CN115720619A - 测定装置 - Google Patents

Abstract

测定装置在测定对象所在的空间中确定用于测定测定对象的尺寸的两个地点即第一地点和第二地点，基于与从基准位置到第一地点的距离和从基准位置到第二地点的距离相关的距离信息来计算表示第一地点和第二地点在空间中的位置的第一空间坐标和第二空间坐标，基于第一空间坐标和第二空间坐标来计算第一地点与第二地点之间的距离。

Description

测定装置

对相关申请的交叉参考

本申请主张日本专利申请2020-114374号(2020年7月1日申请)的优先权，并将该申请的全部公开内容援引至本申请用于参照。

技术领域

本公开涉及测定装置。

背景技术

已知一种基于拍摄距离或拍摄透镜的焦点距离等数据和取景器视野内所设定的标尺长度数据，来计算拍摄图像中的被拍摄体的实际尺寸的结构(例如，参照专利文献1等)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开昭62-259004号公报。

发明内容

本公开的一个实施方式的测定装置，在测定对象所在的空间中，确定用于测定所述测定对象的尺寸的两个地点即第一地点(P1)和第二地点(P2)。所述测定装置基于与从基准位置到所述第一地点的距离和从基准位置到所述第二地点的距离相关的距离信息(d1、d2)来计算表示所述第一地点和所述第二地点在所述空间中的位置的第一空间坐标和第二空间坐标。所述测定装置基于所述第一空间坐标和所述第二空间坐标，计算所述第一地点与所述第二地点之间的距离。

附图说明

图1是表示一个实施方式的电磁波检测装置的概略结构的结构图。

图2是用于说明图1的电磁波检测装置的第一状态和第二状态中的电磁波的行进方向的图。

图3是用于说明包含反射波的电磁波的检测的图。

图4是用于说明距离的运算的时序图。

图5是说明在未考虑X坐标的情况下对象的测距点的计算的图。

图6是表示对象倾斜的情况下的基于距离的尺寸的计算结果与基于图像的尺寸的计算结果之差的图。

图7是说明考虑了X坐标的情况下的对象的测距点的计算的图。

图8是说明XY平面上的测距点的位置的平面图。

图9是说明XY平面上的测距点的位置的立体图。

图10是表示测定作为对象的车轮的直径的例子的图。

图11是表示测定作为对象的鱼的体长的例子的图。

图12是表示基于测距信息而测定尺寸的方法的一例的流程图。

图13是表示基于图像对基于测距信息计算出的坐标进行校正并测定尺寸的方法的一例的流程图。

图14是表示从相对于路面俯视的方向获取路面上的车辆的测距信息的结构例的图。

图15是将在图14的例子中获取到的测距信息描绘后的图表。

图16是表示测定路面上的车辆的高度的方法的一例的流程图。

具体实施方式

在计算拍摄图像中的被拍摄体的实际尺寸的结构中，有时会产生因更换透镜的焦点测距信息的偏差引起的测长误差。另外，在被拍摄体相对于透镜光轴倾斜的情况下，通过改变摄像头与被拍摄体之间的距离，从而改变检测来自被拍摄体的反射光在传感器上的位置。其结果是，有时会产生测长误差。追求减少测长误差。

如图1所示，一个实施方式的电磁波检测装置10具有照射系统111、受光系统110、以及控制部14。本实施方式的电磁波检测装置10作为测距装置发挥功能。在本实施方式中，以电磁波检测装置10具备一个照射系统111和一个受光系统110进行说明。照射系统111以及受光系统110各自的数量不限于一个，也可以两个以上。在电磁波检测装置10具有多个照射系统111以及多个受光系统110的情况下，各照射系统111与各受光系统110建立对应。

照射系统111具有照射部12和偏转部13。受光系统110具有入射部15、分离部16、第一检测部20、第二检测部17、切换部18、以及第一后级光学系统19。控制部14具有图像信息获取部141、反射强度信息获取部142、照射控制部143、受光控制部144、运算部145、以及对应信息计算部146。电磁波检测装置10的各功能框的详细的说明将在后面说明。

在附图中，连结各功能框的虚线表示控制信号或通信的信息流。虚线所示的通信可以是有线通信，也可以是无线通信。另外，实线的箭头表示束状的电磁波。另外，在附图中，对象ob是电磁波检测装置10的被拍摄体。被拍摄体例如可以包括道路、中央隔离带、人行道、路边树、车辆等物，也可以包括人。另外，对象ob不限于一个。

电磁波检测装置10构成为获取包含被拍摄体的图像，并且通过检测被被拍摄体反射的反射波能够识别被拍摄体。电磁波检测装置10具有测量距对象ob的距离的运算部145，而作为测距装置发挥功能。

(照射系统111的结构例)

照射系统111对对象ob所在的空间照射电磁波。在本实施方式中，照射系统111将照射部12所照射的电磁波经由偏转部13朝向对象ob所在的空间照射。作为另一个例子，照射系统111也可以是照射部12将电磁波朝向对象ob直接照射的结构。

照射部12照射红外线、可见光线、紫外线以及电波中的至少一个。在本实施方式中，照射部12照射红外线。另外，在本实施方式中，照射部12照射宽度窄的例如扩展角为0.5°的束状的电磁波。另外，照射部12以脉冲状照射电磁波。作为电磁波照射元件，照射部12例如能够构成为包括LED(Light Emitting Diode：发光二极管)。另外，作为电磁波照射元件，照射部12例如能够构成为包括LD(Laser Diode：激光二极管)。照射部12基于控制部14的控制来切换电磁波的照射以及停止。在此，照射部12可以构成使多个电磁波照射元件排列为阵列状的LED阵列或LD阵列，使多条波束同时照射。

偏转部13使照射部12照射出的电磁波向多个不同的方向输出，来变更向对象ob所在的空间照射的电磁波的照射位置。向多个不同方向输出可以通过一边改变偏转部13的朝向，一边反射来自照射部12的电磁波来进行。例如，偏转部13利用照射部12照射出的电磁波在一维方向或二维方向上对对象ob进行扫描。在此，在照射部12例如构成为LD阵列的情况下，偏转部13可以使从LD阵列输出的多个波束全部反射，并向同一方向输出。即，照射系统111可以相对于具有一个或多个电磁波照射元件的照射部12具有一个偏转部13。

偏转部13以输出电磁波的空间即照射区域的至少一部分包含于受光系统110中的电磁波的检测范围的方式构成。因此，经由偏转部13向对象ob所在的空间照射的电磁波的至少一部分被对象ob的至少一部分反射，在受光系统110中能够检测。在此，将照射波被对象ob的至少一部分反射后的电磁波称为反射波。照射波是指，从照射系统111朝向对象ob所在的空间的多个方向照射的电磁波。

