CN115723316A

CN115723316A - 用于胎面测量系统的方法和设备

Info

Publication number: CN115723316A
Application number: CN202211047424.4A
Authority: CN
Inventors: P·F·奥莱夫斯基; C·施韦策; P·M·M-L·G·德尔罗斯; S·福尔梅
Original assignee: Goodyear Tire and Rubber Co
Current assignee: Goodyear Tire and Rubber Co
Priority date: 2021-08-30
Filing date: 2022-08-30
Publication date: 2023-03-03
Also published as: US20230065547A1; EP4141381A1; JP2023036023A

Abstract

本发明提供了一种用于测量轮胎胎面或轮胎部件的每个层的厚度的方法和设备，其中轮胎胎面或轮胎部件具有导电层和不导电层。使用一个或多个传感器，其发射行进通过这些层中的一个或多个的辐射束或脉冲。辐射束或脉冲从层的表面和分界面反射，并且被一个或多个传感器的接收装置接收。反射的辐射束或脉冲用于确定每个胎面层的厚度。

Description

用于胎面测量系统的方法和设备

技术领域

本发明涉及用于确定轮胎部件制造中的材料层厚度的方法和设备，并且更特别地，涉及用于确定胎面层厚度的方法和设备。

背景技术

车辆轮胎胎面的制造通常用挤出机来完成。胎面常规地也由几层材料形成，这些材料可以由不同的材料制成以便提供所期望的性能。重要的是，每个胎面层的厚度均匀且一致，以保证轮胎的均匀性和性能。已知在胎面制造期间使用雷达技术进行胎面层厚度测量。然而，当胎面层含有具有低电阻率的一种或多种导电化合物时，该技术有明显的限制。此类材料吸收来自雷达技术的辐射，并且对导电胎面层的测量变得有问题或不可能。因此，期望有克服该限制的方法和设备。

发明内容

本发明在第一方面提供了一种测量轮胎胎面的厚度的方法，包括以下步骤：提供轮胎胎面，其中该轮胎胎面具有由导电化合物形成的第一胎面层和由不导电化合物形成的第二胎面层；连续输送轮胎胎面，其中在轮胎胎面上方和下方分别布置第一传感器和第二传感器，其中第一传感器和第二传感器被配置用于分别发射第一辐射束和第二辐射束到轮胎胎面中，并且从第一辐射束接收来自第一胎面层的表面的第一反射辐射束并确定第一距离d1，从第二辐射束接收来自第一胎面层和第二胎面层的分界面的第二反射辐射束并确定第二距离d2，以及从第二辐射束接收来自第二胎面层的表面的第三反射辐射束并确定第二距离d3，并且其中第一传感器和第二传感器以固定高度D连接在一起；以及通过由第一传感器和第二传感器分别发射第一辐射束和第二辐射束，接收第一反射辐射束、第二反射辐射束和第三反射辐射束，并然后通过从固定高度D减去距离d1、d2和d3来确定第一胎面层的厚度d4，来执行第一胎面层和第二胎面层的连续材料厚度测量。

本发明在第二方面提供了一种用于测量具有至少两个胎面层的轮胎胎面的每个胎面层的深度的设备，包括：桥台，该桥台具有用于在其上输送轮胎胎面的上表面和用于支撑桥台的多个支撑腿，第一传感器和第二传感器，其中第一传感器与安装到位于桥台的上表面上方的上部轨道的步进电机连接，以用于使第一传感器跨桥台的上表面的宽度平移，其中第一传感器通过平移支撑框架刚性连接到第二传感器，并且其中平移支撑框架和第二传感器与第一传感器一起平移。

本发明提供以下技术方案：

1. 一种测量轮胎胎面的厚度的方法，包括以下步骤：

提供轮胎胎面，其中所述轮胎胎面具有由导电化合物形成的第一胎面层和由不导电化合物形成的第二胎面层；

连续输送所述轮胎胎面，在所述轮胎胎面上方和下方分别布置第一传感器和第二传感器，其中所述第一传感器和所述第二传感器被配置用于分别向所述轮胎胎面发射第一辐射束和第二辐射束，并且从所述第一辐射束接收来自所述第一胎面层的表面的第一反射辐射束并确定第一距离d1，从所述第二辐射束接收来自所述第一胎面层和所述第二胎面层的分界面的第二反射辐射束并确定第二距离d2，并且从所述第二辐射束接收来自所述第二胎面层的表面的第三反射辐射束并确定第二距离d3，并且其中所述第一传感器和所述第二传感器以固定高度D连接在一起；以及

