而使本申请的响应时间检测系统一次可以同时检测多个待测仪器的响应时间。

图5为本申请实施例提供的响应时间检测系统的计时控制模块的结构示意图。如图5所示，示例性地，在本申请的另一种实施例中，计时控制模块103包括电机控制单元1034、计数单元1035和主控单元1036；主控单元1036分别与电机控制单元1034和计数单元1035电连接。

电机控制单元1034，被配置为生成影响控制信号至信号影响模块102，以使信号影响模块102工作。

计数单元1035，被配置为生成测试控制信号至待测仪器模块101，以使待测仪器模块101确定间隔时间。

主控单元1036，被配置为根据间隔时间确定待测仪器的响应时间。

在本申请实施例中，当需要对待测仪器进行响应时间检测时，首先通过电机控制单元1034向信号影响模块102发送影响控制信号，以使信号影响模块102工作，例如，具体可以为使电机工作转动，进而是测试圆盘转动。然后通过计数单元1035向待测仪器模块101发送测试控制信号，以使待测仪器模块101工作，即发出待测信号、接收反馈信号并确定间隔时间。最终，主控单元1036根据间隔时间确定待测仪器最终的响应时间。

图6为本申请实施例提供的响应时间检测系统的计时控制模块的第一种电路图。如图6所示，示例性地，主控单元1036包括第一芯片U1和第一开关S1；

第一芯片U1的开关接入引脚与第一开关S1的一端电连接，第一芯片U1的数据输入引脚MISO、数据输出引脚MOSI、时钟引脚CNT_SCK和计数引脚CNT_CS_1均与计数单元1035电连接，第一芯片U1的电源引脚与电机控制单元1034电连接。

在本申请实施例中，第一芯片U1的型号为HC32F003_TSSOP，作为微控制器，用于控制计数单元1035和主控单元1036工作，当第一开关S1闭合后，启动第一芯片U1工作。另外，当第一芯片U1接入多路光电传感器的计数信号时，数据输入引脚MISO、数据输出引脚MOSI、时钟引脚CNT_SCK的连接方式不变，只增加计数引脚即可，例如计数引脚CNT_CS_1至CNT_CS_5一共可以连接5个计数信号。第一芯片U1的时钟线引脚SWCLK、数据线引脚SWDAT、复位引脚NRST用于烧录程序。第一芯片U1的接收引脚RX2用于接收计数单元1035的计数结果，第一芯片U1的发送引脚TX2用于向显示屏发送计数结果，以使显示屏显示计数结果。

如图6所示，示例性地，主控单元1036还包括第一电阻R1、第一电容C1、第二电容C2和第三电容C3。

第一芯片U1的第八引脚与第一电容C1的一端电连接，第一芯片U1的第九引脚分别与第一电阻R1的一端、第二电容C的一端和第三电容C3的一端电连接，第一电阻R1的另一端接入第一电源VCC（5V），第一电容C1的另一端、第二电容C2的另一端和第三电容C3的另一端均接地。

在本申请实施例中，第一电容C1用于作为滤波电容，用于稳定第一芯片U1的内部电路。第一电阻R1、第二电容C2和第三电容C3共同组成RC滤波电路，用于对第一电源VCC进行滤波后供电至第一芯片U1。

如图6所示，示例性地，在本申请的另一种实施例中，电机控制单元1034包括电机接口MOTOR、第二开关S2、第三开关S3和第二电阻R2。

电机接口MOTOR的供电引脚与第二开关S2的一端电连接，电机接口MOTOR的制动引脚与第三开关的一端S3电连接，电机接口MOTOR的电源引脚与第二电阻R2的滑动引脚电连接，第二电阻R2的一个定引脚接入第一电源VCC，第二开关S2的另一端、第三开关S3的另一端和第二电阻R2的另一个定引脚均接地。

在本申请实施例中，电机接口MOTOR用于与电机连接，通过调整第二电阻R2的位置来调整电机的转速。第二开关S2用于作为供电按键，当第二开关S2闭合时，控制外部电源向电机供电，当第二开关S2断开时，控制外部电源停止向电机供电。第三开关S3用于在不断电的情况下，控制电机的工作状态，例如当第三开关S3闭合时电机工作，当第三开关S3断开时电机停止工作。其中，第二电阻R2为滑动变阻器。

