CN115825132A - 一种快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开的一种快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，用若干个含量呈梯度分布的铜精矿标准样片，通过使用仪器漂移校正样片校正后的X射线荧光光谱仪测定每个铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的荧光强度及铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的荧光强度；然后分别以铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的荧光强度和含量为纵坐标和横坐标，在平面直角坐标系上描点并进行线性拟合，得到分析线；分别根据铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的荧光强度与分析线的对应关系，分别得到铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的含量。本发明相比化学分析法，该测定方法具有操作简单、流程短、分析时间可缩短12小时以上、测定范围广且无需使用有毒有害化学试剂等优点。

Description

一种快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法

技术领域

本发明涉及元素分析技术领域，尤其涉及一种快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法。

背景技术

我国是铜精矿进口量大国，铜精矿中含有的镉、锰、钴元素在不同程度上对人体和环境都有一定的损伤和污染，并且直接影响产品质量的优劣。随着国家关于铜冶炼企业一系列环保政策的出台，铜冶炼企业对生产全过程环保指标的控制显得尤为重要。

目前，铜精矿中的镉、钴元素含量采用《GB/T 3884.18-2014铜精矿化学分析方法第18部分：砷、锑、铋、铅、锌、镍、镉、钴、氧化镁、氧化钙量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法》进行分析，锰元素含量采用《锰的测定火焰原子吸收分光光度法》进行分析。但化学分析方法操作复杂，流程长，不能满足生产快速分析的需要，无法对铜精矿中的镉进行有效的监控，同时该化学分析法还需要大量有毒有害化学试剂，会对环境和操作人员健康造成危害。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，旨在解决现有化学分析法操作复杂，流程长且需使用有毒有害化学试剂的问题。

本发明的技术方案如下：

一种快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，包括步骤：

提供仪器漂移校正样片和若干个铜精矿标准样片，并对若干个所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素含量分别进行分析定值；

提供待测铜精矿样品，将所述待测铜精矿样品制备成铜精矿待测样片；

使用所述仪器漂移校正样片对X射线荧光光谱仪进行仪器漂移校正，采用校正后的X射线荧光光谱仪分别对若干个所述铜精矿标准样片进行测定，分别得到各个所述铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的荧光强度；

以所述铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的荧光强度为纵坐标，以所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素含量的分析定植为横坐标，拟合分别得到镉、锰、钴的分析线；

采用校正后的X射线荧光光谱仪对所述铜精矿待测样片进行测定，得到所述铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的荧光强度，根据所述分析线和所述铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的荧光强度的关系，计算得到所述铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的含量。

所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其中，所述铜精矿待测样片中的镉、锰、钴元素的质量分数分别不超过所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素的质量分数。

所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其中，所述步骤拟合分别得到镉、锰、钴的分析线之后，还包括步骤：

制备验收铜精矿样片，采用所述仪器漂移校正样片对X射线荧光光谱仪进行仪器漂移校正，并采用校正后的X射线荧光光谱仪对所述验收铜精矿样片进行测定，分别得到所述验收铜精矿样片中镉、锰、钴元素的荧光强度；

根据所述分析线和所述验收铜精矿样片中镉、锰、钴元素的荧光强度，得到测定值；

将所述测定值与所述验收铜精矿样片的标准值进行对比，根据对比结果对所述分析线进行验收。

所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其中，所述铜精矿标准样片的直径为34～45mm；所述铜精矿待测样片的直径为34～45mm。

所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其中，所述铜精矿标准样片的制备方法，包括步骤：

提供若干个标准铜精矿样品，采用样勺舀取所述标准铜精矿样品放置于塑料或铝箔压样环内，调节压样机压力，压制出所述铜精矿标准样片。

所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其中，提供待测铜精矿样品，将所述待测铜精矿样品制备成铜精矿待测样片，包括步骤：

采用样勺舀取所述待测铜精矿样品放置于塑料或铝箔压样环内，调节压样机压力，压制出所述铜精矿待测样片。

所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其中，所述压样机的压力为40～50吨，所述压样机的压力保持时间为5～10s。

所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其中，若干个所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素含量分别呈梯度分布。

所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其中，采用化学分析方法对若干个所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素含量分别进行分析定值。

