CN115902426A - 全自动耦合测试屏蔽箱及测试方法 - Google Patents
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Abstract
本申请属于射频测试技术领域,公开了一种全自动耦合测试屏蔽箱,其包括箱体、通信天线机构、探头天线机构、承载台以及射频器件模组。箱体包括屏蔽门,箱体设置有内腔和第一开口,第一开口与内腔相通,屏蔽门用于封闭第一开口;通信天线机构、探头天线机构以及承载台均安装于内腔,通信天线机构和探头天线机构设置有多组;探头天线机构包括天线基座和用于接受和发射信号的发射模组,发射模组安装于天线基座,天线基座滑移安装于箱体;发射模组朝向承载台,射频器件模组与多个探头天线机构和多个通信天线机构电性连接。本申请可以对待测产品的每个位置进行测试和扫描,提供更多的位置及其对应的测试参数的效果,保证产品测试的准确性和真实性。
Description
技术领域
本申请属于射频测试技术领域,涉及一种全自动耦合测试屏蔽箱及测试方法,主要应用于智能手机、平板电脑等3C数码类测试。
背景技术
随着市场的发展,智能家居和手机等3C数码也伴随着急速的变革,由于各大厂商在万物互联的方向做出了各项研究,导致对WiFi和蓝牙等无线测试的需求也极速增加。而用于提供检测测试环境条件需要测试设备。因此,测试设备中的屏蔽箱得到了快速发展。
对于电子设备的测试中,主要是耦合测试,相关技术手段中屏蔽箱在内部往往只具有一个天线,且这一个天线是固定的,位置不可调节。电子设备在进行测试过程中,只有固定频段的测试,电子设备在经过单一测试后测试准确性低,仍存在较高的故障率。若需要对天线与产品的位置进行调节,则需要对天线与产品之间的距离等参数进行手工测量和确认,测试效率低。
针对上述相关技术手段,存在有耦合测试时,屏蔽箱内探头天线与产品之间的位置难以调节,导致测试数据的准确性不高的缺陷。
发明内容
为了改善屏蔽箱内探头天线与产品之间的位置难以调节,导致测试数据的准确性不高的缺陷,本申请提供一种全自动耦合测试屏蔽箱及测试方法。
第一方面,本申请提供一种全自动耦合测试屏蔽箱,采用如下的技术方案:
一种全自动耦合测试屏蔽箱,包括,
箱体,用于隔绝外部的信号干扰,包括屏蔽门,所述箱体设置有内腔和第一开口,所述第一开口与所述内腔相通,所述屏蔽门用于封闭所述第一开口;
通信天线机构,安装于所述内腔用于与产品进行通信,所述通信天线机构设置有多组;
探头天线机构,安装于所述内腔用于对产品进行测试,包括天线基座和用于接受和发射信号的发射模组,所述发射模组安装于所述天线基座,所述天线基座滑移安装于所述箱体;所述探头天线机构设置有多组;
承载台,用于放置被测产品,所述承载台位于所述内腔,所述通信天线机构朝向所述承载台上的产品;
射频器件模组,所述射频器件模组安装于所述箱体,且所述射频器件模组与所述发射模组电性连接。
通过采用上述技术方案,在箱体中设有多组通信天线机构和探头天线机构,通过通信天线机构保证测试产品的通信正常,探头天线机构通过与箱体滑移调节其不同的位置,从而与待测产品保持不同的相对位置和角度,通过不同位置和角度测试待测产品得到所需的测试数据,提供更多的位置对应测试参数,多组数据进行分析和对比,得到目标位置,保证产品测试的准确性和真实性;在测试过程,发射模组可以自动移动,以方便实现在不同场景下的模拟测试,提供一些全面的测试数据来满足电子设备更全面的测试要求。
可选的,所述探头天线机构还包括用于安装所述天线基座的第一移动组件,所述第一移动组件设置有多个,第一移动组件与部分天线基座一一对应设置;所述第一移动组件包括与所述箱体侧壁固定连接的第一安装架和第一滑座,所述第一滑座固定安装于所述第一安装架;所述天线基座朝向所述第一滑座的端面设置有滑块和驱动所述天线基座运动的第一驱动件,所述滑块与所述第一滑座滑移配合。
通过采用上述技术方案,部分天线基座安装于第一安装架,通过测试需求,第一驱动件驱动滑块沿着第一滑座的长度方向运动,天线基座可通过滑块与第一滑座滑移配合调整位于箱体侧壁的天线基座的位置,沿着第一滑座的长度方向调整发射模组的位置,发射模组通过不同的角度和位置可对待测产品的周壁进行各种参数的测量,对产品周壁的每个位置进行不同类型的测试和扫描,提高待测产品测试数据的多样化。
