CN115729754A - 一种设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供了一种设备测试方法和装置,包括:位于电源和电子设备之间的设备测试装置在控制电子设备开机后进行启动计时,监测电子设备的状态信息,根据状态信息和/或启动计时,确定电子设备是否出现开机异常,若电子设备出现开机异常,则对开机失败次数进行更新,并切断电子设备的供电,使得自动对电子设备进行开关机测试时,当被测电子设备出现异常或超时,尽早地将电子设备断电,以防止电子设备长时间供电并处于未知状态,避免对电子设备造成损害,提高了自动开关机测试的可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及计算机技术领域,特别是涉及一种设备测试方法、一种设备测试装置、一种电子设备以及一种可读存储介质。
背景技术
随着计算机技术的不断发展,电子产品风靡云涌,各种电子设备涌入人们生活当中,而电子产品安全可靠性变得尤为重要。
多次开关机测试是电子产品必测项目,而传统的开关机测试采用人工或者自动开关测试程序。
人工测试效率低、无法大规模测试。自动开关测试程序弥补了人工测试不足,但启动失败时待测设备无法及时掉电,对待测试设备没有进行保护。
发明内容
本发明实施例所要解决的技术问题是提供一种设备测试方法、装置、电子设备及可读存储介质,以便解决启动失败时待测设备无法及时掉电,对测试设备没有进行保护的问题。
为了解决上述问题,本发明提供了一种设备测试方法,应用于位于电源和电子设备之间的设备测试装置,所述方法包括:
在控制所述电子设备开机后进行启动计时;
监测所述电子设备的状态信息;
根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常;
若所述电子设备出现开机异常,则对所述开机失败次数进行更新,并切断所述电子设备的供电。
可选地,所述根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常包括:
若接收到所述电子设备发送的失败信号,或在所述启动计时达到启动所需时长之前,未接收到所述电子设备发送的成功信号,则确定所述电子设备出现异常。
可选地,所述方法还包括:
若在所述启动计时达到启动所需时长之前,接收到所述电子设备发送的成功信号,则对开机成功次数进行更新。
可选地,所述方法还包括:
存储所述电子设备的开机失败日志。
可选地,所述方法还包括:
获取所述电子设备的单次开机持续时长和单次关机持续时长;
在接收到所述电子设备发送的成功信号之后进行第一计时;
若所述第一计时达到所述单次开机持续时长,则控制所述电子设备关机,并进行第二计时;
若所述第二计时达到所述单次关机持续时长,则控制所述电子设备开机。
可选地,所述方法还包括:
获取所述电子设备的测试次数;
在所述控制所述电子设备开机之前,判断所述测试次数是否达到设定次数阈值;
若所述测试次数未达到所述设定次数阈值,则控制所述电子设备开机,并对所述测试次数进行更新;
若所述测试次数达到所述设定次数阈值,则停止对所述电子设备的测试。
相应的,本发明还提供了一种设备测试装置,所述设备测试装置位于电源和电子设备之间,所述装置包括:
启动计时模块,用于在控制所述电子设备开机后进行启动计时;
状态监测模块,用于监测所述电子设备的状态信息;
异常确定模块,用于根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常;
断电模块,用于若所述电子设备出现开机异常,则对所述开机失败次数进行更新,并切断所述电子设备的供电。
可选地,所述异常确定模块包括:
确定子模块,用于若接收到所述电子设备发送的失败信号,或在所述启动计时达到启动所需时长之前,未接收到所述电子设备发送的成功信号,则确定所述电子设备出现异常。
可选地,所述装置还包括:
成功次数更新模块,用于若在所述启动计时达到启动所需时长之前,接收到所述电子设备发送的成功信号,则对开机成功次数进行更新。
可选地,所述装置还包括:
日志存储模块,用于存储所述电子设备的开机失败日志。
可选地,所述装置还包括:
时长获取模块,用于获取所述电子设备的单次开机持续时长和单次关机持续时长;
第一计时模块,用于在接收到所述电子设备发送的成功信号之后进行第一计时;
关机模块,用于若所述第一计时达到所述单次开机持续时长,则控制所述电子设备关机,并进行第二计时;
开机模块,用于若所述第二计时达到所述单次关机持续时长,则控制所述电子设备开机。
可选地,所述装置还包括:
次数获取模块,用于获取所述电子设备的测试次数;
次数判断模块,用于在所述控制所述电子设备开机之前,判断所述测试次数是否达到设定次数阈值;
次数更新模块,用于若所述测试次数未达到所述设定次数阈值,则控制所述电子设备开机,并对所述测试次数进行更新;
