CN115704842A

CN115704842A - 电子设备的电磁辐射抗扰度的测试方法及系统

Info

Publication number: CN115704842A
Application number: CN202110941643.6A
Authority: CN
Inventors: 林振华; 汤金; 祖范烽; 周晓玲; 童颖贞; 袁俊杰; 朱凤军
Original assignee: Mettler Toledo Instrument Shanghai Co ltd
Current assignee: Mettler Toledo Instrument Shanghai Co ltd
Priority date: 2021-08-17
Filing date: 2021-08-17
Publication date: 2023-02-17

Abstract

本发明提供了一种电子设备的电磁辐射抗扰度的测试方法及测试系统。该测试方法包括：向电子设备施加电磁干扰信号，所述电磁干扰信号具有由多个第一干扰频率组成的第一干扰频率序列，所述多个第一干扰频率在一预设频率范围内以预设步长逐步增大或减小；根据一时间序列记录所述电子设备在受到所述电磁干扰信号的干扰时的工作状态，所述时间序列包括多个记录时刻，所述工作状态和所述记录时刻一一对应；以及建立所述第一干扰频率序列和所述工作状态之间的第一对应关系。根据本发明的测试方法以及测试系统有助于用户提高对电子设备性能的测试效率，确保数据可追溯性。

Description

电子设备的电磁辐射抗扰度的测试方法及系统

技术领域

本发明主要涉及电子仪器的测试技术领域，尤其涉及一种电子设备的电磁辐射抗扰度的测试方法及系统。

背景技术

电磁兼容性(EMC)是用于评价电子设备性能的重要指标。通常，EMC包括两个方面的要求：一方面是指设备在正常运行过程中对所在环境产生的电磁干扰不能超过一定的限值；另一方面是设备对所在环境中存在的电磁干扰具有一定程度的抗扰度，即电磁敏感性。

为了对电子设备的电磁敏感性进行测试和分析，通常采用无线电抗扰度测试分析(Radiated radio-frequency electromagnetic field immunity test)的手段，简称RS测试。RS测试具有相应的国际标准(IEC 61000-4-3)和国标(GB/T17626.3)。在执行RS测试时，测试人员通过摄像头观察被测试设备，查看被测设备的工作状态来判断其在干扰情况下是否正常工作。这种方法具有以下的缺点：

(1)依赖于测试人员的主观性和积极性，容易造成测试人员的疲劳，消耗人力。通常一次完整的RS测试需要持续几个小时，测试人员需要一直保持精神高度集中的状态，并且手动记录每一个频率点对应的被测设备的工作状态，对测试人员来说是一个极大的挑战；

(2)无法追溯以往的客观数据记录，数据难以有效利用。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种自动测试电子设备的电磁辐射抗扰度的测试方法及测试系统。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种电子设备的电磁辐射抗扰度的测试方法，其特征在于，包括：向电子设备施加电磁干扰信号，所述电磁干扰信号具有由多个第一干扰频率组成的第一干扰频率序列，所述多个第一干扰频率在一预设频率范围内以预设步长逐步增大或减小；根据一时间序列记录所述电子设备在受到所述电磁干扰信号的干扰时的工作状态，所述时间序列包括多个记录时刻，所述工作状态和所述记录时刻相对应；以及建立所述第一干扰频率序列和所述工作状态之间的第一对应关系。

在本发明一实施例中，建立所述第一干扰频率序列和所述工作状态之间的第一对应关系的步骤包括：根据所述时间序列重组所述第一干扰频率序列获得第二干扰频率序列，所述第二干扰频率序列包括多个第二干扰频率，使所述多个第二干扰频率与所述多个记录时刻一一对应；以及将所述多个第二干扰频率与所述多个工作状态之间的第二对应关系作为所述第一对应关系。

在本发明一实施例中，所述时间序列中包括N个记录时刻，所述第一干扰频率序列中包括M个所述第一干扰频率，所述第二干扰频率序列中包括N个所述第二干扰频率，其中M和N都是大于等于1的正整数，根据所述时间序列重组所述第一干扰频率序列获得第二干扰频率序列的步骤包括：获得所述时间序列的开始时刻和结束时刻，计算所述结束时刻与所述开始时刻的差值，将所述差值除以M-1获得一比率；获得所述第一干扰频率序列的第一频率索引，所述第一频率索引包括从1到M的M个正整数，每个所述第一频率索引对应于一个所述第一干扰频率；将所述时间序列除以所述比率并取整得到第二频率索引，每个所述记录时刻对应于一个所述第二频率索引；以及根据所述第二频率索引为每个所述工作状态分配一个第二干扰频率，所述第二干扰频率等于所述第二频率索引所对应的第一干扰频率。

