CN115963333B - 噪声谱密度扫描方法、扫描装置、存储介质及电子设备 - Google Patents
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- 238000001228 spectrum Methods 0.000 title claims abstract description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract description 99
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims abstract description 79
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 51
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 11
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 238000001739 density measurement Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
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Abstract
本公开是一种噪声谱密度扫描方法、噪声谱密度扫描装置、存储介质及电子设备。该噪声谱密度扫描方法,包括确定对待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析时的起始频率和终止频率;在起始频率和终止频率之间选取用于进行噪声谱密度分析的频点;基于频点对应的等效噪声带宽确定对待扫描噪声信号进行频点下的噪声谱密度分析时的滤波器响应时间;在多个连续的滤波器响应时间内等时间间隔采集频点对应的电压噪声值;基于电压噪声值得到频点对应的电压噪声密度值。由于在多个连续的滤波器响应时间内等时间间隔采集频点对应的电压噪声值,来得到频点对应的电压噪声密度值,使得频点对应的电压噪声值更为准确,进而有利于得到更为可靠的电压噪声密度曲线。
Description
技术领域
本公开涉及电子技术领域,尤其涉及一种噪声谱密度扫描方法、噪声谱密度扫描装置、存储介质及电子设备。
背景技术
微弱信号检测领域存在一款常用仪器——锁相放大器。该款仪器利用双相解调(也称双相相敏检测器)原理,可以还原微弱信号中有用的信息。在该仪器中有个重要的功能,那就是噪声谱密度测量。噪声谱密度是衡量仪器模拟电路输入的一个重要指标。其工作原理是将输入的噪声进行扫描出每个频点对应的谱图,从而得出模拟输入端的噪声谱密度指标。但目前的噪声谱密度测量有时存在噪声密度值测量不准确的情况。
发明内容
有鉴于此,本公开实施例期望提供一种噪声谱密度扫描方法、噪声谱密度扫描装置、存储介质及电子设备。
本公开的技术方案是这样实现的:
第一方面,本公开提供一种噪声谱密度扫描方法。
本公开实施例提供的噪声谱密度扫描方法,所述方法包括:
确定对待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析时的起始频率和终止频率;
在所述起始频率和终止频率之间选取用于进行噪声谱密度分析的频点;
基于所述频点对应的等效噪声带宽,确定对所述待扫描噪声信号进行所述频点下的噪声谱密度分析时的滤波器响应时间;
在多个连续的所述滤波器响应时间内等时间间隔采集所述频点对应的电压噪声值;
基于所述电压噪声值,得到所述频点对应的电压噪声密度值。
在一些实施例中,所述在多个连续的所述滤波器响应时间内等时间间隔采集所述频点对应的电压噪声值,包括:
确定所述滤波器响应时间内需要采集所述频点对应的电压噪声值的采集点数及所述多个连续的所述滤波器响应时间的周期数;
基于所述电压噪声值的采集点数、所述滤波器响应时间的周期数,得到单个所述滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点数;
基于所述滤波器响应时间及单个所述滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点数,得到采集所述频点对应的电压噪声值时对应的所述时间间隔;
基于所述时间间隔,在多个连续的所述滤波器响应时间内等时间间隔采集所述频点对应的电压噪声值。
在一些实施例中,所述基于所述电压噪声值,得到所述频点对应的电压噪声密度值,包括:
基于采集的多个所述电压噪声值,得到所述电压噪声值对应的标准偏差值;
将所述标准偏差值与所述频点的开平方值的比值作为所述频点对应的电压噪声密度值。
在一些实施例中,所述在所述起始频率和终止频率之间选取的用于进行噪声谱密度分析的频点为多个;
所述基于所述电压噪声值,得到所述频点对应的电压噪声密度值,包括:
基于所述电压噪声值,得到各所述频点对应的电压噪声密度值;
所述得到各所述频点对应的电压噪声密度值后,所述方法包括:
对所述各所述频点对应的电压噪声密度值进行拟合得到对所述待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析的噪声谱密度曲线。