所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其中，所述铜精矿标准样片至少包括五个。

有益效果：本发明提供一种快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，用若干个含量呈梯度分布的铜精矿标准样片，通过使用仪器漂移校正样片校正后的X射线荧光光谱仪测定每个铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的荧光强度及铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的荧光强度；然后分别以铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的荧光强度为纵坐标，以铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的含量为横坐标，在平面直角坐标系上描点并进行线性拟合，得到分析线；最后，分别根据铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的荧光强度与分析线的对应关系，分别得到铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的含量。本发明相比化学分析法，该测定方法具有操作简单、流程短、分析时间可缩短12小时以上、测定范围广(可测定金属元素含量0～100％)且无需使用有毒有害化学试剂等优点。

附图说明

图1为本发明实施例1测得的镉元素的分析线图；

图2为本发明实施例1测得的锰元素的分析线图；

图3为本发明实施例1测得的钴元素的分析线图。

具体实施方式

本发明提供一种快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

在实施方式和申请专利范围中，除非文中对于冠词有特别限定，否则“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。

应该进一步理解的是，本发明的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的全部或任一单元和全部组合。

本技术领域技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)，具有与本发明所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。

目前，在工业生产方面，大多数采用的是化学分析法对工业样品中所含的元素进行分析，化学分析法无法避免的就是使用较多的化学试剂对样品进行测定；由于大多数的试剂都含有一定的毒性，因此容易导致环境污染以及危害操作人员的健康。

基于此，本发明提供一种快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，包括步骤：

步骤S10：提供仪器漂移校正样片和若干个铜精矿标准样片，并对若干个所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素含量分别进行分析定值；

步骤S20：提供待测铜精矿样品，将所述待测铜精矿样品制备成铜精矿待测样片；

步骤S30：使用所述仪器漂移校正样片对X射线荧光光谱仪进行仪器漂移校正，采用校正后的X射线荧光光谱仪分别对若干个所述铜精矿标准样片进行测定，分别得到各个所述铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的荧光强度；

步骤S40：以所述铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的荧光强度为纵坐标，以所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素含量的分析定植为横坐标，拟合分别得到镉、锰、钴的分析线；

步骤S50：采用校正后的X射线荧光光谱仪对所述铜精矿待测样片进行测定，得到所述铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的荧光强度，根据所述分析线和所述铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的荧光强度的关系，计算得到所述铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的含量。

本实施方式中，使用仪器漂移校正样片对X射线荧光光谱仪进行仪器漂移校正，然后采用校正后的X射线荧光光谱仪分别对若干个铜精矿标准样片进行测定，得到各个铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的荧光强度，同时对若干个所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素含量分别进行分析定值；然后分别以各个铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的荧光强度和含量作为平面直角坐标系的纵坐标和横坐标进行描点并拟合，得到分析线；最后利用校正后的X射线荧光光谱仪对铜精矿待测样片进行测定，得到铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的荧光强度，通过将铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的荧光强度与分析线的比对，得到铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的含量，实现快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量。

本发明所提供的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法具有操作简单、流程短、分析时间可缩短12小时以上、测定范围广(可测定金属元素含量1～100％)且无需使用有毒有害化学试剂等优点。

在一些实施方式中，所述铜精矿待测样片中的镉、锰、钴元素的质量分数分别不超过所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素的质量分数。由于本实施方式中是采用镉、锰、钴元素含量呈梯度分布的铜精矿标准样片进行作为分析线的标准样品，所以当所述铜精矿待测样片中的镉、锰、钴元素的质量分数超过所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素的质量分数时，无法实现铜精矿待测样片中的镉、锰、钴元素的荧光强度与分析线的比对；而当所述铜精矿待测样片中的镉、锰、钴元素的质量分数分别不超过所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素的质量分数时，可以快速地测定铜精矿中镉、锰、钴的含量。

在一些实施方式中，所述步骤S40中，所述步骤拟合分别得到镉、锰、钴的分析线之后，还包括步骤：

步骤S41：制备验收铜精矿样片，采用所述仪器漂移校正样片对X射线荧光光谱仪进行仪器漂移校正，并采用校正后的X射线荧光光谱仪对所述验收铜精矿样片进行测定，分别得到所述验收铜精矿样片中镉、锰、钴元素的荧光强度；