如图6所示，示例性地，在本申请的另一种实施例中，电机控制单元1034还包括第四电容C4，第四电容C4的一端接入第二电阻R2的滑动引脚，第四电容C4的另一端接地。

在本申请实施例中，第四电容C4用于作为第二电阻R2（即滑动变阻器）的辅助电容，减少滑动变阻器滑动调整电机转速时电压变化不稳的问题。

如图6所示，示例性地，计数单元1035包括第四开关S4、继电器K1、第一二极管D1、第一三极管Q1、第二三极管Q2和第二芯片U2。

第四开关S4的动触点接入第二电源VCC（24V），第四开关S4的定触点与继电器K1的线圈引脚电连接，继电器K1的公共引脚与待测仪器模块101电连接，继电器K1的常开引脚与第一二极管D1的负极电连接，第一二极管D1的正极与第一三极管Q1的集电极电连接，第一三极管Q1的发射极接入第一电源VCC（5V），第一三极管Q1的发射极与第二芯片U2的计数引脚电连接，继电器K1的常闭引脚与第二三极管Q2的基极电连接，第二三极管Q2的集电极与第一二极管D1的负极电连接，第二三极管Q2的发射极接地。

在本申请实施例中，当待测仪器（例如光电传感器）输出反馈信号SIGNAL_1且待测仪器为NPN型光电传感器时，第四开关S4的第2引脚和第3引脚导通，继电器K1的电感部分有电流通过，使继电器K1的第1引脚和第4引脚导通。当反馈信号SIGNAL_1为低电平时，第一三极管Q1的基极为低电平，第一三极管Q1导通，从而使计数信号CALC1被拉高。当反馈信号SIGNAL_1为悬空时，第一三极管Q1的基极为高电平，第一三极管Q1截止，从而使计数信号CALC1被拉低。

当待测仪器（例如光电传感器）输出反馈信号SIGNAL_1且待测仪器为PNP型光电传感器时，第四开关S4拨到第1引脚和第2引脚导通，继电器K1的电感部分无电流通过，继电器K1的第1引脚和第3引脚导通。当反馈信号SIGNAL_1为高电平时，第二三极管Q2的基极为低电平，第二三极管Q2导通，进而使第一三极管Q1的基极为低电平，第一三极管Q1导通，以使计数信号CALC1被拉高。当反馈信号SIGNAL_1为悬空时，第二三极管Q2的基极为高电平，第二三极管Q2截止，进而使第一三极管Q1的基极为高电平，第一三极管Q1截止，以使计数信号CALC1被拉低。

如图6所示，示例性地，计数单元1035还包括第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8和第五电容C5。

第三电阻R3的一端与第一二极管D1的正极电连接，第三电阻R3的另一端分别与第四电阻R4的一端和第一三极管Q1的基极电连接，第四电阻R4的另一端与第一三极管Q1的发射极电连接，第五电阻R5的一端分别与第二芯片U2的计数引脚和第五电容C5的一端电连接，第五电阻R5的另一端分别与第六电阻R6的一端和第一三极管Q1的集电极电连接，第七电阻R7的一端与继电器K1的常闭触点电连接，第七电阻R7的另一端分别与第二三极管Q2的基极和第八电阻R8的一端电连接，第五电容C5的另一端、第六电阻R6的另一端和第八电阻R8的另一端均接地。

在本申请实施例中，第三电阻R3和第四电阻R4用于限制第一三极管Q1的基极电流和集电极电流。第五电阻R5和第六电阻R6用于调节第一三极管Q1的发射极电压，第七电阻R7和第八电阻R8用于调节第二三极管Q2的基极电压，第五电容C5用于对计数信号CALC1进行滤波。其中，第二芯片U2的型号为LSI7366R，用于作为计数器。

如图6所示，示例性地，计数单元1035还包括第九电阻R9、第十电阻R10、第十一电阻R11、第十二电阻R12、第十三电阻R13、第六电容C6、第七电容C7、第八电容C8和第一晶振Y1。

