CN116110310A - 一种基于soc系统的显示屏高温老化测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，其包括：SoC主信号板、多个点屏子板、多组输出接口转板；SoC主信号板与PC端上位机通讯连接，多个点屏子板分别通过信号线与SoC主信号板连接，SoC主信号板用于将PC端上位机发出的信号传输至各个点屏子板，并将各个点屏子板的数据传输至SoC主信号板；每组输出接口转板与一个点屏子板连接，每组输出接口转板包括多个输出接口转板，每个输出接口转板可连接一个待测显示屏。本发明的基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置中1块SoC主信号板可拓展带很多块点屏子板，进而可同时点亮很多片待测显示屏，实现了以更低的成本完成更多显示屏的高温老化测试，从而有效节约人力及生产成本、提高生产效率。

Description

一种基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其是指一种基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置。

背景技术

参照图1，传统高温老化测试治具主要包括FPGA信号板、电源板、信号桥接模块(可选)、接口转板、显示屏；FPGA信号板输出RGB、LVDS、MCU、MIPI(需加信号桥接模块)、V-BY-ONE(需加信号桥接模块)等信号到接口转板；电源板输出多通道电源到接口转板；接口转板把点屏所需信号及电源传输到显示屏进行点屏及高温老化测试。

传统高温老化测试治具中一套包括FPGA信号板、电源板、信号桥接模块(可选)、接口转板等板件的治具只能点亮1块显示屏；显示屏模组厂中的老化台车或老化炉需求同时点亮很多显示屏进行高温老化测试，比如说，一个老化台车或老化炉需要同时测试100块显示屏，那么传统高温老化测试治具就需要使用100套治具，这不仅会导致传统高温老化测试治具成本高昂也会导致老化台车或者老化炉的生产成本更高，同时也会增加人力成本，影响生产效率，进而影响企业的生产效益。

发明内容

为此，本发明所要解决的技术问题在于提供一种成本低、可扩展、效率高的基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，该基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置包括：SoC主信号板、多个点屏子板、多组输出接口转板；

所述SoC主信号板与PC端上位机通讯连接，所述多个点屏子板分别通过信号线与SoC主信号板连接，所述SoC主信号板用于将PC端上位机发出的信号传输至各个点屏子板，并将各个点屏子板的数据传输至所述SoC主信号板；

每组输出接口转板与一个点屏子板连接，每组输出接口转板包括多个输出接口转板，每个输出接口转板可连接一个待测显示屏。

在本发明的一个实施例中，所述点屏子板的数量为n，所述输出接口转板为n组，每组输出接口转板包括两个输出接口转板，所述SoC主信号板可控制点亮2n块待测显示屏；n≥2。

在本发明的一个实施例中，所述SoC主信号板包括SoC主控芯片、千兆网口、DDR模块、SD卡、IP拨码、按键、输出接口，所述SoC主控芯片通过千兆网口跟PC端上位机通讯；所述DDR模块用于数据缓存；所述SD卡用于存储系统文件、程序文件、配置文件；所述IP拨码作为SoC主信号板的唯一ID；所述按键用于离线点屏或者离线跑脚本做老化测试流程；所述SoC主信号板的输出接口通过连接线与点屏子板连接。

在本发明的一个实施例中，所述点屏子板包括输入接口、LVDS HUB模块、MCU主控芯片、多通道可调恒压电源、多通道可调恒流电源、输出接口；所述点屏子板的输入接口通过连接线与SoC主信号板连接；所述LVDS HUB模块把2Link 10bit LVDS信号复制成2组2Link 10bit LVDS信号，再分别传输到2块输出接口转板；所述MCU主控芯片通过总线信号与SoC主信号板连接，一块SoC主信号板可同时控制多块点屏子板的MCU，所述MCU主控芯片控制2组多通道可调恒压电源、2组多通道可调恒流电源及GPIO信号的输出；每个点屏子板有2个输出接口，每个输出接口输出2Link 10bit LVDS信号、1组多通道可调恒压电源、1组多通道可调恒流电源及GPIO信号。