偏转部13可以包括例如MEMS(Micro Electro Mechanical Systems：微机电系统)反射镜、多面反射镜、或者电流计镜等。在本实施方式中，偏转部13包括MEMS反射镜。

偏转部13基于控制部14的控制，来改变反射电磁波的朝向。另外，偏转部13可以具有例如编码器等角度传感器。偏转部13可以将由角度传感器检测出的角度作为反射电磁波的方向信息向控制部14输出。在这样的结构中，控制部14能够基于从偏转部13获取的方向信息，计算电磁波的照射位置。另外，控制部14基于为了改变反射电磁波的朝向而向偏转部13输入的驱动信号，也能够计算照射位置。

(受光系统110的结构例)

在以下的说明中，“包含反射波的电磁波”是指包含在对象ob的反射波而向受光系统110入射的电磁波。即，为了与照射波进行区分，有时将入射至受光系统110的电磁波称为“包含反射波的电磁波”。包含反射波的电磁波不仅包括从照射系统111照射出的电磁波被对象ob反射后的反射波，还包括太阳光等的外光或者外光被对象ob反射后的光等。

入射部15是具有至少一个光学构件的光学系统，使成为被拍摄体的对象ob的像成像。光学构件包括例如透镜、反射镜、光圈以及光学滤光器等中的至少一个。

分离部16设置在入射部15与从入射部15隔开规定的位置分离的对象ob的像的、由入射部15成像的成像位置即一次成像位置之间。分离部16根据波长来分离包含反射波的电磁波，以在第一方向D1或第二方向D2上行进的方式进行分离。分离部16可以将包括反射波的电磁波分离为反射波和除去反射波的电磁波。除去反射波的电磁波可以包含例如可见光等的光。

在本实施方式中，分离部16将包含反射波的电磁波的一部分向第一方向D1反射，将另一部分向第二方向D2透过。在本实施方式中，分离部16将入射的电磁波中的、太阳光等的环境光被对象ob反射后的可见光向第一方向D1反射。另外，分离部16将入射的电磁波中的、照射部12照射出的红外线被对象ob反射后的红外线向第二方向D2透过。作为另一个例子，分离部16也可以将入射的电磁波的一部分向第一方向D1透过，将电磁波的另一部分向第二方向D2反射。另外，分离部16可以使入射的电磁波的一部分向第一方向D1折射，使电磁波的另一部分向第二方向D2折射。分离部16例如可以构成为包括半反射镜、分束器、分色镜、冷反射镜、热反射镜、超表面、偏转元件或棱镜等。

第二检测部17设置于从分离部16向第一方向D1行进的电磁波的路径上。第二检测部17设置于第一方向D1上的对象ob的成像位置或成像位置的附近。第二检测部17检测从分离部16向第一方向D1行进的电磁波。

另外，第二检测部17可以以从分离部16向第一方向D1行进的电磁波的第一行进轴与第二检测部17的第一检测轴平行的方式相对于分离部16配置。第一行进轴与从分离部16朝向第一方向D1放射状地扩展并行进的电磁波的中心轴对应。在本实施方式中，第一行进轴表示为将入射部15的光轴延伸至分离部16，在分离部16中以与第一方向D1平行的方式弯折后的轴。第一检测轴表示为通过第二检测部17的检测面的中心并与检测面垂直的轴。

进而，第二检测部17可以以第一行进轴以及第一检测轴的间隔为第一间隔阈值以下的方式配置。另外，第二检测部17可以以第一行进轴和第一检测轴一致的方式配置。在本实施方式中，第二检测部17可以以第一行进轴和第一检测轴一致的方式配置。

另外，第二检测部17可以以第一行进轴相对于第二检测部17的检测面形成的第一角度成为第一角度阈值以下或规定的角度的方式相对于分离部16配置。在本实施方式中，第二检测部17以第一角度为90°的方式配置。

在本实施方式中，第二检测部17设为无源传感器。在本实施方式中，更具体而言，第二检测部17包括元件阵列。例如，第二检测部17包括图像传感器或成像阵列等拍摄元件，对在检测面上成像的电磁波的像进行拍摄，生成包含拍摄的对象ob的空间的图像信息。

在本实施方式中，更具体而言，第二检测部17以对可见光的像进行拍摄的方式构成。第二检测部17将生成的图像信息作为信号向控制部14发送。第二检测部17可以以对红外线、紫外线、以及电波的像等可见光以外的像进行拍摄的方式构成。

切换部18设置于从分离部16向第二方向D2行进的电磁波的路径上。切换部18设置于第二方向D2上的对象ob的一次成像位置或一次成像位置附近。

在本实施方式中，切换部18设置于成像位置。切换部18具有作用面as，该作用面as供通过了入射部15以及分离部16的电磁波入射。作用面as由沿着二维状排列的多个切换元件se构成。作用面as在后述的第一状态以及第二状态中至少任一个状态下，对电磁波产生作用，例如反射电磁波或透过电磁波等。

切换部18能够每个切换元件se在使入射至作用面as的电磁波向第三方向D3行进的第一状态与向第四方向D4行进的第二状态之间切换。在本实施方式中，第一状态是将入射至作用面as的电磁波向第三方向D3反射的第一反射状态。另外，第二状态是将入射至作用面as的电磁波向第四方向D4反射的第二反射状态。

在本实施方式中，更具体而言，切换部18使每个切换元件se包括反射电磁波的反射面。通过切换部18任意地变更每个切换元件se的各自的反射面的朝向，从而使每个切换元件se在第一反射状态以及第二反射状态之间进行切换。

在本实施方式中，切换部18包括例如数字微镜器件(DMD：Digital Micro-mirrorDevice：数字微镜器件)。DMD通过驱动构成作用面as的微小的反射面，从而能够将每个切换元件se的反射面切换为相对于作用面as倾斜+12°以及-12°的任一倾斜状态。作用面as与DMD中的载置微小的反射面的基板的板面平行。