可选的,所述探头天线机构还包括用于安装所述天线基座的第二移动组件,所述第二移动组件设置有多个,第二移动组件与部分天线基座一一对应设置;所述第二移动组件包括与所述箱体底面固定连接的第二安装架、与所述第二安装架滑移配合的水平安装座以及水平滑移安装于水平安装座的第二滑座,所述第二安装架设置有驱动水平安装座运动的第二驱动件,所述水平安装座的长度方向与所述第二安装架的长度方向垂直,所述滑块与所述第二滑座滑移配合。
通过采用上述技术方案,部分天线基座安装于第二滑座,通过测试需求,第一驱动件驱动滑块沿着第二滑座的长度方向运动,天线基座可通过滑块与第二滑座滑移配合调整位于水平安装座上的位置,继而通过第二驱动件驱动水平安装座沿着第二安装架的长度方向运动,通过水平安装座和第二安装架之间的滑移配合调整天线基座位于第二安装架上的位置,使得天线基座可在两个相互垂直的方向进行灵活的位置调整,从而使得发射模组相对产品的端面进行不同的角度和位置的测量,配合第一移动组件实现对产品进行全方位的的测试和扫描,使得箱体的整体测试效率及效果更佳,适用的场景更多。
可选的,所述承载台设置有用于固定待测产品的夹持块和驱动夹持块朝向所述承载台中心点位置运动的第三驱动件,所述夹持块设置不少于两个,所述夹持块与所述承载台滑移配合,所述夹持块用于与待测产品接触且抵接。
通过采用上述技术方案,产品放置于承载台,第三驱动件驱动夹持块朝向承载台的中心运动,使得多个夹持块与待测产品的周壁接触且抵压,限制待测产品产生位移,同时产品的载板可以兼容不同规格尺寸的产品,满足不同客户的测试需求,减少客户的研发测试成本。
可选的,所述箱体内壁和所述屏蔽门内壁均设置有用于将电磁波吸收或干扰的突刺层,所述突刺层由VPC-200的吸波棉角锥材料制成,所述突刺层的尖角朝向箱体内且固定安装于所述箱体内壁。
通过采用上述技术方案,当电磁波垂直入射到突刺层表面时,部分电磁波通过突刺层被反射回去,其余部分进入突刺层材料的内部进行吸收,VPC-200的吸波棉在小空间内对电磁波具有良好的吸收性能,提供了较低的反射环境,降低了测试中的不确定性,提高了测试精度。
可选的,所述箱体和屏蔽门均由导电或者导磁材料制成。
通过采用上述技术方案,采用导电率良好的导电材料,提高屏蔽箱的隔离度,将电磁力限制在一定空间范围内,用于抑制辐射干扰的金属体。并对传导和辐射进行处理,屏蔽箱可以提供一个隔绝外部电磁波信号干扰的一个的测试环境,与突刺层配合使得屏蔽箱内部可吸收干扰,外部可屏蔽电磁信号,保证测试数据的真实性。
第二方面,本申请提供一种全自动耦合测试屏蔽箱的测试方法,采用如下的技术方案:
一种全自动耦合测试屏蔽箱的测试方法,包括以下步骤:
启动屏蔽箱;其中,对屏蔽箱进行通电,运行射频器件模组;
放置待测产品于箱体内,保证待测产品通信正常;
得到目标位置;其中,逐个移动多个天线基座对待测产品进行测试,调整发射模组与测试产品保持不同的相对位置和角度进行测试,得到所需的测试数据进行对比;
测试和验证待测产品。
通过采用上述技术方案, 此产品在测试过程,探头天线可以自动移动,可以对产品的每个位置进行测试和扫描,可以提供更多的位置及其对应的测试参数,提高测试的准确性,同时提高生产效率和采集数据量,给提供给客户一些全面的测试数据,为客户提供更好的数据参考来满足客户更全面的测试要求,为客户数据全面分析和产品的品质提升起到了促进作用。
可选的,在放置待测产品于箱体内的步骤前,包括:检测及补偿射频电缆的线路损耗。
通过采用上述技术方案,减少测试中由于射频电缆的线路损耗二对产品测试的参数造成的误差。
综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:
1.在箱体中设有多组通信天线机构和探头天线机构,通过通信天线机构保证测试产品的通信正常,探头天线机构通过调节其不同的位置与待测产品保持不同的相对位置和角度,测试内部的电磁波得到所需的测试数据,可以提供更多的位置及其对应的测试参数,多组数据进行分析和对比,得到目标位置,保证产品测试的准确性和真实性。
2.在测试过程,发射模组可以自动移动,使得箱体的整体测试效率及效果更佳,同时方便实现在不同场景下的模拟测试,提供一些全面的测试数据来满足电子设备更全面的测试要求。
