CN116047377B - 一种接触器线圈检测电路及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及线圈检测技术领域,具体涉及一种接触器线圈检测电路及方法;包括驱动单元、反馈单元、控制单元和线圈L,驱动单元连接驱动信号RL,反馈单元连接信号FB,控制单元连接信号CTR;发送信号CTR,反馈单元输出信号FB,监测信号FB状态,实时读取信号FB,若信号FB为PWM信号,则表示线圈L连接正常;发送信号CTR,反馈单元输出信号FB,实时读取信号FB,信号FB为低电平信号,监测信号FB状态,输出驱动信号RL,驱动信号RL为高电平信号,实时读取信号FB,当信号FB为高电平信号时,此时线圈L正常,通过上述方式,实现可直观地对线圈L是否连接、损坏进行判定。
Description
技术领域
本发明涉及线圈检测技术领域,尤其涉及一种接触器线圈检测电路及方法。
背景技术
目前在使用直流接触器作为通断回路或预充回路的应用中,对线圈的检测较为麻烦,需要在接触器不工作的情况下对相关电路进行排查,排查时间长,无法直观地对线圈是否连接、损坏进行判定。
发明内容
本发明的目的在于提供一种接触器线圈检测电路及方法,旨在解决现有技术中的无法直观地对线圈是否连接、损坏进行判定的技术问题。
为实现上述目的,本发明采用的一种接触器线圈检测电路,包括驱动单元、反馈单元、控制单元和线圈L,所述控制单元与所述反馈单元连接,所述反馈单元和所述驱动单元分别与所述线圈L连接,且所述驱动单元连接驱动信号RL,所述反馈单元连接信号FB,所述控制单元连接信号CTR。
其中,所述驱动单元包括电阻R1、电阻R2、光耦U1和场效应管Q1,所述电阻R2的两端分别与所述驱动信号RL和所述光耦U1输入侧的阳极连接,所述光耦U1输出侧分别与所述电阻R1和所述场效应管Q1的G极连接,所述电阻R1的两端分别与所述场效应管Q1的G极和所述场效应管Q1的S极连接,所述场效应管Q1的D极与所述线圈L连接。
其中,所述反馈单元包括电阻R3、电阻R4和光耦U2,所述电阻R3的一端分别与所述线圈L和所述场效应管Q1的D极连接,所述电阻R3的另一端与所述光耦U2输入侧的阳极连接,所述光耦U2输入侧的阴极与所述控制单元连接,所述光耦U2输出侧分别与所述电阻R4和所述信号FB连接。
其中,所述控制单元包括电阻R5和光耦U3,所述光耦U2输入侧的阴极与所述光耦U3输出侧连接,所述电阻R5的两端分别与所述光耦U3输入侧和所述信号CTR连接。
本发明还提供一种接触器线圈检测电路的接触器线圈检测方法,包括如下步骤:
检测所述线圈L是否连接;
检测所述线圈L工作过程中是否损坏。
其中,在检测所述线圈L是否连接的步骤中:
保持所述驱动信号RL处于无输出状态,此时所述驱动单元不工作,所述光耦U1发送所述信号CTR,其中所述信号CTR为PWM信号;
控制所述控制单元工作,此时所述反馈单元输出所述信号FB;
监测所述信号FB状态,实时读取所述信号FB,若所述信号FB为PWM信号,则表示所述线圈L连接正常;
若所述信号FB不为PWM信号,则表示所述线圈L未连接或损坏。
其中,在检测所述线圈L工作过程中是否损坏的步骤中:
确认所述线圈L连接正常后,发送所述信号CTR,其中所述信号CTR为高电平驱动信号;
控制所述控制单元工作,此时所述反馈单元输出所述信号FB,实时读取所述信号FB,所述信号FB为低电平信号;
监测所述信号FB状态,输出所述驱动信号RL,所述驱动信号RL为高电平信号,此时所述驱动单元工作;
实时读取所述信号FB,当所述信号FB为高电平信号时,此时所述线圈L正常;
若在工作的过程中,持续输出高电平的所述驱动信号RL,实时读取所述信号FB为低电平,则表示所述线圈L损坏。
本发明的一种接触器线圈检测电路及方法,所述驱动单元连接所述驱动信号RL,所述反馈单元连接所述信号FB,所述控制单元连接所述信号CTR;保持所述驱动信号RL处于无输出状态,此时所述驱动单元不工作,所述光耦U1发送所述信号CTR,其中所述信号CTR为PWM信号,控制所述控制单元工作,此时所述反馈单元输出所述信号FB,监测所述信号FB状态,实时读取所述信号FB,若所述信号FB为PWM信号,则表示所述线圈L连接正常,若所述信号FB不为PWM信号,则表示所述线圈L未连接或损坏;确认所述线圈L连接正常后,发送所述信号CTR,其中所述信号CTR为高电平驱动信号,控制所述控制单元工作,此时所述反馈单元输出所述信号FB,实时读取所述信号FB,所述信号FB为低电平信号,监测所述信号FB状态,输出所述驱动信号RL,所述驱动信号RL为高电平信号,此时所述驱动单元工作,实时读取所述信号FB,当所述信号FB为高电平信号时,此时所述线圈L正常,若在工作的过程中,持续输出高电平的所述驱动信号RL,实时读取所述信号FB为低电平,则表示所述线圈L损坏,实现了可直观地对所述线圈L是否连接、损坏进行判定。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明的接触器线圈检测电路的结构示意图。
