CN116097390A - X射线管的监测 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种用于监测X射线管(100)的光学监测系统(200)，所述光学监测系统(200)包括：至少一个光学传感器(201)，其被配置为检测第一光学参数的第一信号和第二光学参数的第二信号，从而生成测量数据，其中，所述第一光学参数和所述第二光学参数选自包括等离子体辉光、放电、微放电、电弧、X射线荧光、线发射的组，其中，所述第一光学参数与所述第二光学参数彼此不同，所述光学监测系统(200)还包括：计算单元(202)，其被配置为将所述生成的测量数据和由所述计算单元(202)执行的对测量数据的分析的结果传送到光学监测系统(200)和所述X射线管(100)外部的远程系统(300)。本发明还涉及一种包括X射线管(100)和这样的光学监测系统(200)的单元，以及一种用于监测X射线管(100)的方法(400)。

Description

X射线管的监测

技术领域

本发明涉及监测X射线管，并且具体地涉及用于监测X射线管的光学监测系统、包括X射线管和光学监测系统的单元、用于监测X射线管的方法和程序单元。

背景技术

X射线管常常用于高强度排程，例如在医学成像应用中，并且受到严格的可靠性要求。因此，确保在发生故障的情况下的快速的管更换特别重要。然而，对X射线管的故障时间的预测是不精确和模糊的，使得用于管更换的流程，特别是在医学成像应用中，主要是反动的，这意味着，使用成像应用的医疗保健设施和成像应用服务组织仅在故障发生时才知道故障。这导致与患者重新排程和大的成本相关联的无计划停机。

发明内容

因此，可能需要改进X射线管的故障时间的预测，特别是在没有来自X射线管的日志数据可用的情况下。本发明的目标由随附的独立权利要求的主题解决，其中，其他实施例被包含在从属权利要求中。

根据第一方面，提供了一种用于监测X射线管的光学监测系统。所述光学系统包括至少一个光学传感器和计算单元。所述至少一个光学传感器被配置为检测第一光学参数的第一信号和第二光学参数的第二信号，从而生成测量数据。所述第一光学参数和第二光学参数选自包括以下各项的组：等离子体辉光、放电、微放电、电弧、X射线荧光、线发射，其中，所述第一光学参数和第二光学参数彼此不同。所述计算单元被配置为将所述生成的测量数据和/或由所述计算单元执行的测量数据的分析的结果发送到所述X射线管和所述光学监测系统外部的远程系统。

换句话说，提供了一种用于监测X射线管的光学监测系统，包括至少一个光学传感器和计算单元。所述至少一个光学传感器被配置为检测第一光学参数的第一信号和第二光学参数的第二信号，从而生成测量数据。所述第一光学参数和所述第二光学参数是由所述X射线管生成的电子束和/或发射的X射线辐射的副产品和/或副作用，其中，所述第一光学参数和所述第二光学参数彼此不同。所述计算单元被配置为分析所述生成的测量数据，并且将所述生成的测量数据和/或由所述计算单元执行的测量数据的分析的结果传送到所述X射线管和所述光学监测系统外部的远程系统。

特别地，所述第一光学参数和所述第二光学参数描述所述X射线管的电子束和/或发射的X射线辐射的副产品和/或副作用的光学特性。

这样的光学监测系统可以允许基于所生成的测量数据可靠地预测X射线管的剩余寿命。基于预测的剩余寿命，所述X射线管的更换可以被规划为优化安装所述X射线管的系统的操作时间和可用性。日志数据常常包含与所述X射线管的寿命预测相关的信息，例如，X射线管电压、阳极电流、灯丝电流、灯丝电压、递送的X射线脉冲的持续时间和/或类似电弧的事件。当日志数据不可访问时，这些参数需要以其他方式进行监测。即使当一些日志数据可访问时，对额外的参数的监测也可以增加监测的覆盖范围，改进剩余X射线管寿命的预测的可靠性。所提供的光学监测系统可以允许在没有日志数据可访问时可靠地预测所述X射线管的剩余寿命。所提供的系统还可用于制造期间的管调节，为过程监测递送数据，并且例如在工业4.0设置中。所提供的系统也可以由远程诊断设置中的服务组织使用。