在一些实施例中,所述在所述起始频率和终止频率之间选取用于进行噪声谱密度分析的频点,包括:
在所述起始频率和终止频率之间选取具有线性关系的多个频点;或,
在所述起始频率和终止频率之间选取具有对数曲线关系的多个频点。
第二方面,本公开提供一种噪声谱密度扫描装置,包括:
频率确定模块,用于确定对待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析时的起始频率和终止频率;
频点选取模块,用于在所述起始频率和终止频率之间选取用于进行噪声谱密度分析的频点;
滤波器响应时间确定模块,用于基于所述频点对应的等效噪声带宽,确定对所述待扫描噪声信号进行所述频点下的噪声谱密度分析时的滤波器响应时间;
电压噪声值采集模块,用于在多个连续的所述滤波器响应时间内等时间间隔采集所述频点对应的电压噪声值;
电压噪声密度值确定模块,用于基于所述电压噪声值,得到所述频点对应的电压噪声密度值。
在一些实施例中,所述电压噪声值采集模块,用于
确定所述滤波器响应时间内需要采集所述频点对应的电压噪声值的采集点数及所述多个连续的所述滤波器响应时间的周期数;
基于所述电压噪声值的采集点数、所述滤波器响应时间的周期数,得到单个所述滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点数;
基于所述滤波器响应时间及单个所述滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点数,得到采集所述频点对应的电压噪声值时对应的所述时间间隔;
基于所述时间间隔,在多个连续的所述滤波器响应时间内等时间间隔采集所述频点对应的电压噪声值。
在一些实施例中,所述电压噪声密度值确定模块,用于
基于采集的多个所述电压噪声值,得到所述电压噪声值对应的标准偏差值;
将所述标准偏差值与所述频点的开平方值的比值作为所述频点对应的电压噪声密度值。
在一些实施例中,所述在所述起始频率和终止频率之间选取的用于进行噪声谱密度分析的频点为多个;
所述电压噪声密度值确定模块,用于
基于所述电压噪声值,得到各所述频点对应的电压噪声密度值;
所述得到各所述频点对应的电压噪声密度值后,所述电压噪声密度值确定模块,用于
对所述各所述频点对应的电压噪声密度值进行拟合得到对所述待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析的噪声谱密度曲线。
在一些实施例中,所述频点选取模块,用于
在所述起始频率和终止频率之间选取具有线性关系的多个频点;或,
在所述起始频率和终止频率之间选取具有对数曲线关系的多个频点。
第三方面,本公开提供一种计算机可读存储介质,其上存储有噪声谱密度扫描程序,该噪声谱密度扫描程序被处理器执行时,实现上述第一方面所述的噪声谱密度扫描方法。
第四方面,本公开提供一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的噪声谱密度扫描程序,所述处理器执行所述噪声谱密度扫描程序时,实现上述第一方面所述的噪声谱密度扫描方法。
根据本公开实施例的噪声谱密度扫描方法通过确定对待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析时的起始频率和终止频率;在起始频率和终止频率之间选取用于进行噪声谱密度分析的频点;基于频点对应的等效噪声带宽,确定对待扫描噪声信号进行频点下的噪声谱密度分析时的滤波器响应时间;在多个连续的滤波器响应时间内等时间间隔采集频点对应的电压噪声值;基于电压噪声值,得到频点对应的电压噪声密度值。本申请中,由于在多个连续的滤波器响应时间内等时间间隔采集频点对应的电压噪声值,来得到频点对应的电压噪声密度值,使得频点对应的电压噪声值更为准确,进而有利于得到更为可靠的电压噪声密度曲线。
本公开附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本公开的实践了解到。
附图说明
图1是根据一示例性实施例示出的噪声谱密度扫描方法流程图一;
图2为示例性实施例示出的噪声谱密度扫描方法流程二;
图3是根据一示例性实施例示出的噪声谱密度扫描装置结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本公开的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本公开,而不能理解为对本公开的限制。
微弱信号检测领域存在一款常用仪器——锁相放大器。该款仪器利用双相解调(也称双相相敏检测器)原理,可以还原微弱信号中有用的信息。在该仪器中有个重要的功能,那就是噪声谱密度测量。噪声谱密度是衡量仪器模拟电路输入的一个重要指标。其工作原理是将输入的噪声进行扫描出每个频点对应的谱图,从而得出模拟输入端的噪声谱密度指标。但目前的噪声谱密度测量有时存在噪声密度值测量不准确的情况。
针对上述情况,本公开提供一种噪声谱密度扫描方法。图1是根据一示例性实施例示出的噪声谱密度扫描方法流程图一。如图1所示,该噪声谱密度扫描方法包括:
步骤10、确定对待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析时的起始频率和终止频率;
步骤11、在起始频率和终止频率之间选取用于进行噪声谱密度分析的频点;
