CN115833941B - Dwdm光模块apd调试方法、电子设备及计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种DWDM光模块APD调试方法、电子设备及计算机可读存储介质，包括：接收用于表征光探测模块工作电压的特征参数的初始值，光探测模块处于告警状态；以第一预设更新规则更新特征参数，检测光探测模块是否处于告警状态；将光探测模块未处于告警状态时对应的特征参数作为第一特征参数；读取光探测模块的误码率；基于所述误码率和第二预设步长更新第一特征参数，得到多个第二特征参数；获取与多个第二特征参数匹配的多个采集点误码率；将多个采集点误码率中最大或最小的采集点误码率作为最佳误码率。本申请可以去除不符合标准的误码率，以保证采集到的误码率的准确性，且能精准找到最佳误码率。

Description

DWDM光模块APD调试方法、电子设备及计算机可读存储介质

技术领域

本申请涉及光纤通信技术领域，尤其涉及一种DWDM光模块APD调试方法、电子设备及计算机可读存储介质。

背景技术

目前，在光纤通信技术领域，雪崩光电探测器（APD,AvalancePhotodiodeDetector）是广泛使用的一种光接收模块，具有较好的接收灵敏度。而确定雪崩光电探测器的最佳误码率是保持良好接收灵敏度的基础。

现有技术中，一般是研发人员大批量的对雪崩光电探测器进行逐一检测，检测过程存在繁琐、耗时长、精准度低等问题。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种DWDM光模块APD调试方法、电子设备及计算机可读存储介质，以解决检测流程繁琐、耗时长、精准度低等问题。

本申请一实施方式提供一种DWDM光模块APD调试方法，所述方法包括：

接收用于表征光探测模块工作电压的特征参数的初始值，其中，所述特征参数被设定为所述初始值后，所述光探测模块处于告警状态；

以第一预设更新规则更新所述特征参数，检测所述光探测模块是否处于所述告警状态；

若检测到所述光探测模块未处于所述告警状态，将所述光探测模块未处于所述告警状态时对应的特征参数作为第一特征参数；

读取所述光探测模块的误码率；

基于所述误码率和第二预设步长更新所述第一特征参数，得到多个第二特征参数和与多个所述第二特征参数匹配的多个采集点误码率，其中，一个所述第二特征参数对应一个所述采集点误码率；

将多个所述采集点误码率中最小的采集点误码率作为最佳误码率。

通过设定特征参数为初始值后，光探测模块处于告警状态，使得后续获得的特征参数和对应的采集点误码率更加精确；基于告警状态，以第一预设更新规则和第二预设步长更新特征参数，然后获取与特征参数匹配的多个采集误码率，能够减少获取采集点误码率的时长；最后从多个采集点误码率中提取合适的误码点为最佳误码率，使得获取的误码点精确度高。

在一些实施例中，所述以第一预设更新规则更新所述特征参数，检测所述光探测模块是否处于所述告警状态，包括：

检测第一预设步长的增加次数是否等于第一预设次数，在检测到所述第一预设步长的增加次数小于或等于所述第一预设次数时，以第一预设步长增加所述特征参数，并在所述特征参数每次增加所述第一预设步长后，均检测所述光探测模块是否处于所述告警状态；

若在第一预设步长的增加次数大于第一预设次数时，检测所述光探测模块仍处于所述告警状态，输出所述光探测模块不良的调试结果；

所述若检测到所述光探测模块未处于所述告警状态，将所述光探测模块未处于所述告警状态时对应的特征参数作为第一特征参数，包括：

若在第一预设步长的增加次数小于或等于第一预设次数时，检测到所述光探测模块未处于所述告警状态，将最后一次以第一预设步长增加后的所述特征参数，作为所述第一特征参数。

在一些实施例中，所述基于所述误码率和第二预设步长更新所述第一特征参数，得到多个第二特征参数，包括：

以所述第二预设步长增加或减小所述第一特征参数，得到多个所述第二特征参数。

在一些实施例中，所述获取与多个所述第二特征参数匹配的多个采集点误码率，包括：

根据首次以所述第二预设步长增加后的所述第一特征参数，得到初始第二特征参数；

获取与所述初始第二特征参数匹配的第一采集点误码率；

以所述第二预设步长增加所述初始第二特征参数，得到中间第二特征参数；

获取与所述中间第二特征参数匹配的第二采集点误码率；

比较所述第一采集点误码率和所述第二采集点误码率的大小，根据比较的结果以所述第二预设步长增大或减小所述中间第二特征参数，直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率。

