CN116067630B - 评估低重复频率自发辐射占比装置、系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种评估低重复频率自发辐射占比装置、系统及方法，其装置包括激光功率分束器、脉冲提取结构、测量结构及数据处理器，激光功率分束器用于接收待测激光器输出的待测激光脉冲信号，并将待测激光脉冲信号拆分为两束输出；脉冲提取结构用于根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号，并根据触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取自发辐射信号和目标脉冲信号；测量结构分别对自发辐射信号及目标脉冲信号进行信号属性测量、并对应输出信号测量数据；数据处理器用于根据信号测量数据获取待测激光脉冲信号的自发辐射占比。本发明能计算脉冲间自发辐射信号的占比，评估脉冲间自发辐射信号的光谱和能量特性分布。

Description

评估低重复频率自发辐射占比装置、系统及方法

技术领域

本发明涉及光纤激光技术领域，具体是涉及一种评估低重复频率自发辐射占比装置、系统及方法。

背景技术

高对比度的脉冲激光器已经成为工业加工、基础科学、生物医药领域不可或缺的工具，得益于光纤激光器的紧凑型、高能量转换效率、低成本，基于脉冲光纤激光技术的应用快速发展。当前低重复频率（<50kHz）的脉冲激光器因其稳定性好，抗环境干扰能力强，体积小，已经被广泛应用在激光雷达领域，为汽车自动驾驶、风力发电机、环境气溶胶监测提供脉冲激光光源。然而这类型光源由于占空比较低，在放大过程中容易产生大量的自发辐射能量。并且在光纤激光放大器中，通常采用较长的增益光纤提高光转换效率，导致额外的自发辐射积累，影响脉冲对比度。在高能量脉冲激光应用中，自发辐射能量会导致探测元件和待加工材料表面的热量累积，造成损伤。同时脉冲前沿过高的自发辐射也是限制灵敏度的重要因素之一。

现阶段，脉冲对比度的评估通常采用开关机或测量平均功率的方式，这是无法测量实际脉冲间的自发辐射的。由于缺乏对脉冲间自发辐射的直接评估手段，导致难以直接对比影响自发辐射的参数，从而影响激光器设计参数的优化。因此，如何找到一种评估脉冲间自发辐射能量和光谱分布的评估方法，并能使用在光纤激光测量系统中，成为业内亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的是为了克服上述背景技术的不足，提供一种评估低重复频率自发辐射占比装置、系统及方法，计算脉冲间自发辐射信号的占比，评估脉冲间自发辐射信号的光谱和能量特性分布。

第一方面，提供一种评估低重复频率自发辐射占比装置，包括：

激光功率分束器，用于接收待测激光器输出的待测激光脉冲信号，并将所述待测激光脉冲信号拆分为两束输出；

脉冲提取结构，用于根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号，并根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取自发辐射信号和目标脉冲信号；

测量结构，用于分别对所述自发辐射信号及所述目标脉冲信号进行信号属性测量、并对应输出信号测量数据；以及，

数据处理器，与所述测量结构电连接，用于根据所述信号测量数据获取所述待测激光脉冲信号的自发辐射占比。

在一些实施例中，所述脉冲提取结构包括同步触发信号产生器及激光开关，所述激光功率分束器与所述激光开关电连接；

所述同步触发信号产生器，用于根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号；

所述激光开关，用于根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取长脉冲信号及短脉冲信号；其中，所述长脉冲信号对应于自发辐射信号，所述短脉冲信号对应于目标脉冲信号。

在一些实施例中，所述激光开关用于，

当检测到触发信号为分离短脉冲信号时，则输出短门信号，并在另一束待测激光脉冲信号中提取短门信号宽度大于另一束待测激光脉冲信号的时间宽度、且短门信号与另一束待测激光脉冲信号同步时的目标脉冲信号；

当检测到触发信号为分离长脉冲信号时，则输出长门信号，并在另一束待测激光脉冲信号中提取长门信号宽度小于另一束待测激光脉冲信号的时间宽度、且长门信号与另一束待测激光脉冲信号之间的延时大于另一束待测激光脉冲信号间隔时的自发辐射信号。