第九电阻R9的一端与第一芯片U1的第二引脚电连接，第九电阻R9的另一端与第二芯片U2的第十三引脚电连接，第十电阻R10的一端与第二芯片U2的第十一引脚电连接，第十一电阻R11的一端与第二芯片U2的第十引脚电连接，第十二电阻R12的一端与第二芯片U2的第八引脚电连接，第六电容C6的一端与第二芯片U2的第十四引脚电连接，第六电容C6的另一端接地，第十三电阻R13的一端分别与第七电容C7的一端、第一晶振Y1的一端和第二芯片U2的第一引脚（即晶振输入引脚OSC_IN）电连接，第十三电阻R13的另一端分别与第八电容C8的一端、第一晶振Y1的另一端和第二芯片U2的第二引脚（即晶振输出引脚OSC_OUT）电连接，第七电容C7的另一端和第八电容C8的另一端均接地。

在本申请实施例中，第一晶振Y1为20MHz晶振，配合上第七电容C7、第八电容C8和第十三电阻R13为第二芯片U2提供时钟信号输入，第六电容C6作为第二芯片U2的电源滤波电容。第十电阻R10、第十一电阻R11和第十二电阻R12分别作为第二芯片U2的第十一脚、第十引脚和第八引脚的上拉电阻，用于在第二芯片U2的第十一脚、第十引脚和第八引脚不工作时保持高电平状态。第九电阻R9作为限流电阻，计数信号CALC1通过第九电阻R9传输至第二芯片U2，通过第二芯片U2计数后，将计数结果通过数据输入引脚MISO、数据输出引脚MOSI、时钟引脚CNT_SCK和计数引脚CNT_CS_1传输至第一芯片U1。

图7为本申请实施例提供的响应时间检测系统的计时控制模块的第二种电路图。如图7所示，示例性地，计时控制模块103还包括电源单元1037和显示单元1038，电源单元1037和显示单元1038均与主控单元1036电连接。电源单元1037，用于向主控单元1036供电。显示单元1038，用于显示主控单元1036的计数结果。

电源单元1037包括第三芯片U3、第四芯片U4和第五开关S5，第五开关S5的定触点与外部第二电源24V的电源接线端子P10电连接，第五开关S5的一个定触点与第十四电阻R14的一端电连接，第十四电阻R14的另一端分别与第二二极管D2的负极、第九电容C9的一端、第十电容C10的一端和第三芯片U3的第七引脚电连接，第二二极管D2的正极、第九电容C9的另一端、第十电容C10的另一端均接地。第三芯片U3的第八引脚分别与第三二极管D3的负极、第一电感L1的一端和第十一电容C11的一端电连接，第一电感L1的另一端分别与第十五电阻R15的一端、第十二电容C12的一端、第十三电容C13的一端、第十四电容C14的一端和第十七电阻R17的一端电连接，第十一电容C11的另一端与第三芯片U3的第一引脚电连接，第十五电阻R15的另一端分别与第三芯片U3的第四引脚和第十六电阻R16的一端电连接，第三二极管D3的正极、第十六电阻R16的另一端、第十二电容C12的另一端、第十三电容C13的另一端、第十四电容C14的另一端均接地。

第十七电阻R17的另一端分别与第十五电容C15的一端和第四芯片U4的输入引脚电连接，第四芯片U4的输出引脚分别与第十六电容C16的一端、第十七电容C17的一端和第十八电容C18的一端电连接，第十五电容C15的另一端、第十六电容C16的另一端、第十七电容C17的另一端和第十八电容C18的另一端均接地。

在本申请实施例中，当第五开关S5的第二引脚和第三引脚导通时，24V电流经过第十四电阻R14（即保险丝）流至第三芯片U3。第二二极管D2作为保护二极管，防高压和脉冲电压。第九电容C9和第十电容C10均作为滤波电容。因此24V外部电源经第十四电阻R14、第二二极管D2、第九电容C9和第十电容C10稳压后获得一个稳定的VCC24V电压传输至第三芯片U3。第十一电容C11用于为第三芯片U3内部的MOS管提供栅极驱动电压。第三二极管D3用于防止第三芯片U3的第八引脚产生负压。第一电感L1与第十二电容C12、第十三电容C13和第十四电容C14组成LC滤波电路，对第三芯片U3的输出电压进行滤波。第十五电阻R15和第十六电阻R16用于组成分压电路，调整第三芯片U3的第四引脚的输出电压。第十七电阻R17可以为0欧姆电阻，用于后级电路异常时断开使用，从而经过第三芯片U3输出8.4V电压。第十五电容C15、第十六电容C16、第十七电容C17和第十八电容C18均作为滤波电容，进而通过第四芯片U4将8.4V电压进行电压转换得到稳定的5V电压，以供后续电路使用。其中，第三芯片U3的型号为TPS5430，用于作为降压芯片。第四芯片U4的型号为ASM1117，用于作为稳压芯片。