步骤12、基于频点对应的等效噪声带宽,确定对待扫描噪声信号进行频点下的噪声谱密度分析时的滤波器响应时间;
步骤13、在多个连续的滤波器响应时间内等时间间隔采集频点对应的电压噪声值;
步骤14、基于电压噪声值,得到频点对应的电压噪声密度值。
在本示例性实施例中,噪声谱密度扫描方法可应用于锁相放大器对噪声信号进行噪声谱密度扫描,得到噪声谱密度曲线。频点指在起始频率和终止频率之间的频率点。例如,对待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析时起始频率为1Hz和终止频率1000Hz,则起始频率和终止频率之间的频率点包括10Hz、100Hz等,这些均为频点。
在本示例性实施例中,频点对应的等效噪声带宽可根据需要自行设定,当需要精确测量得到更为精确的电压噪声值时,可将等效噪声带宽设定较小一些,使得滤波器响应时间较大一些。等效噪声带宽对应的周期时间即为滤波器响应时间。例如,频点f=100Hz,设定等效噪声带宽1Hz,则滤波器响应时间即为1/1Hz=1s。
在本示例性实施例中,基于电压噪声值,得到频点对应的电压噪声密度值,包括:
基于采集的多个电压噪声值,得到电压噪声值对应的标准偏差值;将标准偏差值与频点的开平方值的比值作为频点对应的电压噪声密度值。即对多个电压噪声值做STD(标准偏差)运算,将STD标准偏差与对应频点的开平方值进行相除运算得到的比值作为频点对应的电压噪声密度值。
根据本公开实施例的噪声谱密度扫描方法通过确定对待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析时的起始频率和终止频率;在起始频率和终止频率之间选取用于进行噪声谱密度分析的频点;基于频点对应的等效噪声带宽,确定对待扫描噪声信号进行频点下的噪声谱密度分析时的滤波器响应时间;在多个连续的滤波器响应时间内等时间间隔采集频点对应的电压噪声值;基于电压噪声值,得到频点对应的电压噪声密度值。本申请中,由于在多个连续的滤波器响应时间内等时间间隔采集频点对应的电压噪声值,来得到频点对应的电压噪声密度值,使得频点对应的电压噪声值更为准确,进而有利于得到更为可靠的电压噪声密度曲线。
在一些实施例中,在多个连续的滤波器响应时间内等时间间隔采集频点对应的电压噪声值,包括:
确定滤波器响应时间内需要采集频点对应的电压噪声值的采集点数及多个连续的滤波器响应时间的周期数;
基于电压噪声值的采集点数、滤波器响应时间的周期数,得到单个滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点数;
基于滤波器响应时间及单个滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点数,得到采集频点对应的电压噪声值时对应的时间间隔;
基于时间间隔,在多个连续的滤波器响应时间内等时间间隔采集频点对应的电压噪声值。
在本示例性实施例中,基于电压噪声值的采集点数、滤波器响应时间的周期数,得到单个滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点,包括:
电压噪声值的采集点数除以滤波器响应时间的周期数,得到单个滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点。例如,电压噪声值的采集点数为1000,滤波器响应时间的周期数为10,则单个滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点为100。此时如果滤波器响应时间为1/1Hz=1s,则采集频点对应的电压噪声值时对应的时间间隔为1/100秒。如此基于时间间隔为1/100秒进行采集频点对应的电压噪声值,得到10个连续滤波器响应时间周期内的1000个电压噪声值。
在一些实施例中,在起始频率和终止频率之间选取的用于进行噪声谱密度分析的频点为多个;
基于电压噪声值,得到频点对应的电压噪声密度值,包括:
基于电压噪声值,得到各频点对应的电压噪声密度值;
得到各频点对应的电压噪声密度值后,方法包括:
对各频点对应的电压噪声密度值进行拟合得到对待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析的噪声谱密度曲线。
在本示例性实施例中,在起始频率和终止频率之间选取多个用于进行噪声谱密度分析的频点。根据上述实施例中的方法获取各频点对应的电压噪声密度值。例如,频点f=1Hz、频点f=10Hz、频点f=100Hz、频点f=1000Hz等多个频点对应的电压噪声密度值。
在一些实施例中,在起始频率和终止频率之间选取用于进行噪声谱密度分析的频点,包括:
在起始频率和终止频率之间选取具有线性关系的多个频点;或,
在起始频率和终止频率之间选取具有对数曲线关系的多个频点。
在本示例性实施例中,可根据需要确定是采用线性关系还是对数曲线关系确定起始频率和终止频率之间的多个频点,从而得到基于上述频点分析的噪声谱密度曲线。
图2为示例性实施例示出的噪声谱密度扫描方法流程二。如图2所示,噪声谱密度扫描方法,包括:
步骤20、注入参数;准备噪声谱密度扫描之前,会选择一些参数设置,典型的参数包括:起始频率、终止频率、扫描点数、步进方式(线性和对数);
其他参数为固定值,例如计算的算法固定为STD(标准偏差),最小等待时间(即滤波器响应时间,跟解调频率有关)的计算方式,计算点数(固定为1000点)和下采样周期计算(与扫描频点挂钩)。
