CN115877167A - 用于camphcx电路和camphcw电路的测试方法及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明所涉及的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法中,CAMPHCX电路和CAMPHCW电路与用于执行测试的测试电路相连接,测试电路以规定的占空比对CAMPHCX电路输出测试电流,检测从CAMPHCX电路返回的返回电流,并判定从CAMPHCX电路返回的返回电流的值是否在由测试规格值所规定的范围内,接着等待规定的等待时间,然后测试电路以规定的占空比对CAMPHCW电路输出测试电流,检测从CAMPHCW电路返回的返回电流,并判定从CAMPHCW电路返回的返回电流的值是否在由测试规格值所规定的范围内。
Description
技术领域
本发明涉及用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法及存储介质。
背景技术
电子控制器单元(ECU:Electronic Control Unit)又被称为汽车的“行车电脑”,它们的用途就是控制汽车的行驶状态以及实现其各种功能。主要是利用各种传感器、总线的数据采集与交换,来判断车辆状态以及司机的意图,并通过执行器来操控汽车。
现如今ECU已经成为汽车上最为常见的部件之一,依据功能的不同可以分为不同的类型。最常见的例如有EMS(Engine Mangement System)发动机管理系统、TCU(Transmision Control Unit)自动变速箱控制单元、BCM(Body Control Module)车身控制模块、ESP(Electronic Stability Program)车身电子稳定控制系统、BMS(BatteryManagement System)电池管理系统、VCU(Vehicle Control Unit)整车控制器等。
其中,为了对发动机进行控制,在相应的产品(例如,车载ECU)中设有CAMPHCX(凸轮轴相位传感器控制信号X)和CAMPHCW(凸轮轴相位传感器控制信号W)电路。CAMPHCX电路和CAMPHCW电路属于输出电路,通过驱动外部负载来工作。
在实际生产过程中,采用检查机来检测产品中的CAMPHCX电路和CAMPHCW电路。详细而言,利用检查机中的测试电路进行相应的测试来判定CAMPHCX电路和CAMPHCW电路中是否存在问题,进而确保产品质量。
具体而言,检查机(内置有测试电路)通过连接器和线束与产品(包含CAMPHCX电路和CAMPHCW电路)相连接,检查机以合理的占空比(Duty)对产品内部的CAMPHCX电路和CAMPHCW电路输出测试电流,并检测从CAMPHCX电路和CAMPHCW电路返回的返回电流,通过判定返回电流值是否在测试规格值所决定的范围内,从而确定电路中是否存在不良。
发明内容
发明所要解决的技术问题
然而,现有技术中,由于连接器和线束的老化、连接状况恶化等,整个通路的电阻值增加,从产品返回的返回电流值有时会低于测试规格值的最小值(即、在测试规格值的范围外),导致误判定为产品报废,进而严重影响生产线的生产稳定性。
本发明是为了解决上述问题而完成的,其目的在于提供一种用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法,能减少测试过程中的误判率,提高生产线的生产稳定性。
解决技术问题所采用的技术方案
本发明的一个实施方式所涉及的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法中,所述CAMPHCX电路和所述CAMPHCW电路与用于执行测试的测试电路相连接,所述测试电路以规定的占空比对所述CAMPHCX电路输出测试电流,检测从所述CAMPHCX电路返回的返回电流,并判定从所述CAMPHCX电路返回的所述返回电流的值是否在由测试规格值所规定的范围内,接着等待规定的等待时间,然后,所述测试电路以规定的所述占空比对所述CAMPHCW电路输出所述测试电流,检测从所述CAMPHCW电路返回的所述返回电流,并判定从所述CAMPHCW电路返回的所述返回电流的值是否在由所述测试规格值所规定的范围内。
本发明的第二方式所涉及的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法在第一方式中,优选为,所述规定的等待时间设定为能在所述CAMPHCX电路和所述CAMPHCW电路的测试之间确保电路自身的冷却的时间。
本发明的第三方式所涉及的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法在第一方式中,优选为,所述规定的占空比设定为在测试时所述CAMPHCX电路和所述CAMPHCW电路不因所述测试电路输出的所述测试电流的增加而产生热关断的占空比。
本发明的第四方式所涉及的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法在第一方式中,优选为,所述测试电路包括具有相同规格的并联连接的3个电阻。
本发明的第五方式所涉及的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法在第二方式中,优选为,所述规定的等待时间设定为1秒。