如本文所使用的光学传感器应理解为包括能够检测至少两个光学参数的至少一个部件，或者包括两个或更多个部件，其中的每个能够检测一个光学参数。用于光学传感器和/或部件的示例可以是光电二极管、雪崩光电二极管、单光子雪崩二极管、硅光电倍增管、互补金属氧化物半导体(CMOS)和/或电荷耦合器件(CCD)相机传感器、光电倍增管、光栅、透镜、滤色器、光谱仪和/或其组合。

所述计算单元被理解为被配置为至少允许将所生成的测量数据传送到所述光学监测系统外部的远程系统的部件。此外，所述计算单元可以被配置为分析所生成的测量数据，并且额外地或备选地传送所生成的测量数据的分析的结果。传送所述分析的结果可以包括仅传送所述结果而不对其进行任何解释，或者传送包括解释的结果，例如，通知所述远程系统很快将需要所述X射线管的更换，使得可以提前很好地规划所述X射线管的更换，以最小化使用所述X射线管的应用的停机时间。

所述远程系统可以是本地放置的远程系统，诸如所述光学监测系统外部的远程系统和使用所述X射线管但在使用所述成像应用的设施内的成像应用。备选地，所述远程系统可以是全局系统，诸如安装在成像应用服务中心中的远程系统。

所述光学监测系统还可以被用于辅助管故障或管劣化诊断。这些诊断可以远程执行，例如几乎实时执行，或者在所述管已经返回到工厂用于诊断和翻新之后执行。

此外，所述系统可以支持使用监测，即监测客户(例如医疗保健设施、放射科医师和内科医师)如何使用所述X射线管。

根据特定实施例，所述第一光学参数和所述第二光学参数可以选自包括以下各项的组：等离子体辉光、放电、微放电、电弧、X射线荧光、线发射。换句话说，所述第一光学参数和所述第二光学参数可以描述以下各项中的至少一项的光学特性：等离子体辉光、放电、微放电、电弧、X射线荧光和线发射。额外地或者备选地，还可以使用未提及的副产品和/或副作用的参数。

根据实施例，所述第一参数和所述第二参数可以不包括X射线辐射，并且所述第一信号和所述第二信号可以不包括X射线辐射信号。

因此，所述第一和第二参数可以仅包括由所述X射线管生成的电子束和/或X射线辐射的副产品和/或副作用，优选地，这些副产品和副作用示出其特性的偏差和/或变化，其允许得出关于所述X射线管的剩余寿命的结论。

根据实施例，包括针对管状态和/或管老化的至少一个预定义模式的X射线管寿命模型可以被存储在所述计算单元中，并且所述计算单元可以被配置为使用所述存储的X射线管寿命模型来分析所述检测到的第一信号和所述检测到的第二信号。

所述X射线管寿命模型可以对应于将所生成的测量数据与所述至少一个预定义模式相关联的数学模型。因此，所述X射线管寿命模型可以递送所监测的X射线管的剩余寿命。所述寿命模型可以基于作为X射线管的各种即将出故障模式的特性的模式的识别和/或解释。所述数学模型可以作为算法在软件中实施。

根据实施例，所述预定义模式可以包括至少一个事件和/或至少一个过程和/或至少一个预定义范围和/或至少一个阈值，指示管龄和/或管磨损状态和/或管真空状态。

所述模式可以对应于来自至少一个事件、至少一个过程、至少一个预定义范围和至少一个阈值的组中的至少一个、优选多于一个值的集合，这允许得出关于管龄和/或管磨损状态和/或管真空状态的结论。所述管寿命模型可以基于在出故障管中检测到的事件/测量结果的模式。

根据实施例，所述光学传感器可以被配置为检测来自以下化学元素中的至少一种的线发射作为第一信号：B、Si、Na、K、Ca、Sr、Mg、O、N、H、W、Re、Rh、Ga、In、Sn、Mo、Ni、Co、Be、Al和Fe。