步骤21、计算相关值;根据步骤20中的相关参数计算每个频点对应的解调频率、步骤22中所需的滤波器响应时间、第四步所需的下采样周期。
步骤22、等待滤波器响应;等待步骤21所计算出的滤波器响应时间,时间到达后,进入下一步。该步骤是为了保持数据稳定,目的是后续计算的数据都是有效数据。
步骤23、等待计算结果;为了取出解调结果,做STD运算,计算点数为1000。由于扫描的起始频率可能是非常低(比如1Hz),滤波器的响应时间非常久(典型1/37处滤波器带宽),因此不可能选取全部数据进行统计计算,这样会使得整体扫描变得非常漫长。由于噪声信号是一个完全随机的信号,因此选取策略不同会导致计算结果呈现差异性。本申请选取的策略如下(以f=100Hz,等效噪声带宽1Hz,1000点为例):
选取10个周期作为计算统计点周期。
每个周期对应100个点,周期即为等效噪声带宽时间。
每个点对应的周期为等效噪声带宽对应的周期的1/100,即1/100s。
通过以上策略选择统计的数据,可以在不同频点下,等间隔的抽取数据进行STD计算,而多周期的覆盖更加保证数据的多样性,从而使得计算结果更具可靠性。
步骤24、数据上传;该步骤按照指定的格式将数据上传至远端进行绘图。然后等待下一个扫描点。
本公开提供一种噪声谱密度扫描装置。图3是根据一示例性实施例示出的噪声谱密度扫描装置结构示意图。如图3所示,噪声谱密度扫描装置,包括:
频率确定模块30,用于确定对待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析时的起始频率和终止频率;
频点选取模块31,用于在起始频率和终止频率之间选取用于进行噪声谱密度分析的频点;
滤波器响应时间确定模块32,用于基于频点对应的等效噪声带宽,确定对待扫描噪声信号进行频点下的噪声谱密度分析时的滤波器响应时间;
电压噪声值采集模块33,用于在多个连续的滤波器响应时间内等时间间隔采集频点对应的电压噪声值;
电压噪声密度值确定模块34,用于基于电压噪声值,得到频点对应的电压噪声密度值。
在本示例性实施例中,噪声谱密度扫描方法可应用于锁相放大器对噪声信号进行噪声谱密度扫描,得到噪声谱密度曲线。频点指在起始频率和终止频率之间的频率点。例如,对待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析时起始频率为1Hz和终止频率1000Hz,则起始频率和终止频率之间的频率点包括10Hz、100Hz等,这些均为频点。
在本示例性实施例中,频点对应的等效噪声带宽可根据需要自行设定,当需要精确测量得到更为精确的电压噪声值时,可将等效噪声带宽设定较小一些,使得滤波器响应时间较大一些。等效噪声带宽对应的周期时间即为滤波器响应时间。例如,频点f=100Hz,设定等效噪声带宽1Hz,则滤波器响应时间即为1/1Hz=1 s。
在本示例性实施例中,基于电压噪声值,得到频点对应的电压噪声密度值,包括:
基于采集的多个电压噪声值,得到电压噪声值对应的标准偏差值;将标准偏差值与频点的开平方值的比值作为频点对应的电压噪声密度值。即对多个电压噪声值做STD标准偏差运算,将STD标准偏差与对应频点的开平方值进行相除运算得到的比值作为频点对应的电压噪声密度值。
根据本公开实施例的噪声谱密度扫描装置通过确定对待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析时的起始频率和终止频率;在起始频率和终止频率之间选取用于进行噪声谱密度分析的频点;基于频点对应的等效噪声带宽,确定对待扫描噪声信号进行频点下的噪声谱密度分析时的滤波器响应时间;在多个连续的滤波器响应时间内等时间间隔采集频点对应的电压噪声值;基于电压噪声值,得到频点对应的电压噪声密度值。本申请中,由于在多个连续的滤波器响应时间内等时间间隔采集频点对应的电压噪声值,来得到频点对应的电压噪声密度值,使得频点对应的电压噪声值更为准确,进而有利于得到更为可靠的电压噪声密度曲线。
在一些实施例中,电压噪声值采集模块33,用于
确定滤波器响应时间内需要采集频点对应的电压噪声值的采集点数及多个连续的滤波器响应时间的周期数;
基于电压噪声值的采集点数、滤波器响应时间的周期数,得到单个滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点数;
基于滤波器响应时间及单个滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点数,得到采集频点对应的电压噪声值时对应的时间间隔;
基于时间间隔,在多个连续的滤波器响应时间内等时间间隔采集频点对应的电压噪声值。
在本示例性实施例中,基于电压噪声值的采集点数、滤波器响应时间的周期数,得到单个滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点,包括:
电压噪声值的采集点数除以滤波器响应时间的周期数,得到单个滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点。例如,电压噪声值的采集点数为1000,滤波器响应时间的周期数为10,则单个滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点为100。此时如果滤波器响应时间为1/1Hz=1 s,则采集频点对应的电压噪声值时对应的时间间隔为1/100秒。如此基于时间间隔为1/100秒进行采集频点对应的电压噪声值,得到10个连续滤波器响应时间周期内的1000个电压噪声值。