停止模块,用于若所述测试次数达到所述设定次数阈值,则停止对所述电子设备的测试。
相应的,本发明还提供了一种电子设备,包括处理器、通信接口、存储器和通信总线,其中,处理器,通信接口,存储器通过通信总线完成相互间的通信;
存储器,用于存放计算机程序;
处理器,用于执行存储器上所存放的程序时,实现上述任一所述的方法步骤。
相应的,本发明还提供了一种可读存储介质,当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时,使得电子设备能够执行上述设备测试方法。
依据本发明实施例,通过位于电源和电子设备之间的设备测试装置在控制所述电子设备开机后进行启动计时,监测所述电子设备的状态信息,根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常,若所述电子设备出现开机异常,则对所述开机失败次数进行更新,并切断所述电子设备的供电,使得自动对电子设备进行开关机测试时,当被测电子设备出现异常或超时,尽早地将电子设备断电,以防止电子设备长时间供电并处于未知状态,避免对电子设备造成损害,提高了自动开关机测试的可靠性。
附图说明
图1示出了本发明实施例一的一种设备测试方法的步骤流程图;
图2示出了设备测试装置的结构框图;
图3示出了本发明实施例二的一种设备测试方法的步骤流程图;
图4示出了开关机测试流程的示意图;
图5示出了本发明实施例三的一种设备测试装置实施例的结构框图;
图6示出了根据一示例性实施例示出的一种用于设备测试的电子设备的结构框图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
参照图1,示出了本发明实施例一的一种设备测试方法的步骤流程图,应用于第一设备,具体可以包括如下步骤:
步骤101,在控制所述电子设备开机后进行启动计时。
在本发明实施例中,电子设备包括手机、计算机、平板电脑等,或者其他任意适用的设备,本发明实施例对此不做限制。为了对电子设备进行开关机测试,设计了一种设备测试装置,该设备测试装置在使用时位于电源(或称为输入电源)和电子设备之间。设备测试装置可以控制电子设备开机,并在确定电子设备开机后,设备测试装置开始启动计时,此时等待电子设备启动成功后,发送启动成功的成功信号或启动失败的失败信号至设备测试装置。
例如,如图2所示的设备测试装置的结构框图,设备测试装置可以由微控制器、显示模块、按键模块、控制模块、监测模块、存储模块和电源模块组成;其中,微控制器分别连接电源模块、控制模块、检测模块、显示模块、按键模块、存储模块,微控制器用于对设备测试装置中的各个其它模块进行控制;此外,微控制器还连接电子设备,用于接收电子设备发送的各种信号,以及针对接收到的信号进行响应;电源模块还与控制模块连接,该电源模块用于连接外部输入电源,以为设备测试装置中的各个模块供电,并且通过控制模块和监测模块输出电压,从而给电子设备供电;控制模块还和检测模块连接,用于对监测模块进行控制,控制模块用于接收微控制器的指令,以控制是否给电子设备供电;监测模块和外部输出电源连接,监测模块用于监测电子设备的状态信息并反馈给微控制器,以供微控制器根据状态信息,确定电子设备是否出现异常;显示模块用于显示测试结果;按键模块用于接收用户的操作;存储模块用于存储数据。在工作时,输入电源与设备测试装置中的电源模块连接,设备测试装置中的监测模块与输出电源连接,输出电源与电子设备连接,电子设备还与设备测试装置中的微控制器连接;微控制器还可以直接接收电子设备发送的成功信号或失败信号。
步骤102,监测所述电子设备的状态信息。
在本发明实施例中,设备测试装置可以监测电子设备的电流、温度等状态信息,或者其他任意适用的与电子设备状态有关的信息,本发明实施例对此不做限制。
步骤103,根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常。
在本发明实施例中,设备测试装置可以根据状态信息,确定电子设备是否出现开机异常,例如,电流和温度出现异常,达到某个设定的阈值时,认定电子设备出现开机异常。设备测试装置还可以根据启动计时,确定电子设备是否出现开机异常,例如,在启动计时达到启动所需时长之前,接收到电子设备发送的失败信号,或者在所述启动计时达到启动所需时长之前,未接收到所述电子设备发送的成功信号,则确定电子设备出现异常。设备测试装置还可以根据状态信息和启动计时,共同确定电子设备是否开机异常,例如,电流和温度出现异常,达到某个设定的阈值时,同时在所述启动计时达到启动所需时长之前,未接收到所述电子设备发送的成功信号,则确定电子设备出现异常。具体可以根据实际需要,设置任意适用的确定开机异常的方式,本发明实施例对此不做限制。
