CN115762833A - 一种适用于研究堆的升降式辐照装置及辐照温度控制方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种适用于研究堆的升降式辐照装置及辐照温度控制方法，包括辐照罐；辐照罐包括同轴设置的外筒和内筒；外筒和内筒之间设有样品层，样品层包括若干夹块，若干夹块沿内筒轴向依次设置，夹块套设于内筒外壁，夹块和内筒外壁之间留有气隙；每个所述夹块内均设有实验样品；还包括和气隙连通的进气管和出气管；辐照装置上连接有升降控制系统；实验样品和外筒内壁之间还设有电加热装置。本方案用于减少在低温水冷研究堆中的材料辐照试验段的不同层之间的样品温差；并通过一定的分析手段和方法，减弱孔道内轴向释热率的波动对试验段温度的影响，降低试验段的温差，从而保证试验段的所有样品均能同时满足温度控制范围的要求。
Description
技术领域
本发明涉及研究堆辐照技术领域，具体涉及一种适用于研究堆的升降式辐照装置及辐照温度控制方法。
背景技术
对于辐照试验研究堆而言，开展材料和燃料的辐照试验研究是最重要的应用之一。材料辐照试验是利用材料辐照装置装载标准化的材料试验样品，将其置入研究堆的堆芯活性区中，利用研究堆的中子和伽马射线对材料造成辐照损伤以研究材料的耐辐照性能的试验。材料辐照装置需要承担样品装载、测量和控制辐照试验参数的功能。
单次辐照试验时，希望辐照装置内的材料样品数量尽可能多，全部样品的辐照温度范围尽可能小。由于研究堆堆芯较小且结构复杂，以及堆内的中子注量率轴向分布的固有特性以及阴阳面(辐照装置内靠近堆芯中心的一侧为阳面，背离堆芯中子的一侧为阴面)中子注量率的差异，加上研究堆运行过程中产生的堆内中子注量率变化，导致的使得辐照装置内不同位置的材料样品释热率差异较大且存在波动，进而导致装置内样品辐照温度分布不均且存在较大差异。因此，在保证样品装载数量的前提下，材料辐照装置的设计须采用各种方法，展平装置内的样品温度，减小全部样品的辐照温度范围。
发明内容
本发明为解决上述不足，目的在于提供一种适用于研究堆的升降式辐照装置及辐照温度控制方法，用于减少在低温水冷研究堆中的材料辐照试验段的不同层之间的样品温差；并通过一定的分析手段和方法，减弱孔道内轴向释热率的波动对试验段温度的影响，降低试验段的温差，从而保证试验段的所有样品均能同时满足温度控制范围的要求。
本发明通过下述技术方案实现：
一种适用于研究堆的升降式辐照装置，包括辐照罐；
所述辐照罐包括同轴设置的外筒和内筒；所述外筒和内筒之间设有样品层，所述样品层包括若干夹块，若干所述夹块沿所述内筒轴向依次设置，所述夹块套设于所述内筒外壁，所述夹块和所述内筒外壁之间留有气隙；每个所述夹块内均设有实验样品；
还包括和所述气隙连通的进气管和出气管，所述进气管和调气控制系统连接；
所述辐照装置上连接有升降控制系统，所述升降控制系统用于调节所述辐照装置在研究堆堆芯中的位置；
所述夹块内还设有电加热装置。
相对于现有技术中，由于研究堆堆芯较小且结构复杂，以及堆内的中子注量率轴向分布的固有特性以及阴阳面中子注量率的差异，加上研究堆运行过程中产生的堆内中子注量率变化，导致的使得辐照装置内不同位置的材料样品释热率差异较大且存在波动，进而导致装置内样品辐照温度分布不均且存在较大差异等问题，本方案提供了一种辐照装置，该辐照装置包括辐照罐，辐照罐包括同轴设置的外筒和内筒，辐照罐轴向放置多个由夹块和实验样品组成的样品层，而通过设计不同样品层的夹块外径即可获得不同的样品层气隙厚度，依次使样品层的释热率范围满足控温要求；其中进气管包括氦气进气管和氩气进气管，在初始状态时，可控制调气控制系统，通过氦气进气管向辐照罐内充入纯氦气，并通过出气管充分排空辐照罐内原有气体，一方面，若在实验初期时，实验各层样品温度均低于控温要求，则控制调气控制系统，通过氩气进气管向辐照罐内通过纯氩气，以此使得实验样品温度满足控温要求；若持续性充入氩气无法使得样品温度满足控温要求，此时启用电加热控制系统，控制电加热装置加热，其中电加热装置优选为电加热丝，若启动电加热装置仍不能满足控温需求，则试验失败；若可以满足则试验初期温度调节成功。