在本发明一实施例中，M小于N。

在本发明一实施例中，以图表形式和/或文本形式呈现所述第一对应关系。

本发明为解决上述技术问题还提出一种电子设备的电磁辐射抗扰度的测试系统，其特征在于，包括：测试设备，配置为向电子设备施加电磁干扰信号，所述电磁干扰信号具有由多个第一干扰频率组成的第一干扰频率序列，所述多个第一干扰频率在一预设频率范围内以预设步长逐步增大或减小；电子设备，配置为将所述电子设备的工作状态发送至控制器；以及控制器，配置为根据一时间序列接收和记录所述电子设备在受到所述电磁干扰信号的干扰时的工作状态，所述时间序列包括多个记录时刻，所述工作状态和所述记录时刻相对应，以及建立所述第一干扰频率序列和所述工作状态之间的第一对应关系。

在本发明一实施例中，所述控制器还配置为，所述建立所述第一干扰频率序列和所述工作状态之间的第一对应关系的步骤包括：根据所述时间序列重组所述第一干扰频率序列获得第二干扰频率序列，所述第二干扰频率序列包括多个第二干扰频率，使所述多个第二干扰频率与所述多个记录时刻一一对应；以及将所述多个第二干扰频率与所述多个工作状态之间的第二对应关系作为所述第一对应关系。

在本发明一实施例中，M小于N。

在本发明一实施例中，所述控制器还配置为以图表形式和/或文本形式呈现所述第一对应关系。

根据本发明的测试方法以及测试系统，可以自动建立电磁干扰信号的频率与被测电子设备的工作状态之间的对应关系，有助于用户提高对电子设备性能的测试效率。并且可以通过存储测试过程中的所有数据，确保数据可追溯性，便于对数据进行各种分析和比对，从中获得更丰富的有用信息。

附图说明

包括附图是为提供对本申请进一步的理解，它们被收录并构成本申请的一部分，附图示出了本申请的实施例，并与本说明书一起起到解释本发明原理的作用。附图中：

图1是本发明一实施例的电子设备的电磁辐射抗扰度的测试方法的示例性流程图；

图2是本发明一实施例的测试方法用图表示第一对应关系的示例；

图3是本发明一实施例的电子设备的电磁辐射抗扰度的测试系统的框图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本申请的实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些示例或实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图将本申请应用于其他类似情景。除非从语言环境中显而易见或另做说明，图中相同标号代表相同结构或操作。

如本申请和权利要求书中所示，除非上下文明确提示例外情形，“一”、“一个”、“一种”和/或“该”等词并非特指单数，也可包括复数。一般说来，术语“包括”与“包含”仅提示包括已明确标识的步骤和元素，而这些步骤和元素不构成一个排它性的罗列，方法或者设备也可能包含其他的步骤或元素。

除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本申请的范围。同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

在本申请的描述中，需要理解的是，方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，在未作相反说明的情况下，这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请保护范围的限制；方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。

为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

此外，需要说明的是，使用“第一”、“第二”等词语来限定零部件，仅仅是为了便于对相应零部件进行区别，如没有另行声明，上述词语并没有特殊含义，因此不能理解为对本申请保护范围的限制。此外，尽管本申请中所使用的术语是从公知公用的术语中选择的，但是本申请说明书中所提及的一些术语可能是申请人按他或她的判断来选择的，其详细含义在本文的描述的相关部分中说明。此外，要求不仅仅通过所使用的实际术语，而是还要通过每个术语所蕴含的意义来理解本申请。

本申请中使用了流程图用来说明根据本申请的实施例的系统所执行的操作。应当理解的是，前面或下面操作不一定按照顺序来精确地执行。相反，可以按照倒序或同时处理各种步骤。同时，或将其他操作添加到这些过程中，或从这些过程移除某一步或数步操作。

图1是本发明一实施例的电子设备的电磁辐射抗扰度的测试方法的示例性流程图。参考图1所示，该实施例的测试方法包括以下步骤：

步骤S110：向电子设备施加电磁干扰信号，电磁干扰信号具有由多个第一干扰频率组成的第一干扰频率序列，多个第一干扰频率在一预设频率范围内以预设步长逐步增大或减小；

步骤S120：根据一时间序列记录电子设备在受到电磁干扰信号的干扰时的工作状态，时间序列包括多个记录时刻，工作状态和记录时刻一一对应；以及

步骤S130：建立第一干扰频率序列和工作状态之间的第一对应关系。

以下详细说明上述的步骤S110-S130。

在步骤S110中，该电子设备是准备进行RS测试的电子设备。根据国际标准、国家标准等的规定，结合实际需要，向电子设备施加电磁干扰信号S。该电磁干扰信号S具有由多个第一干扰频率f_Index1组成的第一干扰频率序列。该多个第一干扰频率f_Index1在一预设频率范围内以预设步长逐步增大或减小。