通过由所述第一传感器和所述第二传感器分别发射所述第一辐射束和所述第二辐射束，接收所述第一反射辐射束、所述第二反射辐射束和所述第三反射辐射束，并然后通过从所述固定高度D减去距离d1、d2和d3来确定所述第一胎面层的厚度d4，来执行所述第一胎面层和所述第二胎面层的连续材料厚度测量。

2. 根据方案1所述的方法，其中所述第一传感器和所述第二传感器是相同传感器和不同传感器中的一种。

3. 根据方案1所述的方法，其中所述第二传感器是脉冲太赫兹传感器和脉冲频率传感器中的一个。

4. 根据方案1所述的方法，其中所述轮胎胎面进一步包括由不导电化合物形成的第三胎面层。

5. 根据方案1所述的方法，其中所述第二传感器是具有50至200 GHz的频率范围的低频太赫兹传感器。

6. 根据方案3所述的方法，其中所述第二传感器是具有50 GHz至2.2 THz和50GHz至400 GHz中的一个的频率范围的脉冲频率传感器。

7. 根据方案1所述的方法，其中所述第一传感器和所述第二传感器中的一个或两个是频率调制连续波太赫兹传感器。

8. 根据方案1所述的方法，其中来自所述第一传感器的第一光谱数据被叠加在来自所述第二传感器的第二光谱数据上。

9. 根据方案1所述的方法，其中所述第一传感器和所述第二传感器共线。

10. 一种用于测量具有至少两个胎面层的轮胎胎面的每个胎面层的深度的设备，包括：

桥台，其具有用于在其上输送所述轮胎胎面的上表面和用于支撑所述桥台的多个支撑腿，

第一传感器和第二传感器，其中所述第一传感器与安装到位于所述桥台的上表面上方的上部轨道的步进电机连接，以用于使所述第一传感器跨所述桥台的所述上表面的宽度平移，其中所述第一传感器通过平移支撑框架刚性连接到所述第二传感器，并且其中所述平移支撑框架和所述第二传感器与所述第一传感器一起平移。

11. 根据方案10所述的设备，其中所述第二传感器位于所述桥台的所述上表面下方。

12. 根据方案10所述的设备，其中所述轮胎胎面具有由导电化合物形成的第一胎面层和由不导电化合物形成的第二胎面层。

13. 根据方案10所述的设备，其中所述第一传感器和所述第二传感器被所述平移支撑框架分开固定距离D。

14. 根据方案10所述的设备，其中所述第一传感器和所述第二传感器中的一个或两个是频率调制连续波太赫兹传感器。

15. 根据方案10所述的设备，其中所述第一传感器和所述第二传感器是相同传感器和不同传感器中的一种。

16. 根据方案10所述的设备，其中所述第一传感器和所述第二传感器中的一个是脉冲太赫兹传感器。

17. 根据方案10所述的设备，其中所述第一传感器和所述第二传感器中的一个是具有50至200 Hz的频率范围的低频太赫兹传感器。

18. 根据方案14所述的设备，其中所述第二传感器是具有50 GHz至2.2 THz和50GHz至400 GHz中的一个的频率范围的脉冲频率传感器。

定义

“帘布层”是指橡胶涂覆的平行帘线的连续层。

“径向的”和“径向地”是指在径向上朝向或远离轮胎旋转轴线的方向。

附图说明

本发明将通过示例并参考附图来描述，在附图中：

图1A是根据本发明的具有经受太赫兹（terahertz）辐射的不导电胎面层的轮胎胎面的示意性横截面图；

图1B是根据本发明的具有经受太赫兹辐射的导电外胎面层的轮胎胎面的示意性横截面图；

图2是示意图，其图示了根据本发明的具有经历双面差分测量的导电外胎面层的轮胎胎面；

图3图示了在输送带系统上连续输送的连续轮胎胎面或轮胎部件，以及连续测量系统；

图4图示了桥台和连续测量系统；以及

图5图示了本发明的第二实施例。

具体实施方式

图1A图示了测量系统10，其用于测量轮胎胎面或轮胎部件的每个层的厚度，诸如侧壁或帘布层复合材料，其中每个层可由不同的化合物制成。典型的轮胎胎面由不同的化合物层形成，以提供所期望的滚动阻力和其他性能特性。图1A图示了典型的轮胎胎面，其具有由基础胎面化合物形成的基础胎面层20、由第一胎面化合物形成的中间胎面层30，以及由第二胎面化合物形成的外胎面层40。基础胎面化合物、第一胎面化合物和第二胎面化合物各自都是不导电的。