在一些实施例中,电压噪声密度值确定模块34,用于
基于采集的多个电压噪声值,得到电压噪声值对应的标准偏差值;
将标准偏差值与频点的开平方值的比值作为频点对应的电压噪声密度值。
在一些实施例中,在起始频率和终止频率之间选取的用于进行噪声谱密度分析的频点为多个;
电压噪声密度值确定模块34,用于
基于电压噪声值,得到各频点对应的电压噪声密度值;
得到各频点对应的电压噪声密度值后,电压噪声密度值确定模块,用于
对各频点对应的电压噪声密度值进行拟合得到对待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析的噪声谱密度曲线。
在本示例性实施例中,在起始频率和终止频率之间选取多个用于进行噪声谱密度分析的频点。根据上述实施例中的方法获取各频点对应的电压噪声密度值。例如,频点f=1Hz、频点f=10Hz、频点f=100Hz、频点f=1000Hz等多个频点对应的电压噪声密度值。
在一些实施例中,频点选取模块31,用于
在起始频率和终止频率之间选取具有线性关系的多个频点;或,
在起始频率和终止频率之间选取具有对数曲线关系的多个频点。
在本示例性实施例中,可根据需要确定是采用线性关系还是对数曲线关系确定起始频率和终止频率之间的多个频点,从而得到基于上述频点分析的噪声谱密度曲线。
本公开提供一种计算机可读存储介质,其上存储有噪声谱密度扫描程序,该噪声谱密度扫描程序被处理器执行时,实现上述各实施例的噪声谱密度扫描方法。
本公开提供一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的噪声谱密度扫描程序,处理器执行噪声谱密度扫描程序时,实现上述各实施例的噪声谱密度扫描方法。
需要说明的是,在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤,例如,可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表,可以具体实现在任何计算机可读介质中,以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用,或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言,“计算机可读介质”可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下:具有一个或多个布线的电连接部(电子装置),便携式计算机盘盒(磁装置),随机存取存储器(RAM),只读存储器(ROM),可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器),光纤装置,以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外,计算机可读介质甚至可以是可在其上打印程序的纸或其他合适的介质,因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描,接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得程序,然后将其存储在计算机存储器中。
应当理解,本公开的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中,多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如,如果用硬件来实现,和在另一实施方式中一样,可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现:具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路,具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路,可编程门阵列(PGA),现场可编程门阵列(FPGA)等。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本公开的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
在本公开的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本公开和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本公开的限制。
此外,本公开实施例中所使用的“第一”、“第二”等术语,仅用于描述目的,而不可以理解为指示或者暗示相对重要性,或者隐含指明本实施例中所指示的技术特征数量。由此,本公开实施例中限定有“第一”、“第二”等术语的特征,可以明确或者隐含地表示该实施例中包括至少一个该特征。在本公开的描述中,词语“多个”的含义是至少两个或者两个及以上,例如两个、三个、四个等,除非实施例中另有明确具体的限定。