切换部18基于控制部14的控制，针对每个切换元件se切换第一状态以及第二状态。例如，如图2所示，切换部18通过将一部分切换元件se1切换为第一状态，从而能够使入射至切换元件se1的电磁波向第三方向D3行进。另外，切换部18通过将另一部分切换元件se2切换为第二状态，从而能够使入射至切换元件se2的电磁波向第四方向D4行进。切换部18能够同时地切换各切换元件的状态。更具体而言，控制部14基于来自偏转部13的方向信息，检测照射了电磁波的方向或照射了电磁波的位置。而且，通过将与检测到的电磁波的照射方向或照射位置对应的切换元件se1设为第一状态，将除此以外的切换元件se1设为第二状态，从而使来自对象ob的反射波有选择地向第三方向D3行进。通过了分离部16的电磁波中的、来自对象ob的反射波以外的电磁波向第四方向D4行进，因此，不向第一检测部20入射。

如图1所示，第一后级光学系统19设置在从切换部18起的第三方向D3上。第一后级光学系统19例如包括透镜以及反射镜中的至少一方。第一后级光学系统19使作为在切换部18中切换了行进方向的电磁波的对象ob的像成像。

第一检测部20检测反射波。第一检测部20配置在能够检测在通过切换部18向第三方向D3行进后经由第一后级光学系统19行进的电磁波的位置。第一检测部20检测经由了第一后级光学系统19的电磁波即向第三方向D3行进的电磁波，并输出检测信号。

另外，第一检测部20可以与切换部18一起，以从分离部16沿第二方向D2行进并通过切换部18将行进方向切换为第三方向D3的电磁波的第二行进轴以与第一检测部20的第二检测轴平行的方式，相对于分离部16配置。第二行进轴与从切换部18向第三方向D3行进的、呈放射状扩展并传播的电磁波的中心轴对应。在本实施方式中，第二行进轴表示为将入射部15的光轴延伸至切换部18，在切换部18中以与第三方向D3平行的方式弯折后的轴。第二检测轴表示为通过第一检测部20的检测面的中心，并与检测面垂直的轴。

进而，第一检测部20可以与切换部18一起，以第二行进轴以及第二检测轴的间隔为第二间隔阈值以下的方式配置。第二间隔阈值可以是与第一间隔阈值相同的值，也可以是不同的值。另外，第一检测部20可以以第二行进轴以及第二检测轴一致的方式配置。在本实施方式中，第一检测部20以与第二行进轴以及第二检测轴一致的方式配置。

另外，第一检测部20可以与切换部18一起以第二行进轴与第一检测部20的检测面所成的第二角度为第二角度阈值以下或规定的角度的方式相对于分离部16配置。第二角度阈值可以是与第一角度阈值相同的值，也可以是不同的值。在本实施方式中，如上所示，第一检测部20以第二角度成为90°的方式配置。

在本实施方式中，第一检测部20是检测从照射部12朝向对象ob照射出的电磁波的反射波的有源传感器。第一检测部20包括例如APD(Avalanche Photo-Diode：雪崩光电二极管)、PD(Photo-Diode：光电二极管)或测距图像传感器等单一的元件。另外，第一检测部20也可以包括APD阵列、PD阵列、测距成像阵列或测距图像传感器等元件阵列。

在本实施方式中，第一检测部20将表示检测到来自被拍摄体的反射波的检测信息作为信号向控制部14发送。更具体而言，第一检测部20检测红外线的频带的电磁波。

另外，在本实施方式中，第一检测部20被用作用于测定到对象ob为止的距离的检测元件。换言之，第一检测部20是构成测距传感器的元件，只要能够检测电磁波即可，不需要在检测面成像。因此，第一检测部20可以不必一定设置在第一后级光学系统19的成像位置即二次成像位置。即，在该结构中，第一检测部20只要是配置在来自全部视角的电磁波能够入射到检测面上的位置即可，也可以配置在通过切换部18沿第三方向D3行进后经由第一后级光学系统19而行进的电磁波的路径上的任意位置。

通过具有以上这样的结构，电磁波检测装置10使图像上的规定位置与用于测定该位置的距离的反射波的光轴一致。换言之，在电磁波检测装置10中，获取图像的图像信息获取部141的光轴与接收用于获取距离信息的电磁波的反射波的受光系统110的光轴一致。图像信息获取部141也称为拍摄部。包括受光系统110的获取距离信息的结构也称为测距部。拍摄部与测距部可以说是共有光轴。

在此，图3是用于说明包含反射波的电磁波的检测的图。在图3中，对象ob所在的空间被照射系统111照射电磁波的每一帧的次数分割，被划分为格子状。一般而言，检测一帧的包含反射波的电磁波所要的时间比通过拍摄元件等获取一帧的图像的时间长。作为一例，拍摄元件能够在1秒钟内获取1920×1080像素的图像30帧。另一方面，接收照射出的电磁波的反射波的距离测定所需的时间有时会在1点处花费20μs左右。因此，接收来自空间的反射波并获取测距信息的地点的数量(点数)在每一帧小于1920×1080。

在图3的例子中，从照射部12照射出的光束状的电磁波被偏转部13反射，作为照射波入射至空间中的一个区域R。在本实施方式中，照射波是红外线。包含被存在于区域R的对象ob反射后的反射波的电磁波入射至入射部15。在本实施方式中，反射波是红外线。另外，包含反射波的电磁波包含外光被存在于区域R的对象ob反射后的可见光。分离部16将包含反射波的电磁波中的可见光向第一方向D1反射。被反射的可见光由第二检测部17检测。另外，分离部16使包含反射波的电磁波中的红外线向第二方向D2透过。透过了分离部16的红外线被切换部18反射，至少一部分向第三方向D3行进。向第三方向D3行进的红外线通过第一后级光学系统19由第一检测部20检测。

(控制部的结构例)

照射控制部143控制照射系统111。照射控制部143例如使照射部12切换电磁波的照射以及停止。照射控制部143例如使偏转部13改变反射电磁波的朝向。

受光控制部144控制受光系统110。受光控制部144例如使切换部18针对每个切换元件se切换第一状态以及第二状态。

图像信息获取部141从检测来自空间的电磁波的第二检测部17，获取对象ob所在的空间的图像信息。

运算部145基于第一检测部20的检测信息，来运算与对象ob的距离。运算部145基于获取到的检测信息，例如能够通过ToF(Time-of-Flight：飞行时间)方式来运算距离。

如图4所示，控制部14通过将电磁波放射信号向照射部12输入，使照射部12照射脉冲状的电磁波(参照“电磁波放射信号”栏)。照射部12基于输入的电磁波放射信号来照射电磁波(参照“照射部放射量”栏)。照射部12照射且由偏转部13反射而照射于对象ob所在的空间即照射区域的电磁波在照射区域反射。控制部14将照射区域的反射波的基于入射部15的在切换部18中的成像区域中的至少一部分的切换元件se切换为第一状态，将其他切换元件se切换为第二状态。然后，第一检测部20在照射区域检测反射出的电磁波时(参照“电磁波检测量”栏)，将检测信息向控制部14通知。