在一些实施例中，所述根据比较的结果以所述第二预设步长增大或减小所述中间第二特征参数，直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率，包括：

若所述第二采集点误码率大于所述第一采集点误码率，以所述第二预设步长减小所述中间第二特征参数，得到减小第二特征参数；

获取与所述减小第二特征参数匹配的第三采集点误码率；

若所述第三采集点误码率小于所述第二采集点误码率，继续以所述第二预设步长减小所述减小第二特征参数，直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率；

若所述第三采集点误码率大于所述第二采集点误码率，停止以所述第二预设步长减小所述减小第二特征参数。

在一些实施例中，所述根据比较的结果以所述第二预设步长增大或减小所述中间第二特征参数，直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率，包括：

若所述第二采集点误码率小于所述第一采集点误码率，以所述第二预设步长增加所述中间第二特征参数，得到增加第二特征参数；

获取与所述增加第二特征参数匹配的第三采集点误码率；

若所述第三采集点误码率小于所述第二采集点误码率，继续以所述第二预设步长增加所述增加第二特征参数，直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率；

若所述第三采集点误码率大于所述第二采集点误码率，停止以所述第二预设步长增加所述增加第二特征参数。

在一些实施例中，所述读取所述光探测模块的误码率，包括：

以第三预设更新规则更新所述光探测模块的光功率，获取与所述光功率匹配的误码率；

当检测到与所述光功率匹配的误码率等于预设误码率时，生成调试失败信息。

在一些实施例中，所述以第三预设更新规则更新所述光探测模块的光功率，获取与所述光功率匹配的误码率，包括：

以第三预设步长增加所述光功率，及检测所述第三预设步长的增加次数是否等于第三预设次数；

在检测到所述第三预设步长的增加次数等于所述第三预设次数时，获取与所述光探测模块匹配的误码率。

本申请一实施方式还提供一种电子设备，所述电子设备包括处理器及存储器，所述存储器用于存储指令，所述处理器用于调用所述存储器中的指令，使得所述电子设备执行上述的DWDM光模块APD调试方法。

本申请一实施方式还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储计算机指令，当所述计算机指令在电子设备上运行时，使得所述电子设备执行上述的DWDM光模块APD调试方法。

与现有技术相比，上述DWDM光模块APD调试方法、电子设备及计算机可读存储介质，首先，设定光探测模块在调试状态下的特征参数的初始值，使得光探测模块进入告警状态。然后，多次更新特征参数的初始值，得到第一特征参数，且基于第一特征参数检测此时的光探测模块是否仍处于告警状态，若光探测模块未处于告警状态，则获取光探测模块的误码率。接着，为了提高调试的效率，设定第二预设步长多次更新第一特征参数，获取多个第二特征参数。最后，基于多个第二特征参数，获取与多个第二特征参数匹配的多个采集点误码率，并从多个采集点误码率中提取最佳误码率。该DWDM光模块APD调试方法的调试效率和准确性高，且无需研发人员大量调试检测，减少调试成本，同时，该方法获取的最佳误码率，能够使得光探测模块保持在一个稳定良好的状态。

附图说明

图1是本申请一实施方式的DWDM光模块APD调试方法的步骤流程图。

图2为本申请一实施例的电子设备的结构示意图。

主要元件符号说明

电子设备 100

存储器 20

处理器 30

计算机程序 40

如下具体实施例将结合上述附图进一步说明本申请。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本申请的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本申请进行详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施方式及实施方式中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请，所描述的实施方式仅是本申请一部分实施方式，而不是全部的实施方式。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本申请。