在本发明实施例中,可选地,根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常的一种具体实现方式中,可以包括:若接收到所述电子设备发送的失败信号,或在所述启动计时达到启动所需时长之前,未接收到所述电子设备发送的成功信号,则确定所述电子设备出现异常。
一种情况为电子设备在没有成功启动时,发送失败信号给设备测试装置。设备测试装置接收到电子设备发送的失败信号。另一种情况为电子设备出现异常情况,超出设定的启动所需时长与设备测试装置无法通信,在启动计时达到启动所需时长之前,设备测试装置未接收到电子设备发送的成功信号。这两个情况都可以确定电子设备出现异常。
步骤104,若所述电子设备出现开机异常,则对所述开机失败次数进行更新,并切断所述电子设备的供电。
在本发明实施例中,若监测到电子设备出现开机异常,为了保护电子设备,及时将本次开机试验确定为开机失败,对开机失败次数进行更新,并且切断电子设备的供电,以确保电子设备关机并断电。
在本发明实施例中,可选地,还可以包括:存储所述电子设备的开机失败日志。
针对不同的开机失败情况,存储开机失败日志,记录开机失败的类型,例如,收到失败信号,超时没有收到成功信号,监测到开机异常等,以供调试人员后续分析使用。
依据本发明实施例,通过位于电源和电子设备之间的设备测试装置在控制所述电子设备开机后进行启动计时,监测所述电子设备的状态信息,根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常,若所述电子设备出现开机异常,则对所述开机失败次数进行更新,并切断所述电子设备的供电,使得自动对电子设备进行开关机测试时,当被测电子设备出现异常或超时,尽早地将电子设备断电,以防止电子设备长时间供电并处于未知状态,避免对电子设备造成损害,提高了自动开关机测试的可靠性。
参照图3,示出了本发明实施例二的一种设备测试方法的步骤流程图,具体可以包括如下步骤:
步骤201,获取所述电子设备的单次开机持续时长和单次关机持续时长、以及测试次数。
在本发明实施例中,在开始对电子设备进行开关机测试之前,设置单次开机持续时长和单次关机持续时长、还有设定次数阈值,以及启动所需时长等。例如,在输入电源处设备测试装置开始工作,通过按键装置设置设定次数阈值N、单次开机持续时长T1,单次关机持续时长T2,启动所需时长T3等参数。
在本发明实施例中,设备测试装置记录有当前的测试次数,从存储器中获取该测试次数。例如,从设备测试装置的存储模块中获取测试次数O。
步骤202,在所述控制所述电子设备开机之前,判断所述测试次数是否达到设定次数阈值。
在本发明实施例中,在首次开机之前,无需判断测试次数是否达到设定次数阈值。在此后的测试之前,都需要判断测试次数是否达到设定次数阈值。设定次数阈值可以根据实际需求进行设定,本发明实施例对此不做限制。
步骤203,若所述测试次数未达到所述设定次数阈值,则控制所述电子设备开机,并对所述测试次数进行更新。
在本发明实施例中,若测试次数未达到设定次数阈值,则控制电子设备开机,并且对测试次数进行更新,即对测试次数进行加一。
步骤204,若所述测试次数达到所述设定次数阈值,则停止对所述电子设备的测试。
在本发明实施例中,若测试次数达到设定次数阈值,则停止对电子设备的测试,完成了针对电子设备的多次开关机测试。
步骤205,在控制所述电子设备开机后进行启动计时。
步骤206,监测所述电子设备的状态信息。
步骤207,根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常。
步骤208,若所述电子设备出现开机异常,则对所述开机失败次数进行更新,并切断所述电子设备的供电。在关机后,执行步骤212。
步骤209,若在所述启动计时达到启动所需时长之前,接收到所述电子设备发送的成功信号,则对开机成功次数进行更新。
在本发明实施例中,启动所需时长是预先设置的电子设备启动所需的时长,具体可以根据实际需求进行设置,本发明实施例对此不做限制。若在启动计时达到启动所需时长之前,接收到电子设备发送的成功信号,则表明电子设备本次启动成功。设备测试装置本次存储有开机成功次数,开机成功次数在第一次对一电子设备进行开关机测试时置为0,在接收到成功信号后,可以对开机成功次数进行更新,例如,对开机成功次数加一。
在本发明实施例中,通过统计开机失败次数,开机成功次数,最后可以得出多次测试中启动成功的概率。
步骤210,在接收到所述电子设备发送的成功信号之后进行第一计时。
在本发明实施例中,在接收到电子设备的成功信号后,表明电子设备启动成功,开始第一计时。
步骤211,若所述第一计时达到所述单次开机持续时长,则控制所述电子设备关机,并进行第二计时。
在本发明实施例中,若第一计时达到单次开机持续时长,则控制电子设备关机,并开始第二计时。
步骤212,若所述第二计时达到所述单次关机持续时长,则控制所述电子设备开机。