3.突刺层的设置使得当电磁波垂直入射到其表面时,部分电磁波通过突刺层被反射回去,其余部分进入突刺层材料的内部进行吸收,VPC-200的吸波棉在小空间内对电磁波具有良好的吸收性能,提供了较低的反射环境,降低了测试中的不确定性,提高了测试精度。
4.采用导电率良好的导电材料,提高屏蔽箱的隔离度,将电磁力限制在一定空间范围内,用于抑制辐射干扰的金属体。并对传导和辐射进行处理,屏蔽箱可以提供一个隔绝外部电磁波信号干扰的一个的测试环境,与突刺层配合使得屏蔽箱内部可吸收干扰,外部可屏蔽电磁信号,保证测试数据的真实性。
附图说明
图1是本申请一种全自动耦合测试屏蔽箱的整体结构示意图。
图2是本申请一种全自动耦合测试屏蔽箱凸显通信天线机构的结构示意图。
图3是本申请一种全自动耦合测试屏蔽箱凸显探头天线机构的结构示意图。
图4是本申请一种全自动耦合测试屏蔽箱凸显承载台的结构示意图。
图5是本申请一种全自动耦合测试屏蔽箱显示射频器件模组安装位置的结构示意图。
附图标记说明:
1、箱体;11、内腔;12、第一开口;13、第二开口;14、屏蔽门;15、维修门;16、突刺层;2、通信天线机构;3、探头天线机构;31、天线基座;311、滑块;312、第一驱动件;32、发射模组;33、第一移动组件;331、第一安装架;332、第一滑座;34、第二移动组件;341、第二安装架;342、水平安装座;343、第二滑座;344、第二驱动件;4、承载台;41、夹持块;5、射频器件模组。
具体实施方式
以下结合附图对本申请作进一步详细说明。
本申请实施例公开一种全自动耦合测试屏蔽箱。
参照图1和图5,全自动耦合测试屏蔽箱包括箱体1、通信天线机构2、探头天线机构3、承载台4以及射频器件模组5。箱体1用于隔绝外部的信号干扰,箱体1设置有内腔11,承载台4安装于内腔11用于放置被测产品,通信天线机构2安装于内腔11用于与产品进行通信,通信天线机构2安装于内腔11用于与产品进行通信,射频器件模组5与探头天线机构3和通信天线机构2电性连接。在本实施例中,承载台4位于箱体1的中心点处。射频器件模组5安装于箱体1的背面。
箱体1呈长方体设置,箱体1设置有用于放置待测产品的至承载台4的第一开口12和便于对通信天线机构2和探头天线机构3进行维修的第二开口13,第一开口12和第二开口13均与内腔11相通。箱体1包括用于封闭第一开口12的屏蔽门14和用于封闭第二开口13的维修门15,所述屏蔽门14和所述维修门15与箱体1通过转轴连接且转动配合。维修门15位于箱体1的上端面,便于维修人员从上端开启维修门15对内腔11里的结构进行维修。在本实施例中,屏蔽箱的优选长度(即测试的前壁和后之间的距离)为1220mm;优选宽度(即测试腔室的左壁和右壁之间的距离)为1050mm;优选高度为1080mm。箱体1的底面设置有用于移动的转向轮,转向轮设置有四个,四个转向轮分别位于箱体1的四个角处。
进一步的,箱体1内壁和屏蔽门14内壁均设置有用于将电磁波吸收或干扰的突刺层16,突刺层16由VPC-200的吸波棉角锥材料制成,突刺层16的尖角朝向箱体1内且固定安装于箱体1内壁。当电磁波垂直入射到突刺层16表面时,部分电磁波通过突刺层16被反射回去,其余部分进入突刺层16材料的内部进行吸收,VPC-200的吸波棉在小空间内对电磁波具有良好的吸收性能,提供了较低的反射环境,降低了测试中的不确定性,提高了测试精度。
在本实施例中,箱体1和屏蔽门14均由导电或者导磁材料制成。采用导电率良好的导电材料,提高屏蔽箱的隔离度,将电磁力限制在一定空间范围内,用于抑制辐射干扰的金属体。并对传导和辐射进行处理,屏蔽箱可以提供一个隔绝外部电磁波信号干扰的一个的测试环境,与突刺层16配合使得屏蔽箱内部可吸收干扰,外部可屏蔽电磁信号,保证测试数据的真实性。
参照图2,通信天线机构2设置有多组。在本实施例中,通信天线机构2设置有四组,四组通信天线机构2分别位于箱体1内腔11的四个角处。通信天线机构2包括天线安装座和天线本体,天线安装座固定安装于箱体1内壁,天线本体朝向承载台4的中心点处。在本实施例中,通过USB进行通信或者通过蓝牙连接进行通信,通过通信天线机构2保证测试产品的通信正常。