如图1A所示，太赫兹（THz）传感器50可以布置在轮胎胎面上方（或下方），以测量每个胎面层20、30、40的厚度。太赫兹传感器50具有辐射源，其用于发射THz频率范围内的连续电磁辐射束或脉冲。为了简单起见，在剩下的公开内容中，术语“光束”应包括光束或脉冲。太赫兹传感器50连续发射高频入射辐射束52，其行进通过空气和胎面层40、30、20。入射辐射束52在100 GHz至10 THz的频率范围内，并且更优选地在100至400 GHz的频率范围内。入射辐射束的反射发生在外胎面层40的径向外表面41处、外胎面层40和中间胎面层30之间的分界面31处、中间胎面层30和基础胎面层20之间的分界面21处，以及基础胎面层20的径向内表面11处。因此，入射辐射束52从外胎面层40的径向外表面41反射，并被示为反射辐射束42。同样，入射辐射束52从外胎面层40和中间胎面层30之间的分界面31反射，并被示为反射辐射束32。而且，入射辐射束52从中间胎面层30和基础胎面层20之间的分界面21反射，并被示为反射辐射束22。最后，入射辐射束52从基础胎面层20的径向内表面11反射，并被示为反射辐射束12。

太赫兹传感器50包括用于接收反射辐射束42、32、22、12的接收装置，其中分别测量从外胎面层40的径向外表面41、胎面分界面31、21以及基础胎面层20的径向内表面11到太赫兹传感器50的距离。然后可以计算出每个胎面层20、30、40的厚度。

太赫兹传感器50的接收装置接收每个反射辐射束42、32、22、12，以时域格式或频域格式记录数据。反射之间的时间是飞行时间，或称TOF，并用于计算胎面层的厚度。计算胎面层厚度的公式是：

厚度=（飞行时间）/2*c/RI

其中c是光速，并且RI是每个胎面层的折射率。

图1B图示了用于测量轮胎胎面的每个层的厚度的测量系统10，该轮胎胎面与图1A类似，但包括这样的轮胎胎面，其外胎面层60由导电化合物形成，或具有小于10E 9 Ohm*cm的体积电阻率，如使用Keithley电阻率测试盒测定的。如图1B所示，太赫兹传感器50发射入射辐射束52，该辐射束行进通过空气、外胎面层60的径向外表面61、外胎面层60、中间胎面层30和基础胎面层20。入射辐射束52从外胎面层60的径向外表面61反射，并被示为反射辐射束42。然后，反射辐射束42被太赫兹传感器50的接收装置接收。然而，因为胎面具有导电外胎面层60，所以反射辐射束32、22、21被外胎面层60吸收。因此，反射辐射束32、22、12不被太赫兹传感器50的接收装置接收。结果，不能确定从太赫兹传感器50到其他表面和分界面31、21、11的距离，并最终不能确定胎面层60、30、20的厚度。为了克服该问题，可以利用以下方法和设备。

图2图示了使用双传感器测量系统100进行双面差分测量，以确定具有导电外层的轮胎胎面或轮胎部件的每个层的厚度的方法。

具体来说，如图2所示，轮胎胎面包括由导电化合物形成的外胎面层160，或具有低发射率的层，由不导电化合物形成的中间胎面层130，以及由不导电化合物形成的基础胎面层120。上部太赫兹传感器150具有辐射源，其用于发射THz频率范围内的连续电磁辐射束。上部太赫兹传感器150发射入射辐射束或脉冲152，其行进通过空气、外胎面层160、中间胎面层130和基础胎面层120。入射辐射束152从外胎面层160的径向外表面161反射，并被示为反射辐射束162。反射辐射束162被上部太赫兹传感器150的接收装置接收，并且上部太赫兹传感器150与径向外表面161之间的距离d11被确定。

入射辐射束152还从外胎面层160和中间胎面层130之间的分界面141、中间胎面层130和基础胎面层120之间的分界面131以及基础胎面层120的径向内表面121反射。然而，这些反射辐射束中的每个都被导电外胎面层160吸收。结果，不能确定上部太赫兹传感器150与每个分界面和表面141、131、121之间的距离，并最终不能确定外胎面层160的厚度d12。