在一些实施例中，所述测量结构包括光谱仪及功率计；

所述光谱仪，用于分别测量所述自发辐射信号的光谱及所述目标脉冲信号的光谱；

所述功率计，用于分别测量所述自发辐射信号的能量及所述目标脉冲信号的能量。

第二方面，提供一种评估低重复频率自发辐射占比系统，包括：

待测激光器，用于输出待测激光脉冲信号；以及，

如上述所述的评估低重复频率自发辐射能量占比装置，所述评估低重复频率自发辐射能量占比装置设于所述待测激光器的一侧。

第三方面，提供一种评估低重复频率自发辐射占比方法，包括以下步骤：

激光功率分束器接收待测激光器输出的待测激光脉冲信号，并将所述待测激光脉冲信号拆分为两束输出；

脉冲提取结构根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号，并根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取自发辐射信号和目标脉冲信号；

测量结构分别对所述自发辐射信号及所述目标脉冲信号进行信号属性测量、并对应输出信号测量数据；

数据处理器根据所述信号测量数据获取所述待测激光脉冲信号的自发辐射占比。

在一些实施例中，所述“脉冲提取结构根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号，并根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取自发辐射信号和目标脉冲信号”步骤，具体包括以下步骤：

脉冲提取结构的同步触发信号产生器根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号；

脉冲提取结构的激光开关根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取长脉冲信号及短脉冲信号；其中，所述长脉冲信号对应于自发辐射信号，所述短脉冲信号对应于目标脉冲信号。

在一些实施例中，所述“脉冲提取结构的激光开关根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取长脉冲信号及短脉冲信号”步骤，具体包括以下步骤：

当激光开关检测到触发信号为分离短脉冲信号时，则输出短门信号，并在另一束待测激光脉冲信号中提取短门信号宽度大于另一束待测激光脉冲信号的时间宽度、且短门信号与另一束待测激光脉冲信号同步时的目标脉冲信号；

当激光开关检测到触发信号为分离长脉冲信号时，则输出长门信号，并在另一束待测激光脉冲信号中提取长门信号宽度小于另一束待测激光脉冲信号的时间宽度、且长门信号与另一束待测激光脉冲信号之间的延时大于另一束待测激光脉冲信号间隔时的自发辐射信号。

在一些实施例中，所述“测量结构分别对所述自发辐射信号及所述目标脉冲信号进行信号属性测量、并对应输出信号测量数据”步骤，具体包括以下步骤：

测量结构的光谱仪分别测量所述自发辐射信号的光谱及所述目标脉冲信号的光谱；

测量结构的功率计分别测量所述自发辐射信号的能量及所述目标脉冲信号的能量。

与现有技术相比，本发明通过脉冲提取结构提取自发辐射信号和目标脉冲信号（自发辐射信号存在于待测激光脉冲信号之间），计算脉冲间自发辐射信号的占比，直接评估脉冲间自发辐射信号的光谱和能量特性分布，因此可用于比较不同激光器设计参数对脉冲对比度的影响，为激光器设计参数优化提供数据参考。

附图说明

图1是本发明一种评估低重复频率自发辐射占比系统的结构示意图；

图2是本发明一种评估低重复频率自发辐射占比装置的原理示意图；

图3是本发明一种评估低重复频率自发辐射占比方法的一实施例的流程示意图；

图4是本发明一种评估低重复频率自发辐射占比方法的又一实施例的流程示意图。

附图标号：

101、待测激光器；102、激光功率分束器；103、同步触发信号产生器；104、激光开关；105、光谱仪；106、功率计；107、数据处理器；201、待测激光脉冲信号；202、目标脉冲信号提取状态；203、自发辐射信号提取状态；204、目标脉冲信号；205、自发辐射信号。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参见图1所示，本发明实施例提供一种评估低重复频率自发辐射能量占比装置，包括：

激光功率分束器102，用于接收待测激光器101输出的待测激光脉冲信号，并将所述待测激光脉冲信号拆分为两束输出；激光功率分束器102可以是光纤耦合器、激光分束片、偏振分光棱镜等；

脉冲提取结构，用于根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号，并根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取自发辐射信号和目标脉冲信号；

测量结构，用于分别对所述自发辐射信号及所述目标脉冲信号进行信号属性测量、并对应输出信号测量数据；以及，

数据处理器107，与所述测量结构电连接，用于根据所述信号测量数据获取所述待测激光脉冲信号的自发辐射占比。

具体的，本实施例中，由于脉冲对比度的评估通常采用开关机或测量平均功率的方式，无法测量实际脉冲间的自发辐射。由于缺乏对脉冲间自发辐射的直接评估手段，导致难以直接对比影响自发辐射的参数，从而影响激光器设计参数的优化；因此针对上述问题，本发明通过脉冲提取结构提取自发辐射信号和目标脉冲信号（自发辐射信号存在于待测激光脉冲信号之间），计算脉冲间自发辐射信号的占比，直接评估脉冲间自发辐射信号的光谱和能量特性分布，因此可用于比较不同激光器设计参数对脉冲对比度的影响，为激光器设计参数优化提供数据参考。