进一步需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

本申请中“至少一个”是指一个或者多个，“多个”是指两个或多于两个。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B的情况，其中A，B可以是单数或者复数。本申请的说明书和权利要求书及附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等（如果存在）是用于区别类似的对象，而不是用于描述特定的顺序或先后次序。

在本申请实施例中，“示例性的”或者“例如”等词用于表示作例子、例证或说明。本申请实施例中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其它实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言，使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念。

本申请的DWDM光模块APD调试方法可应用在一个或者多个电子设备中。电子设备是一种能够按照事先设定或存储的指令，自动进行数值计算和/或信息处理的设备，例如可以是服务器、服务器集群等。

图1是本申请DWDM光模块APD调试方法一实施例的步骤流程图。

参阅图1所示，一种DWDM光模块APD调试方法可以包括以下步骤：

S100、接收用于表征光探测模块工作电压的特征参数的初始值，其中，特征参数被设定为初始值后，光探测模块处于告警状态。

在一些实施例中，针对雪崩光电探测器（APD, Avalance Photodiode Detector），即光探测模块，对光探测模块进行调试，以获得最佳误码率。首先，由研发人员或调试人员在光探测模块调试系统中将光探测模块设置为测试状态，同时，将光探测模块的接收光功率设置为待灵敏度点，然后设定光探测模块的特征参数的初始值，使得光探测模块进入告警状态，从而便于后续检测光探测模块是否发生模块不通等情况，减少调试时长。在本实施例中，设置光探测模块的接收光功率为待灵敏度点，目的是为了在后续光探测模块的误码率为不通或为零的状态时，修改光探测模块的接收光功率，可以更加迅速的改变光探测模块的状态，使其出现有误码状态，（因为将接收光功率设置在待灵敏度点的话，是比较接近于光探测模块的告警点的，此时增加告警的相关参数值，可以较快的使光探测模块处于告警状态，所以把灵敏度点的光功率设置为初始光功率），可以根据实际情况设定接收光功率的值，例如，可以将接收光功率设置为0.1dbm，以便于在后续步骤中获取到的误码率更加精准；将特征参数记为Debug_APD，设定Debug_APD的初始值为十进制的100，本申请不对特征参数的初始值以及接收光功率进行限定。

S200、以第一预设更新规则更新特征参数，检测光探测模块是否处于告警状态。

在一些实施例中，光探测模块调试系统以第一预设步长更新特征参数，然后检测第一预设步长的增加次数是否等于第一预设次数，在检测到第一预设步长的增加次数小于或等于第一预设次数时，以第一预设步长增加特征参数，并在特征参数每次增加第一预设步长后，均检测光探测模块是否处于告警状态。例如，第一预设步长可以为十进制5，第一预设次数设定为20次，光探测模块调试系统检测到Debug_APD为十进制100，以第一预设步长进行增加，增加的次数小于或等于20次时，每增加一次第一预设步长5之后都检测光探测模块是否处于告警状态。本申请不对第一预设次数和第一预设步长的大小进行限定。

在一些实施例中，若在第一预设步长的增加次数大于第一预设次数时，检测到光探测模块仍处于告警状态，光探测模块调试系统则输出光探测模块不良的调试结果。例如，以第一预设步长5、超过第一预设次数20次更新特征参数。若在超过20次更新特征参数后，光探测模块调试系统检测到光探测模块仍处于告警状态，说明该光探测模块的内部部件可能存在故障，光探测模块调试系统生成调试失败结果，调试结束。