运算部145获取包含检测信息的上述信号的信息。运算部145例如包括时间测量LSI(Large Scale Integrated circuit：大规模集成电路)，测量从使照射部12照射电磁波的时刻T1开始到获取到检测信息(参照“检测信息获取”栏)的时刻T2为止的时间ΔT。运算部145通过将光速乘以时间ΔT并除以2，来计算到照射位置为止的距离。

由第一检测部20检测的到对象ob为止的测距信息的每一帧的平面方向的分辨率比由第二检测部17检测出的对象ob的图像的分辨率低。其理由如下。首先，包含用于获取测距信息的反射波的电磁波的检测的分辨率由包含对象ob的空间中的基于电磁波检测距离的检测部位数、即获取测距信息的地点的数量来决定。通过激光对空间进行扫描的情况下，电磁波的检测的分辨率是指，对象空间的一次扫描中的激光的照射部位的数量(即，向视野的范围的激光的照射部位的数量数)。与此相对，由第二检测部17检测出的对象ob的图像通过提高拍摄元件的性能，以比激光的照射部位的间隔窄的间隔的像素被拍摄。因此，测距信息的平面方向的分辨率低于图像的分辨率。以下，在本说明书中，测距信息的分辨率是指每一帧的平面方向的分辨率。另外，也可以说测距部的分辨率低于拍摄部的分辨率。

(基于测距信息的尺寸的计算)

本实施方式的电磁波检测装置10的控制部14还具有测长运算部147。测长运算部147基于由第一检测部20检测的到对象ob为止的测距信息来计算对象ob的尺寸。电磁波检测装置10也称为测定装置。对象ob也称为测定对象。

具体而言，测长运算部147基于测距信息和为了获取测距信息而照射出的电磁波的射出方向来计算对象ob所含的两点坐标，计算两点间的距离作为对象ob的尺寸。作为一例，对图5所示的对象ob的尺寸的计算步骤进行说明。对象ob设为人物。另外，为了简化，未考虑与纸面垂直的X轴方向的坐标，限定在沿着纸面的YZ平面内对计算步骤进行说明。

控制部14的运算部145测定从照射系统111所处的原点O到位于对象ob的头部的测距点P1为止的距离、和从原点O到位于对象ob的脚部的测距点P2为止的距离。从原点O到测距点P1为止的距离用d1表示。从原点O到测距点P2为止的距离用d2表示。d1以及d2也称为距离信息。原点O也称为基准位置。测距点P1以及P2分别也称为第一地点以及第二地点。测距点P1以及P2分别也称为第一测距点以及第二测距点。确定测距点P1以及P2的信息分别也称为第一测距信息以及第二测距信息。

在此，照射系统111具有包含在能够扫描照射电磁波的范围内的照射轴111A。在本实施方式中，照射轴111A与能够扫描照射电磁波的范围的中心轴对应。XYZ坐标系以Z轴与照射轴111A一致的方式设定。因此，照射轴111A包含在YZ平面内。

测长运算部147从运算部145获取到测距点P1以及P2为止的距离。测长运算部147从运算部145或照射系统111，进一步获取连结原点O和测距点P1的线段相对于照射轴111A所成的角度(θ1)。角度θ1确定YZ平面中的从原点O向测距点P1的方向。即，角度θ1也可以说是与方向相关的信息。角度θ1也称为与朝向测距点P1的方向相关的角度信息。角度θ1也可以基于从偏转部13获取到的方向信息来获取。测长运算部147基于d1和θ1，如以下的式(1)以及(2)所示那样能够计算测距点P1的Y坐标(Y1)以及Z坐标(Z1)。

[数1]

Y₁＝d₁sinθ₁ (1)

[数2]

Z₁＝d₁cosθ₁ (2)

另外，测长运算部147从运算部145或照射系统111，获取连结原点O和测距点P2的线段相对于照射轴111A所成的角度(θ2)。测长运算部147与测距点P1同样地，能够基于d2和θ2来计算测距点P2的Y坐标(Y2)以及Z坐标(Z2)。第一地点以及第二地点的各自的地点的坐标也称为第一空间坐标以及第二空间坐标。

在此，对象ob的尺寸由从头部到脚部的长度表示。即，测长运算部147能够将对象ob的长度作为线段P1P2的长度来计算。在图6中示例的对象ob所含的线段P1P2与XY平面即拍摄面交叉。测长运算部147通过将P1以及P2各自的坐标应用于基于勾股定理的以下式(3)中，能够计算线段P1P2的长度L。

[数3]

电磁波检测装置10在仅基于拍摄对象ob得到的图像来计算对象ob的尺寸的情况下，由于以下的理由可能与实际的对象ob的尺寸不同。

电磁波检测装置10在位于Z轴上的情况下从Z轴的正方向拍摄对象ob。因此，电磁波检测装置10所拍摄的图像的拍摄面成为与Z轴垂直的面即与XY平面平行的面。在对象ob所含的线段P1P2与拍摄面交叉的情况下，线段P1P2作为针对拍摄面的正投影而显现在图像中。在忽略X轴方向(纸面的进深方向)的扩展的情况下，线段作为针对Y轴的正投影而显现在图像中。线段的正投影的长度比线段的实际的长度短。具体而言，图6所示例的线段P1P2向Y轴的正投影的长度为Y1-Y2，比在上述式(3)中计算出的L短。因此，基于图像作为线段P1P2的长度计算出的对象ob的尺寸可能与实际的对象ob的尺寸不同。

另外，假设，即使在线段P1P2与拍摄面平行的情况下，因从电磁波检测装置10到对象ob为止的距离短或长，显现在图像的线段的长度也发生变化。因此，仅基于图像有时无法计算线段P1P2的真实长度。

如上所述，本实施方式的电磁波检测装置10计算对象ob所含的测距点P1以及P2的坐标。然后，电磁波检测装置10基于P1以及P2的坐标能够计算线段P1P2的长度作为对象ob的尺寸。基于测距结果来计算对象ob的尺寸，与仅基于图像来计算的情况相比，提高了对象ob的尺寸的计算精度。

(基于校正坐标的高精度化)

如上所述，到对象ob为止的测距信息的分辨率低于对象ob的图像的分辨率。在测距信息的分辨率较低的情况下，测距点P1以及P2的位置与对象ob的轮廓部分的偏移变大，因此，基于测距信息计算的对象ob的尺寸的误差也大。因此，测长运算部147通过基于拍摄对象ob得到的图像来对为了计算对象ob的尺寸所使用的坐标进行校正，能够进一步提高对象ob的计算精度。