在本公开中,除非实施例中另有明确的相关规定或者限定,否则实施例中出现的术语“安装”、“相连”、“连接”和“固定”等应做广义理解,例如,连接可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体,可以理解的,也可以是机械连接、电连接等;当然,还可以是直接相连,或者通过中间媒介进行间接连接,或者可以是两个元件内部的连通,或者两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,能够根据具体的实施情况理解上述术语在本公开中的具体含义。
在本公开中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
尽管上面已经示出和描述了本公开的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本公开的限制,本领域的普通技术人员在本公开的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (12)
1.一种噪声谱密度扫描方法,其特征在于,包括:
确定对待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析时的起始频率和终止频率;
在所述起始频率和终止频率之间选取用于进行噪声谱密度分析的频点;
基于所述频点对应的等效噪声带宽,确定对所述待扫描噪声信号进行所述频点下的噪声谱密度分析时的滤波器响应时间;
在多个连续的所述滤波器响应时间内等时间间隔采集所述频点对应的电压噪声值;
基于所述电压噪声值,得到所述频点对应的电压噪声密度值。
2.根据权利要求1所述的噪声谱密度扫描方法,其特征在于,所述在多个连续的所述滤波器响应时间内等时间间隔采集所述频点对应的电压噪声值,包括:
确定所述滤波器响应时间内需要采集所述频点对应的电压噪声值的采集点数及所述多个连续的所述滤波器响应时间的周期数;
基于所述电压噪声值的采集点数、所述滤波器响应时间的周期数,得到单个所述滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点数;
基于所述滤波器响应时间及单个所述滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点数,得到采集所述频点对应的电压噪声值时对应的所述时间间隔;
基于所述时间间隔,在多个连续的所述滤波器响应时间内等时间间隔采集所述频点对应的电压噪声值。
3.根据权利要求1所述的噪声谱密度扫描方法,其特征在于,所述基于所述电压噪声值,得到所述频点对应的电压噪声密度值,包括:
基于采集的多个所述电压噪声值,得到所述电压噪声值对应的标准偏差值;
将所述标准偏差值与所述频点的开平方值的比值作为所述频点对应的电压噪声密度值。
4.根据权利要求1所述的噪声谱密度扫描方法,其特征在于,所述在所述起始频率和终止频率之间选取的用于进行噪声谱密度分析的频点为多个;
所述基于所述电压噪声值,得到所述频点对应的电压噪声密度值,包括:
基于所述电压噪声值,得到各所述频点对应的电压噪声密度值;
所述得到各所述频点对应的电压噪声密度值后,对所述各所述频点对应的电压噪声密度值进行拟合得到对所述待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析的噪声谱密度曲线。
5.根据权利要求1所述的噪声谱密度扫描方法,其特征在于,所述在所述起始频率和终止频率之间选取用于进行噪声谱密度分析的频点,包括:
在所述起始频率和终止频率之间选取具有线性关系的多个频点;或,
在所述起始频率和终止频率之间选取具有对数曲线关系的多个频点。
6.一种噪声谱密度扫描装置,其特征在于,包括:
频率确定模块,用于确定对待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析时的起始频率和终止频率;
频点选取模块,用于在所述起始频率和终止频率之间选取用于进行噪声谱密度分析的频点;
滤波器响应时间确定模块,用于基于所述频点对应的等效噪声带宽,确定对所述待扫描噪声信号进行所述频点下的噪声谱密度分析时的滤波器响应时间;
电压噪声值采集模块,用于在多个连续的所述滤波器响应时间内等时间间隔采集所述频点对应的电压噪声值;
电压噪声密度值确定模块,用于基于所述电压噪声值,得到所述频点对应的电压噪声密度值。
7.根据权利要求6所述的噪声谱密度扫描装置,其特征在于,所述电压噪声值采集模块,用于
确定所述滤波器响应时间内需要采集所述频点对应的电压噪声值的采集点数及所述多个连续的所述滤波器响应时间的周期数;
基于所述电压噪声值的采集点数、所述滤波器响应时间的周期数,得到单个所述滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点数;
基于所述滤波器响应时间及单个所述滤波器响应时间内需要采集的电压噪声值的采集点数,得到采集所述频点对应的电压噪声值时对应的所述时间间隔;
基于所述时间间隔,在多个连续的所述滤波器响应时间内等时间间隔采集所述频点对应的电压噪声值。
8.根据权利要求6所述的噪声谱密度扫描装置,其特征在于,所述电压噪声密度值确定模块,用于
基于采集的多个所述电压噪声值,得到所述电压噪声值对应的标准偏差值;
