CN116203527A - 激光扫描设备、安防系统和扫描控制方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种激光扫描设备、安防系统和扫描控制方法，激光扫描设备中，微机电器件与一维扫描振镜对应设置，使激光光线在微机电器件与一维扫描振镜之间反射；一维扫描振镜可使自一维扫描振镜射出的激光在围绕第一方向的方向上旋转，转动部可使自一维扫描振镜射出的激光在围绕第二方向的方向上旋转，第二方向与第一方向垂直；在第一工作模式下，微机电器件反射激光光线，一维扫描振镜以第一分辨率扫描被扫描物体，且在被扫描物体满足第一分辨率时，切换至第二工作模式；在第二工作模式下，微机电器件以高于第一分辨率的第二分辨率扫描被扫描物体。上述激光扫描设备的组装和调校难度相对较小，成本相对较低，有效的扩大了数字微镜的视场范围。

Description

激光扫描设备、安防系统和扫描控制方法

技术领域

本申请涉及激光雷达技术领域，尤其涉及一种激光扫描设备、安防系统和扫描控制方法。

背景技术

激光雷达是一种新型的传感器件，其可以应用在安防和驾驶辅助等领域，借助激光雷达可以对探测区域内的物体分布情况进行检测。目前的固态激光雷达中，由于数字微镜的视场过小，通常设置多个激光收发组件依次排列，且通过使多个激光收发组件各自射入振镜的激光的角度不同，复用数字微镜，扩大固态激光雷达所能检测的视场范围。但是，在激光收发组件的数量设置有多个的情况下，会造成固态激光雷达整体的组装和调校难度较大，数字微镜无法工作在最佳入射角度，且成本相对较高。

发明内容

本申请公开一种激光扫描设备、安防系统和扫描控制方法，组装和调校难度相对较小，成本相对较低。

为了解决上述问题，本申请采用下述技术方案：

第一方面，本申请实施例提供一种激光扫描设备，其包括激光收发组件、转动部、一维扫描振镜、基座和微机电器件，所述转动部和所述微机电器件均安装于所述基座，且所述一维扫描振镜与所述微机电器件对应设置，以使激光光线在所述微机电器件与所述一维扫描振镜之间反射；所述一维扫描振镜用于反射激光光线至被扫描物体，且用于反射自所述被扫描物体反射回的回波信号至所述微机电器件；所述微机电器件用于反射激光收发组件发出的激光光线至被扫描物体，且用于反射所述回波信号至所述激光收发组件；所述一维扫描振镜活动安装于所述基座，自所述一维扫描振镜射出的激光光线在围绕第一方向的方向上旋转，所述转动部用于使自所述一维扫描振镜射出的激光光线在围绕第二方向的方向上旋转，所述第一方向与所述第二方向相互垂直；

所述激光扫描设备具有第一工作模式和第二工作模式，在所述第一工作模式下，所述一维扫描振镜相对基座运动，所述微机电器件用于反射激光光线，所述一维扫描振镜以第一分辨率扫描被扫描物体，且在所述被扫描物体满足所述第一分辨率的情况下，所述激光扫描设备切换至所述第二工作模式；在所述第二工作模式下，所述一维扫描振镜相对所述基座静止，所述微机电器件工作，且用于以第二分辨率扫描被扫描物体，所述第二分辨率高于所述第一分辨率。

第二方面，本申请实施例提供一种安防系统，其包括上述激光扫描设备。

第三方面，本申请实施例提供一种扫描控制方法，应用于上述激光扫描设备，所述扫描控制方法包括：

控制一维扫描振镜对视场以第一分辨率进行扫描；

在所述视场包括满足所述第一分辨率的被扫描物体的情况下，控制微机电器件以第二分辨率对所述被扫描物体进行扫描。

本申请采用的技术方案能够达到以下有益效果：

本申请实施例公开一种激光扫描设备，其包括激光收发组件、转动部、一维扫描振镜、基座和微机电器件，微机电器件与一维扫描振镜配合，使得激光收发组件发出的激光能够经微机电器件和一维扫描振镜反射至被扫描物体上，对应地，在被扫描物体上发生反射的回波信号亦可以通过一维扫描振镜和微机电器件反射至激光收发组件中。