本发明的第六方式所涉及的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法在第三方式中,优选为,所述规定的占空比设定为40%。
本发明的第七方式所涉及的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法在第四方式中,优选为,所述电阻的规格为10Ω/50W。
本发明的第八方式所涉及的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法在第一方式中,优选为,所述测试电流为4.0A以上的电流。
本发明的第九方式所涉及的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法在第一方式中,优选为,所述测试规格值所规定的范围为3.6A-6.0A。
本发明的第十方式所涉及的存储介质中存储有程序,该程序用于执行第一至第九方式中任一项所述的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法。
发明效果
根据本发明,能减少测试过程中的误判率,从而提高生产线的生产稳定性。
附图说明
图1是示出现有的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试电路的图。
图2是示出现有的CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试流程图。
图3是示出本发明实施方式所涉及的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试电路的图。
图4是示出本发明实施方式所涉及的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试流程图。
图5是示出CPK值的变化的图。
具体实施方式
以下,参照附图,对现有的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试电路及测试方法进行说明。
一、现有技术所涉及的测试电路
图1是示出现有的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试电路的图。其中,由于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路具有相同的结构,因此这里仅示出CAMPHCX电路的详细结构。图2是示出现有的CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试流程图。在图2中,仅图示出主要的测试步骤,省略实际测试中存在、但与要改进的部分无关的多个步骤。
图1中,E01为产品,其中包含了CAMPHCX电路和CAMPHCW电路,但这里仅以CAMPHCX电路为例来进行说明。100表示测试电路,这里,将测试电路100设为低高温检查机(以下有时简称为“检查机”),用以在低温和高温条件下对CAMPHCX电路进行测试,其包括电阻、继电器、电流表、电压表等。图1中,OC227和OC231为继电器,R1和R2为电阻。电阻R1、R2设为相同规格的10Ω/50W的电阻。
产品E01与测试电路100通过未图示的接口(连接器、线束等)相连接。
接下来,结合图2,对测试电路100的测试方法进行说明。现有技术中,测试电路100通过检测电流的方式来确认CAMPHCX电路中是否存在异常。
具体而言,首先,设置检查机100要对产品E01输出的测试电流A1,这里,一般设为3.7A。
步骤ST1中,检查机100以合理的a%(这里设为75%)的占空比对产品E01内部的CAMPHCX电路输出上述测试电流A1(3.7A)。其中,合理的占空比是指在保证测试效率的基础上、不会产生过大的热量进而导致发生热关断的占空比。
步骤ST2中,检查机100接收(检测)从产品E01返回的返回电流B。
步骤ST3中,检查机100判定返回电流B的值是否在测试规格值所确定的范围内。本实施方式中,将测试规格值设为A2、A3(A2为3.6A,A3为6.0A)。也就是说,在低温和高温条件下从产品E01返回的返回电流B的值在测试规格值A2、A3所规定的3.6A-6.0A的范围内的情况下,判定为CAMPHCX电路正常,反之则判定为CAMPHCX电路中存在异常。此时,针对CAMPHCX电路的测试完成。
然后,基于与上述同样的步骤,对CAMPHCW电路进行测试。
步骤ST4中,检查机100以合理的a%(这里设为75%)的占空比对产品E01内部的CAMPHCW电路输出测试电流A1(3.7A)。
步骤ST5中,接收(检测)从产品E01返回的返回电流B。
步骤ST6中,检查机100判定返回电流B的值是否在测试规格值所确定的范围内。也就是说,在低温和高温条件下从产品E01返回的返回电流B的值在测试规格值A2、A3所规定的3.6A-6.0A的范围内的情况下,判定为CAMPHCW电路正常,反之则判定为CAMPHCW电路中存在异常。此时,针对CAMPHCW电路的测试也完成。
当判定为CAMPHCX电路及/或CAMPHCW电路中存在异常时,意味着产品E01存在问题,可以判定为产品E01为报废品。
然而,对测试电路(检查机)100所得出的测试结果进行反复核验(评估)后发现,由于连接器和线束连接状况的恶化,导致整个通路的电阻值增加,因此,从产品E01返回的返回电流B的值偶发性地低于A2,尤其是在高温条件(105℃)下,返回电流B的值低于测试规格值A2的情况更多。