S300、若检测到光探测模块未处于告警状态，将光探测模块未处于告警状态时对应的特征参数作为第一特征参数。

在一些实施例中，若在第一预设步长的增加次数小于或等于第一预设次数时，检测到光探测模块未处于告警状态，将最后一次以第一预设步长增加后的特征参数，作为第一特征参数。在本实施例中，以第一预设步长5更新特征参数的初始值20次，得到的第一特征参数的值为200。同理，以第一预设步长5更新特征参数的初始值15次，得到的第一特征参数的值为175。在其他实施例中，第一特征参数的值根据第一预设步长和第一预设次数的不同而不同。

S400、读取所述光探测模块的误码率。

在一些实施例中，在得到第一特征参数的过程中，若光探测模块调试系统检测到光探测模块未处于告警状态，则光探测模块调试系统将获取光探测模块的误码率。例如，以第一预设步长5更新特征参数的初始值20次，得到的第一特征参数的值为200，然后获取与第一特征参数200匹配的误码率。然后，光探测模块调试系统检测该误码率是否等于预设误码率。若该误码率等于预设误码率，则以第三预设更新规则更新光探测模块的光功率，再次获取与光功率匹配的误码率，判断与光功率匹配的误码率是否等于预设误码率。在本实施例中，预设误码率的值设定为1000，本申请不对预设误码率的值进行限定。当光探测模块调试系统再次检测到与光功率匹配的误码率等于预设误码率时，直接生成调试失败信息。

在本实施例中，光探测模块调试系统以第三预设步长增加光功率，及检测第三预设步长的增加次数是否等于第三预设次数。在检测到第三预设步长的增加次数等于第三预设次数时，获取与光探测模块匹配的误码率。假设光探测模块的光功率为0.1dbm，第三预设步长设定为0.5dbm，第三预设次数为5次，此时的光功率为2.6dbm。同理，本申请不对第三预设步长和第三预设次数进行限定。光探测模块调试系统获取与光功率2.6dbm匹配的误码率，若检测到该误码率还等于预设误码率1000时，直接生成调试失败结果，调试结束。

S500、基于所述误码率和第二预设步长更新所述第一特征参数，得到多个第二特征参数和与多个第二特征参数匹配的多个采集点误码率，其中，一个第二特征参数对应一个采集点误码率。

在一些实施例中，当光探测模块调试系统检测到与光功率匹配的误码率不等于预设误码率1000时，基于第二预设步长更新所述第一特征参数，得到多个第二特征参数。在本实施例中，以第二预设步长增加或减小第一特征参数，得到多个第二特征参数，第二预设步长可以设定为十进制3。例如，第一次以第二预设步长3更新第一特征参数，得到第一次更新后的第一特征参数的值为203；第二次以第二预设步长3更新第一次更新后的第一特征参数，得到第二次更新后的第一特征参数的值为206，按照此步骤，可以获得多个更新次数下的第一特征参数，将更新后的多个第一特征参数，记为多个第二特征参数，第二特征参数的值为203、206等。本申请不对第二预设步长进行限定，同时，也不对更新第一特征参数的方式进行限定，可以增大第一特征参数，也可以减小第一特征参数。

在一些实施例中，将首次以第二预设步长增加后的第一特征参数，记为初始第二特征参数。在本实施例中，初始第二特征参数为203。然后，获取与初始第二特征参数203匹配的第一采集点误码率。将第一采集点误码率记为E_Rate01。以第二预设步长增加初始第二特征参数，得到中间第二特征参数。在本实施例中，中间第二特征参数可以为206。接着，获取与中间第二特征参数匹配的第二采集点误码率。将第二采集点误码率记为E_Rate02。最后，比较第一采集点误码率和第二采集点误码率的大小，根据比较的结果以第二预设步长增大或减小中间第二特征参数，直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率。

在一些实施例中，根据比较的结果以第二预设步长增大或减小中间第二特征参数，直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率，包括以下两种情况：

a1. 若第二采集点误码率大于第一采集点误码率，以第二预设步长减小中间第二特征参数，得到减小第二特征参数。然后，获取与减小第二特征参数匹配的第三采集点误码率。在本实施例中，如果E_Rate02大于E_Rate01，证明采集点误码率随着第二特征参数的增大而增大，则需要以第二预设步长3减小中间第二特征参数，得到减小第二特征参数。将与减小第二特征参数匹配的第三采集点误码率记为E_Rate03。