在本发明的一个实施例中，所述输出接口转板包括输入接口和输出接口；所述输出接口转板的输入接口通过连接线与点屏子板连接；所述输出接口转板的输出接口通过连接线与待测显示屏连接，传输点亮待测显示屏所需的信号、多通道电源及GPIO信号。

在本发明的一个实施例中，所述输出接口转板还包括信号桥接模块。

在本发明的一个实施例中，每个SoC主信号板和每个点屏子板都使用独立的系统电源供电。

在本发明的一个实施例中，所述待测显示屏为LCD屏体、OLED屏体或Micro LED屏体，或者为LVDS、RGB、SPI、FPD-LINK、V-BY-ONE、MIPI和EDP信号类型的屏体。

本发明还提供了一种基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，其包括：SoC主信号板和多级点屏子板，每级点屏子板均包括多个点屏子板；

次一级点屏子板中的每个点屏子板与上一级点屏主板中的点屏主板一一连接，每个点屏子板可连接一个待测显示屏；

所述SoC主信号板与PC端上位机通讯连接，第一级点屏子板中的多个点屏子板分别通过信号线与SoC主信号板连接，所述SoC主信号板用于将PC端上位机发出的信号传输至各个点屏子板，并将各个点屏子板的数据传输至所述SoC主信号板。

在本发明的一个实施例中，所述点屏子板为m级，每一级点屏子板包括n个点屏子板，所述SoC主信号板可控制点亮m*n块待测显示屏；m≥2，n≥2。

本发明的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：

本发明的基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置中1块SoC主信号板可拓展带很多块点屏子板，进而可同时点亮很多片待测显示屏，实现了以更低的成本完成更多显示屏的高温老化测试，从而有效节约人力及生产成本、提高生产效率。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

为了使本发明的内容更容易被清楚的理解，下面根据本发明的具体实施例并结合附图，对本发明作进一步详细的说明。

图1是现有高温老化测试治具技术原理图；

图2是本发明实施例一中基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置的结构示意图；

图3是本发明实施例二中基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置的结构示意图；

图4是本发明实施例三中基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本发明并能予以实施，但所举实施例不作为对本发明的限定。

实施例一

参照图2所示，本实施例公开了一种基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，该基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置包括：SoC主信号板、多个点屏子板、多组输出接口转板。

所述SoC主信号板与PC端上位机通讯连接，所述多个点屏子板分别通过信号线与SoC主信号板连接，所述SoC主信号板用于将PC端上位机发出的信号传输至各个点屏子板，并将各个点屏子板的数据传输至所述SoC主信号板。

每组输出接口转板与一个点屏子板连接，每组输出接口转板包括多个输出接口转板，每个输出接口转板可连接一个待测显示屏。

可选地，所述SoC主信号板包括SoC主控芯片、千兆网口、DDR模块、SD卡、IP拨码、按键、输出接口等，所述SoC主控芯片通过千兆网口跟PC端上位机实现高速通讯，可实时传输图像信号、控制信号及回传数据等；DDR模块主要使用DDR3或者DDR4，主要用于做数据缓存；SD卡主要用来存储系统文件、程序文件、配置文件等；IP拨码作为SoC主信号板的唯一ID，如使用8位IP拨码最多可以提供256个ID，即使用1台PC的上位机最多可以控制256个SoC主信号板去点亮1536块显示屏；按键主要用于离线点屏或者离线跑脚本做老化测试流程；SoC主信号板的输出接口通过连接线与点屏子板连接。

可选地，所述点屏子板包括输入接口、LVDS HUB模块、MCU主控芯片、多通道可调恒压电源、多通道可调恒流电源、输出接口等；所述点屏子板的输入接口通过连接线与SoC主信号板连接；所述LVDS HUB模块把2Link10bit LVDS信号复制成2组2Link 10bit LVDS信号，再分别传输到2块输出接口转板；所述MCU主控芯片通过总线信号与SoC主信号板连接，一块SoC主信号板可同时控制多块点屏子板的MCU，所述MCU主控芯片控制2组多通道可调恒压电源、2组多通道可调恒流电源及GPIO信号的输出；每个点屏子板有2个输出接口，每个输出接口输出2Link 10bit LVDS信号、1组多通道可调恒压电源、1组多通道可调恒流电源及GPIO信号。