图2是本发明的接触器线圈检测电路的逻辑控制图。
图3是本发明的检测线圈L是否连接的步骤流程图。
图4是本发明的检测线圈L工作过程中是否损坏的步骤流程图。
具体实施方式
请参阅图1,其中图1是接触器线圈检测电路的结构示意图。
本发明提供了一种接触器线圈检测电路,包括驱动单元、反馈单元、控制单元和线圈L,所述控制单元与所述反馈单元连接,所述反馈单元和所述驱动单元分别与所述线圈L连接,且所述驱动单元连接驱动信号RL,所述反馈单元连接信号FB,所述控制单元连接信号CTR。
进一步地,所述驱动单元包括电阻R1、电阻R2、光耦U1和场效应管Q1,所述电阻R2的两端分别与所述驱动信号RL和所述光耦U1输入侧的阳极连接,所述光耦U1输出侧分别与所述电阻R1和所述场效应管Q1的G极连接,所述电阻R1的两端分别与所述场效应管Q1的G极和所述场效应管Q1的S极连接,所述场效应管Q1的D极与所述线圈L连接。
进一步地,所述反馈单元包括电阻R3、电阻R4和光耦U2,所述电阻R3的一端分别与所述线圈L和所述场效应管Q1的D极连接,所述电阻R3的另一端与所述光耦U2输入侧的阳极连接,所述光耦U2输入侧的阴极与所述控制单元连接,所述光耦U2输出侧分别与所述电阻R4和所述信号FB连接。
进一步地,所述控制单元包括电阻R5和光耦U3,所述光耦U2输入侧的阴极与所述光耦U3输出侧连接,所述电阻R5的两端分别与所述光耦U3输入侧和所述信号CTR连接。
在本实施方式中,所述驱动单元连接驱动信号RL,所述反馈单元连接信号FB,所述控制单元连接信号CTR。
请参阅图2~图4,其中图2是接触器线圈检测电路的逻辑控制图,图3是检测线圈L是否连接的步骤流程图,图4是检测线圈L工作过程中是否损坏的步骤流程图。
本发明还提供了一种接触器线圈检测电路的接触器线圈检测方法,包括如下步骤:
检测所述线圈L是否连接;
检测所述线圈L工作过程中是否损坏。
进一步地,在检测所述线圈L是否连接的步骤中:
S11:保持所述驱动信号RL处于无输出状态,此时所述驱动单元不工作,所述光耦U1发送所述信号CTR,其中所述信号CTR为PWM信号,所述光耦U1的MCU单元通过Ctl单元保持所述驱动信号RL处于无输出状态,此时所述驱动单元不工作,所述光耦U1的MCU单元通过Ctl单元发送所述信号CTR;
S12:控制所述控制单元工作,此时所述反馈单元输出所述信号FB;
S13:监测所述信号FB状态,所述光耦U1的MCU单元通过FB单元实时读取所述信号FB,若所述信号FB为PWM信号,则表示所述线圈L连接正常;
S14:若所述信号FB不为PWM信号,则表示所述线圈L未连接或损坏。
在本实施方式中,所述光耦U1的逻辑控制为:MCU单元分别连接Ctl单元和FB单元,Ctl单元分别与所述驱动信号RL和所述信号CTR连接,FB单元与所述信号FB连接;首先保持所述驱动信号RL处于无输出状态,此时所述驱动单元不工作,所述光耦U1发送所述信号CTR,其中所述信号CTR为PWM信号,所述光耦U1的MCU单元通过Ctl单元保持所述驱动信号RL处于无输出状态,此时所述驱动单元不工作,所述光耦U1的MCU单元通过Ctl单元发送所述信号CTR,再控制所述控制单元工作,此时所述反馈单元输出所述信号FB,监测所述信号FB状态,所述光耦U1的MCU单元通过FB单元实时读取所述信号FB,若所述信号FB为PWM信号,则表示所述线圈L连接正常,若所述信号FB不为PWM信号,则表示所述线圈L未连接或损坏,可直观地对所述线圈L是否连接、损坏进行判定。
进一步地,在检测所述线圈L工作过程中是否损坏的步骤中:
S21:确认所述线圈L连接正常后,所述光耦U1的MCU单元通过Ctl单元发送所述信号CTR,其中所述信号CTR为高电平驱动信号;