参照图1和图3,探头天线机构3包括天线基座31、用于接受和发射信号的发射模组32、用于安装天线基座31第一移动组件33以及用于安装天线基座31的第二移动组件34。具体的,第一移动组件33设置有三个,第二移动组件34设置有四个,天线基座31和发射模组32均一一对应设置,且天线基座31和发射模组32均设置有七个。发射模组32固定安装于天线基座31,其中三个天线基座31滑移安装于第一移动组件33,剩余四个天线基座31滑移安装于第二移动组件34,第一移动组件33安装于箱体1内腔11侧壁,第二移动组件34安装于箱体1内腔11底面。在本实施例中,第一移动组件33上安装的三个发射模组32均为一字型发射模组;第二移动组件34上安装的三个发射模组32均为十字型发射模组,根据检测的需求,可根据实际检测更滑发射模组32的样式。
参照图3,第一移动组件33包括与箱体1侧壁固定连接的第一安装架331和第一滑座332,第一滑座332固定安装于第一安装架331;天线基座31朝向第一滑座332的端面设置有滑块311和驱动天线基座31运动的第一驱动件312,第一驱动件312固定安装于第一安装架331,滑块311与第一滑座332滑移配合。在本实施例中,三个第一安装架331位于箱体1侧壁的高度相同,且三个第一安装架331分别位于除屏蔽门14所在端面的其他三个侧壁上,且每面侧壁固定安装一个第一安装架331,其中两个第一安装架331与箱体1的宽度方向相同,另一个第一安装架331与箱体1的长度方向相同。其中三个天线基座31安装于第一安装架331,根据测试需求,第一驱动件312驱动滑块311沿着第一滑座332的长度方向运动,天线基座31可通过滑块311与第一滑座332滑移配合调整位于箱体1侧壁的天线基座31的位置,沿着第一滑座332的长度方向调整发射模组32的位置,发射模组32通过不同的角度和位置可对待测产品的周壁进行各种参数的测量,对产品周壁的每个位置进行不同类型的测试和扫描,提高待测产品测试数据的多样化。
第二移动组件34包括与箱体1底面固定连接的第二安装架341、与第二安装架341滑移配合的水平安装座342以及水平滑移安装于水平安装座342的第二滑座343,天线基座31与水平安装座342滑移配合,水平安装座342与第二安装架341滑移配合。在本实施例中,第二安装架341设置有两个,两个第二安装架341相互平行,第二安装架341的长度方向与箱体1的宽度方向相同;水平安装座342设置有四个,四个水平安装座342分为两组,每组两个水平安装座342分别滑移安装于第二安装架341的两端,四个天线基座31分别一一对应安装于水平安装座342上且与水平安装座342滑移配合。
第二安装架341设置有滑轨和驱动水平安装座342在滑轨上运动的第二驱动件344,水平安装座342朝向第二安装架341的端面设置有与滑轨配合的水平安装座342的滑槽,滑轨位于滑槽内且与滑槽滑移配合。水平安装座342的长度方向与第二安装架341的长度方向垂直,水平安装座342的长度方向与箱体1的长度方向平行。水平安装座342的上端面设置有与天线基座31的滑块311配合的第二滑座343,第二滑座343的长度方向与水平安装座342的长度方向一致,天线基座31上的滑块311与第二滑座343滑移配合。
通过测试需求,第二驱动件344驱动滑块311沿着第二滑座343的长度方向运动,天线基座31可通过滑块311与第二滑座343滑移配合调整位于水平安装座342上的位置,继而通过第二驱动件344驱动水平安装座342沿着第二安装架341的长度方向运动,通过水平安装座342和第二安装架341之间的滑移配合调整天线基座31位于第二安装架341上的位置,使得天线基座31可在两个相互垂直的方向进行灵活的位置调整,从而使得发射模组32相对产品的端面进行不同的角度和位置的测量,配合第一移动组件33实现对产品进行全方位的的测试和扫描,使得箱体1的整体测试效率及效果更佳,适用的场景更多。