在本发明实施例中,若第二计时达到单次关机持续时长,则可以控制电子设备开机,从而实现自动循环的开关机测试。在本发明的一种实施例中,可以执行步骤202。
依据本发明实施例,通过位于电源和电子设备之间的设备测试装置在控制所述电子设备开机后进行启动计时,监测所述电子设备的状态信息,根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常,若所述电子设备出现开机异常,则对所述开机失败次数进行更新,并切断所述电子设备的供电,使得自动对电子设备进行开关机测试时,当被测电子设备出现异常或超时,尽早地将电子设备断电,以防止电子设备长时间供电并处于未知状态,避免对电子设备造成损害,提高了自动开关机测试的可靠性。
进一步,通过获取所述电子设备的单次开机持续时长和单次关机持续时长,在接收到所述电子设备发送的成功信号之后进行第一计时,若所述第一计时达到所述单次开机持续时长,则控制所述电子设备关机,并进行第二计时,若所述第二计时达到所述单次关机持续时长,则控制所述电子设备开机,从而实现了自动循环的开关机测试。
进一步,通过获取所述电子设备的测试次数,在所述控制所述电子设备开机之前,判断所述测试次数是否达到设定次数阈值,若所述测试次数未达到所述设定次数阈值,则控制所述电子设备开机,并对所述测试次数进行更新,若所述测试次数达到所述设定次数阈值,则停止对所述电子设备的测试,从而实现了自动对电子设备进行设定次数的开关机测试。
为使本领域技术人员更好地理解本发明,以下通过具体的示例对本发明的一种实现方式进行说明。
如图4所示的开关机测试流程的示意图。
步骤1、开始测试。
步骤2、设置设定次数阈值为N。
步骤3、设置单次开机持续时长为T1、单次关机持续时长为T2、启动所需时间为T3。
步骤4、控制电子设备开机,测试次数O+1,计时T清零,即开始启动计时。
步骤5、监测电子设备是否出现异常,若出现异常,则执行步骤8,若未出现异常,则执行步骤6。
步骤6、是否收到成功信号,若未接收到成功信号,则执行步骤7,若接收到成功信号,则执行步骤9。
步骤7、判断T是否大于T3或者是否收到失败信号,若T不大于T3且未收到失败信号,则继续计时,若T大于T3或收到失败信号,则执行步骤8。
步骤8、存储异常日志,开机失败次数E+1,之后执行步骤11。
步骤9、存储开机成功次数M+1,T清零,即开始第一计时。
步骤10、判断T是否等于T1,若T不等于T1,则继续第一计时,若T等于T1,则执行步骤11。
步骤11、控制电子设备关机,T清零,即开始第二计时。
步骤12、判断T是否等于T2,若T不等于T2,则继续第二计时,若T等于T2,则执行步骤13。
步骤13、判断O是否等于N,若O不等于N,则执行步骤4,若O等于N,则执行步骤14。
步骤14、结束测试。
需要说明的是,对于方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本发明实施例,某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于优选实施例,所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。
参照图5,示出了本发明实施例三的一种设备测试装置实施例的结构框图,所述设备测试装置位于电源和电子设备之间,具体可以包括如下模块:
启动计时模块301,用于在控制所述电子设备开机后进行启动计时;
状态监测模块302,用于监测所述电子设备的状态信息;
异常确定模块303,用于根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常;
断电模块304,用于若所述电子设备出现开机异常,则对所述开机失败次数进行更新,并切断所述电子设备的供电。
在本发明实施例中,可选地,所述异常确定模块包括:
确定子模块,用于若接收到所述电子设备发送的失败信号,或在所述启动计时达到启动所需时长之前,未接收到所述电子设备发送的成功信号,则确定所述电子设备出现异常。
在本发明实施例中,可选地,所述装置还包括:
成功次数更新模块,用于若在所述启动计时达到启动所需时长之前,接收到所述电子设备发送的成功信号,则对开机成功次数进行更新。
在本发明实施例中,可选地,,所述装置还包括:
日志存储模块,用于存储所述电子设备的开机失败日志。
在本发明实施例中,可选地,所述装置还包括:
时长获取模块,用于获取所述电子设备的单次开机持续时长和单次关机持续时长;
第一计时模块,用于在接收到所述电子设备发送的成功信号之后进行第一计时;
关机模块,用于若所述第一计时达到所述单次开机持续时长,则控制所述电子设备关机,并进行第二计时;
开机模块,用于若所述第二计时达到所述单次关机持续时长,则控制所述电子设备开机。
在本发明实施例中,可选地,所述装置还包括:
次数获取模块,用于获取所述电子设备的测试次数;