为了确定外胎面层160的厚度d12，下部太赫兹传感器155连同上部太赫兹传感器150一起使用。下部太赫兹传感器155也具有辐射源，其用于发射THz频率范围内的连续电磁辐射束。下部传感器155发射入射辐射束或脉冲166，其行进通过空气、基础胎面层120的径向内表面121，以及每个胎面层120、130、160。入射辐射束166从外胎面层160的径向外表面161反射，然而，其被导电外胎面层160吸收。因为胎面层120和130是不导电的，所以入射辐射束166关于胎面层120和130的反射是可能的。入射辐射束166从基础胎面层120的径向内表面121反射，并被示为反射辐射束163。反射辐射束163被下部太赫兹传感器155的接收装置接收，并且下部太赫兹传感器155和径向内表面121之间的距离d21被确定。而且，入射辐射束166从中间胎面层130和基础胎面层120的分界面131反射，并被示为反射辐射束164。反射辐射束164被下部太赫兹传感器155的接收装置接收，并且下部太赫兹传感器155与中间胎面层130和基础胎面层120的分界面131之间的距离d22被确定。此外，入射辐射束166从中间胎面层130和外胎面层160的分界面141反射，并被示为反射辐射束165。反射辐射束165被下部太赫兹传感器155的接收装置接收，并且下部太赫兹传感器155与中间胎面层130和外胎面层160的分界面141之间的距离d23被确定。

然后，外胎面层160的厚度d12可以按以下方式确定：

d12= D - (d11 + d21 + d22 + d23)

其中D是传感器之间的固定距离或高度。

图3图示了当可以利用连续测量系统300时的典型场景。轮胎胎面或轮胎部件310由挤出系统320连续形成，并然后在输送带系统330上连续输送到连续测量系统300。

如图4所示，连续测量系统400包括具有上表面442的桥台440，其用于支撑轮胎胎面或轮胎部件410。桥台440包括多个支撑腿443。测量系统400进一步包括上部太赫兹传感器450和下部太赫兹传感器455。上部太赫兹传感器450安装到步进电机452。步进电机452可选地安装在位于桥台440的上表面442上方的C型框架或上部轨道454上。在包括可选的上部轨道454的示例中，上部轨道454跨桥台440的宽度安装，并因此垂直于桥台440的纵向轴线。因此，上部太赫兹传感器450可以由步进电机452跨桥台440的宽度平移，并因此跨轮胎胎面或轮胎部件410的宽度平移，以对轮胎胎面或轮胎部件410的每个层的每个表面和分界面进行连续深度测量。

下部太赫兹传感器455经由平移支撑框架460固定地连接到上部太赫兹传感器450，使得上部太赫兹传感器450和下部太赫兹传感器455保持彼此分开距离D的固定高度，并且一起同步移动。上部太赫兹传感器450和下部太赫兹传感器455安装到平移支撑框架460。平移支撑框架460具有连接到上部太赫兹传感器450的上部框架构件462、连接到下部太赫兹传感器455的下部框架构件464，以及刚性连接到上部框架构件462和下部框架构件464的两个相对侧面构件466、468。平移支撑框架460具有开放的内部或窗口470，其围绕桥台440的一部分定位，以在上部传感器450和下部传感器455进行测量时，允许轮胎胎面或轮胎部件410自由经过窗口470。平移支撑框架460与上部太赫兹传感器450和下部太赫兹传感器455由步进电机452统一平移。下部太赫兹传感器455可选地由支撑构件461连接到下部支撑轨道456，以提供稳定性。

每个太赫兹传感器450、455具有用于发射THz频率范围内的电磁辐射束或脉冲的辐射源，以及用于接收由轮胎胎面或轮胎部件410的层反射的辐射的接收装置。电磁辐射束或脉冲在100 GHz至10 THz的太赫兹频率范围内，并且更优选地在100至400 GHz的频率范围内。

图5图示了使用双传感器系统600进行双面差分测量的方法，该方法与图2所示的方法类似。图5示出了这样的轮胎胎面，其具有不导电外胎面冠层510、可选的不导电内胎面冠层520、导电基础胎面层530，以及可选的导电缓冲胶层540。因为胎面500包括导电基础胎面层530和可选的导电缓冲胶层540，所以需要具有上部传感器605和下部传感器610的双传感器测量系统600来确定胎面层510、520、530、540的厚度。