一维扫描振镜活动安装于基座，且自一维扫描振镜射出的激光光线能够在围绕第一方向的方向上旋转，转动部能够使自一维扫描振镜射出的激光光线在围绕第二方向的方向上旋转，第一方向与第二方向相互垂直，进而改变射向被扫描物体的激光光线的传播路径，进而使得激光光线在被扫描物体上的落点位置能够发生改变。以激光扫描设备中转动部采用步进电机的工作模式工作的情况为例，在一维扫描振镜自身的作用下，能够完成对视场中对应位置的纵向(即第二方向所在的方向)扫描过程；同时，由于转动部的转动轴向与一维扫描振镜的转动轴向相互垂直，从而在一维扫描振镜完成对视场内的某一位置的前述纵向扫描过程之后，在转动部的作用下，可以带动一维扫描振镜动作，使一维扫描振镜反射的激光光线射向视场内与前述位置在围绕第二方向的方向上相邻的另一位置，之后，在一维扫描振镜的作用下，可以继续完成对前述另一位置的纵向扫描过程。

并且，在上述激光扫描设备中，激光扫描设备具有第一工作模式和第二工作模式，上述利用一维扫描振镜进行扫描即为第一工作模式，在此工作模式下，一维扫描振镜与基座相对运动，微机电器件提供反射作用，一维扫描振镜以第一分辨率对被扫描物体进行扫描，当被扫描物体满足第一分辨率时，激光扫描设备能够切换至第二工作模式；在第二工作模式下，一维扫描振镜与基座相对静止，微机电器件提供扫描作用，以大于第一分辨率的第二分辨率对被扫描物体进行更为精细地扫描工作，在此工作模式下，可以极大的扩大微机电器件的工作视场范围，在充分利用微机电器件精细化及高速扫描这一优势的前提下，有效扩大其工作视场范围。

另外，如上所述，上述激光扫描设备中仅设置有一组激光收发组件，这使得激光扫描设备中的激光收发组件与一维扫描振镜之间的组装和调校难度相对较小，且由于采用同一激光收发组件，从而可以使激光收发模块的激光光线以最佳角度入射至一维扫描振镜和微机电器件，保证系统的扫描性能较好。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1是本申请实施例公开的激光扫描设备的一种结构示意图；

图2是本申请实施例公开的激光扫描设备的另一种结构示意图；

图3是本申请实施例公开的激光扫描设备的再一种结构示意图；

图4是本申请实施例公开的激光扫描设备中部分结构的示意图；

图5是本申请实施例公开的扫描控制方法的流程图。

附图标记说明：

110-激光发射器、120-激光探测器、

210-转动部、230-一维扫描振镜、240-反射器件、

300-基座、

400-微机电器件、

510-准直器件、520-会聚器件。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

以下结合附图，详细说明本申请各个实施例公开的技术方案。

如图1-图3所示，本申请实施例公开一种激光扫描设备，其包括激光收发组件、转动部210、一维扫描振镜230、基座300和微机电器件400。基座300作为提供安装基础作用的部件，激光收发组件、转动部210、一维扫描振镜230和微机电器件400等均可以直接或间接地安装在基座300上，从而使激光扫描设备形成一完整且独立的机构。更具体地，基座300可以包括多个部分，如其可以包括上基座和下基座，在这种情况下，激光收发组件和微机电器件可以安装在下基座，而转动部210和一维扫描振镜230中的至少一者可以安装在上基座。当然，基座300的结构形式亦不受限制，如基座300可以为异形结构，在这种情况下，激光收发组件、转动部210、一维扫描振镜230、和微机电器件400可以安装在基座300的不同位置处，保证激光光线能够在一维扫描振镜230能够与微机电器件400之间互相反射。