进一步地，所述输出接口转板包括输入接口和输出接口；所述输出接口转板的输入接口通过连接线与点屏子板连接；所述输出接口转板的输出接口通过连接线与待测显示屏连接，传输点亮待测显示屏所需的信号、多通道电源及GPIO信号。

可选地，所述输出接口转板还包括信号桥接模块。信号桥接模块是可选的，比如点LVDS信号的显示屏就不需要信号桥接模块，如果点其他信号(如RGB、SPI、FPD-LINK、V-BY-ONE、MIPI、EDP等)的显示屏就需要增加对应的信号桥接模块；输出接口转板的输出接口通过连接线与显示屏连接。

进一步地，每个SoC主信号板和每个点屏子板都使用独立的系统电源供电。这样可以保证即使扩展到128块点屏子板也能保证每一块点屏子板均可输出足够大的功率去点亮各种规格的显示屏。

本发明中的待测显示屏不限制材料、尺寸及信号类型。可选地，所述待测显示屏为LCD屏体、OLED屏体或Micro LED屏体等，或者为LVDS、RGB、SPI、FPD-LINK、V-BY-ONE、MIPI和EDP等信号类型的屏体。

其中，所述点屏子板的数量为n，所述输出接口转板为n组，每组输出接口转板包括两个输出接口转板，所述SoC主信号板可控制点亮2n块待测显示屏；n≥2。

在本实施例中，n＝3，SoC主信号板有3个输出接口通过3根连接线与3块点屏子板连接，每个输出接口主要传输2Link 10bit LVDS信号、跟MCU通讯的总线信号及其他GPIO等。可选地，3块点屏子板都是完全一样的，这样可节省设计及生产制造成本。

本实施例中的1块SoC主信号板可控制点亮6块显示屏，通过8位IP拨码可实现1台PC最多控制256个SoC主信号板去点亮1536块显示屏，实现了以更低的硬件成本去完成更多显示屏的高温老化测试，进而有效节约人力及生产成本、提高生产效率。

实施例二

参照图3，本实施例公开了一种基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，本实施例与实施例一的区别在于SoC主信号板和点屏子板的个数，本实施例中的SoC主信号板需提供n个输出接口跟n个点屏子板连接；这个n是有最大值限制的，主要取决于SoC芯片的LVDS信号对数和GPIO数量，比如选用的一款高性价比ZYNQ-7000SoC芯片可带6块点屏子板，即可用1块SoC主信号板控制点亮12块显示屏；通过8位IP拨码可实现1台PC最多控制256个SoC主信号板去点亮3072块显示屏。因此，本实施例中的点屏子板个数不限于实施例一中的3个，可以为4个、5个甚至更多。

本实施例中如果选用LVDS信号对数和GPIO数量更多的SoC芯片，就可以更多带更多的点屏子板(如n等于10，甚至更多)，进而可控制点亮更多的显示屏；通过8位IP拨码可实现1台PC最多控制256个SoC主信号板去点亮256*2n块显示屏。

在本实施例中，1块SoC主信号板要控制点亮多少块显示屏主要跟老化台车或老化炉的结构大小与布局、显示屏的尺寸、电源及信号的布线等相关；一个设计布局合理的老化台车或老化炉配合本发明的显示屏高温老化测试装置可以有效的提高生产效率、节省生产成本及人力成本，为企业创造更大的生产效益。

实施例三

参照图4，本实施例公开了一种基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，其包括：SoC主信号板和多级点屏子板，每级点屏子板均包括多个点屏子板；

其中，次一级点屏子板中的每个点屏子板与上一级点屏主板中的点屏主板一一连接，每个点屏子板可连接一个待测显示屏；

所述SoC主信号板与PC端上位机通讯连接，第一级点屏子板中的多个点屏子板分别通过信号线与SoC主信号板连接，所述SoC主信号板用于将PC端上位机发出的信号传输至各个点屏子板，并将各个点屏子板的数据传输至所述SoC主信号板。