第二方面，若在实验初期时，实验各层样品温度均高于控温要求，此时只能通过调节辐照装置的位置来降低温度，即可通过升降控制系统来控制辐照装置的位置，若通过调节辐照装置的位置能够使得样品温度满足控温要求，则试验初期温度调节成功。第三方面，试验初期温度调节成功后，在反应堆运行期间，若各层夹块温度轴向分布曲线呈一端高一端低的单调下降形状，则通过升降控制系统将辐照装置向上述曲线温度低的一侧移动，最终调整到的位置可使得各层夹块的温度分布呈中间高两端低的形式且中间的峰值位置位于样品段中部区域。
以上方案，旨在实现：通过改变气隙厚度、调节调气控制系统充入的混合气体、控制电加热控制系统的加热以及升降控制系统的升降，以此在实验过程中，逐步调节各实验样品的释热率，从而减少在低温水冷研究堆中的材料辐照试验段的不同层之间的样品温差；并通过一定的分析手段和方法，减弱孔道内轴向释热率的波动对试验段温度的影响，降低试验段的温差，从而保证试验段的所有样品均能同时满足温度控制范围的要求。
进一步优化，所述外筒两端分别设有底法兰和顶法兰，所述底法兰和样品层一端之间、所述顶法兰和样品层另一端之间均设有定位块，两个所述定位块将所述样品层夹持在内；通过两个定位块，将样品层固定在内，通过顶法兰和底法兰，从而封闭内筒和外筒之间的间隙；其中，进气管、出气管和电加热丝引线均位于顶法兰远离辐照罐的一侧，在顶法兰上开有用于引入进气管、出气管和电加热丝引线的引入孔。
进一步优化，一种适用于研究堆的升降式材料辐照装置的辐照温度控制方法，包括以下步骤：
S1：确定辐照装置的特征结构，并完成辐照装置的结构定型；
S2：材料辐照实验初期时，使辐照装置内为全氦气状态，并使辐照装置的试验段中心平面低于研究堆堆芯中平面，观察研究堆满功率时实验样品的温度，当样品的温度位于控温区间内时，实验初期成功；
S3：当实验初期成功后，通过温度测点实时监控温度数据，并使不同层实验样品的温差不超过限定阈值。
进一步优化，所述步骤S1还包括以下子步骤：
在确定辐照装置的特征结构时，需根据试验段几何结构、孔道选取、实验样品排布以及释热率大小，开展装置热工分析计算，确定每个夹块厚度，得到每个夹块与外筒和内筒的气隙厚度。
进一步优化，在开展装置气隙设计计算时，得到的样品层气隙厚度需满足以下要求：
(1)全充氦气时，实验样品最高温度小于实验要求温度下限且留有余量；全充氩气时，实验样品最低温度高于实验要求温度上限；
(2)确保辐照装置外壁面温度小于冷却水饱和温度；
(3)使所有实验样品的温度差异小于辐照温度范围的70％。
进一步优化，所述步骤S2还包括以下步骤：
S21：材料辐照实验初期时，通过氦气进气管向辐照罐内充入纯氦气，并通过出气管充分排空辐照罐内原有气体，使辐照罐内为全氦气状态；
S22：通过升降控制系统，控制辐照装置样品段中平面的周向初始位置，使初始位置低于研究堆堆芯中平面；
S23：反应堆开启后，观察辐照罐内各层夹块、各层实验样品温度测点的温度值以及温度的轴向温度分布；
S24：若各层温度均满足试验要求，则试验初期温度调节成功。
进一步优化，当各层温度均小于目标辐照温度时，启动调气控制系统，控制氩气进气管以及气隙内持续性充入氩气，使实验样品温度满足控温要求。
进一步优化，若冲入氩气后无法满足控温要求，则启动电加热控制系统，预置在夹块内的电加热装置开始加热，使实验样品温度满足控温要求。
进一步优化，当各层温度均高于目标辐照温度时，通过升降控制系统调节辐照装置的升降，使实验样品温度满足控温要求。