在一些实施例中，若第三采集点误码率小于第二采集点误码率，继续以第二预设步长减小所述减小第二特征参数。同时，将第三采集点误码率对应的上一次获取的采集点误码率记为第二采集点误码率E_Rate02。直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率。若第三采集点误码率大于第二采集点误码率，停止以第二预设步长减小所述减小第二特征参数。

a2. 若第二采集点误码率小于第一采集点误码率，以第二预设步长增加中间第二特征参数，得到增加第二特征参数。然后，获取与增加第二特征参数匹配的第三采集点误码率。同理，如果E_Rate02小于E_Rate01，证明误码率随着第二特征参数的增大而减小，则需要以第二预设步长3增加中间第二特征参数，随着第二特征参数的增大，对应的采集点误码率变小，得到增加第二特征参数。将与增加第二特征参数匹配的第三采集点误码率记为E_Rate03。

在一些实施例中，若第三采集点误码率小于第二采集点误码率，继续以第二预设步长增加所述增加第二特征参数，直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率。则最后一次获取的采集点误码率为第三采集点误码率E_Rate03，第三采集点误码率匹配的上一次获取的采集点误码率为E_Rate02。若第三采集点误码率大于第二采集点误码率，停止以第二预设步长增加所述增加第二特征参数。

在一些实施例中，可以获取到与多个第二特征参数匹配的多个采集点误码率，当检测到某一采集点误码率等于预设误码率检测值时，需要多次减小光模块的光功率。例如，为了获取到第三采集点误码率，需要增大或减小中间第二特征参数，在此时，若获取到的与多个更新后的第二特征字段匹配的采集点误码率中有任一采集点误码率等于预设误码率检测值时，说明在此光功率下的误码率曲线不是一个连续的曲线，这样采集到的采集点误码率和第二特征参数不符合最佳误码率，因此，需要更新光功率。在本实施例中，预设误码率检测值设定为0，在其他实施例中，也可以根据实际情况设定预设误码率检测值，本申请不对预设误码率检测值进行限定。

在一些实施例中，若某一采集点误码率为0时，光探测模块调试系统更新光功率。例如，以第三预设步长减小光模块的光功率，若减小光功率的次数小于等于预设光功率更新次数时，需要重置获取到的多个采集点误码率和多个第二特征参数。然后，再次重新获取与该光功率匹配的误码率，重复步骤S400即可。在本实施例中，预设光功率更新次数为5次，与第三预设次数相同，在其他实施例中，预设光功率更新次数可以与第三预设次数相同，也可以不相同，设定预设光功率更新次数的目的是为了提高调试的效率，同时，可以将多个采集点误码率和多个第二特征参数标记为0，也可以将标记多个采集点误码率和多个第二特征参数为其他数值，可根据实际情况进行设定。

在一些实施例中，若减少光模块的光功率的次数大于预设光功率更新次数，生成调试失败结果。在本实施例中，若减少光模块的光功率的次数大于5次之后，获取到的与减少后的光功率匹配的误码率还是出现为0的情况，则光探测模块调试系统直接生成调试失败结果，调试过程结束。

S600、将多个所述采集点误码率中最小的采集点误码率作为最佳误码率。

在一些实施例中，当满足增加第二特征参数或减小第二特征参数对应的采集点误码率大于中间第二特征参数对应的采集点误码率时，则将中间第二特征参数对应的采集点误码率，即第二采集点误码率记为最佳误码率。