所述点屏子板为m级，每一级点屏子板包括n个点屏子板，所述SoC主信号板可控制点亮m*n块待测显示屏；m≥2，n≥2。

其中，本实施例中n的最大值跟实施例二一样是有限制的(n等于10，甚至更多)；本实施例中m的最大值是无限，故理论上1块SoC主信号板可控制点亮的显示屏数量(n*m)是无限大的，具体应用中选取n和m的数值主要取决于老化台车或老化炉的结构大小与布局、显示屏的尺寸、电源及信号的布线等；

进一步地，本实施例中SoC主信号板跟实施例二是一样的，需提供n个输出接口跟n个点屏子板连接(n的最大值是有限制的)；

进一步地，本实施例中SoC主信号板和每一块点屏子板都使用独立的系统电源供电，这样可以保证n*m块点屏子板都可以输出足够大的功率去点亮各种规格的显示屏；

进一步地，本实施例中实施例三中一共有3种类型的连接线，连接线1主要用于连接SoC主信号板和第1级点屏子板，连接线1主要传输2Link 10bit LVDS信号、通讯总线(SOC芯片与MCU芯片通讯)及GPIO信号；连接线2主要用于连接相邻的两级点屏子板，连接线2主要传输2Link 10bit LVDS信号、通讯总线(相邻两个MCU芯片通讯)及GPIO信号；连接线3主要用于连接点屏子板和显示屏，连接线3主要传输点亮显示屏所需的信号、多通道电源(恒压源或恒流源)及GPIO信号等。

本实施例中的点屏子板跟实施例一和实施例二是有所区别的，本实施例中的点屏子板主要包括输入接口、LVDS HUB模块、信号桥接模块(可选)、MCU主控芯片、多通道可调恒压电源、多通道可调恒流电源、输出接口1、输出接口2等；第1级点屏子板的输入接口跟SoC主信号板连接，第2级往后点屏子板的输入接口都跟前一级的输出接口1连接，它们的通讯总线都是一样(MCU起到中继器的作用)；LVDS HUB模块把2Link 10bit LVDS信号复制成2组2Link 10bit LVDS信号，1组2Link 10bit LVDS信号通过输出接口1传输到下一级的点屏子板，另外1组2Link 10bit LVDS信号(或通过桥接芯片转换成其他信号类型)通过输出接口2传输到显示屏；同样地，信号桥接模块是可选的，比如点LVDS信号的显示屏就不需要信号桥接模块，如果点其他信号(如RGB、SPI、FPD-LINK、V-BY-ONE、MIPI、EDP等)的显示屏就需要增加对应的信号桥接模块；MCU主控芯片通过总线信号跟SoC主信号板或者下一级点屏子板连接，MCU主控芯片控制1组多通道可调恒压电源、1组多通道可调恒流电源及GPIO信号通过输出接口2输出到显示屏。

本实施例三的显示屏高温老化测试装置架构比实施例一和实施例二更为复杂，但是本实施例中1块SoC主信号板可控制点亮的显示屏数量(n*m)是无限大的，在适合的应用场景中可以实现以更低的硬件成本去点亮更多的显示屏，可以有效的提高生产效率、节省生产成本及人力成本，为企业创造更大的生产效益。

本发明中SoC是System on Chip的缩写，称为系统级芯片，也有称片上系统，意指它是一个产品，是一个有专用目标的集成电路，其中包含完整系统并有嵌入软件的全部内容。本发明中SoC产品主要采用Xilinx SoC产品系列或者Intel SoC产品系列，SoC产品系列将处理器的软件可编程性与FPGA的硬件可编程性进行完美整合，可为您提供无与伦比的系统性能、灵活性与可扩展性。