即,该情况下,CAMPHCX电路及/或CAMPHCW电路本身其实并没有异常,但被误判定为存在异常,进而导致将产品E01也误判定为报废。此时,将严重影响生产线的生产稳定性。
关于生产稳定性,这里,我们用CPK(Complex Process Capability index:过程能力指数)来评价。一般情况下,要求CPK值>1.67,但在利用现有技术所涉及的测试电路100来进行测试的情况下,CPK只能达到1.2289。
因此,需要对现有技术进行改进。
二、本发明实施方式所涉及的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试电路及测试方法
本发明实施方式中,首先对连接器及线束的连接状态进行改进,以降低检查机负载的电阻值,使检查机输出更大的电流(更接近测试电流值A1)。此外,还对测试电路100的结构进行了修改。
图3是示出本发明实施方式所涉及的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试电路的图。其中,由于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路具有相同的结构,因此这里仅示出CAMPHCX电路的详细结构。图4是示出本发明实施方式所涉及的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试流程图。在图4中,仅图示出主要的测试步骤,省略实际测试中存在、但与要改进的部分无关的多个步骤。
图3与图1的不同在于,增加了电阻R3。电阻R3设为具有与电阻R1和R2相同的规格,即10Ω/50W,且R3与R1和R2并联连接。通过该变更,将检查机所输出的测试电流A1变更为新的测试电流A4。新的测试电流A4为4.0A以上的电流,由于测试电流提高到4.0A以上,因此从CAMPHCX电路和CAMPHCW电路返回的返回电流B的值也相应提高,该值偶发性地低于测试规格值A2的情况减少,误判定的情况也相应地减少。
然而,由于从测试电路(检查机)100向CAMPHCX电路和CAMPHCW电路输出的测试电流的值变大,因此CAMPHCX电路和CAMPHCW电路中的发热也会增大,有可能发生热关断。以下,探讨解决该问题的方法。
为了防止因测试电流增大所引起的发热增大而导致发生热关断,考虑(1)降低检查机对产品E01发送测试电流的占空比;(2)在CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试之间增加规定的等待时间。
图4中示出修改后的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试流程图,参照图4,对与图2的不同点进行说明。
图4中,增加了步骤ST7、ST8、ST9,并将原步骤ST1、ST4变更为ST1A、ST4A。
首先,设置检查机100要对产品E01输出的测试电流A4,这里,从修改后的检查机(测试电路100)输出的测试电流A4为4.0A以上。
步骤ST1A中,检查机100以合理的a%的占空比对产品E01内部的CAMPHCX电路输出上述测试电流A4。其中,合理的占空比是指在保证测试效率的基础上、不会产生过大的热量进而导致发生热关断的占空比。
由于测试电流从A1(3.7A)增加到A4(4.0A以上),因此发热也增加,处于降低发热的考虑,设定占空比a%,以使得在测试时CAMPHCX电路和CAMPHCW电路不因测试电路100输出的测试电流的增加而产生热关断。本实施方式中,使占空比a从75%降低到40%,
步骤ST2中,检查机100接收(检测)从产品E01返回的返回电流B。
步骤ST3中,检查机100判定返回电流B的值是否在测试规格值所确定的范围内。本实施方式中,将测试规格值设为A2、A3(A2为3.6A,A3为6.0A)。也就是说,在低温和高温条件下从产品E01返回的返回电流B的值在测试规格值A2、A3所规定的3.6A-6.0A的范围内的情况下,判定为CAMPHCX电路正常,反之则判定为CAMPHCX电路中存在异常。此时,针对CAMPHCX电路的测试完成。
步骤ST7中,检测是否产生因测试电流的增而引起的热关断。
步骤ST8中,等待规定的等待时间t。如上述那样,由于测试电流增加而导致发热量增加,因此,为了在CAMPHCX电路与CAMPHCW电路的测试之间确保电路自身的冷却(散热),在它们之间设置规定的等待时间t。规定的等待时间设定为能在CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试之间确保电路自身的冷却的时间。此外,规定的等待时间也要将检测效率考虑在内来设置,若等待时间过长,则尽管能保证足够的散热,但也会导致检测效率大幅下降,进而影响整个生产的效率。本实施方式中,作为一个示例,将规定的等待时间t设为1秒。
步骤ST4A中,同样地,检查机100以40%的占空比对产品E01内部的CAMPHCW电路输出测试电流A4(4.0A以上)。
步骤ST5中,接收(检测)从产品E01返回的返回电流B。
步骤ST6中,检查机100判定返回电流B的值是否在测试规格值所确定的范围内。也就是说,在低温和高温条件下从产品E01返回的返回电流B的值在测试规格值A2、A3所规定的3.6A-6.0A的范围内的情况下,判定为CAMPHCW电路正常,反之则判定为CAMPHCW电路中存在异常。此时,针对CAMPHCW电路的测试也完成。