这些线发射是所发射的X射线辐射和/或由所述电子束激发的副产品，并且取决于所述X射线管的剩余寿命示出特性变化，例如行为、发生强度、发生频率等。因此，通过监测上文所提到的化学元素中的至少一种的线发射有助于预测所述X射线管的剩余寿命。例如，这些信号可以用作管真空的度量，用于电弧预测和表征，用于预测管故障，例如由于真空泄漏、电弧击穿和/或金属轴承劣化。例如，线发射可以是一种电弧的前光标。当检测到这些(优选预定义的)线发射时，这意味着存在真空问题。太多的这些线发射在真空内，这可能导致电离等离子体，这有效地缩短所述阳极电压。由于在那时刻发生的大放电电流，所述等离子体将变得极其热，并且因此，将发射大量光，可识别为闪光。

根据实施例，所述光学监测系统可以额外地包括至少一个非光学传感器，其被配置为检测至少一个非光学参数的信号。所述非光学传感器可以优选地是被配置为检测声音和声音变化的麦克风和/或加速度计、检测加速度和/或位置的加速度计、被配置为检测电磁信号的场线圈和/或辐射传感器，诸如闪烁体加上光电二极管、固态检测器、MOSFET或电离规，其被配置为监测管输出剂量和/或光谱。

所述麦克风和/或所述加速度计可以允许捕获例如来自方位的噪声变化和/或来自放电和电弧的声音。在所述时间域和频率域中分析这些信号可用于精确定位即将发生的机械故障，例如轴承故障、阳极盘失衡等。所述场线圈可以允许检测电磁信号，例如来自电弧、放电、驱动频率和/或占空比。所述辐射传感器允许监测管输出剂量。所述辐射传感器可以是能量积分或能量分辨的。能量分辨辐射传感器可以允许确定焦点轨迹老化，同时可以允许通过测量最高视在光子能量来监测所述X射线光谱和间接监测所述管电压。组合所测量的剂量和时间戳记，可以从能量分辨辐射传感器导出完整的使用轮廓。

根据实施例，所述光学监测系统还可以包括至少一个额外的光学传感器。所述额外的光学传感器可以是与许多光电二极管组合的光栅，其中，所述许多光电二极管包括若干单个光电二极管和/或光电二极管的线性阵列。所述光栅可以被用于根据其来源区分线发射，从而收集可能的故障根本原因和/或基于预定义发射模式来检测老化或磨损。额外地或者备选地，所述额外的光学传感器可以是高温计，其允许检测至少两种不同的波长，例如用于测量黑体辐射。所测量的黑体辐射可以用于估计阳极、灯丝、阴极杯、轴承、管壳和/或其他管部件的温度。而且，滤波器可以被用于限制对预定义波长间隔的检测。随时间的温度变化可以用作例如减小热传导能力、阳极粗糙化和/或灯丝蒸发的指示，所有这些对应于所述X射线管的特性，从而允许要监测的X射线管的剩余寿命的预测。

根据实施例，所述光学监测系统还可以包括电源、通信装置和/或额外的功率存储单元。

这样的光学监测系统可以作为附加系统提供，该附加系统是独立的光学管监控系统，限制了对所述成像应用的操作的潜在干扰，同时提供了关于管性能的定制结果。所述电源优选地从所述X射线管的正常操作汲取操作功率。额外的功率存储单元可以被添加用于能够在所述X射线管已经断电之后的一段时间内监测X射线管参数。这可以允许捕获非常短的X射线管使用周期，因为它们通常用于诊断X射线应用。

根据实施例，所述光学监测系统可以被配置为使用基于蜂窝电话的通信或诸如蓝牙、WLAN、LoRaWAN等的另一无线通信来将所述收集的信号和/或分析结果发送到所述远程计算设备。

所述光学监测系统可以被编程为记录测量数据和/或基于对记录的测量数据的分析来计算结果，并且例如，当所述结果指示异常操作、不稳定和/或磨损超过至少一个预定义阈值时，经由移动电话卡呼叫预设号码。备选地，所述光学监测系统可以每天经由电话卡与所述远程系统通信。代替于使用所述电话卡，所述光学监测系统可以使用蓝牙、WLAN、LoRaWAN等与所述远程系统通信。在这两种情况下，所述光学监测系统不依赖于使用要监测的X射线管的成像应用。