将所述标准偏差值与所述频点的开平方值的比值作为所述频点对应的电压噪声密度值。
9.根据权利要求6所述的噪声谱密度扫描装置,其特征在于,所述在所述起始频率和终止频率之间选取的用于进行噪声谱密度分析的频点为多个;
所述电压噪声密度值确定模块,用于基于所述电压噪声值,得到各所述频点对应的电压噪声密度值;
所述得到各所述频点对应的电压噪声密度值后,所述电压噪声密度值确定模块,用于对所述各所述频点对应的电压噪声密度值进行拟合得到对所述待扫描噪声信号进行噪声谱密度分析的噪声谱密度曲线。
10.根据权利要求6所述的噪声谱密度扫描装置,其特征在于,所述频点选取模块,用于
在所述起始频率和终止频率之间选取具有线性关系的多个频点;或,
在所述起始频率和终止频率之间选取具有对数曲线关系的多个频点。
11.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其上存储有噪声谱密度扫描程序,该噪声谱密度扫描程序被处理器执行时,实现权利要求1-5中任一项所述的噪声谱密度扫描方法。
12.一种电子设备,其特征在于,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的噪声谱密度扫描程序,所述处理器执行所述噪声谱密度扫描程序时,实现权利要求1-5中任一项所述的噪声谱密度扫描方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202310255708.0A CN115963333B (zh) | 2023-03-16 | 2023-03-16 | 噪声谱密度扫描方法、扫描装置、存储介质及电子设备 |
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---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN115963333A CN115963333A (zh) | 2023-04-14 |
CN115963333B true CN115963333B (zh) | 2023-05-16 |
Family
ID=85894723
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202310255708.0A Active CN115963333B (zh) | 2023-03-16 | 2023-03-16 | 噪声谱密度扫描方法、扫描装置、存储介质及电子设备 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN115963333B (zh) |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU1481694A1 (ru) * | 1987-02-13 | 1989-05-23 | Северо-Западный Заочный Политехнический Институт | Способ определени параметров избыточного шума |
JP2000131356A (ja) * | 1998-10-27 | 2000-05-12 | Gram Kk | 生体に起因する時系列デ−タのスペクトル解析方法及び表示方法 |
FR2822263A1 (fr) * | 2001-03-19 | 2002-09-20 | Hewlett Packard Co | Systeme et procede de determination de la sensibilite au bruit d'un circuit integre |
EP1401164A1 (en) * | 2002-09-19 | 2004-03-24 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson | Bandwith estimation and adaptive filtering |
JP2005308510A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | 位相雑音測定装置および位相雑音測定システム |
CN104808077A (zh) * | 2015-04-21 | 2015-07-29 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种高灵敏度的相位噪声测量方法及装置 |
CN107271802A (zh) * | 2017-06-07 | 2017-10-20 | 中国电子科技集团公司第四十研究所 | 一种基于噪声系数分析仪的噪声功率谱密度测量方法 |
CN110501623A (zh) * | 2019-08-29 | 2019-11-26 | 北京航空航天大学 | 一种低噪声ldo输出噪声测试的实现方法 |
US11539431B1 (en) * | 2022-01-18 | 2022-12-27 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Systems and methods for optical filter fault localization |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7010443B2 (en) * | 2003-10-31 | 2006-03-07 | Agilent Technologies, Inc. | Noise measurement system and method |