可选地，所述脉冲提取结构包括同步触发信号产生器103及激光开关104，所述激光功率分束器102与所述激光开关104电连接；

所述同步触发信号产生器103，用于根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号；

所述激光开关104，用于根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取长脉冲信号及短脉冲信号；其中，所述长脉冲信号对应于自发辐射信号，所述短脉冲信号对应于目标脉冲信号；激光开关104可以是声光调制器或电光调制器。

具体的，本实施例中，待测激光器101与激光功率分束器102连接，一路与同步触发信号产生器103连接，通过探测待测激光脉冲信号产生的脉冲重复频率和脉冲宽度，输出不同延时量和不同宽度的门信号控制激光开关104的开关时间和门宽；一路与激光开关104连接，在触发信号的控制下分别在不同的时间上过滤出目标脉冲信号和自发辐射信号。

可选地，所述激光开关104用于，

当检测到触发信号为分离短脉冲信号时，则输出短门信号，并在另一束待测激光脉冲信号中提取短门信号宽度大于另一束待测激光脉冲信号的时间宽度、且短门信号与另一束待测激光脉冲信号同步时的目标脉冲信号；

当检测到触发信号为分离长脉冲信号时，则输出长门信号，并在另一束待测激光脉冲信号中提取长门信号宽度小于另一束待测激光脉冲信号的时间宽度、且长门信号与另一束待测激光脉冲信号之间的延时大于另一束待测激光脉冲信号间隔时的自发辐射信号。

具体的，本实施例中，同时参见图2所示，首先待测激光器101输出的待测激光脉冲信号201序列在时间上等时间间隔排列，在放大过程（增益光纤）中积累的自发辐射信号存在于待测激光脉冲信号之间，通过合适延时和门宽的触发信号，驱动激光开关104，可以分别测量时间轴内不同位置的输出信号，具体为：选择门信号宽度略大于待测激光脉冲信号201的时间宽度，且门信号与待测激光脉冲信号同步时，为目标脉冲信号提取状态202，最终输出信号用于测量目标脉冲信号204。选择门信号宽度略小于待测激光脉冲信号201的时间宽度，且门信号与待测激光脉冲信号201之间的延时大于待测激光脉冲信号间隔时，为自发辐射信号提取状态203，最终输出信号用于测量自发辐射信号205。

可选地，所述测量结构包括光谱仪105及功率计106；

所述光谱仪105，用于分别测量所述自发辐射信号的光谱及所述目标脉冲信号的光谱；光谱仪是以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置；它由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上（或扫描某一波段）进行强度测定。

所述功率计106，用于分别测量所述自发辐射信号的能量及所述目标脉冲信号的能量。功率计用于测量绝对光功率或通过一段光纤的光功率相对损耗。

具体的，本实施例中，通过控制激光开关104响应触发信号的延时和门宽，选择性记录目标脉冲信号和自发辐射信号的光谱和能量，最后计算脉冲间自发辐射信号的占比，比较能量和光谱积分值获得脉冲对比度，直接评估脉冲间自发辐射光谱和能量特性分布。

本发明实施例还提供了一种评估低重复频率自发辐射占比系统，包括：

待测激光器，用于输出待测激光脉冲信号；以及，

如上述所述的评估低重复频率自发辐射能量占比装置，所述评估低重复频率自发辐射能量占比装置设于所述待测激光器电连接的一侧。

本发明包括待测激光器、激光功率分束器、同步触发信号产生器、激光开关、光谱仪、功率计及数据处理器。待测器与激光功率分束器连接，一路与同步触发信号产生器连接，产生控制激光开关的开关时间和门宽；一路与激光开关连接在触发信号的控制下分别在时间上过滤出目标脉冲信号和自发辐射信号噪底。激光开关的输出分为两路，分别与光谱仪和功率计连接，用于测量目标脉冲信号和自发辐射信号噪底的光谱信息和能量信息，从而评估自发辐射能量的占比。本发明可以通过调节激光开关的时间顺序和开关持续时间，测量目标脉冲信号和自发辐射信号的能量占比，为评价低重复频率脉冲质量和脉冲对比度提供一种精确的测量系统。