进一步优化，所述步骤S3还包括以下步骤：通过温度测点实时监控温度数据时，观察孔道内试验段的释热率轴向分布曲线，若轴向分布曲线呈中间高两端低的曲线，且中间的峰值位置位于样品段中部区域，则无需调整辐照罐的轴向位置；若轴向分布曲线呈一端高一端低的单调下降曲线，则通过升降控制系统将所述辐照装置朝轴向分布曲线温度低的一侧移动，直至轴向分布曲线呈中间高两端低的曲线，且中间的峰值位置位于样品段中部区域。
本发明与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：
1、本发明提供的一种适用于研究堆的升降式辐照装置及辐照温度控制方法，可对辐照装置相对应活性段的轴向位置进行动态调节，可用于试验样品温控范围的扩展及样品温度的展平。
2、本发明提供的一种适用于研究堆的升降式辐照装置及辐照温度控制方法，在试验初期调气电加热装置无法满足试验温度要求时，可以通过调整试验段的轴向位置，改变样品的释热率从而有效的扩展了控温范围。
3、本发明提供的一种适用于研究堆的升降式辐照装置及辐照温度控制方法，在开始辐照试验后，当检测到样品温度峰值位置改变后，可以通过调整试验段的轴向位置，改变样品的释热率从而有效的展平试验段样品的温度。
4、本发明提供的一种适用于研究堆的升降式辐照装置及辐照温度控制方法，可以通过调整试验段的轴向位置，增加了辐照试验了的调温手段，提高了辐照试验的成功率。
5、本发明提供的一种适用于研究堆的升降式辐照装置及辐照温度控制方法，可以充分利用辐照试验的温度检测数据，对辐照装置的位置进行动态调节，可使得样品的控温精度提高。
6、本发明可应用于研究堆内的材料辐照试验。
附图说明
为了更清楚地说明本发明示例性实施方式的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。在附图中：
图1为本发明提供的一种实施例的试验段横截面示意图；
图2为本发明提供的一种实施例的辐照装置温度控制系统的连接示意图；
图3为本发明提供的一种实施例的辐照装置定型及初期温度调整控制流程示意图；
图4为本发明提供的一种实施例的功率波动条件下试验段位置调整控制流程示意图。
附图中标记及对应的零部件名称：
1-底法兰，2-定位块，3-夹块，4-实验样品，5-电加热装置，6-顶法兰，7-进气管，8-出气管，9-电加热丝引线，10-调气控制系统，11-辐照装置，12-电加热控制系统，13-升降控制系统。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本发明作进一步的详细说明，本发明的示意性实施方式及其说明仅用于解释本发明，并不作为对本发明的限定。
实施例1
本实施例1提供了一种适用于研究堆的升降式辐照装置11，如图1和图2所示，其中图1为试验段横截面示意图，即辐照罐的横截面图，图2为辐照装置11温度控制系统的连接示意图，即各种温度控制系统和辐照装置11的连接关系，其中辐照装置11包括辐照罐；
辐照罐包括同轴设置的外筒和内筒；外筒和内筒之间设有样品层，样品层包括若干夹块3，若干夹块3沿内筒轴向依次设置，夹块3套设于内筒外壁，夹块3和内筒外壁之间留有气隙；每个夹块3内均设有实验样品4；
还包括和气隙连通的进气管7和出气管8，进气管7和调气控制系统10连接；
辐照装置11上连接有升降控制系统13，升降控制系统13用于调节辐照装置11在研究堆堆芯中的位置；
所述夹块3内还设有电加热装置5。