其中，激光收发组件具备发射激光和接收激光的能力，借助激光收发组件可以向外发射激光，且可以接收射向激光收发组件的回波信号。具体地，激光收发组件可以为激光收发一体机，激光收发组件可以通过螺钉等连接件固定在基座300上。一维扫描振镜230能够反射激光光线至被扫描物体，且能够反射自被扫描物体反射回的回波信号至微机电器件400，微机电器件400能够反射激光收发组件发出的激光光线至被扫描物体，且能够反射回波信号至激光收发组件。具体地说，通过对激光收发组件、一维扫描振镜230和微机电器件400三者之间的位置和朝向进行设定，使得激光收发组件射出的激光能够经微机电器件400射向一维扫描振镜230，且一维扫描振镜230能够反射激光光线至被扫描物体，对应地，在激光光线在照射至被扫描物体上且发生反射之后，反射出的回波信号亦可以经一维扫描振镜230和微机电器件400反射至激光收发组件中，从而形成完整的激光光路，使激光扫描设备能够对被扫描物体进行扫描作用，得到被扫描物体的形状、尺寸或运动信息等参数。

转动部210和微机电器件400均安装在基座上300上，且一维扫描振镜230与微机电器件400对应设置，使得激光光线能够在微机电器件400与一维扫描振镜230之间反射。具体来说，通过对微机电器件400与一维扫描振镜230的安装位置进行设计，如使二者的受光面相互朝向，且非平行设置，即可使激光光线能够在二者之间反射。可选地，微机电器件400和转动部210均可以直接安装在基座300上，一维扫描振镜230可以直接安装在基座300上，或者，一维扫描振镜230还可以通过转动部210间接地安装在基座300上，保证一维扫描振镜230能够与微机电器件400相互对应。

一维扫描振镜230活动安装于基座300，具体地，如上，无论一维扫描振镜230直接或间接地安装在基座300上，均可以保证一维扫描振镜230能够相对基座300运动。一维扫描振镜230能够使自一维扫描振镜230射出的激光光线在围绕第一方向的方向上旋转，也即，一维扫描振镜230能够通过自身的转动，改变自一维扫描振镜230处反射出的激光光线的传播轨迹。具体地，一维扫描振镜230可以包括驱动源和反射件，反射件安装在驱动源上，驱动源可以直接或间接地安装在基座300上，在驱动源动作的情况下，能够驱动反射件相对驱动源转动，二者相对转动的轴向为第一方向。

转动部210亦可以提供转动驱动作用，以驱动与转动部210连接的部件在围绕第二方向的方向上转动配合。如上所述，一维扫描振镜230能够使自一维扫描振镜230射出的激光光线在围绕第一方向的方向上旋转，对应地，转动部210能够使自一维扫描振镜230射出的激光光线在围绕第二方向的方向上旋转，且第一方向与第二方向相互垂直，以改变射向被扫描物体的激光光线的传播路径。

具体来说，转动部210安装在基座300上，一维扫描振镜230可以安装在转动部210上，或者，在一维扫描振镜230直接安装在基座300上的情况下，可以通过额外在转动部210上安装反射器件的方式，使转动部210的转动作用能够作用在一维扫描振镜230反射出的光线上，进而改变射向被扫描物体的激光光线的传播路径。

以一维扫描振镜230活动安装在转动部210上为例，转动部210的转动轴的延伸方向为第二方向，一维扫描振镜230安装在转动部210的驱动轴上，从而在转动部210工作的情况下，可以使一维扫描振镜230围绕转动部210的驱动轴转动，这使得一维扫描振镜230的朝向能够随转动部210的动作而改变。

并且，一维扫描振镜230自身亦可以相对基座300活动，如上所述，转动部210可以驱动一维扫描振镜230围绕转动部210的驱动轴转动，以转动部210的转动轴的延伸方向，即第二方向为竖直方向，由于一维扫描振镜230还能够使自一维扫描振镜230射出的激光光线在围绕第一方向的方向上旋转，使得在转动部210和一维扫描振镜230的共同作用下，整个激光扫描设备既可以进行横向扫描，亦可以进行纵向扫描。

具体地，转动部210可以为旋转电机，更具体地，转动部210可以为步进电机或连续电机。可选地，转动部210可以与一维扫描振镜230连接，或者，在一维扫描振镜230直接安装在基座300上的情况下，亦可以为激光扫描设备额外配置反射器件，且使反射器件安装于转动部210，这均可以改变射向被扫描物体的激光光线的传播路径。需要说明的是，在通过转动部210和一维扫描振镜230调节自射向被扫描物体的激光光线的传播路径的过程中，需要对转动部210和一维扫描振镜230的转动范围进行限制，保证一维扫描振镜230始终在激光光线的传播路径上。