参照图4,承载台4设置有用于固定待测产品的夹持块41和驱动夹持块41朝向承载台4中心点位置运动的第三驱动件,夹持块41设置不少于两个,夹持块41与承载台4滑移配合,夹持块41用于与待测产品接触且抵接。在本实施例中,夹持块41设置有四个,每两个夹持块41为一组,一组中的两个夹持块41在第三驱动件的驱动下相向运动。具体的,承载台4设置有与第三驱动件的输出端固定连接的丝杆,丝杆与承载台4转动配合,丝杆远离第三驱动件的一端朝向承载台4的中线点所在的中轴线上,夹持块41与丝杆螺纹连接。产品放置于承载台4,第三驱动件驱动丝杆转动,从而丝杆带动夹持块41朝向朝向承载台4的中心运动,使得多个夹持块41与待测产品的周壁接触且抵压,限制待测产品产生位移,同时产品的载板可以兼容不同规格尺寸的产品,满足不同客户的测试需求,减少客户的研发测试成本。
适用于上述全自动耦合测试屏蔽箱,本申请公开一种全自动耦合测试屏蔽箱的测试方法方法,包括以下步骤:
S1、启动屏蔽箱。
S1-1、对屏蔽箱进行通电。
S1-2、运行射频器件模组5,保持一切正常工作。
S1-3、检测及补偿射频电缆的线路损耗;其中,对有损耗的射频电缆的线路使用仪器进行补偿。减少测试中由于射频电缆的线路损耗二对产品测试的参数造成的误差。
S2、放置待测产品于箱体1内。
S2-1、打开屏蔽门14,通过第一开口12将待测产品放置于承载台4上。
S2-2、对待测产品进行定位;其中,启动第三驱动件驱动丝杆转动,从而丝杆带动夹持块41朝向朝向承载台4的中心运动,使得多个夹持块41与待测产品的周壁接触且抵压,待测产品在多个夹持块41的相互抵压的作用下进行定位。
S2-3、保证待测产品通信正常;其中,对通信天线机构2与待测产品之间使用USB进行通信或者通过蓝牙连接。
S2-4、关闭屏蔽门14。
S3、得到目标位置。
S3-1、得到一个探头天线机构3的测试数据,移动一个探头天线机构3对待测产品进行测试;其中,使用第一移动组件33对天线基座31进行调整,记录发射模组32的位置。第一驱动件312驱动滑块311沿着第一滑座332的长度方向运动,天线基座31可通过滑块311与第一滑座332滑移配合调整位于箱体1侧壁的天线基座31的位置,沿着第一滑座332的长度方向调整发射模组32的位置,发射模组32静止,记录好发射模组32的位置,开始测试内部的电磁波,利用仪器进行分析电磁波信号,得到所需的测试数据。在本实施例中,在外部用电脑控制第一驱动件312的运作,带动发射模组32移动,与测试产品保持不同的相对位置和角度。
S3-2、使用第二移动组件34对天线基座31进行调整,记录发射模组32的位置;其中,第二驱动件344驱动滑块311沿着第二滑座343的长度方向运动,天线基座31可通过滑块311与第二滑座343滑移配合调整位于水平安装座342上的位置,继而通过第二驱动件344驱动水平安装座342沿着第二安装架341的长度方向运动,通过水平安装座342和第二安装架341之间的滑移配合调整天线基座31位于第二安装架341上的位置,发射模组32静止,记录好发射模组32的位置,开始测试内部的电磁波,利用仪器进行分析电磁波信号,得到所需的测试数据。
在其他实施例中,S3-2可与S3-1的顺序进行调换。
S3-3、依次测试剩余探头天线机构3,完成多次测试。
S3-4、对所有数据进行分析和对比,得到目标位置。
S4、于屏蔽箱内取出测试产品;其中,打开屏蔽门14,将测试产品取出。
S5、测试和验证待测产品;其中,使用目标位置,重新拿产品进行测试和验证,保证数据的准确性和真实性。
以上均为本申请的较佳实施例,并非依此限制本申请的保护范围,其中相同的零部件用相同的附图标记表示,需要说明的是,上面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向,词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。故:凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化,均应涵盖于本申请的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种全自动耦合测试屏蔽箱,其特征在于,包括,
箱体(1),用于隔绝外部的信号干扰,包括屏蔽门(14),所述箱体(1)设置有内腔(11)和第一开口(12),所述第一开口(12)与所述内腔(11)相通,所述屏蔽门(14)用于封闭所述第一开口(12);
通信天线机构(2),安装于所述内腔(11)用于与产品进行通信,所述通信天线机构(2)设置有多组;