相对于现有技术中，由于研究堆堆芯较小且结构复杂，以及堆内的中子注量率轴向分布的固有特性以及阴阳面中子注量率的差异，加上研究堆运行过程中产生的堆内中子注量率变化，导致的使得辐照装置11内不同位置的材料样品释热率差异较大且存在波动，进而导致装置内样品辐照温度分布不均且存在较大差异等问题，本方案提供了一种辐照装置11，该辐照装置11包括辐照罐，辐照罐包括同轴设置的外筒和内筒，辐照罐轴向放置多个由夹块3和实验样品4组成的样品层，而通过设计不同样品层的夹块3外径即可获得不同的样品层气隙厚度，依次使样品层的释热率范围满足控温要求；其中进气管7包括氦气进气管7和氩气进气管7，在初始状态时，可控制调气控制系统10，通过氦气进气管7向辐照罐内充入纯氦气，并通过出气管8充分排空辐照罐内原有气体，一方面，若在实验初期时，实验各层样品温度均低于控温要求，则控制调气控制系统10，通过氩气进气管7向辐照罐内通过纯氩气，以此使得实验样品4温度满足控温要求；若持续性充入氩气无法使得样品温度满足控温要求，此时启用电加热控制系统12，控制电加热装置5加热，其中电加热装置5优选为电加热丝，若启动电加热装置5仍不能满足控温需求，则试验失败；若可以满足则试验初期温度调节成功。第二方面，若在实验初期时，实验各层样品温度均高于控温要求，此时只能通过调节辐照装置11的位置来降低温度，即可通过升降控制系统13来控制辐照装置11的位置，若通过调节辐照装置11的位置能够使得样品温度满足控温要求，则试验初期温度调节成功。第三方面，试验初期温度调节成功后，在反应堆运行期间，若各层夹块3温度轴向分布曲线呈一端高一端低的单调下降形状，则通过升降控制系统13将辐照装置11向上述曲线温度低的一侧移动，最终调整到的位置可使得各层夹块3的温度分布呈中间高两端低的形式且中间的峰值位置位于样品段中部区域。
以上方案，旨在实现：通过改变气隙厚度、调节调气控制系统10充入的混合气体、控制电加热控制系统12的加热以及升降控制系统13的升降，以此在实验过程中，逐步调节各实验样品4的释热率，从而减少在低温水冷研究堆中的材料辐照试验段的不同层之间的样品温差；并通过一定的分析手段和方法，减弱孔道内轴向释热率的波动对试验段温度的影响，降低试验段的温差，从而保证试验段的所有样品均能同时满足温度控制范围的要求。
请参阅图1，本实施例中，外筒两端分别设有底法兰1和顶法兰6，底法兰1和样品层一端之间、顶法兰6和样品层另一端之间均设有定位块2，两个定位块2将样品层夹持在内；通过两个定位块2，将样品层固定在内，通过顶法兰6和底法兰1，从而封闭内筒和外筒之间的间隙；其中，进气管7、出气管8和电加热丝引线9均位于顶法兰6远离辐照罐的一侧，在顶法兰6上开有用于引入进气管7、出气管8和电加热丝引线9的引入孔。
实施例2
本实施例2在实施例1的基础上进一步优化，提供了一种适用于研究堆的升降式材料辐照装置11的辐照温度控制方法，如图3和图4所示，包括以下具体步骤：
第一步：确定材料辐照装置11的特征结构
针对本发明所涉及的升降式控温材料辐照装置11，首先要依据试验段的形式、孔道的选取、实验样品4的排布等完成装置的定型。其中试验段的几何结构确定出散热面积，孔道的选取确定出传热方式(自然对流或强制对流)以及孔道的释热率范围，由上述条件为输入进行后的热工分析计算，确定装置气隙的大小。装置的气隙设计计算要满足以下原则：
1)装置全充氦气时，样品最高温度小于试验要求温度下限且留有余量；全充氩气时，样品最低温度高于试验要求温度上限。一般而言，全氦状态下，样品温度应为目标温度的70％～80％；在Ar/He混合气体中Ar的摩尔体积分数为50％时，样品最低温度超过目标温度区间的上限值。
2)在满足样品辐照温度要求的条件下，确保辐照装置11外壁面处冷却水不出现饱和沸腾，即外壁面温度应小于相应压力的冷却水饱和温度。
3)应尽可能减小装置内不同位置样品的温度差异；装置内所有样品的温差差异应小于辐照温度范围的70％。
通过计算分析确定样品具体的排布方式以及每一层气体间隙的大小，最终完成辐照装置11的定型。
第二步：材料辐照试验初期的温度调节
请参阅图3，针对本发明所涉及的升降式均匀控温材料辐照装置11，在装置定型后，在试验的初始阶段对温度进行调节。
1)通过氦气进气管7向辐照罐内充入纯氦气，并通过出气管8充分排空辐照罐内原有气体，保证试验初期装置内为全氦气状态；保持两组电热丝处于未通电状态；通过升降控制系统13控制辐照装置11样品段中平面的轴向初始位置，该初始位置为研究堆堆芯中平面偏下一定距离。