US20090122928A1 (en) * | 2007-11-13 | 2009-05-14 | Horizon Semiconductors Ltd. | Apparatus and method for frequency estimation in the presence of narrowband gaussian noise |
GB2502556B (en) * | 2012-05-30 | 2017-08-02 | Imagination Tech Ltd | Noise variance estimation and interference detection |
US20140278171A1 (en) * | 2013-03-15 | 2014-09-18 | Robert James Kahlke | Frequency Adaptive Line Voltage Filters |
US10605842B2 (en) * | 2016-06-21 | 2020-03-31 | International Business Machines Corporation | Noise spectrum analysis for electronic device |
DE102018108219B3 (de) * | 2018-01-29 | 2019-06-19 | Infineon Technologies Ag | Spektrale Schätzung von Rauschen in Radarvorrichtungen |
-
2023
- 2023-03-16 CN CN202310255708.0A patent/CN115963333B/zh active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU1481694A1 (ru) * | 1987-02-13 | 1989-05-23 | Северо-Западный Заочный Политехнический Институт | Способ определени параметров избыточного шума |
JP2000131356A (ja) * | 1998-10-27 | 2000-05-12 | Gram Kk | 生体に起因する時系列デ−タのスペクトル解析方法及び表示方法 |
FR2822263A1 (fr) * | 2001-03-19 | 2002-09-20 | Hewlett Packard Co | Systeme et procede de determination de la sensibilite au bruit d'un circuit integre |
EP1401164A1 (en) * | 2002-09-19 | 2004-03-24 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson | Bandwith estimation and adaptive filtering |
JP2005308510A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | 位相雑音測定装置および位相雑音測定システム |
CN104808077A (zh) * | 2015-04-21 | 2015-07-29 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种高灵敏度的相位噪声测量方法及装置 |
CN107271802A (zh) * | 2017-06-07 | 2017-10-20 | 中国电子科技集团公司第四十研究所 | 一种基于噪声系数分析仪的噪声功率谱密度测量方法 |
CN110501623A (zh) * | 2019-08-29 | 2019-11-26 | 北京航空航天大学 | 一种低噪声ldo输出噪声测试的实现方法 |
US11539431B1 (en) * | 2022-01-18 | 2022-12-27 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Systems and methods for optical filter fault localization |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
低压差线性电压调整器噪声电压测试方法;罗军 等;中国测试;第43卷(第11期);22-25 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN115963333A (zh) | 2023-04-14 |
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