在本实施例中，若第二采集点误码率大于或等于第三采集点误码率时，则证明未出现最佳误码率，光探测模块调试系统直接生成调试失败结果，调试过程结束。

本实施例的DWDM光模块APD调试方法，首先，设定光探测模块在调试状态下的特征参数的初始值，使得光探测模块进入告警状态。然后，多次更新特征参数的初始值，得到第一特征参数，且基于第一特征参数检测此时的光探测模块是否仍处于告警状态，若光探测模块未处于告警状态，则获取光探测模块的误码率。接着，为了提高调试的效率，设定第二预设步长多次更新第一特征参数，获取多个第二特征参数。最后，基于多个第二特征参数，获取与多个第二特征参数匹配的多个采集点误码率，并从多个采集点误码率中提取最佳误码率。该DWDM光模块APD调试方法的调试效率和准确性高，且无需研发人员大量调试检测，减少调试成本，同时，该方法获取的最佳误码率，能够使光探测模块保持在一个稳定良好的状态，以提高生产测试效率。

在一些实施例中，本申请还公开一种电子设备100，如图2所示，电子设备100包括存储器20和处理器30，存储器20用于存储指令，处理器30用于调用存储器20中的指令，使得电子设备100执行上述实施例的DWDM光模块APD调试方法中的步骤，例如图1所示的步骤S100~S600。电子设备100可以是部署有光探测模块调试系统的设备。在本申请的实施例中，以电子设备100是部署有光探测模块调试系统的设备为例进行描写。

本领域技术人员可以理解，所述示意图仅仅是电子设备100的示例，并不构成对电子设备100的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如电子设备100还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。

处理器30可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA) 或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器、单片机或者处理器30也可以是任何常规的处理器等。

存储器20可用于存储计算机程序40和/或模块/单元，处理器30通过运行或执行存储在存储器20内的计算机程序40和/或模块/单元，以及调用存储在存储器20内的数据，实现电子设备100的各种功能。存储器20可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序（比如声音播放功能、图像播放功能等）等；存储数据区可存储根据电子设备100的使用所创建的数据（比如音频数据）等。此外，存储器20可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如硬盘、内存、插接式硬盘，智能存储卡（Smart Media Card, SMC），安全数字（Secure Digital, SD）卡，闪存卡（Flash Card）、至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。

本申请还公开一种计算机可读存储介质存储计算机指令，当计算机指令在电子设备100上运行时，使得电子设备100执行本实施例的DWDM光模块APD调试方法。所述计算机可读存储介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读存储介质不包括电载波信号和电信信号。

最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本申请的技术方案而非限制，尽管参照上述实施例对本申请进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本申请的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本申请技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种DWDM光模块APD调试方法，其特征在于，所述方法包括：

接收用于表征光探测模块工作电压的特征参数的初始值，其中，所述特征参数被设定为所述初始值后，所述光探测模块处于告警状态；

以第一预设更新规则更新所述特征参数，检测所述光探测模块是否处于所述告警状态；

若检测到所述光探测模块未处于所述告警状态，将所述光探测模块未处于所述告警状态时对应的特征参数作为第一特征参数；

读取所述光探测模块的误码率；

基于所述误码率和第二预设步长更新所述第一特征参数，得到多个第二特征参数和与多个所述第二特征参数匹配的多个采集点误码率，其中，一个所述第二特征参数对应一个所述采集点误码率；

将多个所述采集点误码率中最小的采集点误码率作为最佳误码率；

其中，所述方法还包括：

若检测到存在等于预设误码率检测值的采集点误码率，多次减小所述光探测模块的接收光功率；

若减小接收光功率的次数小于等于预设接收光功率更新次数，重置获取到的所述多个采集点误码率和所述多个第二特征参数，及重新进入所述读取所述光探测模块的误码率的步骤。

2.如权利要求1所述的DWDM光模块APD调试方法，其特征在于，所述以第一预设更新规则更新所述特征参数，检测所述光探测模块是否处于所述告警状态，包括：

检测第一预设步长的增加次数是否等于第一预设次数，在检测到所述第一预设步长的增加次数小于或等于所述第一预设次数时，以第一预设步长增加所述特征参数，并在所述特征参数每次增加所述第一预设步长后，均检测所述光探测模块是否处于所述告警状态；