2)反应堆开启后，观察辐照罐内各层夹块3、各层样品温度测点的温度值以及温度的轴向温度分布。
2.1)若各层温度均满足试验要求，则试验初期温度调节成功。
2.2)若各层样品温度均小于目标辐照温度，即低于控温下限，则可以通过调整调节混合气体的比例、开启电加热装置5来提高样品温度；即通过氩气进气管7向辐照罐内通入纯氩气，在通入氩气的过程中遵循少量多次的原则，每次通入少量氩气后均观察1～3分钟，等待样品温度稳定后再决定后续通气操作。若持续性充入氩气可以使得样品温度满足控温要求，则试验初期温度调节成功。若持续性充入氩气无法使得样品温度满足控温要求，此时启用电加热装置5。若启动电加热装置5仍不能满足控温需求，则试验失败；若可以满足则试验初期温度调节成功。
2.3)若各层样品温度均高于目标辐照温度，此时只能通过调节辐照装置11的位置来降低温度，即移动装置位置至释热率更高的区域。若通过调节辐照装置11的位置能够使得样品温度满足控温要求，则试验初期温度调节成功。在调节辐照装置11位置时，若样品段上端与堆芯活性区上端面或者样品段的下端与堆芯活性区下端面平齐时，各层样品温度值大部分仍大于目标辐照温度区间上限值，则此次辐照试验失败。
第三步：材料辐照试验过程中的温度调节
请参阅图4，在试验初期温度调节成功后，在反应堆运行期间，孔道内的释热率分布曲线的峰值位置可能会发生改变。释热率的分布曲线的变化，会直接体现在各层的温度变化。当不同层样品的温差超过限定值时，需要采用调温手段缩小温差。若调节混合气体比例和电加热系统均无法满足温差限制，即可动态调节试验段的轴向位置，使得辐照装置11的试验段处于释热率分布的“平坦段”，从而达到缩小温差的目的。
其动态调节试验段的轴向位置的方法为：若各层夹块3的温度(两个端部的温度数据除外)轴向分布曲线呈中间高两端低的形式且中间的峰值位置位于样品段中部区域，则无需调整辐照罐的轴向位置；若各层夹块3温度轴向分布曲线呈一端高一端低的单调下降形状，则通过升降控制系统13将辐照装置11向上述曲线温度低的一侧移动，最终调整到的位置可使得各层夹块3的温度分布呈中间高两端低的形式且中间的峰值位置位于样品段中部区域。
以上实施例中，通过增加辐照装置11试验段轴向位置的调节，实现试验段样品温度的控温范围的扩展，并减小功率波动和加工偏差对样品温度的影响，提高控温的精度和试验成功率。材料辐照试验温度控制方法主要包括三个方面的内容：首先是根据相关计算输入，对装置试验段的结构进行定型；其次，通过调节混合气体的比例、电加热的功率、试验段的轴向位置来保证试验段样品的温度满足温控要求，改变试验段的位置有效率的增加了样品的控温范围；最后，在试验过程中随着功率的波动，若电加热系统和混合气体均不能使得样品温差满足要求，此时可以通过调节试验段的轴向位置，使得样品温差满足要求，从而达到提升温控精度的目的，减少在低温水冷研究堆中的材料辐照试验段的不同层之间的样品温差，保证试验段的所有样品均能同时满足温度控制范围的要求。
以上所述的具体实施方式，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施方式而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种适用于研究堆的升降式辐照装置，其特征在于，包括辐照罐；
所述辐照罐包括同轴设置的外筒和内筒；所述外筒和内筒之间设有样品层，所述样品层包括若干夹块(3)，若干所述夹块(3)沿所述内筒轴向依次设置，所述夹块(3)套设于所述内筒外壁，所述夹块(3)和所述内筒外壁之间留有气隙；每个所述夹块(3)内均设有实验样品(4)；
还包括和所述气隙连通的进气管(7)和出气管(8)，所述进气管(7)和调气控制系统(10)连接；
所述辐照装置上连接有升降控制系统(13)，所述升降控制系统(13)用于调节所述辐照装置在研究堆堆芯中的位置；