如图7所示，示例性地，显示单元1038包括第二继电器K2、第六开关S6、第十八电阻R18、第十九电阻R19、第二十电阻R20、第二十一电阻R21、第十九电容C19、第四二极管D4、第五二极管D5、第六发光二极管D6、第七发光二极管D7和第八发光二极管D8。

第二继电器K2的第三引脚与第十八电阻R18的一端电连接，第十八电阻R18的另一端分别与第十九电容C19的一端和第六发光二极管D6的正极电连接，第二继电器K2的第二引脚与第六开关S6的动触点电连接，第六开关S6的一个定触点与第二电源VCC（24V）电连接，第六开关S6的另一个定触点接地，第二继电器K2的第五引脚分别与待测仪器、第四二极管D4的正极和第五二极管D5的负极电连接，第四二极管D4的与第二电源VCC（24V）电连接，第十九电容C19的另一端、第六发光二极管D6的负极和第五二极管D5的正极均接地。第十九电阻R19的一端与第一电源VCC（5V）电连接，第十九电阻R19的另一端与第七发光二极管D7的正极电连接，第七发光二极管D7的负极与第三三极管Q3的发射极电连接，第三三极管Q3的基极与第二十电阻R20的一端电连接，第二十电阻R20的另一端与电机控制单元1034电连接，第三三极管Q3的集电极接地。第二十一电阻R21的一端接入第二电源VCC（24V），第二十一电阻R21的另一端与第八发光二极管D8的正极电连接，第八发光二极管D8的负极接地。

在本申请实施例中，当待测仪器（例如光电传感器）为NPN型光电传感器时，第六开关S6的第二引脚和第三引脚导通，当光电传感器的反馈信号SIGNAL_1为低电平时，第二电源24V通过第六开关S6和第二继电器K2流向反馈信号SIGNAL_1，第二继电器K2的第一引脚和第四引脚导通；当反馈信号SIGNAL_1信号为悬空时，没有电流流向SIGNAL_1，第二继电器K2的第一引脚和第三引脚导通，第六发光二极管D6被点亮，因此第六发光二极管D6的亮灭状态可作为反馈SIGNAL_1是否正常输出的指示灯。

当待测仪器（例如光电传感器）为PNP型光电传感器时，第六开关S6的第一引脚和第二引脚导通，当光电传感器的反馈信号SIGNAL_1为被拉高时，第二电源24V通过第二继电器K2和第六开关S6流向地，第二继电器K2的第一引脚和第四引脚导通；当反馈信号SIGNAL_1信号为悬空时，没有电流流向SIGNAL_1，第二继电器K2的第一引脚和第三引脚导通，第六发光二极管D6被点亮，因此第六发光二极管D6的亮灭状态可作为反馈SIGNAL_1是否正常输出的指示灯。第十八电阻R18用于对第二继电器K2进行限流，第十九电容C19用于对流入第六发光二极管D6的电流进行滤波。

在本申请的另一个实施例中，当电机控制单元1034的第二开关S2闭合时，电机供电信号MOTOR_EN被拉低，第三三极管Q3导通，从而使第一电源VCC（5V）流经第七发光二极管D7和第三三极管Q3后接地，即通过第七发光二极管D7发光表示电机被正常供电。第十九电阻R19用于对第三三极管Q3的发射极电压进行限流，第二十电阻R20用于对第三三极管Q3的基极电压进行调节。当本申请中的第二电源VCC（24V）供电正常时，第二电源VCC（24V）流经第二十一电阻R21和第八发光二极管D8后接地，即通过第八发光二极管D8发光表示第二电源VCC（24V）供电正常，第二十一电阻R21用于对第八发光二极管D8的正极进行限流。示例性地，本申请实施例提供一种检测设备，包括响应时间检测系统10。