在一些示例中，下部传感器610可以是低频传感器。下部传感器610测量导电基础胎面层530的深度和可选导电缓冲胶层540的深度。如果使用较低频率的传感器，则优选的频率范围是50至200 GHz。脉冲式太赫兹雷达也可用于下部传感器610。脉冲传感器可以具有50 GHz至2.2 THz或50至400 GHz的频率范围。

在不包括可选的缓冲胶层540的示例中，下部传感器610发射入射辐射束511，该辐射束行进通过空气、基础胎面层530的径向内表面531和基础胎面层530。入射辐射束511从基础胎面层530的径向内表面531反射，并被示为反射辐射束513。反射辐射束513被下部传感器610的接收装置接收，并且下部传感器610和基础胎面层530的径向内表面531之间的距离被确定。

在包括可选的缓冲胶层540的示例中，下部传感器610发射入射辐射束511，该辐射束行进通过空气、缓冲胶层540的径向内表面541、缓冲胶层540和基础胎面层530。入射辐射束511从缓冲胶层540的径向内表面541反射，并被示为反射辐射束512。反射辐射束512被下部传感器610的接收装置接收，并且下部传感器610与缓冲胶层540的径向内表面541之间的距离被确定。

在不包括可选的内胎面冠层520的示例中，下部传感器发射入射辐射束511，该辐射束行进通过空气、可选的缓冲胶层540（如果包括）的径向内表面541、可选的缓冲胶层540（如果包括）和基础胎面层530。来自下部传感器610的入射辐射束511从基础胎面层530和外胎面层510的分界面522反射，并被示为反射辐射束514。反射辐射束514被下部传感器610的接收装置接收，并且下部传感器610与基础胎面层530和外胎面层510的分界面522之间的距离被确定。

另外，在包括可选的内胎面冠层520的示例中，下部传感器发射入射辐射束511，该辐射束行进通过空气、可选的缓冲胶层540（如果包括）的径向内表面541、可选的缓冲胶层540（如果包括）和基础胎面层530。来自下部传感器610的入射辐射束511从基础胎面层530和内层胎面冠层520的分界面522反射，并被示为反射辐射束514。这些测量可用于确定每个导电胎面层530、540的厚度。

在一些示例中，上部传感器605可以与下部传感器610相同。在其他示例中，上部传感器605使用频率调制连续波（FMCW）太赫兹雷达，其测量不导电外胎面冠层510和可选的不导电内胎面冠层520。FMCW频率可以在100至300 GHz的范围内，其中带宽为90 GHz。当使用FMCW雷达时，到每个分界面或层的距离由以下公式给出：

其中

c = 光速

RI = 折射率

Df = 发射频率和接收频率之间的差

df/dt = 频率变化率。

在不包括可选的内胎面冠层520的示例中，上部传感器605发射入射辐射束501，该辐射束行进通过空气、外胎面冠层510的径向外表面509和外胎面冠层510。入射辐射束501从外胎面冠层510的径向外表面509反射，并被示为反射辐射束502。入射辐射束501也从外胎面冠层510和基础胎面层530的分界面521反射，并被示为反射辐射束504。反射辐射束502、504被上部传感器605的接收装置接收，并且上部传感器605和外胎面冠层510的径向外表面509之间以及上部传感器605与外胎面冠层510和基础胎面层530的分界面521之间的距离被确定。

在包括可选的内胎面冠层520的示例中，上部传感器605发射入射辐射束501，该辐射束行进通过空气、外胎面冠层510的径向外表面509、外胎面冠层510和内胎面冠层520。入射辐射束501从外胎面冠层510和内胎面冠层520的分界面521反射，并被示为反射辐射束504。此外，入射辐射束501从内胎面冠层520和基础胎面层530的分界面522反射，并被示为反射辐射束506。这些测量可用于确定每个胎面层510、520的厚度。

在其中由于折射率RI小于3%的微小差异而难以看到胎面层的分界面的情况下，可以通过使用上部传感器605和下部传感器610，并然后叠加从上部传感器605和下部传感器610收集的光谱数据，更好地“看到”分界面。

测量系统600可以进一步包括电子控制系统，该系统与上部传感器605和下部传感器610以及连接到上部传感器605的步进电机通信地联接。电子控制系统可包括与多个传感器和致动器组合以执行本文中描述的各种控制的处理器和存储器。在一个示例中，评估装置作为模块被包括在控制系统中。此外，控制系统可以包括用于显示由评估装置生成的关于轮胎的数据的显示器。例如，下面描述的辐射脉冲可以在显示器上显示。