所述夹块(3)内还设有电加热装置(5)。
2.根据权利要求1所述的一种适用于研究堆的升降式辐照装置，其特征在于，所述外筒两端分别设有底法兰(1)和顶法兰(6)，所述底法兰(1)和样品层一端之间、所述顶法兰(6)和样品层另一端之间均设有定位块(2)，两个所述定位块(2)将所述样品层夹持在内。
3.根据权利要求1-2任意一项所述的一种适用于研究堆的升降式辐照装置的辐照温度控制方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：确定辐照装置的特征结构，并完成辐照装置的结构定型；
S2：材料辐照实验初期时，使辐照装置内为全氦气状态，并使辐照装置的试验段中心平面低于研究堆堆芯中平面，观察研究堆满功率时实验样品(4)的温度，当样品的温度位于控温区间内时，实验初期成功；
S3：当实验初期成功后，通过温度测点实时监控温度数据，并使不同层实验样品(4)的温差不超过限定阈值。
4.根据权利要求3所述的一种适用于研究堆的升降式辐照装置的辐照温度控制方法，其特征在于，所述步骤S1还包括以下子步骤：
在确定辐照装置的特征结构时，需根据试验段几何结构、孔道选取、实验样品排布以及释热率大小，开展装置热工分析计算，确定每个夹块(3)厚度，得到每个夹块(3)与外筒和内筒的气隙厚度。
5.根据权利要求4所述的一种适用于研究堆的升降式辐照装置的辐照温度控制方法，其特征在于，在开展装置气隙设计计算时，得到的样品层气隙厚度需满足以下要求：
(1)全充氦气时，实验样品(4)最高温度小于实验要求温度下限且留有余量；全充氩气时，实验样品(4)最低温度高于实验要求温度上限；
(2)确保辐照装置外壁面温度小于冷却水饱和温度；
(3)使所有实验样品(4)的温度差异小于辐照温度范围的70％。
6.根据权利要求3所述的一种适用于研究堆的升降式辐照装置的辐照温度控制方法，其特征在于，所述步骤S2还包括以下步骤：
S21：材料辐照实验初期时，通过氦气进气管向辐照罐内充入纯氦气，并通过出气管(8)充分排空辐照罐内原有气体，使辐照罐内为全氦气状态；
S22：通过升降控制系统(13)，控制辐照装置样品段中平面的周向初始位置，使初始位置低于研究堆堆芯中平面；
S23：反应堆开启后，观察辐照罐内各层夹块(3)、各层实验样品(4)温度测点的温度值以及温度的轴向温度分布；
S24：若各层温度均满足试验要求，则试验初期温度调节成功。
7.根据权利要求6所述的一种适用于研究堆的升降式辐照装置的辐照温度控制方法，其特征在于，当各层温度均小于目标辐照温度时，启动调气控制系统(10)，控制氩气进气管以及气隙内持续性充入氩气，使实验样品温度满足控温要求。
8.根据权利要求7所述的一种适用于研究堆的升降式辐照装置的辐照温度控制方法，其特征在于，若冲入氩气后无法满足控温要求，则启动电加热控制系统(12)，预置在夹块(3)内的电加热装置(5)开始加热，使实验样品温度满足控温要求。
9.根据权利要求6所述的一种适用于研究堆的升降式辐照装置的辐照温度控制方法，其特征在于，当各层温度均高于目标辐照温度时，通过升降控制系统(13)调节辐照装置的升降，使实验样品温度满足控温要求。
10.根据权利要求3所述的一种适用于研究堆的升降式辐照装置的辐照温度控制方法，其特征在于，所述步骤S3还包括以下步骤：
通过温度测点实时监控温度数据时，观察孔道内试验段的释热率轴向分布曲线，若轴向分布曲线呈中间高两端低的曲线，且中间的峰值位置位于样品段中部区域，则无需调整辐照罐的轴向位置；若轴向分布曲线呈一端高一端低的单调下降曲线，则通过升降控制系统(13)将所述辐照装置朝轴向分布曲线温度低的一侧移动，直至轴向分布曲线呈中间高两端低的曲线，且中间的峰值位置位于样品段中部区域。
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