微机电器件400具备反射光线的能力，具体地，微机电器件400可以为数字微镜器件、微机电振镜或可变形镜，当然，微机电器件400亦可包括液晶器件，光波导器件等光束调控器件，其功能在于改变光线的方向或相位，所有可提供此功能的器件都可以在本申请中作为微机电器件，以对视场内的被扫描物体进行精细扫描。以微机电器件400为数字微镜器件为例，借助微机电器件400上像素级镜片的可控特性和高速的翻转频率，通过对微机电器件400上像素级镜片的调制，可以实现对被扫描物体上目标区域的主动扫描成像，也即，利用微机电器件400，可以对激光扫描设备的视场区域内的被扫描物体进行更为精准的扫描成像，进一步提升对被扫描物体的扫描精度。同时，通过调节微机电器件400和激光收发组件的激光发射参数，可以使微机电器件400实现不同分辨率的扫描成像。

在本实施例中，可以先单独利用一维扫描振镜230对视场范围的被扫描物体进行快速扫描，在此过程中，可以先设定一较为精细的目标参数，使激光扫描设备先进行“粗扫描”过程，以缩短激光扫描设备完整地扫描整个视场的时间。当然，在上述过程中，对于参数近似目标参数的被扫描物体，激光扫描设备均可以确定且记录其在视场区域内的具体位置的参数信息，之后，可以在转动部210和一维扫描振镜230的作用下，使微机电器件400对准前述被扫描物体，以对被扫描物体进行更为精细的扫描过程。

基于上述内容，激光扫描设备具有第一工作模式和第二工作模式，在第一工作模式下，一维扫描振镜230相对基座300运动，也即，一维扫描振镜230在自身的带动下进行纵向扫描过程，在此过程中，微机电器件400自身不动作，其仅作为反射器件，以反射激光光线，在一维扫描振镜230的工作过程提供反射激光光线的作用，一维扫描振镜230能够以第一分辨率扫描被扫描物体；并且，在被扫描物体满足第一分辨率的情况下，激光扫描设备切换至第二工作模式，以对满足第一分辨率的被扫描物体进行更为精细地扫描。

在第二工作模式下，一维扫描振镜230相对基座300静止，也即，一维扫描振镜230不再转动以进行纵向扫描工作，在第二工作模式下，微机电器件400工作，以通过微机电器件400自身的镜片产生相应动作，对被扫描物体以第二分辨率进行扫描，且形成对应分辨率的图像，第二分辨率高于第一分辨率，保证微机电器件400能够提供更为精准地扫描过程。

本申请实施例公开一种激光扫描设备，其包括激光收发组件、转动部210、一维扫描振镜230、基座300和微机电器件400，微机电器件400与一维扫描振镜230配合，使得激光收发组件发出的激光能够经微机电器件400和一维扫描振镜230反射至被扫描物体上，对应地，在被扫描物体上发生反射的回波信号亦可以通过一维扫描振镜230和微机电器件400反射至激光收发组件中。

一维扫描振镜230活动安装于基座300，且自一维扫描振镜230射出的激光光线能够在围绕第一方向的方向上旋转，转动部210能够使自一维扫描振镜230射出的激光光线在围绕第二方向的方向上旋转，第一方向与第二方向相互垂直，进而改变射向被扫描物体的激光光线的传播路径，进而使得激光光线在被扫描物体上的落点位置能够发生改变。以激光扫描设备中转动部210采用步进电机的工作模式工作的情况为例，在一维扫描振镜230自身的作用下，能够完成对视场中对应位置的纵向(即第二方向所在的方向)扫描过程；同时，由于转动部210的转动轴向与一维扫描振镜230的转动轴向相互垂直，从而在一维扫描振镜230完成对视场内的某一位置的前述纵向扫描过程之后，在转动部210的作用下，可以带动一维扫描振镜230动作，使一维扫描振镜230反射的激光光线射向视场内与前述位置在围绕第二方向的方向上相邻的另一位置，之后，在一维扫描振镜230的作用下，可以继续完成对前述另一位置的纵向扫描过程。