例如，如图5所示，为了计算对象ob的尺寸所使用的、对象ob的头部侧的端点从P1校正为P1’。另外，为了计算对象ob的尺寸所使用的、对象ob的脚部侧的端点从P2校正为P2’。P1和P1’分离得越大，或者P2和P2’分离得越大，则通过校正越大幅提高尺寸的计算精度。对象ob的拍摄图像中的轮廓部分中的、最接近测距点P1以及P2的位置的位置可以分别设为P1’以及P2’。P1’以及P2’可以通过未图示的操作单元从对象ob的拍摄图像中任意地指定。P1’以及P2’不限于对象ob的拍摄图像中的轮廓部分，也可以是对对象ob中的想要测距的部分的间隔进行规定的地点。

从P1向P1’的校正具体而言能够通过如下所述地实现。测长运算部147生成映射了到对象ob为止的测距信息的距离图像。测长运算部147获取拍摄对象ob得到的拍摄图像。测长运算部147基于拍摄图像来检测对象ob的轮廓部分。测长运算部147从根据轮廓部分中获取与测距点P1对应并与P1位于同一XY平面上的头部侧的端点P1’，根据拍摄图像中的测距点P1的位置与端点P1’的位置关系来计算连结原点O和端点P1’的线段相对于照射轴111A所成的角度θ1’。通过将距离图像与拍摄图像重叠，从而计算角度θ1’。测长运算部147例如在将与拍摄图像的Y坐标为零的点对应的角度视为零度的基础上，基于测距点P1的Y坐标与端点P1’的Y坐标的比、以及连结原点O和测距点P1的线段相对于照射轴111A所成的角度为θ1，能够计算角度θ1’。

测长运算部147基于表示测距点P1的Z坐标的Z1和角度θ1’，用以下的式(4)来计算连结原点O和端点P1’的线段的长度d1’。

[数4]

进而，测长运算部147基于d1’，用以下的式(5)来计算端点P1’的Y坐标Y1’。

[数5]

Y′₁＝d′₁sinθ′₁ (5)

端点P1’的Z坐标视为与作为测距点P1的Z坐标的Z1相同。由此，端点P1’的坐标被确定。其结果是，实现了从P1向P1’的校正。另外，从P2向P2’的校正能够与从P1向P1’的校正同样地实现。端点P1’以及P2’也分别称为第一端点以及第二端点。第一端点以及第二端点各自的坐标也称为第一端点坐标以及第二端点坐标。如上所述，测长运算部147将第一端点的Z坐标设为与第一地点的Z坐标相同。即，在从照射系统111的原点O观察的空间的进深方向上，第一地点的位置与第一端点的位置设为相同。

测长运算部147能够基于以下的式(6)计算由校正后的P1’以及P2’的坐标表示的两点间的距离，将线段P1’P2’的长度计算为对象ob的尺寸。

[数6]

如以所述，测长运算部147能够基于拍摄图像来校正用于计算线段的长度的两端的两点的坐标。其结果是，能够提高对象ob的尺寸的计算精度。

另外，如上所述，电磁波检测装置10能够使为了生成距离图像所使用的反射波的光轴与拍摄图像的光轴一致。因此，测长运算部147能够使距离图像与拍摄图像重叠时产生的位置的误差为零、或者接近零。通过能够将距离图像与拍摄图像高精度地重叠，测长运算部147将距离图像所含的角度以及距离的信息与拍摄图像所含的信息进行组合，能够高精度地校正对象ob的端点的坐标。其结果是，能够提高对象ob的尺寸的计算精度。

(考虑X轴方向的扩展后的尺寸的计算)

参照图5和图6，对未考虑X轴方向(纸面的进深方向)的扩展的情况下的尺寸的计算方法进行了说明。以下，参照图7、图8以及图9，对考虑了X轴方向的扩展的情况下的尺寸的计算方法进行说明。图7、图8以及图9所示例的对象ob设为车辆。测长运算部147测定车辆的全长(前后的长度)。

如图7所示，测长运算部147获取与作为对象ob的车辆的前方的端部对应的测距点P1的测距信息、以及与车辆的后方的端部对应的测距点P2的测距信息。从照射系统111所处的原点O到测距点P1以及P2为止的距离由d1以及d2表示。线段OP1以及OP2相对于照射轴111A所成的角度由θ1以及θ2表示。在测距点P1以及P2的X坐标不为零的情况下，线段OP1以及OP2包含于与YZ平面交叉的平面。具体而言，如图8和图9所示，线段OP1位于相对于YZ平面旋转了由θ3表示的角度后的平面内。如图9所示，θ1的大小表示在相对于YZ平面旋转了角度θ3后的平面内。

测长运算部147能够用以下的式(7)～(9)计算与图5和图6的例子不同而考虑了X坐标的情况下的测距点P1的坐标(X1，Y1，Z1)。

Z1＝d1·cosθ1(7)

X1＝d1·sinθ1·cosθ3(8)

Y1＝d1·sinθ1·sinθ3(9)

需要说明的是，角度θ1可以基于从偏转部13获取到的方向信息来获取，角度θ3可以基于拍摄图像或测距图像中的测距点P1的位置来获取。

测长运算部147能够与测距点P1的坐标同样地，计算测距点P2的坐标。另外，测长运算部147通过将P1以及P2各自的坐标应用于基于勾股定理的以下式(10)，从而能够计算线段P1P2的长度L，作为对象ob的尺寸(车辆的全长)。

[数7]

进而，测长运算部147能够基于拍摄对象ob得到的图像，来校正为了计算对象ob的尺寸(车辆的全长)所使用的坐标。测长运算部147例如能够如下地校正车辆的前方的端部的坐标。

测长运算部147生成映射了到对象ob为止的测距信息的距离图像。测长运算部147获取拍摄对象ob得到的拍摄图像。测长运算部147基于拍摄图像，检测与P1位于同一XY平面上的对象ob的前方的端点P1’，根据拍摄图像中的测距点P1的位置与端点P1’的位置关系，计算连结原点O与端点P1’的线段相对于照射轴111A所成的角度θ1’。测长运算部147例如将与拍摄图像的X坐标以及Y坐标为零的点对应的角度视为零度。然后，基于从XY平面的原点(0，0)到测距点P1(X1，Y1)的距离与从XY平面的原点(0，0)到端点P1’的距离之比和测距点P1的角度为θ1，能够计算拍摄图像的端点P1’的角度θ1’。