根据第二方面，提供了一种包括X射线管和根据第一方面的光学监测系统的单元。所述至少一个光学传感器被布置在真空保持管壳内，或者布置在所述管壳外但在所述辐射屏蔽管外壳内，或者布置在所述管壳和所述管外壳外。

所述光学传感器的所述放置可以取决于要监测的X射线管的类型，特别地取决于管壳设计和/或管壳材料和/或辐射屏蔽和/或、管窗口、极性、阴极、阳极和/或轴承的类型等，以及取决于所述X射线管的预期用途。所述光学传感器，特别是光电二极管，可以放置在所述管壳内或所述管壳外。

根据实施例，所述单元还可以包括至少一个光源，所述光源和至少一个光学传感器被配置为检测所述管壳内的沉积。

在所述X射线管的使用期间，表面(诸如玻璃表面)上的沉积(诸如金属沉积)可能构成影响检测到的光辐射强度的灰色滤光片。可以安装所述光源以量化透射模式或反射模式下的这样的沉积。备选地，可以通过在不同位置处(如阴影和非阴影)进行测量来补偿所述沉积。所述沉积也可以用作累积管磨损的度量，例如作为第一光学参数的第一信号。特别地，金属沉积也可以作为用于所述X射线辐射的波长选择滤波器，并且因此可以通过X射线光谱监测来跟踪。

根据实施例，所述单元还可以包括用于无线通信的至少一个天线，其中，所述至少一个天线可以优选地容纳在用于将冷却流体供应到所述管外壳中的(塑料)供应管中。

所述至少一个天线可以由薄天线制成，并且可以被引入到所述供应管中。所述供应管可以是非导电的，使得所述无线信号的所述辐射可能不被阻碍，因为这将是当所述天线将完全在所述屏蔽管外壳内时的情况。作为备选方案，所述无线信号可以耦合到所述光学监测系统从其中汲取功率的线路上。

根据实施例，所述光学监测系统可以集成到所述X射线管中，并且电耦合到所述X射线管的电源。

这样的光学监测系统可以集成到使用所述X射线管的成像应用中，并且例如电耦合到所述X射线管的电源。这样的布置不太容易出错、误用和/或操纵。

根据第三方面，提供了一种用于监测X射线管的方法。所述方法包括借助于光学监测系统的至少一个光学传感器检测第一光学参数的第一信号和第二光学参数的第二信号的步骤，其中，所述第一光学参数和所述第二光学参数彼此不同，以及借助于计算单元将所述生成的测量数据和/或由所述计算单元执行的测量数据的分析的结果传送到所述X射线管外部的远程系统。任选地，所述方法还可以包括借助于所述计算单元分析所述生成的测量数据。所述方法可以至少部分地计算机实现，并且可以以软件和/或硬件实现。

根据实施例，借助于计算单元传送所述生成的测量数据的步骤还可以包括收集所述信号、对所述信号进行时间戳记以及保存所述信号。

时间戳记信号可以允许跟踪监测参数的变化，并且基于检测到的信号按时间顺序得出关于所述X射线管的剩余寿命的结论。

根据第四方面，提供了一种程序单元，其被配置为存储在根据第一方面的光学监测系统的计算单元上，并且被配置为使得所述光学监测系统执行根据第三方面的方法。

应注意，上述实施例可以彼此组合，而与所涉及的方面无关。因此，所述方法可以与其他方面的系统和/或单元的结构特征组合，并且同样地，所述系统和/或单元可以与彼此的特征组合并且还可以与上文关于所述方法所描述的特征组合。有利地，由以上方面和示例中的任一个所提供的益处同样地适用于所有其他方面和示例，并且反之亦然。