次数判断模块,用于在所述控制所述电子设备开机之前,判断所述测试次数是否达到设定次数阈值;
次数更新模块,用于若所述测试次数未达到所述设定次数阈值,则控制所述电子设备开机,并对所述测试次数进行更新;
停止模块,用于若所述测试次数达到所述设定次数阈值,则停止对所述电子设备的测试。
依据本发明实施例,通过位于电源和电子设备之间的设备测试装置在控制所述电子设备开机后进行启动计时,监测所述电子设备的状态信息,根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常,若所述电子设备出现开机异常,则对所述开机失败次数进行更新,并切断所述电子设备的供电,使得自动对电子设备进行开关机测试时,当被测电子设备出现异常或超时,尽早地将电子设备断电,以防止电子设备长时间供电并处于未知状态,避免对电子设备造成损害,提高了自动开关机测试的可靠性。
对于装置实施例而言,由于其与方法实施例基本相似,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
图6是根据一示例性实施例示出的一种用于设备测试的电子设备700的结构框图。例如,电子设备700可以是移动电话,计算机,数字广播终端,消息收发设备,游戏控制台,平板设备,医疗设备,健身设备,个人数字助理等。
参照图6,电子设备700可以包括以下一个或多个组件:处理组件702,存储器704,电源组件706,多媒体组件708,音频组件710,输入/输出(I/O)的接口712,传感器组件714,以及通信组件716。
处理组件702通常控制电子设备700的整体操作,诸如与显示,电话呼叫,数据通信,相机操作和记录操作相关联的操作。处理元件702可以包括一个或多个处理器720来执行指令,以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外,处理组件702可以包括一个或多个模块,便于处理组件702和其他组件之间的交互。例如,处理部件702可以包括多媒体模块,以方便多媒体组件708和处理组件702之间的交互。
存储器704被配置为存储各种类型的数据以支持在设备700的操作。这些数据的示例包括用于在电子设备700上操作的任何应用程序或方法的指令,联系人数据,电话簿数据,消息,图片,视频等。存储器704可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现,如静态随机存取存储器(SRAM),电可擦除可编程只读存储器(EEPROM),可擦除可编程只读存储器(EPROM),可编程只读存储器(PROM),只读存储器(ROM),磁存储器,快闪存储器,磁盘或光盘。
电力组件704为电子设备700的各种组件提供电力。电力组件704可以包括电源管理系统,一个或多个电源,及其他与为电子设备700生成、管理和分配电力相关联的组件。
多媒体组件708包括在所述电子设备700和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中,屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板,屏幕可以被实现为触摸屏,以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界,而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中,多媒体组件708包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当电子设备700处于操作模式,如拍摄模式或视频模式时,前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。
音频组件710被配置为输出和/或输入音频信号。例如,音频组件710包括一个麦克风(MIC),当电子设备700处于操作模式,如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时,麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器704或经由通信组件716发送。在一些实施例中,音频组件710还包括一个扬声器,用于输出音频信号。
I/O接口712为处理组件702和外围接口模块之间提供接口,上述外围接口模块可以是键盘,点击轮,按钮等。这些按钮可包括但不限于:主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。