探头天线机构(3),安装于所述内腔(11)用于对产品进行测试,包括天线基座(31)和用于接受和发射信号的发射模组(32),所述发射模组(32)安装于所述天线基座(31),所述天线基座(31)滑移安装于所述箱体(1);所述探头天线机构(3)设置有多组;
承载台(4),用于放置被测产品,所述承载台(4)位于所述内腔(11),所述通信天线机构(2)朝向所述承载台(4)上的产品;
射频器件模组(5),所述射频器件模组(5)安装于所述箱体(1),且所述射频器件模组(5)与所述发射模组(32)电性连接。
2.根据权利要求1所述的一种全自动耦合测试屏蔽箱,其特征在于,所述探头天线机构(3)还包括用于安装所述天线基座(31)的第一移动组件(33),所述第一移动组件(33)设置有多个,多个第一移动组件(33)与部分天线基座(31)一一对应设置;所述第一移动组件(33)包括与所述箱体(1)侧壁固定连接的第一安装架(331)和第一滑座(332),所述第一滑座(332)固定安装于所述第一安装架(331);所述天线基座(31)朝向所述第一滑座(332)的端面设置有滑块(311)和驱动所述天线基座(31)运动的第一驱动件(312),所述滑块(311)与所述第一滑座(332)滑移配合。
3.根据权利要求2所述的一种全自动耦合测试屏蔽箱,其特征在于,所述探头天线机构(3)还包括用于安装所述天线基座(31)的第二移动组件(34),所述第二移动组件(34)设置有多个,第二移动组件(34)与部分天线基座(31)一一对应设置;所述第二移动组件(34)包括与所述箱体(1)底面固定连接的第二安装架(341)、与所述第二安装架(341)滑移配合的水平安装座(342)以及水平滑移安装于水平安装座(342)的第二滑座(343),所述第二安装架(341)设置有驱动水平安装座(342)运动的第二驱动件(344),所述水平安装座(342)的长度方向与所述第二安装架(341)的长度方向垂直,所述滑块(311)与所述第二滑座(343)滑移配合。
4.根据权利要求1所述的一种全自动耦合测试屏蔽箱,其特征在于,所述承载台(4)设置有用于固定待测产品的夹持块(41)和驱动夹持块(41)朝向所述承载台(4)中心点位置运动的第三驱动件,所述夹持块(41)设置不少于两个,所述夹持块(41)与所述承载台(4)滑移配合,所述夹持块(41)用于与待测产品接触且抵接。
5.根据权利要求1所述的一种全自动耦合测试屏蔽箱,其特征在于,所述箱体(1)内壁和所述屏蔽门(14)内壁均设置有用于将电磁波吸收或干扰的突刺层(16),所述突刺层(16)由VPC-200的吸波棉角锥材料制成,所述突刺层(16)的尖角朝向箱体(1)内且固定安装于所述箱体(1)内壁。
6.根据权利要求5所述的一种全自动耦合测试屏蔽箱,其特征在于,所述箱体(1)和屏蔽门(14)均由导电或者导磁材料制成。
7.一种全自动耦合测试屏蔽箱的测试方法,采用如权利要求3所述的全自动耦合测试屏蔽箱,其特征在于,包括以下步骤:
启动屏蔽箱;其中,对屏蔽箱进行通电,运行射频器件模组(5);
放置待测产品于箱体(1)内,保证待测产品通信正常;
得到目标位置;其中,逐个移动多个天线基座(31)对待测产品进行测试,调整发射模组(32)与测试产品保持不同的相对位置和角度进行测试,得到所需的测试数据进行对比;
测试和验证待测产品。
8.根据权利要求7所述的一种全自动耦合测试屏蔽箱的测试方法,其特征在于,在放置待测产品于箱体(1)内的步骤前,包括:检测及补偿射频电缆的线路损耗。
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CN202211390200.3A CN115902426A (zh) | 2022-11-08 | 2022-11-08 | 全自动耦合测试屏蔽箱及测试方法 |
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2022
- 2022-11-08 CN CN202211390200.3A patent/CN115902426A/zh active Pending
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