如上所述的测量既可以用THz脉冲也可以用THz波诸如正弦波作为激励来执行。在脉冲系统中，我们说的是时域光谱仪；在波系统中，我们说的是频域光谱仪。存在检测信号的幅值和行进时间两者的设备，以及仅确定幅值的设备。

通过傅里叶变换，测量的时间信号可以被转换到频域。幅值在频域中以与频率相关的幅值的形式恢复，即以幅值谱的形式，并且行进时间以与频率相关的相位的形式恢复，即以相位谱的形式。对于谱分析，可以确定所谓的传递函数，也就是说，样本谱除以参考谱的商。根据传递函数，可以确定橡胶样品的频率相关的折射率。此种参数是橡胶样品的特性材料变量。这里的折射率是橡胶样品引起的光密度或时间延迟的代表。如果折射率是已知的，则一个橡胶样品测量足以进行层厚度确定。

关于本文中解释的轮胎胎面或轮胎部件示例中的任一个，轮胎胎面或轮胎部件不限于所述的层配置。例如，轮胎胎面可具有基础胎面层和外胎面层，该外胎面层包括第一外胎面层化合物和第二外层胎面化合物两者。第一外胎面层化合物和第二外层胎面化合物可以是导电的或不导电的。第一外胎面层化合物和第二外胎面层化合物可占外胎面层的轴向宽度的部分，使得第一外胎面层化合物占外胎面层的轴向宽度的第一部分，并且第二外胎面层化合物占外胎面层的轴向宽度的第二部分。第一外胎面层化合物和第二外胎面层化合物具有分界面，其中第一外胎面层化合物和第二外胎面层化合物是相邻的。

第一外胎面层化合物和第二外胎面层化合物中的一种也可以占外胎面层的轴向宽度的第三部分，使得外胎面层沿外胎面层的轴向宽度将第一外胎面层化合物和第二外胎面层化合物交替。在一个示例中，第一外胎面层化合物占外胎面层的轴向宽度的第一部分，第二外胎面层化合物占外胎面层的轴向宽度的第二部分，并且第一外胎面层化合物占外胎面层的轴向宽度的第三部分。第一外胎面层化合物和第二外胎面层化合物具有第一分界面，其中第一部分和第二部分相邻，并且第二外胎面层化合物和第一外胎面层化合物具有第二分界面，其中第二部分和第三部分相邻。可使用传感器或双传感器测量系统来测量基础胎面层和外胎面层的厚度，如本文中所解释的。

根据本文中提供的对本发明的描述，本发明中的变化是可能的。虽然为了说明本发明的目的，已示出了某些代表性的实施例和细节，但对于本领域技术人员来说，显然可以在不脱离本发明的范围的情况下在其中进行各种改变和修改。因此，应该理解的是，可以在所描述的特别实施例中做出改变，这些改变将在所附权利要求书定义的本发明的全部意图范围内。

Claims

1.一种测量轮胎胎面的厚度的方法，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一传感器和所述第二传感器是相同传感器和不同传感器中的一种。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一传感器和第二传感器选自包括脉冲太赫兹传感器、脉冲频率传感器、低频太赫兹传感器和频率调制连续波太赫兹传感器的组。

4. 根据权利要求3所述的方法，其中所述第二传感器是具有50至200 GHz的频率范围的低频太赫兹传感器。

5. 根据权利要求3所述的方法，其中所述第二传感器是具有50 GHz至2.2 THz和50GHz至400 GHz中的一个的频率范围的脉冲频率传感器。

6.根据权利要求1所述的方法，其中来自所述第一传感器的第一光谱数据被叠加在来自所述第二传感器的第二光谱数据上。

7.一种用于测量具有至少两个胎面层的轮胎胎面的每个胎面层的深度的设备，包括：

8.根据权利要求7所述的设备，其中所述第一传感器和所述第二传感器被所述平移支撑框架分开固定距离D。

9.根据权利要求7所述的设备，其中所述第一传感器和所述第二传感器是相同传感器和不同传感器中的一种。

10.根据权利要求7所述的设备，其中所述第一传感器和所述第二传感器选自包括脉冲太赫兹传感器、脉冲频率传感器、低频太赫兹传感器和频率调制连续波太赫兹传感器的组。