在本申请实施例中，响应时间检测系统10设置在检测设备内部，通过待测仪器模块发出待测信号和接收反馈信号以确定间隔时间，通过信号影响模块对待测信号进行影响处理得到反馈信号，通过计时控制模块根据间隔时间确定待测仪器的响应时间，整个响应时间检测系统结构简单、成本较低，可以适用于大多数光电传感器的制造厂商。

应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述检测设备中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的响应时间检测系统，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的响应时间检测系统实施例仅仅是示意性的，例如，模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个检测设备，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些多接口检测设备，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种响应时间检测系统，其特征在于，包括待测仪器模块、信号影响模块和计时控制模块；

所述待测仪器模块与所述信号影响模块设置于同一水平线，所述计时控制模块分别与所述待测仪器模块和所述信号影响模块电连接；

所述待测仪器模块，被配置为根据测试控制信号发出待测信号至所述信号影响模块，并结合所述信号影响模块的反馈信号确定间隔时间发送至所述计时控制模块；

所述信号影响模块，被配置为根据影响控制信号工作对所述待测信号进行影响处理，并生成所述反馈信号发送至所述待测仪器模块；

所述计时控制模块，被配置为发出测试控制信号至所述待测仪器模块，发出所述影响控制信号至所述信号影响模块，并根据所述间隔时间确定所述待测仪器的响应时间；

所述计时控制模块包括电机控制单元、计数单元和主控单元；

所述主控单元分别与所述电机控制单元和所述计数单元电连接；

所述电机控制单元，被配置为生成影响控制信号至所述信号影响模块，以使所述信号影响模块工作；

所述计数单元，被配置为生成测试控制信号至所述待测仪器模块，以使所述待测仪器模块确定所述间隔时间；

所述主控单元，被配置为根据所述间隔时间确定所述待测仪器的响应时间；

所述主控单元包括第一芯片和第一开关；

所述第一芯片的开关接入引脚与所述第一开关的一端电连接，所述第一芯片的数据输入引脚、数据输出引脚、时钟引脚和计数引脚均与所述计数单元电连接，所述第一芯片的电源引脚与所述电机控制单元电连接；

所述电机控制单元包括电机接口、第二开关、第三开关和第二电阻；

所述电机接口的供电引脚与所述第二开关的一端电连接，所述电机接口的制动引脚与所述第三开关的一端电连接，所述电机接口的电源引脚与所述第二电阻的滑动引脚电连接，所述第二电阻的一个定引脚接入第一电源，第二开关的另一端、第三开关的另一端和所述第二电阻的另一个定引脚均接地；

所述计数单元包括第四开关、继电器、第一二极管、第一三极管、第二三极管和第二芯片；

所述第四开关的动触点接入第二电源，所述第四开关的定触点与所述继电器的线圈引脚电连接，所述继电器的公共引脚与所述待测仪器模块电连接，所述继电器的常开引脚与所述第一二极管的负极电连接，所述第一二极管的正极与所述第一三极管的集电极电连接，所述第一三极管的发射极接入第一电源，所述第一三极管的发射极与所述第二芯片的计数引脚电连接，所述继电器的常闭引脚与所述第二三极管的基极电连接，所述第二三极管的集电极与所述第一二极管的负极电连接，所述第二三极管的发射极接地。

2.如权利要求1所述的响应时间检测系统，其特征在于，所述待测仪器模块包括支撑架、移动测试架和待测仪器；

所述支撑架上设有多个距离所述信号影响模块不同位置的安装孔，所述移动测试架可拆卸地安装于所述支撑架的安装孔，所述待测仪器固定于所述移动测试架。

3.如权利要求1所述的响应时间检测系统，其特征在于，所述信号影响模块包括电机和测试圆盘；

所述测试圆盘安装于所述电机的转动部分，所述测试圆盘与所述待测仪器模块设置于同一水平线。

4.如权利要求3所述的响应时间检测系统，其特征在于，所述测试圆盘包括颜色测试盘，所述颜色测试盘内设有多个第一同心圆环，每个所述第一同心圆环内间隔设有多种颜色。

5.如权利要求3所述的响应时间检测系统，其特征在于，所述测试圆盘包括镂空测试盘，所述镂空测试盘设有多个第二同心圆环，每个所述第二同心圆环内间隔设有多个镂空孔。

6.一种检测设备，其特征在于，包括如权利要求1-5任一项所述的响应时间检测系统。