测长运算部147基于表示测距点P1的Z坐标的Z1和角度θ1’，用以下式(11)来计算连结原点O和端点P1’的线段的长度d1’。

[数8]

进而，测长运算部147基于d1’用以下式(12)以及(13)来计算端点P1’的X坐标X1’以及Y坐标Y1’。

Y1’＝d1’·sinθ1’·sinθ3’(12)

X1’＝d1’·sinθ1’·cosθ3’(13)

端点P1’的Z坐标视为与作为测距点P1的Z坐标的Z1相同。由此，确定了端点P1’的坐标。其结果是，实现了从P1向P1’的校正。另外，从P2向P2’的校正能够与从P1向P1’的校正同样地被实现。

测长运算部147能够基于以下式(14)计算由校正后的P1’以及P2’的坐标表示的两点间的距离，将线段P1’P2’的长度计算为对象ob的尺寸。

[数9]

如上所述，即使在考虑了X轴方向的扩展的情况下，测长运算部147也能够基于拍摄图像对用于计算线段的长度的两端的两点的坐标进行校正。其结果是，能够提高对象ob的尺寸的计算精度。

如图10所示，测长运算部147不仅能够测定对象ob的整体的尺寸，还对拍摄图像所含的对象的一部分测定尺寸。作为一例，测长运算部147能够将根据拍摄图像识别到的大型车辆的轮胎部分作为对象ob并测量其直径。根据本实施方式，即使在基于电磁波检测装置10的拍摄图像的拍摄面相对于轮胎倾斜的情况下，也能够提高轮胎的直径的测定精度。测长运算部147也可以将其他种类的物品作为对象ob进行测定。

控制部14能够对图像信息获取部141获取的图像信息进行解析，确定尺寸测定所需要的部分(例如轮胎部分等)。如上所述，照射控制部143控制照射系统111，测定到成为尺寸测定的对象的对象的测距点P1、P2为止的距离，通过测长运算部147计算线段P1P2的长度，从而能够测定对象的尺寸。

例如大型车辆的轮胎有磨损的情况有可能成为该大型车辆从事的作业的障碍。电磁波检测装置10通过持续测定轮胎等的尺寸，能够发现需要修理、更换的车辆的构件，并催促维护。也可以构成为定期地测定多个车辆的轮胎等尺寸，并与根据图像信息获取部141获取到的图像信息而确定的车辆的固有信息(ID等识别信息)建立关联地存储于存储单元。

如图11所示，测长运算部147能够将鱼等家畜作为对象ob来测定其全长。根据本实施方式，在基于电磁波检测装置10的拍摄图像的拍摄面相对于作为对象ob的鱼倾斜的情况下，也能够提高鱼的全长的测定精度。测长运算部147不限于鱼，也可以将牛、马等其他种类的动物作为对象ob来测定。

家畜是生物，因此可能采取各种姿势。电磁波检测装置10可以根据图像信息获取部141获取到的图像信息，在识别出测定对象的家畜采取了规定的姿势的定时下，进行其尺寸的测定。

测定家畜的大小在其生长管理中是有效的。通过由电磁波检测装置10持续地测定家畜的大小，能够容易地进行生长管理。也可以构成为将测定出的家畜的大小的信息与由图像信息获取部141获取到的图像信息所确定的家畜的固有信息建立关联地存储在存储单元中，从而进行多个家畜的生长管理。

(流程图的例子)

＜将测距点的坐标作为端点的尺寸的计算＞

测长运算部147也可以执行包括图12所示例的流程图的步骤的尺寸测定方法。尺寸测定方法也可以作为构成测长运算部147的处理器执行的尺寸测定程序来实现。尺寸测定程序可以存储在非暂时性计算机可读取介质中。

测长运算部147获取对象ob所含的至少两点的测距信息(步骤S1)。具体而言，测长运算部147为了测定对象ob的尺寸，选择测距点P1以及P2作为与对象ob的两端对应的两点，来获取各测距点的测距信息。测长运算部147获取从原点O到测距点P1为止的距离和从原点O到测距点P2为止的距离，作为测距信息。

测长运算部147获取朝向两个测距点的照射方向(步骤S2)。具体而言，测长运算部147从照射系统111获取照射系统111相对于测距点P1照射了电磁波的方向、以及照射系统111相对于测距点P2照射了电磁波的方向。

测长运算部147计算两个测距点的坐标(步骤S3)。测长运算部147能够基于距离和方向计算各测距点的坐标。

测长运算部147计算两个测距点之间的长度(步骤S4)。测长运算部147在步骤S4的步骤结束后，结束图12的流程图的步骤的执行。

＜利用基于拍摄图像校正后的端点计算尺寸＞

测长运算部147也可以执行包括图13所示例的流程图的步骤的尺寸测定方法。

测长运算部147获取对象ob所含的至少两点的测距信息(步骤S11)。具体而言，测长运算部147为了测定对象ob的尺寸，选择测距点P1以及P2作为与对象ob的两端对应的两点，获取各测距点的测距信息。测长运算部147获取从原点O到测距点P1为止的距离、以及从原点O到测距点P2为止的距离，作为测距信息。

测长运算部147获取朝向两个测距点的照射方向(步骤S12)。具体而言，测长运算部147从照射系统111获取照射系统111相对于测距点P1照射了电磁波的方向、以及照射系统111相对于测距点P2照射了电磁波的方向。

测长运算部147计算两个测距点的坐标(步骤S13)。测长运算部147基于距离和方向，能够计算各测距点的坐标。

测长运算部147在对象ob的拍摄图像中检测测定尺寸的两端的两点(P1’、P2’)(步骤S14)。具体而言，测长运算部147假设对象ob的各点位于沿着XY平面的拍摄面上，并在拍摄面上检测两端的两点。

测长运算部147计算朝向在拍摄图像检测到的两端的两点的角度(步骤S15)。具体而言，测长运算部147能够基于测距信息、获取到测距信息的测距点在测距图像内的X坐标或Y坐标、各点在拍摄图像内的X坐标或Y坐标，来计算向两端的两点的角度。

测长运算部147计算到在拍摄图像检测到的两端的两点为止的距离(步骤S16)。具体而言，测长运算部147基于朝向各点的角度和接近各点的测距点的Z坐标，来计算到各点为止的距离。

测长运算部147计算在拍摄图像检测到的两端的两点的空间坐标(步骤S17)。具体而言，测长运算部147基于到各点为止的距离和朝向各点的角度，来计算各点的空间坐标(X坐标、Y坐标以及Z坐标)。