本发明的这些和其他方面将从在下文中所描述的实施例而显而易见并且得到阐述。

附图说明

将在以下附图中描述本公开的示例性实施例。

图1示出了X射线管的示例性实施例的示意性视图以及用于监测X射线管的光学监测系统的传感器的若干位置。

图2示出了用于监测X射线管的光学监测系统的示例性实施例的示意性图示。

图3示出了用于监测X射线管的光学监测系统的另一示例性实施例的示意性图示。

图4示出了用于监测X射线管的光学监测系统的另一示例性实施例的示意性图示。

图5示出了用于监测X射线管的方法的示例性实施例的流程图。

附图仅仅是示意性表示并且仅用于图示本发明的实施例。相同或者等效元件原则上被提供有相同附图标记。

附图标记列表

100 X射线管

101 阴极

102 阳极

103 阳极转子

104 阳极定子

105 管壳

106 管外壳

107 真空体积

108 隔离冷却介质

109 电子束

110 X射线辐射

200 光学监测传感器

201 光学传感器

202 计算单元

203 非光学传感器

204 通信单元

205 电源

300 远程系统

400 方法

A、B、C、D、E位置

具体实施方式

图1以示意性图示示出了X射线管100的示例性实施例。X射线管包括阴极101、具有阳极转子103和阳极定子104的阳极102、形成真空壳体的管壳105、形成屏蔽壳体的管外壳106。管壳105包围真空体积107，其形成针对阴极101和阳极102的真空环境。管外壳106包围管壳105并且填充有隔离冷却介质108。为了生成X射线辐射，阴极101以电子束109的形式朝向阳极102发射电子，并且在电子束109撞击阳极102的点处从阳极102发射X射线110。

在操作期间，X射线管100经历磨损过程，由于该磨损过程，X射线管100最终出故障。为了检测X射线管100的劣化，X射线管100由光学监测系统200监测，这将关于图2至4更详细地描述。在图1中，字母A、B、C、D和E标记位置，光学监测系统200的传感器可以被放置在所述位置中以用于监测X射线管100，这取决于要由光学监测系统200监测的参数。

图2示出了用于监测X射线管100的光学监测系统200的示例性实施例。光学监测系统200包括光学传感器201和计算单元202。图3示出了用于监测X射线管100的光学监测系统200的另一示例性实施例。光学监测系统200包括光学传感器201、计算单元202，并且额外地包括非光学传感器203。

光学传感器201被配置为检测来自第一光学参数的第一信号和来自第二光学参数的第二信号作为测量数据。光学参数选自包括以下各项的组：等离子体辉光、放电、微放电、电弧、X射线荧光和不同线发射。光学参数通常是来自发射的X射线辐射110和/或电子束109的激发的副产品和/或副作用。光学传感器202例如是光电二极管、高温计、滤色器、光栅，优选地与光电二极管、光源及其组合相组合。

非光学传感器203被配置为检测至少一个非光学参数的信号。非光学参数选自包括以下各项的组：声音或噪声、加速度、位置、电磁信号、X射线辐射。非光学传感器203例如是被配置为检测声音和声音变化的麦克风和/或加速度计、检测加速度和/或位置的加速度计、被配置为检测电磁信号的场线圈、和/或被配置为监测管输出剂量和/或光谱的辐射传感器，诸如闪烁体加上光电二极管、固态检测器、MOSFET或电离规及其组合。

计算单元202被配置为至少将从光学传感器201检测到的第一和第二信号和/或由非光学传感器203检测到的信号传送到光学监测系统200外部的远程系统300。额外地或备选地，计算单元202可以分析测量数据，并且可以基于测量数据的分析来计算结果，并且可以将测量数据的分析的结果传送到远程系统300。为此，由光学传感器201检测到的第一和第二信号和/或由非光学传感器203检测到并由计算单元202收集的信号可以是时间戳记的。

此外，计算单元202可以在将测量数据传送到远程系统300之前存储测量数据。因此，计算单元202包括用于存储测量数据的元件、用于分析测量数据的元件和/或用于向远程系统300传送数据和/或分析结果的元件。用于这样的元件的示例包括信号处理系统、数据处理系统和/或可编程操作系统。