本发明中MCU是Microcontroller Unit的简称，又称单片微型计算机(SingleChip Microcomputer)或者单片机，是把中央处理器(Central Process Unit；CPU)的频率与规格做适当缩减，并将内存(memory)、计数器(Timer)、USB、A/D转换、UART、PLC、DMA等周边接口，甚至LCD驱动电路都整合在单一芯片上，形成芯片级的计算机，为不同的应用场合做不同组合控制。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引申出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。

Claims (10)

1.一种基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，包括：SoC主信号板、多个点屏子板、多组输出接口转板；

所述SoC主信号板与PC端上位机通讯连接，所述多个点屏子板分别通过信号线与SoC主信号板连接，所述SoC主信号板用于将PC端上位机发出的信号传输至各个点屏子板，并将各个点屏子板的数据传输至所述SoC主信号板；

每组输出接口转板与一个点屏子板连接，每组输出接口转板包括多个输出接口转板，每个输出接口转板可连接一个待测显示屏。

2.根据权利要求1所述的基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，所述点屏子板的数量为n，所述输出接口转板为n组，每组输出接口转板包括两个输出接口转板，所述SoC主信号板可控制点亮2n块待测显示屏；n≥2。

3.根据权利要求1所述的基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，所述SoC主信号板包括SoC主控芯片、千兆网口、DDR模块、SD卡、IP拨码、按键、输出接口，所述SoC主控芯片通过千兆网口跟PC端上位机通讯；所述DDR模块用于数据缓存；所述SD卡用于存储系统文件、程序文件、配置文件；所述IP拨码作为SoC主信号板的唯一ID；所述按键用于离线点屏或者离线跑脚本做老化测试流程；所述SoC主信号板的输出接口通过连接线与点屏子板连接。

4.根据权利要求1所述的基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，所述点屏子板包括输入接口、LVDS HUB模块、MCU主控芯片、多通道可调恒压电源、多通道可调恒流电源、输出接口；所述点屏子板的输入接口通过连接线与SoC主信号板连接；所述LVDSHUB模块把2Link 10bit LVDS信号复制成2组2Link 10bit LVDS信号，再分别传输到2块输出接口转板；所述MCU主控芯片通过总线信号与SoC主信号板连接，一块SoC主信号板可同时控制多块点屏子板的MCU，所述MCU主控芯片控制2组多通道可调恒压电源、2组多通道可调恒流电源及GPIO信号的输出；每个点屏子板有2个输出接口，每个输出接口输出2Link10bit LVDS信号、1组多通道可调恒压电源、1组多通道可调恒流电源及GPIO信号。

5.根据权利要求1所述的基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，所述输出接口转板包括输入接口和输出接口；所述输出接口转板的输入接口通过连接线与点屏子板连接；所述输出接口转板的输出接口通过连接线与待测显示屏连接，传输点亮待测显示屏所需的信号、多通道电源及GPIO信号。

6.根据权利要求5所述的基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，所述输出接口转板还包括信号桥接模块。

7.根据权利要求1所述的基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，每个SoC主信号板和每个点屏子板都使用独立的系统电源供电。

8.根据权利要求1所述的基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，所述待测显示屏为LCD屏体、OLED屏体或Micro LED屏体，或者为LVDS、RGB、SPI、FPD-LINK、V-BY-ONE、MIPI和EDP信号类型的屏体。

9.一种基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，包括：SoC主信号板和多级点屏子板，每级点屏子板均包括多个点屏子板；

次一级点屏子板中的每个点屏子板与上一级点屏主板中的点屏主板一一连接，每个点屏子板可连接一个待测显示屏；

所述SoC主信号板与PC端上位机通讯连接，第一级点屏子板中的多个点屏子板分别通过信号线与SoC主信号板连接，所述SoC主信号板用于将PC端上位机发出的信号传输至各个点屏子板，并将各个点屏子板的数据传输至所述SoC主信号板。

10.根据权利要求9所述的基于SOC系统的显示屏高温老化测试装置，其特征在于，所述点屏子板为m级，每一级点屏子板包括n个点屏子板，所述SoC主信号板可控制点亮m*n块待测显示屏；m≥2，n≥2。

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