测长运算部147对计算出坐标的两点之间的长度进行计算(步骤S18)。测长运算部147在步骤S18的步骤结束后，结束图13的流程图的步骤的执行。

(其他实施方式)

测长运算部147能够沿着照射系统111照射电磁波的照射轴111A的方向测定对象ob的长度。例如，测长运算部147将位于路面上的车辆作为对象ob，通过从车辆的上表面侧照射电磁波，能够测定车辆的高度。

具体而言，测长运算部147获取拍摄作为对象ob的车辆和该车辆所在的路面得到的图像。测长运算部147检测位于推定为路面的区域的点并获取测距信息。测长运算部147基于测距信息来计算位于推定为路面的区域的至少两点的坐标。测长运算部147基于路面的坐标，计算路面的倾斜度以及车辆下的路面的位置。测长运算部147获取位于车辆的上表面的点的测距信息，并能够基于路面的倾斜度以及路面的位置的计算结果，来计算车辆的高度。

例如如图14所示，测长运算部147可以获取在相对于路面俯视位于路面上的车辆时位于通过路面和车辆的直线上的多个点的测距信息。获取测距信息的点沿Y轴排列，由Y坐标确定。另外，通过与该点的Z坐标建立对应，该点的测距信息被表示为(y(n),z(n))。n是用于识别各点的参数，设为自然数。

如图15所示，测距信息被绘制在YZ平面上。测长运算部147也可以基于绘制了测距信息的曲线图，来推定路面的区域。在图15中，路面的区域被推定为由A1和A3表示的区域。测长运算部147例如基于区域A1所含的至少一点的测距信息和区域A3所含的至少一点的测距信息，计算表示路面的式ay+bz+c＝0的系数a、b以及c，从而能够确定路面的信息。路面也称为基准面。确定作为基准面的路面的信息与第一测距信息对应。

测长运算部147能够将在图15中由A2表示的、脱离表示路面的式子的区域推定为车辆的上表面的区域。测长运算部147能够基于车辆的上表面的各点的坐标和表示路面的式子，计算车辆的上表面的各点距路面的距离。测长运算部147可以将计算出的距离中的最大值作为车辆的高度来计算。测长运算部147例如也可以基于以下式(15)来计算车辆的高度。

[数10]

在此，Maxn是选择最大值的函数。式(15)是指选择在YZ平面上从各点的坐标至表示路面的直线的距离中的最大值。

可以说测长运算部147确定距作为基准面的路面远的一侧的端点，并确定端点的空间坐标，基于端点的空间坐标和表示作为基准面的路面的式子来计算车辆的高度。确定距作为基准面的路面远的一侧的端点的信息与第二测距信息对应。

测长运算部147也可以获取从俯视路面的方向拍摄作为对象ob的车辆的图像，基于图像来判断路面的区域和车辆的区域。这样一来，表示路面的式子的计算变得容易。

测长运算部147也可以执行包括图16所示例的流程图的步骤的尺寸测定方法。尺寸测定方法也可以作为使构成测长运算部147的处理器执行的尺寸测定程序来实现。尺寸测定程序也可以存储在非暂时性的计算机可读取的介质。

测长运算部147获取对象ob的图像(步骤S21)。具体而言，也可以获取从俯视路面的方向拍摄车辆的图像。

测长运算部147从对象ob的图像检测路面并测定到路面所含的至少两点为止的距离(步骤S22)。路面所含的、成为测定距离的对象的点也称为路面的测距点。

测长运算部147计算路面的测距点的坐标(步骤S23)。测长运算部147由于在步骤S22测定到至少两点为止的距离，因此，能够计算至少两个测距点的坐标。

测长运算部147计算路面的倾斜度(步骤S24)。具体而言，测长运算部147也可以如上所述地计算表示路面的式子ay+bz+c＝0的系数a、b以及c。路面的倾斜度相当于a与b之比。

测长运算部147根据对象ob的图像检测车辆，测定到位于车辆的上表面的点为止的距离(步骤S25)。位于车辆的上表面的、成为测定距离的对象的点也称为车辆的测距点。

测长运算部147计算车辆的测距点的坐标(步骤S26)。

测长运算部147计算车辆的高度(步骤S27)。具体而言，测长运算部147能够将从车辆的测距点到表示路面的线为止的距离作为车辆的高度来计算。测长运算部147在步骤S27的步骤结束后，结束图16的流程图的步骤的执行。

(变形例)

基于各附图以及实施例对本公开进行了说明，但需要注意的是本领域技术人员很容易基于本公开进行各种变形或修改。因此，需要注意的是这些变形或修改也包括在本公开的范围内。

在上述的实施方式中，如上所述，电磁波检测装置10为通过Direct ToF来作成测距信息的结构，该Direct ToF直接测定从照射激光到返回为止的时间。但是，电磁波检测装置10并不限于这样的结构。例如，电磁波检测装置10也可以通过Flash ToF来作成测距信息，该Flash ToF以恒定的周期呈放射状地(即向多个方向同时地)照射电磁波，并根据照射的电磁波与返回的电磁波之间的相位差，间接地测定到返回为止的时间。另外，电磁波检测装置10也可以通过其他的ToF方式，例如Phased ToF来作成测距信息。

在上述的实施方式中，切换部18能够将入射至作用面as的电磁波的行进方向向两个方向进行切换，但也可以不切换为这两个方向中的任一个方向，而向三个以上的方向进行切换。

在上述的实施方式的切换部18中，第一状态以及第二状态是使入射至作用面as的电磁波分别向第三方向d3反射的第一反射状态、以及向第四方向d4反射的第二反射状态，但也可以是其他方式。

例如，第一状态也可以是使入射至作用面as的电磁波透过而向第三方向d3行进的透过状态。更具体而言，代替上述切换部18的其他结构的切换部181也可以在每个切换元件上具有快门，该快门具有使电磁波向第四方向d4反射的反射面。在这样的结构的切换部181中，通过开闭每个切换元件的快门，能够针对每个切换元件在作为第一状态的透过状态以及作为第二状态的反射状态之间进行切换。

作为这样的结构的切换部181，例如可举出包括能够开闭的多个快门阵列状地排列的MEMS快门的切换部。另外，作为切换部181可举出是包括液晶快门的切换部，该液晶快门能够根据液晶取向在反射电磁波的反射状态与使电磁波透过的透过状态之间进行切换。在这样结构的切换部181中，通过切换每个切换元件的液晶取向，能够针对每个切换元件在作为第一状态的透过状态以及作为第二状态的反射状态进行切换。