参见图3所示，本发明实施例还提供了一种评估低重复频率自发辐射占比方法，包括以下步骤：

S100，激光功率分束器接收待测激光器输出的待测激光脉冲信号，并将所述待测激光脉冲信号拆分为两束输出；

S200，脉冲提取结构根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号，并根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取自发辐射信号和目标脉冲信号；

S300，测量结构分别对所述自发辐射信号及所述目标脉冲信号进行信号属性测量、并对应输出信号测量数据；

S400，数据处理器根据所述信号测量数据获取所述待测激光脉冲信号的自发辐射占比。

所述“S200，脉冲提取结构根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号，并根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取自发辐射信号和目标脉冲信号”步骤，具体包括以下步骤：

S210，脉冲提取结构的同步触发信号产生器根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号；

S220，脉冲提取结构的激光开关根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取长脉冲信号及短脉冲信号；其中，所述长脉冲信号对应于自发辐射信号，所述短脉冲信号对应于目标脉冲信号。

所述“S220，脉冲提取结构的激光开关根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取长脉冲信号及短脉冲信号”步骤，具体包括以下步骤：

S221，当激光开关检测到触发信号为分离短脉冲信号时，则输出短门信号，并在另一束待测激光脉冲信号中提取短门信号宽度大于另一束待测激光脉冲信号的时间宽度、且短门信号与另一束待测激光脉冲信号同步时的目标脉冲信号；

S222，当激光开关检测到触发信号为分离长脉冲信号时，则输出长门信号，并在另一束待测激光脉冲信号中提取长门信号宽度小于另一束待测激光脉冲信号的时间宽度、且长门信号与另一束待测激光脉冲信号之间的延时大于另一束待测激光脉冲信号间隔时的自发辐射信号。

所述“S300，测量结构分别对所述自发辐射信号及所述目标脉冲信号进行信号属性测量、并对应输出信号测量数据”步骤，具体包括以下步骤：

S310，测量结构的光谱仪分别测量所述自发辐射信号的光谱及所述目标脉冲信号的光谱；

S320，测量结构的功率计分别测量所述自发辐射信号的能量及所述目标脉冲信号的能量。

由于脉冲对比度的评估通常采用开关机或测量平均功率的方式，无法测量实际脉冲间的自发辐射。由于缺乏对脉冲间自发辐射的直接评估手段，导致难以直接对比影响自发辐射的参数，从而影响激光器设计参数的优化；因此针对上述问题，本发明通过脉冲提取结构提取自发辐射信号和目标脉冲信号（自发辐射信号存在于待测激光脉冲信号之间），计算脉冲间自发辐射信号的占比，直接评估脉冲间自发辐射信号的光谱和能量特性分布，因此可用于比较不同激光器设计参数对脉冲对比度的影响，为激光器设计参数优化提供数据参考。

同时参见图4所示，本发明实施例提供的一种评估低重复频率自发辐射占比方法，具体包括如下步骤：

S301：装置启动，发送信号至各个模块（待测激光器、激光功率分束器、同步触发信号产生器、激光开关、光谱仪、功率计及数据处理器）。

S302：接受系统启动指令后启动同步触发信号产生器，探测光脉冲信号的脉冲宽度和重复频率，并计算分别测量目标信号脉冲能量和自发辐射能量所需的电子脉冲宽度和延时，随后输出驱动触发信号，控制激光开关。

S303：系统启动后激光开关工作，当未接受到电子驱动脉冲信号时，激光开关处于待机状态；当电子驱动脉冲信号出现时，激光开关工作，根据电子脉冲的长短，判断目标脉冲信号和自发辐射信号。当输入长脉冲时记录为自发辐射的能量和光谱，当输入短脉冲时记录目标脉冲信号的能量和光谱，计算脉冲间自发辐射信号的占比，比较能量和光谱积分值获得脉冲对比度。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

需要说明的是，在本发明中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所发明的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (7)

1.一种评估低重复频率自发辐射占比装置，其特征在于，包括：

激光功率分束器，用于接收待测激光器输出的待测激光脉冲信号，并将所述待测激光脉冲信号拆分为两束输出；

脉冲提取结构，用于根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号，并根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取自发辐射信号和目标脉冲信号；