步骤S42：根据所述分析线和所述验收铜精矿样片中镉、锰、钴元素的荧光强度，得到测定值；

步骤S43：将所述测定值与所述验收铜精矿样片的标准值进行对比，根据对比结果对所述分析线进行验收。

本实施方式中，利用校正后的X射线荧光光谱仪对所述验收铜精矿样片进行测定，再将验收铜精矿样片测定得到的镉、锰、钴元素的荧光强度与分析线进行比对，检验利用所述铜精矿标准样片制得的分析线的准确性，提高测定所述铜精矿待测样片中的镉、锰、钴元素含量的准确性。

所述标准值为所述验收铜精矿样片采用化学分析法进行测定，然后测得的镉、锰、钴元素的含量定义为标准值。

将所述测定值与所述标准值进行比较，判断步骤S40得到的分析线是否满足要求，具体满足下表1，允许差＝(测量值-标准值)/标准值×100％。

表1铜精矿中镉、锰、钴元素的测定值和标准值允许差

元素名称	质量分数w/％	允许差/％
			镉	0.0050～0.030	≤30
锰	0.030～0.15	≤30
			钴	0.010～0.050	≤30

具体地，考虑到共存元素和基体的差异所带来的干扰，根据情况可对所述分析线进行校正。具体实施时，可采用α系数法对分析线进行校正；所述α系数对基体吸收和增强效应进行了理论计算，以α系数校正元素之间的吸收增强效应；其中，校正系数应不超过3，保证结果的准确性。

在一些实施方式中，所述验收铜精矿样片的制备方法与所述铜精矿标准样片的制备方法一样，也可直接采用铜精矿标准样片作为验收铜精矿样片。

在一些实施方式中，将仪器漂移校正样片按照X射线荧光光谱仪的操作程序进行仪器漂移校正，校正次数≥1次，通过对X射线荧光光谱仪进行校正避免仪器出现偏差而对测量结果造成影响。其中，所述仪器漂移校正样片的制备方法与铜精矿标准样片的制备方法相同；在本实施方式中，也可以直接采用铜精矿标准样片作为仪器漂移校正样片。

具体地，对所述X射线荧光光谱仪进行仪器漂移校正包括步骤：

步骤S31：将仪器漂移校正样片装入X射线荧光光谱仪中，测定所述仪器校正样片中镉、锰、钴元素的荧光强度(该荧光强度作为X射线荧光光谱仪的漂移校正的初始荧光强度)；

步骤S32：将所述仪器漂移校正样片装入X射线荧光光谱仪中，对X射线荧光光谱仪进行校正，分别用镉、锰、钴元素的初始荧光强度除以该次漂移校正测量的镉、锰、钴荧光强度，得到漂移校正系数，分别用该次漂移校正测量得到的荧光强度×漂移校正系数，使得该次漂移校正得到的仪器漂移校正样片中镉、锰、钴元素的荧光强度分别与步骤S31中所测得的荧光强度(初始荧光强度)相一致。

本实施方式中，为了保证测试结果的精度与准确度，仪器漂移校正样片中元素质量含量不低于0.01％，校正漂移正系数在0.90～1.30之间。

在一些实施方式中，所述铜精矿标准样片的直径为34～45mm；所述铜精矿待测样片的直径为34～45mm。

在一些实施方式中，所述铜精矿标准样片的制备方法，包括步骤：提供若干个标准铜精矿样品，采用样勺舀取所述标准铜精矿样品放置于塑料或铝箔压样环内，调节压样机压力，压制出所述铜精矿标准样片。

在一种具体地实施方式中，取约20g标准铜精矿粉末样品放置于塑料或铝箔压样环内，在40～50吨的压力下，用压样机压制成所述铜精矿标准样片。

在一些实施方式中，提供待测铜精矿样品，将所述待测铜精矿样品制备成铜精矿待测样片，包括步骤：采用样勺舀取所述待测铜精矿样品放置于塑料或铝箔压样环内，调节压样机压力，压制出所述铜精矿待测样片。

在一种具体地实施方式中，取20g待测铜精矿粉末样品放置于塑料或铝箔压样环内，在40～50吨的压力下，用压样机压制成所述铜精矿待测样片。

在上述铜精矿标准样片和铜精矿待测样片的制备方法中，采用粉末样片法制备得到的准铜精矿样片和铜精矿待测样片表面平整、光洁、无裂纹、无气孔，在使用X射线荧光光谱仪进行测定时，所测得的荧光强度较为准确。