为了分析测量数据，计算单元202包括包含用于管状态和/或管老化的至少一个预定义模式的X射线管寿命模型。基于该管寿命模型，计算单元202可以计算X射线管100的剩余寿命和/或预测其故障。模式包括至少一个事件和/或至少一个过程的组的至少一个值和/或指示管龄和/或管磨损状态和/或管真空状态的至少一个预定义范围和/或至少一个阈值。例如，指示近灯丝故障的模式可以包括与灯丝故障之前很久的值相比较的预定义差异、由形成热点导致的来自灯丝的黑体(热)辐射和光辐射。轴承故障的模式特性可能构成轴承的液体金属润滑剂的新出现的线发射，其开始泄漏到管真空中。

优选地，模式包括n个值的组合，并且当这些值中的k个的组合在正常间隔之外时(间隔是n维体积)，这指示磨损和/或不稳定性超过预定义限制，其中，k等于或小于n。在这种情况下，计算单元202发出警告，该警告通过通信单元204传递到远程系统300。通信单元204可以与计算单元202分离并耦合到计算单元202，如图4所示，或者通信单元204可以在计算单元202中集成实现，如图2和3所示。

计算单元202与远程系统300之间的通信可以是定期的或基于警告的。定期(例如每天)的通信可以包括传送测量数据和/或传送测量数据的分析的结果。远程系统300可以要么中心要么本地定位，例如在管制造厂、管服务中心或X射线管100定位的建筑物(例如医院)中。此外，远程系统300可以是被配置为通过X射线管维护服务的构件耦合到计算单元202的计算机设备，诸如膝上型计算机。

图4示出了用于监测X射线管100的光学监测系统200的另一示例性实施例，光学监测系统200额外地包括分离的通信单元204和电源205。电源205优选地耦合到X射线管100的电源。电源205可以额外地包括额外的功率存储单元(图中未示出)，其允许在X射线管100已经断电之后的一些时间内监测X射线管100。

返回参考图1，字母A标记针对光学监测系统200的至少一个传感器的位置，该传感器优选地监测来自阳极102的轴承和背面的黑体辐射，在管壳105外但在管外壳106内。字母B标记针对光学监测系统200的至少一个传感器的位置，所述至少一个传感器优选地监测阴极101与阳极102之间的电弧和/或用于来自阴极杯(未示出)和阳极102的黑体辐射。字母C标记针对光学监测系统200的至少一个传感器布置在管壳105内的示例性位置。字母D标记针对光学监测系统200的至少一个传感器的位置，所述至少一个传感器优选地监测来自阳极102的焦点轨迹的电弧和/或黑体辐射，并且字母E标记针对光学监测系统200的至少一个传感器被布置在管壳105外和管外壳106外部的示例性位置。

应当注意，在光学监测系统200包括多于一个光学和/或非光学传感器201、203的情况下，这些传感器被布置在X射线管100内部和/或外部的不同位置处是可能的。

图5示出了用于监测X射线管的方法的示例性实施例的流程图。步骤S1包括借助于光学监测系统200的至少一个光学传感器201检测第一光学参数的第一信号和第二光学参数的第二信号，从而生成测量数据。第一和第二参数彼此不同。接下来，步骤S2包括借助于计算单元202或通信单元204将生成的测量数据和/或由计算单元202执行的测量数据的分析的结果传送到光学监测系统200和X射线管100外部的远程系统300。

Claims (16)

1.一种用于监测X射线管(100)的光学监测系统(200)，所述光学监测系统(200)包括：

至少一个光学传感器(201)，其被配置为检测第一光学参数的第一信号和第二光学参数的第二信号，从而生成测量数据，

其中，所述第一光学参数和所述第二光学参数是由所述X射线管(100)生成的电子束和/或发射的X射线辐射(110)的副产品和/或副作用，

其中，所述第一光学参数与所述第二光学参数彼此不同，所述光学监测系统(200)还包括：

计算单元(202)，其被配置为：分析所述生成的测量数据，并且将所述生成的测量数据和/或由所述计算单元(202)执行的对测量数据的分析的结果传送到在光学监测系统(200)和所述X射线管(100)外部的远程系统(300)。