并且，在上述激光扫描设备中，激光扫描设备具有第一工作模式和第二工作模式，上述利用一维扫描振镜230进行扫描即为第一工作模式，在此工作模式下，一维扫描振镜230与基座300相对运动，微机电器件400提供反射作用，一维扫描振镜230以第一分辨率对被扫描物体进行扫描，当被扫描物体满足第一分辨率时，激光扫描设备能够切换至第二工作模式；在第二工作模式下，一维扫描振镜230与基座300相对静止，微机电器件400提供扫描作用，以大于第一分辨率的第二分辨率对被扫描物体进行更为精细地扫描工作，在此工作模式下，可以极大的扩大微机电器件400的工作视场范围，在充分利用微机电器件400精细化及高速扫描这一优势的前提下，有效扩大其工作视场范围。

另外，如上所述，上述激光扫描设备中仅设置有一组激光收发组件，这使得激光扫描设备中的激光收发组件与一维扫描振镜230之间的组装和调校难度相对较小，且由于采用同一激光收发组件，从而可以使激光收发模块的激光光线以最佳角度入射至一维扫描振镜230和微机电器件400，保证系统的扫描性能较好。

当然，转动部210亦可以采用连续电机的工作方式提供驱动作用，在这种情况下，则激光扫描设备对视场范围内的扫描轨迹的式样近似于均匀分布的曲线。

在激光扫描设备中，为了保证扫描精度相对较高，可以使激光收发组件所发出的激光为平行激光束。在本申请的另一实施例中，激光收发组件包括激光发射器110，具体可以为单点激光器，在这种情况下，为了保证激光光线照射在微机电器件上的光线为平行光，本申请实施例公开的激光扫描设备还包括准直器件510，准直器件510设置在激光收发组件与微机电器件400之间，从而利用准直器件510为光线提供准直作用，保证单点激光器发出的激光光线经准直器件510之后，能够形成平行光束，提升激光光线的扫描效果。

具体地，准直器件510具体可以准直透镜，对应地，设置在激光收发组件和微机电器件400之间的准直器件510的数量可以为一个，也可以为多个，形成透镜组，以进一步提升激光光线的传播效果。当然，准直器件510还可以为棱镜等器件，只要其具备准直光线的能力即可，对于其结构样式，本文不作限定。在激光收发组件包括激光发射器110的情况下，激光收发组件还包括激光探测器120，以接收自一维扫描振镜230反射回的回波信号。在布设激光发射器110和激光探测器120的过程中，可以使二者间隔排布，且使激光发射器110和激光探测器120均朝向微机电器件400。更具体地，沿激光发射器110的激光发射方向，可以使激光发射器110的出射区域和激光探测器120的入射区域的投影均位于微机电器件400的镜片覆盖的范围内，从而保证激光的反射效果相对较好。

如上所述，一维扫描振镜230的安装位置有多种，在本实施例中，如图2和图3所示，一维扫描振镜230安装于转动部210，转动部210能够驱动一维扫描振镜230围绕转动部210的驱动轴转动，当然，转动部210亦安装在基座300上。在采用上述技术方案的情况下，转动部210和一维扫描振镜230一并安装在基座300，可以减少转动误差的产生源的数量，提升控制精度，进而提升扫描效果。

基于上述实施例，如图1所示，激光扫描设备还包括会聚器件520，其中，会聚器件520设置在微机电器件400和一维扫描振镜230的光路之间，从而使自微机电器件400传出的平行光束经会聚器件520产生会聚作用，减小光束照射在一维扫描振镜230上时的光斑面积，使得一维扫描振镜230的受光面积可以设置地相对较小，进而可以减小整个激光扫描设备的尺寸，亦可以降低成本。对应地，在设置有上述会聚器件520的同时，为了保证扫描的效果仍相对较好，在一维扫描振镜230与被扫描物体的光路之间还需要设置准直器件510，从而使在一维扫描振镜230上处于会聚状态的光线能够重新被准直。具体地，会聚器件520可以为会聚透镜，会聚器件520可以为单个透镜，亦可以为多个透镜形成的透镜组，当然，会聚器件520还可以为棱镜等器件，只要其具备会聚光线的能力即可，对于其结构样式，本文不作限定。