在一些实施方式中，所述压样机的压力为40～50吨，所述压样机的压力保持时间为5～10s。

在一些实施方式中，若干个所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素含量分别呈梯度分布。

在一些实施方式中，采用化学分析方法对若干个所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素含量分别进行分析定值。

具体地，若干个所述铜精矿标准样片中的镉元素含量为已知值且呈梯度分布，可通过化学分析法测得。具体可通过《GB/T 3884.18-2014铜精矿化学分析方法第18部分：砷、锑、铋、铅、锌、镍、镉、钴、氧化镁、氧化钙量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法》测定镉、钴元素含量，采用《锰含量的测定火焰原子吸收分光光度法》测定锰的含量。

在一些实施方式中，所述铜精矿标准样片至少包括五个；所述铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素含量分别覆盖铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素含量范围。即制备所述铜精矿标准样片采用的标准样品中的镉、锰、钴元素含量不相同，且镉、锰、钴元素含量的最低值与最高值分别覆盖铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素含量。进一步地，各个铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素含量在最低值与最高值范围内均匀地分布。

此外，本发明提供的一种快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，所适合的分析范围如表2所示。

表2铜精矿中镉、锰、钴元素含量的分析范围

元素	质量分数％
		镉	0.0050～0.030
锰	0.030～0.15
		钴	0.010～0.050

下面进一步举例实施例以详细说明本发明。同样应理解，以下实施例只用于对本发明进行进一步说明，不能理解为对本发明保护范围的限制，本领域的技术人员根据本发明的上述内容作出的一些非本质的改进和调整均属于本发明的保护范围。

以下实施例中镉、锰、钴元素的X射线荧光光谱仪工作条件如表3所示。

表3镉、锰、钴元素采用的X射线荧光光谱仪工作条件

分析元素

晶体

谱线

准直器

探测器

滤光片

电压

电流

镉

LiF200

<u>Ka</u>

300μm

Flow

None

60KV

50mA

锰

LiF200

<u>Ka</u>

300μm

Flow

None

60KV

50mA

钴

LiF200

<u>Ka</u>

300μm

Flow

None

60KV

50mA

实施例1

(1)提供12个铜精矿标准样片，每个铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素含量为已知值且呈梯度分布，该已知值作为标准值，具体地采用《GB/T 3884.18-2014铜精矿化学分析方法第18部分：砷、锑、铋、铅、锌、镍、镉、钴、氧化镁、氧化钙量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法》分析得到镉、钴元素的含量，采用《锰含量的测定火焰原子吸收分光光度法》测定锰的含量。

(2)舀取一定量铜精矿标准样品放置于塑料或铝箔压样环内，调节压样机压力，压制出铜精矿标准样片。具体地，将塑料压样环或铝箔压样环置于压样模具，舀取20克左右铜精矿标准样品放置于塑料压样环或铝箔压样环内，调节压样机压力，压制出表面平整、光洁、无裂纹的铜精矿标准样片。可选地，所述压制的压力40T-50T,保持时间5s～10s。其中，所述样片的直径范围为34mm-45mm。

(3)取1个上述铜精矿标准样片作为仪器漂移校正样片，按照X荧光光谱仪的操作程序进行仪器漂移校正，校正次数为1次；

(4)采用X射线荧光光谱仪分别测定上述10个铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的荧光强度，分别以铜精矿标准样品中镉、锰、钴元素的荧光强度为纵坐标，以铜精矿标准样品中镉、锰、钴元素的含量为横坐标，绘制分析线如图1至图3所示；

(5)取1个上述铜精矿标准样片作为仪器漂移校正样片，按照X荧光光谱仪的操作程序进行仪器漂移校正，校正次数为1次；

(6)采用X射线荧光光谱仪测定两个待测铜精矿样片HHK-3012及HHK-2904中镉、锰、钴元素的荧光强度，根据所述分析线和所述两个铜精矿待测样片中镉镉、锰、钴元素的荧光强度，得到所述铜精矿待测样品HHK-3012及HHK-2904镉、锰、钴元素含量，见表4中的测定值。