2.根据权利要求1所述的光学监测系统(200)，

其中，所述第一光学参数和所述第二光学参数选自包括以下各项的组：等离子体辉光、放电、微放电、电弧、X射线荧光和线发射。

3.根据权利要求1或2所述的光学监测系统(200)，

其中，所述第一参数和所述第二参数不包括X射线辐射(110)，并且所述第一信号和所述第二信号不包括X射线辐射信号。

4.根据权利要求1至3中的任一项所述的光学监测系统(200)，

其中，包括针对管状态和/或管老化的至少一个预定义模式的X射线管寿命模型被存储在所述计算单元(202)中，并且

其中，所述计算单元(202)被配置为使用所述存储的X射线管寿命模型来分析所述第一光学参数的所述检测到的第一信号并且分析所述第二光学参数的所述检测到的第二信号。

5.根据权利要求4所述的光学监测系统(200)，其中，所述预定义模式包括指示管龄和/或管磨损状态和/或管真空状态的至少一个事件和/或至少一个过程和/或至少一个预定义范围和/或至少一个阈值。

6.根据前述权利要求中的任一项所述的光学监测系统(200)，其中，所述光学传感器(201)被配置为检测来自以下化学元素中的至少一种的线发射作为第一信号：B、Si、Na、K、Ca、Sr、Mg、O、N、H、W、Re、Rh、Ga、In、Sn、Mo、Ni、Co、Be、Al和Fe。

7.根据前述权利要求中的任一项所述的光学监测系统(200)，额外地包括被配置为检测至少一个非光学参数的信号的至少一个非光学传感器(203)，所述至少一个非光学传感器优选地是：麦克风和/或加速度计，其被配置为检测声音和声音变化；加速度计，其用于检测加速度和/或位置；场线圈，其被配置为检测电磁信号，和/或辐射传感器，诸如闪烁体加上光电二极管、固态检测器、MOSFET或电离规，所述辐射传感器被配置为监测管输出剂量和/或光谱。

8.根据前述权利要求中的任一项所述的光学监测系统(200)，还包括：电源(205)、通信模块(204)和/或额外的功率存储单元。

9.根据前述权利要求中的任一项所述的光学监测系统(200)，

其中，所述光学监测系统(200)被配置为使用基于蜂窝电话的通信或另一无线通信来将所述收集的信号和/或分析结果传送到所述远程系统(300)。

10.一种X射线管(100)和包括根据权利要求1至9中的任一项所述的光学监测系统(200)的单元，

其中，所述至少一个光学传感器(201)被布置在真空保持管壳(105)内，或被布置在所述管壳(105)外部但在辐射屏蔽管外壳(106)内部，或被布置在所述管壳(105)和所述管外壳(106)外部。

11.根据权利要求10所述的单元，还包括至少一个光源，所述光源和所述至少一个光学传感器被配置为检测所述管壳(105)内的沉积。

12.根据权利要求10或11所述的单元，还包括用于无线通信的至少一个天线，其中，所述至少一个天线容纳在用于将冷却流体(108)供应到所述管外壳(106)中的供应管中。

13.根据权利要求10至12中的任一项所述的单元，

其中，所述光学监测系统(200)被集成到所述X射线管(100)中，并且被电耦合到所述X射线管(200)的电源。

14.一种用于监测X射线管(100)的方法(400)，所述方法包括：

借助于光学监测系统(200)的至少一个光学传感器(201)来检测第一光学参数的第一信号和第二光学参数的第二信号，从而生成测量数据，其中，所述第一光学参数与所述第二光学参数彼此不同，

借助于计算单元(202)来分析所述生成的测量数据；

借助于所述计算设备(202)将所述生成的测量数据和/或由所述计算单元(202)执行的对测量数据的分析的结果传送到在所述X射线管(100)和所述光学监测系统(200)外部的远程系统(300)。

15.根据权利要求14所述的方法(400)，其中，收集第一光学参数的第一信号和第二光学参数的第二信号包括收集所述信号、对所述信号加上时间戳记以及保存所述信号。

16.一种程序单元，被配置为被存储在根据权利要求1至8中的任一项所述的光学监测系统(200)的计算单元(202)上，并且被配置为使得所述光学监测系统(200)执行根据权利要求13至14中的任一项所述的方法(400)。

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