若在第一预设步长的增加次数大于第一预设次数时，检测所述光探测模块仍处于所述告警状态，输出所述光探测模块不良的调试结果；

所述若检测到所述光探测模块未处于所述告警状态，将所述光探测模块未处于所述告警状态时对应的特征参数作为第一特征参数，包括：

若在第一预设步长的增加次数小于或等于第一预设次数时，检测到所述光探测模块未处于所述告警状态，将最后一次以第一预设步长增加后的所述特征参数，作为所述第一特征参数。

3.如权利要求1或2所述的DWDM光模块APD调试方法，其特征在于，所述基于第二预设步长更新所述第一特征参数，得到多个第二特征参数，包括：

以所述第二预设步长增加或减小所述第一特征参数，得到多个所述第二特征参数。

4.如权利要求3所述的DWDM光模块APD调试方法，其特征在于，所述获取与多个所述第二特征参数匹配的多个采集点误码率，包括：

根据首次以所述第二预设步长增加后的所述第一特征参数，得到初始第二特征参数；

获取与所述初始第二特征参数匹配的第一采集点误码率；

以所述第二预设步长增加所述初始第二特征参数，得到中间第二特征参数；

获取与所述中间第二特征参数匹配的第二采集点误码率；

比较所述第一采集点误码率和所述第二采集点误码率的大小，根据比较的结果以所述第二预设步长增大或减小所述中间第二特征参数，直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率。

5.如权利要求4所述的DWDM光模块APD调试方法，其特征在于，所述根据比较的结果以所述第二预设步长增大或减小所述中间第二特征参数，直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率，包括：

若所述第二采集点误码率大于所述第一采集点误码率，以所述第二预设步长减小所述中间第二特征参数，得到减小第二特征参数；

获取与所述减小第二特征参数匹配的第三采集点误码率；

若所述第三采集点误码率小于所述第二采集点误码率，继续以所述第二预设步长减小所述减小第二特征参数，直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率；

若所述第三采集点误码率大于所述第二采集点误码率，停止以所述第二预设步长减小所述减小第二特征参数。

6.如权利要求4所述的DWDM光模块APD调试方法，其特征在于，所述根据比较的结果以所述第二预设步长增大或减小所述中间第二特征参数，直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率，还包括：

若所述第二采集点误码率小于所述第一采集点误码率，以所述第二预设步长增加所述中间第二特征参数，得到增加第二特征参数；

获取与所述增加第二特征参数匹配的第三采集点误码率；

若所述第三采集点误码率小于所述第二采集点误码率，继续以所述第二预设步长增加所述增加第二特征参数，直至最后一次获取的采集点误码率大于上一次获取的采集点误码率；

若所述第三采集点误码率大于所述第二采集点误码率，停止以所述第二预设步长增加所述增加第二特征参数。

7.如权利要求1所述的DWDM光模块APD调试方法，其特征在于，所述读取所述光探测模块的误码率，包括：

以第三预设更新规则更新所述光探测模块的接收光功率，获取与所述接收光功率匹配的误码率；

当检测到与所述接收光功率匹配的误码率等于预设误码率时，生成调试失败信息。

8.如权利要求7所述的DWDM光模块APD调试方法，其特征在于，所述以第三预设更新规则更新所述光探测模块的接收光功率，获取与所述接收光功率匹配的误码率，包括：

以第三预设步长增加所述接收光功率，及检测所述第三预设步长的增加次数是否等于第三预设次数；

在检测到所述第三预设步长的增加次数等于所述第三预设次数时，获取与所述光探测模块匹配的误码率。

9.一种电子设备，所述电子设备包括处理器及存储器，其特征在于，所述存储器用于存储指令，所述处理器用于调用所述存储器中的指令，使得所述电子设备执行如权利要求1至权利要求8中任一项所述的DWDM光模块APD调试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储计算机指令，当所述计算机指令在电子设备上运行时，使得所述电子设备执行如权利要求1至权利要求8中任一项所述的DWDM光模块APD调试方法。

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