步骤ST9中,检测是否产生因测试电流的增而引起的热关断,并结束测定。
根据修改后的测试流程图,使测试电路(检查机)100输出的测试电流增大到A4,来减少测试过程中的误判率,从而提高生产线的生产稳定性。
并且,通过降低占空比a%、增加等待规定的等待时间t,来防止因测试电流从A1增加到A4所引起的发热而导致的热关断的产生。
此外,为了验证本实施方式的效果而进行了实验室确认(模拟)。
在实验条件下,设为电源电压为V1(18.3V)、频率为F(20Hz)、占空比为a%(40%)、温度T℃(105℃)来进行测试。
其结果是,(1)目标电流可以达到新的测试电流A4的值,具体而言,可以对CAMPHCX电路输出约4.1A、对CAMPHCW电路输出约4.2A的电流。
(2)虽然测试电流增加(从A1增加到A4),但并未发生热关断现象。
图5是示出CPK值的变化的图。图5的左侧示出基于现有技术的测试电路的测试结果,右侧示出基于本实施方式的测试电路的测试结果。
根据图5可知,通过修改测试电路100的结构、并对测试方法进行改进,CPK值明显增大,从1.2289变为当前的5.5394,这意味着生产线稳定性得到大幅提高。
本申请虽然记载了各种示例性的实施方式,但在实施方式中所记载的各种特征、形态、和功能并不限于应用于特定的实施方式,也能够单独地或进行各种组合来应用于实施方式。
因此,未例示的无数变形例设想为也在本申请所公开的技术范围内。例如,设为也包含对至少1个结构要素进行变形的情况、进行追加的情况或者进行省略的情况。
工业上的实用性
本发明可适用于车载ECU中的CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试。
标号说明
E01 产品
100 测试电路
OC227、OC231 继电器
R1、R2、R3 电阻。
Claims (10)
1.一种用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法,所述CAMPHCX电路和所述CAMPHCW电路与用于执行测试的测试电路相连接,所述测试方法的特征在于,
所述测试电路以规定的占空比对所述CAMPHCX电路输出测试电流,检测从所述CAMPHCX电路返回的返回电流,并判定从所述CAMPHCX电路返回的所述返回电流的值是否在由测试规格值所规定的范围内,
等待规定的等待时间,
所述测试电路以规定的所述占空比对所述CAMPHCW电路输出所述测试电流,检测从所述CAMPHCW电路返回的所述返回电流,并判定从所述CAMPHCW电路返回的所述返回电流的值是否在由所述测试规格值所规定的范围内。
2.如权利要求1所述的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法,其特征在于,
所述规定的等待时间设定为能在所述CAMPHCX电路和所述CAMPHCW电路的测试之间确保电路自身的冷却的时间。
3.如权利要求1所述的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法,其特征在于,
所述规定的占空比设定为在测试时所述CAMPHCX电路和所述CAMPHCW电路不因所述测试电路输出的所述测试电流的增加而产生热关断的占空比。
4.如权利要求1所述的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法,其特征在于,
所述测试电路包括具有相同规格的并联连接的3个电阻。
5.如权利要求2所述的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法,其特征在于,
所述规定的等待时间设定为1秒。
6.如权利要求3所述的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法,其特征在于,
所述规定的占空比设定为40%。
7.如权利要求4所述的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法,其特征在于,
所述电阻的规格为10Ω/50W。
8.如权利要求1所述的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法,其特征在于,
所述测试电流为4.0A以上的电流。
9.如权利要求1所述的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法,其特征在于,
所述测试规格值所规定的范围为3.6A-6.0A。
10.一种存储介质,其特征在于,
所述存储介质中存储有程序,该程序用于执行权利要求1至9中任一项所述的用于CAMPHCX电路和CAMPHCW电路的测试方法。
Priority Applications (1)
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CN202111133443.4A CN115877167A (zh) | 2021-09-27 | 2021-09-27 | 用于camphcx电路和camphcw电路的测试方法及存储介质 |
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