在本申请的另一设置有会聚器件520的实施例中，如图2所示，会聚器件520设置在一维扫描振镜230和被扫描物体之间，从而在平行光束经一维扫描振镜230传出之后，利用会聚器件520对光束进行会聚，同时，会聚器件520和被扫描物体的光路之间还设置有准直器件510，以对会聚之后的光束重新准直，从而可以对出射光束的直径和发散角进行调控以符合不同的系统需求。

如上所述，转动部210上所安装的器件可以为一维扫描振镜230，亦可以为其他器件，可选地，如图3所示，一维扫描振镜230直接安装在基座300，在这种情况下，激光扫描设备还包括反射器件240，反射器件240设置在一维扫描振镜230与被扫描物体的光路之间，反射器件240能够反射激光光线，且反射器件240与转动部210连接。在这种情况下，可以使转动部210单独驱动一部件，与一维扫描振镜230的转动过程互不干涉，二者独立控制，这可以降低转动部210和一维扫描振镜230的控制难度，且可以降低部件间的组装难度，还可以降低一维扫描振镜230的供电难度，提升系统的可靠性。

具体地，反射器件240可以为反射镜，其可以固定安装在转动部210上，且根据一维扫描振镜230和微机电器件400的具体位置和朝向等参数，确定反射器件240的朝向，保证激光收发组件发射的激光在微机电器件400的反射下，能够经一维扫描振镜230的反射，射向反射器件240，以在反射器件240的反射下，射向被扫描物体。对应地，使被扫描物体反射回的回波信号能够在反射器件240处反射，且射向一维扫描振镜230。一维扫描振镜230的朝向可以通过自身的转动实现调节，进而改变射向被扫描物体的激光光线的传播路径，达到改变激光光线在被扫描物体上的落点位置的目的，使激光扫描设备具备纵向扫描的能力。

另外，本申请实施例公开的激光扫描设备还包括滤波单元，滤波单元设置于激光收发组件与微机电器件400之间的光路上，以利用滤波单元对激光收发组件发出的激光光线进行过滤，滤除干扰光线，进一步提升扫描结果。

基于上述任一实施例公开的激光扫描设备，本申请实施例还公开一种安防系统，其包括上述任一激光扫描设备，当然，安防系统还可以包括其他如处理芯片等部件，考虑文本简洁，此处不再详细描述。

基于上述任一实施例公开的激光扫描设备，本申请实施例还公开一种扫描控制方法，其应用在上述激光扫描设备中，扫描控制方法包括：

S1、控制一维扫描振镜对被扫描视场以第一分辨率进行扫描。具体地，可以通过控制一维扫描振镜在周向上转动多圈，且在转动每一圈之前切换其朝向的方式，使一维扫描振镜能够对被扫描视场内的对应区域进行扫描。并且，第一分辨率可以设置为一较低的值，以对被扫描视场进行较为快速的粗扫描过程。在此步骤中，一维扫描振镜相对基座运动，且提供扫描作用，微机电器件作为反射件反射激光光线，不提供扫描作用。

上述扫描控制方法还包括：

S2、在被扫描视场包括满足第一分辨率的被扫描物体的情况下，控制微机电器件以第二分辨率对被扫描物体进行扫描。

具体地，利用一维扫描振镜对被扫描视场进行粗扫描时，如果发现某一被扫描物体的尺寸满足第一分辨率，则可以使激光扫描设备切换至第二工作模式，也即，控制微机电器件以第二分辨率对被扫描物体进行扫描，并且，由于第二分辨率高于第一分辨率，使得被扫描物体的被扫描精度更高，提升扫描结果的可靠性。

可选地，上述步骤S1可以包括：

在控制一维扫描振镜沿围绕第二方向的方向转动第一预设角度之后，控制一维扫描振镜沿围绕第一方向的方向转动第二预设角度，且对被扫描视场以第一分辨率进行扫描，直至第一预设角度之和为360°，其中，第二方向与第一方向垂直。

也即，在本实施例中，可以控制一维扫描振镜在第二方向上转动第二预设角度之后，再通过控制一维扫描振镜在围绕第二方向的方向上转动第一预设角度的方式，使一维扫描振镜能够在被扫描视场的周向上遍历整个被扫描视场，且对相对被扫描视场的轴向倾斜一定范围内的区域完成扫描，这可以提升一维扫描振镜的扫描效果。