测量结构，用于分别对所述自发辐射信号及所述目标脉冲信号进行信号属性测量、并对应输出信号测量数据；以及，

数据处理器，与所述测量结构电连接，用于根据所述信号测量数据获取所述待测激光脉冲信号的自发辐射占比;

所述测量结构包括光谱仪及功率计；

所述光谱仪，用于分别测量所述自发辐射信号的光谱及所述目标脉冲信号的光谱；

所述功率计，用于分别测量所述自发辐射信号的能量及所述目标脉冲信号的能量。

2.如权利要求1所述的评估低重复频率自发辐射占比装置，其特征在于，所述脉冲提取结构包括同步触发信号产生器及激光开关，所述激光功率分束器与所述激光开关电连接；

所述同步触发信号产生器，用于根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号；

所述激光开关，用于根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取长脉冲信号及短脉冲信号；其中，所述长脉冲信号对应于自发辐射信号，所述短脉冲信号对应于目标脉冲信号。

3.如权利要求2所述的评估低重复频率自发辐射占比装置，其特征在于，所述激光开关用于，

当检测到触发信号为分离短脉冲信号时，则输出短门信号，并在另一束待测激光脉冲信号中提取短门信号宽度大于另一束待测激光脉冲信号的时间宽度、且短门信号与另一束待测激光脉冲信号同步时的目标脉冲信号；

当检测到触发信号为分离长脉冲信号时，则输出长门信号，并在另一束待测激光脉冲信号中提取长门信号宽度小于另一束待测激光脉冲信号的时间宽度、且长门信号与另一束待测激光脉冲信号之间的延时大于另一束待测激光脉冲信号间隔时的自发辐射信号。

4.一种评估低重复频率自发辐射占比系统，其特征在于，包括：

待测激光器，用于输出待测激光脉冲信号；以及，

如权利要求1至3中任一项所述的评估低重复频率自发辐射能量占比装置，所述评估低重复频率自发辐射能量占比装置设于所述待测激光器的一侧。

5.一种评估低重复频率自发辐射占比方法，其特征在于，包括以下步骤：

激光功率分束器接收待测激光器输出的待测激光脉冲信号，并将所述待测激光脉冲信号拆分为两束输出；

脉冲提取结构根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号，并根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取自发辐射信号和目标脉冲信号；

测量结构分别对所述自发辐射信号及所述目标脉冲信号进行信号属性测量、并对应输出信号测量数据；

数据处理器根据所述信号测量数据获取所述待测激光脉冲信号的自发辐射占比；

所述“测量结构分别对所述自发辐射信号及所述目标脉冲信号进行信号属性测量、并对应输出信号测量数据”步骤，具体包括以下步骤：

测量结构的光谱仪分别测量所述自发辐射信号的光谱及所述目标脉冲信号的光谱；

测量结构的功率计分别测量所述自发辐射信号的能量及所述目标脉冲信号的能量。

6.如权利要求5所述的评估低重复频率自发辐射占比方法，其特征在于，所述“脉冲提取结构根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号，并根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取自发辐射信号和目标脉冲信号”步骤，具体包括以下步骤：

脉冲提取结构的同步触发信号产生器根据其中一束待测激光脉冲信号获取分离不同长短脉冲信号的触发信号；

脉冲提取结构的激光开关根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取长脉冲信号及短脉冲信号；其中，所述长脉冲信号对应于自发辐射信号，所述短脉冲信号对应于目标脉冲信号。

7.如权利要求6所述的评估低重复频率自发辐射占比方法，其特征在于，所述“脉冲提取结构的激光开关根据所述触发信号在另一束待测激光脉冲信号中提取长脉冲信号及短脉冲信号”步骤，具体包括以下步骤：

当激光开关检测到触发信号为分离短脉冲信号时，则输出短门信号，并在另一束待测激光脉冲信号中提取短门信号宽度大于另一束待测激光脉冲信号的时间宽度、且短门信号与另一束待测激光脉冲信号同步时的目标脉冲信号；

当激光开关检测到触发信号为分离长脉冲信号时，则输出长门信号，并在另一束待测激光脉冲信号中提取长门信号宽度小于另一束待测激光脉冲信号的时间宽度、且长门信号与另一束待测激光脉冲信号之间的延时大于另一束待测激光脉冲信号间隔时的自发辐射信号。