表4铜精矿侍测样品HHK-3012及HHK-2904中镉元素含量测定值与标准值

实施例2

提供铜精矿标准样品HHK-2981，进行方法精密度实验，结果如表5所示。

表5铜精矿中镉、锰、钴元素含量测定精密度试验

从表4和表5中的实验数据可知，上述应用X射线光谱荧光测定铜精矿尘中镉、锰、钴元素含量方法的准确度和精密度均能满足要求，方法可行。本发明测定铜精矿中镉、锰、钴元素含量的方法较化学分析法操作简单，流程短，10分钟左右即能报出数据，但准确度和精确度却可与之相媲美，从另一个侧面表明，本发明所述快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法具有巨大的应用推广价值。

综上所述，本发明提供的一种快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，用若干个含量呈梯度分布的铜精矿标准样片，通过使用仪器漂移校正样片校正后的X射线荧光光谱仪测定每个铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的荧光强度及铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的荧光强度；然后分别以铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的荧光强度为纵坐标，以铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的含量为横坐标，在平面直角坐标系上描点并进行线性拟合，得到分析线；最后，分别根据铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的荧光强度与分析线的对应关系，分别得到铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的含量。本发明相比化学分析法，该测定方法具有操作简单、流程短、分析时间可缩短12小时以上、测定范围广(可测定金属元素含量0～100％)且无需使用有毒有害化学试剂等优点，解决了现有化学分析法操作复杂，流程长且需使用有毒有害化学试剂的问题。

应当理解的是，本发明的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其特征在于，包括步骤：

提供仪器漂移校正样片和若干个铜精矿标准样片，并对若干个所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素含量分别进行分析定值；

提供待测铜精矿样品，将所述待测铜精矿样品制备成铜精矿待测样片；

使用所述仪器漂移校正样片对X射线荧光光谱仪进行仪器漂移校正，采用校正后的X射线荧光光谱仪分别对若干个所述铜精矿标准样片进行测定，分别得到各个所述铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的荧光强度；

以所述铜精矿标准样片中镉、锰、钴元素的荧光强度为纵坐标，以所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素含量的分析定植为横坐标，拟合分别得到镉、锰、钴的分析线；

采用校正后的X射线荧光光谱仪对所述铜精矿待测样片进行测定，得到所述铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的荧光强度，根据所述分析线和所述铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的荧光强度的关系，计算得到所述铜精矿待测样片中镉、锰、钴元素的含量。

2.根据权利要求1所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其特征在于，所述铜精矿待测样片中的镉、锰、钴元素的质量分数分别不超过所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素的质量分数。

3.根据权利要求1所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其特征在于，所述步骤拟合分别得到镉、锰、钴的分析线之后，还包括步骤：

制备验收铜精矿样片，采用所述仪器漂移校正样片对X射线荧光光谱仪进行仪器漂移校正，并采用校正后的X射线荧光光谱仪对所述验收铜精矿样片进行测定，分别得到所述验收铜精矿样片中镉、锰、钴元素的荧光强度；

根据所述分析线和所述验收铜精矿样片中镉、锰、钴元素的荧光强度，得到测定值；

将所述测定值与所述验收铜精矿样片的标准值进行对比，根据对比结果对所述分析线进行验收。

4.根据权利要求1所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其特征在于，所述铜精矿标准样片的直径为34～45mm；所述铜精矿待测样片的直径为34～45mm。

5.根据权利要求1所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其特征在于，所述铜精矿标准样片的制备方法，包括步骤：

提供若干个标准铜精矿样品，采用样勺舀取所述标准铜精矿样品放置于塑料或铝箔压样环内，调节压样机压力，压制出所述铜精矿标准样片。

6.根据权利要求1所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其特征在于，提供待测铜精矿样品，将所述待测铜精矿样品制备成铜精矿待测样片，包括步骤：

采用样勺舀取所述待测铜精矿样品放置于塑料或铝箔压样环内，调节压样机压力，压制出所述铜精矿待测样片。

7.根据权利要求5或6所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其特征在于，所述压样机的压力为40～50吨，所述压样机的压力保持时间为5～10s。

8.根据权利要求1所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其特征在于，若干个所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素含量分别呈梯度分布。

9.根据权利要求1所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其特征在于，采用化学分析方法对若干个所述铜精矿标准样片中的镉、锰、钴元素含量分别进行分析定值。

10.根据权利要求1所述的快速测定铜精矿中镉、锰、钴含量的方法，其特征在于，所述铜精矿标准样片至少包括五个。

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