传感器组件714包括一个或多个传感器,用于为电子设备700提供各个方面的状态评估。例如,传感器组件714可以检测到设备700的打开/关闭状态,组件的相对定位,例如所述组件为电子设备700的显示器和小键盘,传感器组件714还可以检测电子设备700或电子设备700一个组件的位置改变,用户与电子设备700接触的存在或不存在,电子设备700方位或加速/减速和电子设备700的温度变化。传感器组件714可以包括接近传感器,被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件714还可以包括光传感器,如CMOS或CCD图像传感器,用于在成像应用中使用。在一些实施例中,该传感器组件714还可以包括加速度传感器,陀螺仪传感器,磁传感器,压力传感器或温度传感器。
通信组件716被配置为便于电子设备700和其他设备之间有线或无线方式的通信。电子设备700可以接入基于通信标准的无线网络,如WiFi,2G或3G,或它们的组合。在一个示例性实施例中,通信部件714经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中,所述通信部件714还包括近场通信(NFC)模块,以促进短程通信。例如,在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术,红外数据协会(IrDA)技术,超宽带(UWB)技术,蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。
在示例性实施例中,电子设备700可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现,用于执行上述方法。
在示例性实施例中,还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质,例如包括指令的存储器704,上述指令可由电子设备700的处理器720执行以完成上述方法。例如,所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。
一种非临时性计算机可读存储介质,当所述存储介质中的指令由终端的处理器执行时,使得终端能够执行一种设备测试方法,应用于位于电源和电子设备之间的设备测试装置,所述方法包括:
在控制所述电子设备开机后进行启动计时;
监测所述电子设备的状态信息;
根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常;
若所述电子设备出现开机异常,则对所述开机失败次数进行更新,并切断所述电子设备的供电。
可选地,所述根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常包括:
若接收到所述电子设备发送的失败信号,或在所述启动计时达到启动所需时长之前,未接收到所述电子设备发送的成功信号,则确定所述电子设备出现异常。
可选地,所述方法还包括:
若在所述启动计时达到启动所需时长之前,接收到所述电子设备发送的成功信号,则对开机成功次数进行更新。
可选地,所述方法还包括:
存储所述电子设备的开机失败日志。
可选地,所述方法还包括:
获取所述电子设备的单次开机持续时长和单次关机持续时长;
在接收到所述电子设备发送的成功信号之后进行第一计时;
若所述第一计时达到所述单次开机持续时长,则控制所述电子设备关机,并进行第二计时;
若所述第二计时达到所述单次关机持续时长,则控制所述电子设备开机。
可选地,所述方法还包括:
获取所述电子设备的测试次数;
在所述控制所述电子设备开机之前,判断所述测试次数是否达到设定次数阈值;
若所述测试次数未达到所述设定次数阈值,则控制所述电子设备开机,并对所述测试次数进行更新;
若所述测试次数达到所述设定次数阈值,则停止对所述电子设备的测试。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
本领域内的技术人员应明白,本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此,本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上,使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本发明实施例的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。
最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。
以上对本发明所提供的一种设备测试方法、一种设备测试装置,进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (14)
1.一种设备测试方法,其特征在于,应用于位于电源和电子设备之间的设备测试装置,所述方法包括:
在控制所述电子设备开机后进行启动计时;
监测所述电子设备的状态信息;
根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常;
若所述电子设备出现开机异常,则对所述开机失败次数进行更新,并切断所述电子设备的供电。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常,包括:
若接收到所述电子设备发送的失败信号,则确定所述电子设备出现异常;或
在所述启动计时达到启动所需时长之前,未接收到所述电子设备发送的成功信号,则确定所述电子设备出现异常。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
若在所述启动计时达到启动所需时长之前,接收到所述电子设备发送的成功信号,则对开机成功次数进行更新。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
存储所述电子设备的开机失败日志。
5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取所述电子设备的单次开机持续时长和单次关机持续时长;
在接收到所述电子设备发送的成功信号之后进行第一计时;
若所述第一计时达到所述单次开机持续时长,则控制所述电子设备关机,并进行第二计时;
若所述第二计时达到所述单次关机持续时长,则控制所述电子设备开机。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取所述电子设备的测试次数;
在所述控制所述电子设备开机之前,判断所述测试次数是否达到设定次数阈值;
若所述测试次数未达到所述设定次数阈值,则控制所述电子设备开机,并对所述测试次数进行更新;
若所述测试次数达到所述设定次数阈值,则停止对所述电子设备的测试。
7.一种设备测试装置,其特征在于,所述设备测试装置位于电源和电子设备之间,所述装置包括:
启动计时模块,用于在控制所述电子设备开机后进行启动计时;
状态监测模块,用于监测所述电子设备的状态信息;
异常确定模块,用于根据所述状态信息和/或启动计时,确定所述电子设备是否出现开机异常;
断电模块,用于若所述电子设备出现开机异常,则对所述开机失败次数进行更新,并切断所述电子设备的供电。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述异常确定模块包括:
确定子模块,用于若接收到所述电子设备发送的失败信号,或在所述启动计时达到启动所需时长之前,未接收到所述电子设备发送的成功信号,则确定所述电子设备出现异常。
9.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
成功次数更新模块,用于若在所述启动计时达到启动所需时长之前,接收到所述电子设备发送的成功信号,则对开机成功次数进行更新。
10.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
日志存储模块,用于存储所述电子设备的开机失败日志。
11.根据权利要求7-10所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
时长获取模块,用于获取所述电子设备的单次开机持续时长和单次关机持续时长;
第一计时模块,用于在接收到所述电子设备发送的成功信号之后进行第一计时;
关机模块,用于若所述第一计时达到所述单次开机持续时长,则控制所述电子设备关机,并进行第二计时;
开机模块,用于若所述第二计时达到所述单次关机持续时长,则控制所述电子设备开机。
12.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
次数获取模块,用于获取所述电子设备的测试次数;
次数判断模块,用于在所述控制所述电子设备开机之前,判断所述测试次数是否达到设定次数阈值;
次数更新模块,用于若所述测试次数未达到所述设定次数阈值,则控制所述电子设备开机,并对所述测试次数进行更新;
停止模块,用于若所述测试次数达到所述设定次数阈值,则停止对所述电子设备的测试。
13.一种电子设备,其特征在于,包括处理器、通信接口、存储器和通信总线,其中,处理器,通信接口,存储器通过通信总线完成相互间的通信;
存储器,用于存放计算机程序;
处理器,用于执行存储器上所存放的程序时,实现权利要求1-6任一所述的方法步骤。
14.一种可读存储介质,其特征在于,当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时,使得电子设备能够执行如方法权利要求1-6中一个或多个所述的设备测试方法。
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