本申请上文实施例中重点描述的是各个实施例之间的不同，各个实施例之间不同的优化特征只要不矛盾，均可以组合形成更优的实施例，考虑到行文简洁，在此则不再赘述。

以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (10)

1.一种激光扫描设备，其特征在于，包括激光收发组件、转动部、一维扫描振镜、基座和微机电器件，所述转动部和所述微机电器件均安装于所述基座，且所述一维扫描振镜与所述微机电器件对应设置，以使激光光线在所述微机电器件与所述一维扫描振镜之间反射；所述一维扫描振镜用于反射激光光线至被扫描物体，且用于反射自所述被扫描物体反射回的回波信号至所述微机电器件；所述微机电器件用于反射激光收发组件发出的激光光线至所述一维扫描振镜，且用于反射所述回波信号至所述激光收发组件；所述一维扫描振镜活动安装于所述基座，自所述一维扫描振镜射出的激光光线在围绕第一方向的方向上旋转，所述转动部用于使自所述一维扫描振镜射出的激光光线在围绕第二方向的方向上旋转，所述第一方向与所述第二方向相互垂直；

所述激光扫描设备具有第一工作模式和第二工作模式，在所述第一工作模式下，所述一维扫描振镜相对基座运动，所述微机电器件用于反射激光光线，所述一维扫描振镜以第一分辨率扫描被扫描物体，且在所述被扫描物体满足所述第一分辨率的情况下，所述激光扫描设备切换至所述第二工作模式；在所述第二工作模式下，所述一维扫描振镜相对所述基座静止，所述微机电器件工作，且用于以第二分辨率扫描被扫描物体，所述第二分辨率高于所述第一分辨率。

2.根据权利要求1所述的激光扫描设备，其特征在于，所述激光扫描设备还包括准直器件，所述准直器件设置于所述激光收发组件与所述微机电器件的光路之间。

3.根据权利要求2所述的激光扫描设备，其特征在于，所述一维扫描振镜安装于所述转动部。

4.根据权利要求3所述的激光扫描设备，其特征在于，所述激光扫描设备还包括会聚器件，所述会聚器件设置于所述微机电器件和所述一维扫描振镜的光路之间，所述一维扫描振镜与所述被扫描物体的光路之间设置有所述准直器件。

5.根据权利要求3所述的激光扫描设备，其特征在于，所述激光扫描设备还包括会聚器件，所述会聚器件设置于所述一维扫描振镜和所述被扫描物体的光路之间，所述会聚器件与所述被扫描物体的光路之间设置有准直器件。

6.根据权利要求2所述的激光扫描设备，其特征在于，所述一维扫描振镜安装于所述基座，所述激光扫描设备还包括反射器件，所述反射器件设置于所述一维扫描振镜和所述被扫描物体的光路之间，所述反射器件安装于与所述转动部。

7.根据权利要求1所述的激光扫描设备，其特征在于，所述激光扫描设备还包括滤波单元，所述滤波单元设置于所述激光收发组件与所述微机电器件之间的光路上。

8.一种安防系统，其特征在于，包括权利要求1-7任意一项所述的激光扫描设备。

9.一种扫描控制方法，应用于权利要求1-7任意一项所述的激光扫描设备，其特征在于，所述扫描控制方法包括：

控制一维扫描振镜对被扫描视场以第一分辨率进行扫描；

在所述被扫描视场包括满足所述第一分辨率的被扫描物体的情况下，控制微机电器件以第二分辨率对所述被扫描物体进行扫描，所述第二分辨率高于所述第一分辨率。

10.根据权利要求9所述的扫描控制方法，其特征在于，所述控制一维扫描振镜对被扫描视场以第一分辨率进行扫描，包括：

在控制所述一维扫描振镜沿围绕第二方向的方向转动第一预设角度之后，控制一维扫描振镜沿围绕第一方向的方向转动第二预设角度，且对被扫描视场以第一分辨率进行扫描，直至所述第一预设角度之和为360°，其中，所述第二方向与所述第一方向垂直。

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