S22:控制所述控制单元工作,此时所述反馈单元输出所述信号FB,所述光耦U1的MCU单元通过FB单元实时读取所述信号FB,所述信号FB为低电平信号;
S23:监测所述信号FB状态,所述光耦U1的MCU单元通过Ctl单元输出所述驱动信号RL,所述驱动信号RL为高电平信号,此时所述驱动单元工作;
S24:实时读取所述信号FB,当所述信号FB为高电平信号时,此时所述线圈L正常;
S25:若在工作的过程中,所述光耦U1的MCU单元通Ctl单元持续输出高电平的所述驱动信号RL,通过FB单元、实时读取所述信号FB为低电平,则表示所述线圈L损坏。
在本实施方式中,所述光耦U1的逻辑控制为:MCU单元分别连接Ctl单元和FB单元,Ctl单元分别与所述驱动信号RL和所述信号CTR连接,FB单元与所述信号FB连接;在确认所述线圈L连接正常后,所述光耦U1的MCU单元通过FB单元发送所述信号CTR,其中所述信号CTR为高电平驱动信号,然后控制所述控制单元工作,此时所述反馈单元输出所述信号FB,所述光耦U1的MCU单元通过FB单元实时读取所述信号FB,所述信号FB为低电平信号,监测所述信号FB状态,所述光耦U1的MCU单元通过Ctl单元输出所述驱动信号RL,所述驱动信号RL为高电平信号,此时所述驱动单元工作,所述光耦U1的MCU单元通过FB单元实时读取所述信号FB,当所述信号FB为高电平信号时,此时所述线圈L正常,若在工作的过程中,所述光耦U1的MCU单元通过Ctl单元持续输出高电平的所述驱动信号RL,通过FB单元、实时读取所述信号FB为低电平,则表示所述线圈L损坏,可直观地对所述线圈L是否连接、损坏进行判定。
以上所揭露的仅为本发明一种较佳实施例而已,当然不能以此来限定本发明之权利范围,本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程,并依本发明权利要求所作的等同变化,仍属于发明所涵盖的范围。
Claims (1)
1.一种接触器线圈检测电路,其特征在于,
包括驱动单元、反馈单元、控制单元和线圈L,所述控制单元与所述反馈单元连接,所述反馈单元和所述驱动单元分别与所述线圈L连接,且所述驱动单元连接驱动信号RL,所述反馈单元连接信号FB,所述控制单元连接信号CTR;
所述驱动单元包括电阻R1、电阻R2、光耦U1和场效应管Q1,所述电阻R2的两端分别与所述驱动信号RL和所述光耦U1输入侧的阳极连接,所述光耦U1输出侧分别与所述电阻R1和所述场效应管Q1的G极连接,所述电阻R1的两端分别与所述场效应管Q1的G极和所述场效应管Q1的S极连接,所述场效应管Q1的D极与所述线圈L连接;
所述反馈单元包括电阻R3、电阻R4和光耦U2,所述电阻R3的一端分别与所述线圈L和所述场效应管Q1的D极连接,所述电阻R3的另一端与所述光耦U2输入侧的阳极连接,所述光耦U2输入侧的阴极与所述控制单元连接,所述光耦U2输出侧分别与所述电阻R4和所述信号FB连接;
所述控制单元包括电阻R5和光耦U3,所述光耦U2输入侧的阴极与所述光耦U3输出侧连接,所述电阻R5的两端分别与所述光耦U3输入侧和所述信号CTR连接;
该检测电路的检测方法包括如下步骤:
检测所述线圈L是否连接;
检测所述线圈L工作过程中是否损坏;
在检测所述线圈L是否连接的步骤中:
保持所述驱动信号RL处于无输出状态,此时所述驱动单元不工作,所述光耦U1发送所述信号CTR,其中所述信号CTR为PWM信号;
控制所述控制单元工作,此时所述反馈单元输出所述信号FB;
监测所述信号FB状态,实时读取所述信号FB,若所述信号FB为PWM信号,则表示所述线圈L连接正常;
若所述信号FB不为PWM信号,则表示所述线圈L未连接或损坏;
在检测所述线圈L工作过程中是否损坏的步骤中:
确认所述线圈L连接正常后,发送所述信号CTR,其中所述信号CTR为高电平驱动信号;
控制所述控制单元工作,此时所述反馈单元输出所述信号FB,实时读取所述信号FB,所述信号FB为低电平信号;
监测所述信号FB状态,输出所述驱动信号RL,所述驱动信号RL为高电平信号,此时所述驱动单元工作;
实时读取所述信号FB,当所述信号FB为高电平信号时,此时所述线圈L正常;
若在工作的过程中,持续输出高电平的所述驱动信号RL,实时读取所述信号FB为低电平,则表示所述线圈L损坏。
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