另外，在电磁波检测装置10中，受光系统110可以还具有第二后级光学系统以及第三检测部。第二后级光学系统设置在从切换部18起的第四方向d4上，并使对象ob的像成像。第三检测部设置在通过切换部18向第四方向d4行进后经由第二后级光学系统行进的电磁波的路径上，检测向第四方向d4行进的电磁波。

另外，在上述实施方式中，电磁波检测装置10具有第二检测部17是无源传感器，第一检测部20是有源传感器的结构。但是，电磁波检测装置10不限定于这样的结构。例如，在电磁波检测装置10中，即使是第二检测部17以及第一检测部20均为有源传感器的结构，或者是均为无源传感器的结构，也能够获得与上述实施方式类似的效果。

图像信息获取部141、反射强度信息获取部142、照射控制部143、受光控制部144、运算部145以及对应信息计算部146的一部分也可以不包含在控制部14，而与控制部14分体设置。例如，运算部145可以作为从控制部14独立后的控制装置设置。

设置于控制部14的、图像信息获取部141、反射强度信息获取部142、或对应信息计算部146等各功能不必一定包含在电磁波检测装置10中，也可以设置为分体装置。

在上述的实施方式中，为了测定对象ob的尺寸，使用了两个点(P1和P2、P1’和P2’)。为了测定对象ob的尺寸而使用的点的数量不限定于两个，也可以为三个以上。也可以使用三个以上的点而测定各个点之间的长度，通过计算测定出的长度之和来测定对象ob的尺寸。在对象ob的形状弯曲等、两点间的直线无法测定对象ob的准确的长度的情况下，也可以沿着对象ob的测定部位设定三个以上的点而进行尺寸的测定。

虽然在上述的实施方式中对代表性的例子进行了说明，但是对于本领域技术人员来说，在本公开的精神和范围内，能够进行很多变更和置换，这是显而易见的。因此，本公开不应被解释为限于上述实施方式，而且在不脱离权利要求的范围的情况下能够进行各种变形和变更。例如，能够将实施方式的结构图中记载的多个结构块组合成一个，或者将一个结构块进行分割。

另外，虽然将本公开的解决方案作为装置进行了说明，但本公开也可以作为包含以上这些的方式来实现，另外，也可以作为与以上这些实质上相当的方法、程序、存储了程序的存储介质来实现，应当理解的是，本发明的范围也包括以上这些。

附图标记说明

10电磁波检测装置

12照射部

13偏转部

14控制部

15入射部

16分离部

17第二检测部

18、181切换部

19第一后级光学系统

20第一检测部

110受光系统

111照射系统

141图像信息获取部

142反射强度信息获取部

143照射控制部

144受光控制部

145运算部

146对应信息计算部

147测长运算部

as作用面

D1、D2、D3、D4第一方向、第二方向、第三方向、第四方向

ob对象

Claims (11)

1.一种测定装置，其中，

在测定对象所在的空间中，确定用于测定所述测定对象的尺寸的两个地点即第一地点和第二地点，

基于与从基准位置到所述第一地点的距离和从基准位置到所述第二地点的距离相关的距离信息，来计算表示所述第一地点和所述第二地点在所述空间中的位置的第一空间坐标和第二空间坐标，

基于所述第一空间坐标和所述第二空间坐标，计算所述第一地点与所述第二地点之间的距离。

2.如权利要求1所述的测定装置，其中，

获取与从所述基准位置朝向所述第一地点的方向和从所述基准位置朝向所述第二地点的方向相关的角度信息，

基于所述距离信息和所述角度信息，计算所述第一空间坐标以及所述第二空间坐标。

3.一种测定装置，其中，

在测定对象所在的空间中，确定用于测定所述测定对象的尺寸的两个地点即第一地点和第二地点，

基于与从基准位置到所述第一地点的距离和从基准位置到所述第二地点的距离相关的距离信息，来计算表示所述第一地点和所述第二地点在所述空间中的位置的第一空间坐标和第二空间坐标，

基于所述测定对象的图像，来确定用于测定所述测定对象的尺寸的两个地点即第一端点和第二端点，

基于所述第一空间坐标和所述第二空间坐标，计算表示所述第一端点和所述第二端点在所述空间中的位置的第一端点坐标和第二端点坐标，

基于所述第一端点坐标和所述第二端点坐标，来计算所述第一端点和所述第二端点之间的距离。

4.如权利要求3所述的测定装置，其中，

基于所述测定对象的图像中的所述第一地点与所述第一端点的位置关系以及所述第二地点与所述第二端点的位置关系，获取与从所述基准位置朝向所述第一端点的方向以及从所述基准位置朝向所述第二端点的方向相关的角度信息，

基于所述角度信息来计算所述第一端点坐标和所述第二端点坐标。

5.如权利要求3或4所述的测定装置，其中，

所述第一空间坐标与所述第一端点坐标在所述空间上的进深方向的位置设为相同。

6.如权利要求3至5中任一项所述的测定装置，其中，

具有获取与到所述第一地点以及所述第二地点为止的距离相关的信息的测距部、和获取所述测定对象的图像的拍摄部，

所述测距部和所述拍摄部共有光轴。

7.如权利要求6所述的测定装置，其中，

所述测距部的分辨率比所述拍摄部的分辨率低。

8.如权利要求3至7中任一项所述的测定装置，其中，

将基于所述测定对象的图像而识别出的识别信息与所述第一端点和所述第二端点之间的距离建立关联地存储。

9.如权利要求1至8中任一项所述的测定装置，其中，

与到所述第一地点以及所述第二地点为止的距离相关的信息通过接收从照射部向所述第一地点以及所述第二地点照射的电磁波被所述对象反射后的反射波来获取。

10.如权利要求1至9中任一项所述的测定装置，其中，

所述测定对象是存在于所述空间的物体的一部分。

11.一种测定装置，其中，

具有：

照射部，以规定的照射角度向空间中的地点即第一地点照射电磁波；

第一检测部，检测所述照射部所照射的电磁波的反射波；

测距部，基于所述反射波，测定从基准位置到所述第一地点为止的距离即距离信息；以及

第二检测部，检测来自所述空间的电磁波，获取所述空间的图像；

控制部，基于所述距离信息、所述照射角度、所述图像中的所述第一地点的位置来计算表示所述图像所含的地点在所述空间中的位置的坐标信息；

在从所述第一地点入射的电磁波中，由所述第一检测部检测出的所述反射波和由所述第二检测部检测出的电磁波的光轴一致。

Images