本发明对第一干扰频率序列中的第一干扰频率的个数不做限制，对预设步长的大小也不做限制。根据法规要求，预设步长是前一个频率的1％。也就是说，如果用图表示该第一干扰频率序列，其为按照一定的斜率逐渐增大或减小的直线。

在一些实施例中，预设频率范围为80MHz至2.7GHz。

在进行RS测试时，还可以设置所施加的电磁干扰信号的场强。在一些实施例中，场强包含1v/m,3v/m,10v/m,30v/m等多个不同的场强。在进行RS测试时，在某一固定场强下，向电子设备施加电磁干扰信号S，依次向电子设备施加多个第一干扰频率。可以按照频率增大或减小的顺序逐个施加第一干扰频率。

本发明对于每次施加某一第一干扰频率的持续时长不做限制。

在步骤S120中，根据一时间序列t记录电子设备在受到电磁干扰信号的干扰时的工作状态，时间序列t包括多个记录时刻t₁、t₂、t₃…，工作状态a₁、a₂、a₃…和记录时刻t₁、t₂、t₃…一一对应。

本发明对时间序列t的长度不做限制，对时间序列t中的记录时刻t₁、t₂、t₃…的个数也不做限制。记录时刻t₁、t₂、t₃…之间的间隔可以是相等的，也可以是不等的。

在一些实施例中，记录时刻t₁、t₂、t₃…之间的间隔小于电子设备的工作状态的变化周期。可以理解，假设电子设备的工作状态的变化周期为T_work，则每隔T_work的时长，电子设备的工作状态就会发生变化。则记录该电子设备的工作状态的记录时刻之间的间隔应小于该变化周期T_work才能保证记录到电子设备的每次变化。

电子设备的工作状态可以不是按照某一固定的变化周期T_work来变化的，也就是说该变化周期T_work是变化的，那么记录时刻t₁、t₂、t₃…之间的间隔应小于电子设备的工作状态的变化周期T_work中的最小值。

在一些实施例中，该电子设备包括称重传感器、电化学仪表等。对于称重传感器来说，其工作状态可以以其称重数据来表示。当称重传感器的工作状态稳定时，其称重数据会保持稳定。在受到电磁干扰时，可能会使称重数据发生波动，则该波动就表示了称重传感器的工作状态的变化，可以用来评估该称重传感器的抗电磁干扰性能。同理，对于电化学仪表来说，其工作状态可以以其所测量的pH值来表示，电化学仪表直接获得的测量值为电压值，单位通常为mV，该电压值对应于pH值。

为了便于理解，本说明书以电子设备为电化学仪表为例进行说明。

在步骤S110中，以第一干扰频率序列中的第一干扰频率以预设步长逐步增大为例进行说明。

表一是一第一干扰频率序列的示例。在该示例中，第一干扰频率的预设频率范围是80-90.16MHz。预设步长为前一频率的1％。

在表一中，其第一列为第一频率索引Index1，也即对应于每个第一干扰频率的序号，包括从1至13共13个序号。表一的第二列为第一频率索引Index1对应的第一干扰频率，单位为MHz。

在该实施例中，第一干扰频率序列中包括13个第一干扰频率{f₁,f₂,…,f₁₃}。其中所示的第13个第一干扰频率f₁₃＝90.16MHz可以是预设的截止频率点。在一些情况下，如果以第12个第一干扰频率f₁₂乘以1.01倍所获得的频率可能会超出截止频率点，因此令第13个第一干扰频率f₁₃等于截止频率点的频率。

表一：

第一频率索引Index1	第一干扰频率MHz
		1	80
2	80.8
		3	81.608
4	82.42408
		5	83.24832
6	84.0808
		7	84.92161
8	85.77083
		9	86.62854
10	87.49482
		11	88.36977
12	89.25347
		13	90.16

在步骤S120中，所记录到电子设备的工作状态a₁、a₂、a₃…和记录时刻t₁、t₂、t₃…是一一对应的。表二以电子设备为电化学仪表为例，列出了电化学仪表在60个记录时刻对应的60个工作状态。

如表二所示，其中第一列为序号n，表示记录时刻t的序号。n是从1开始的正整数，n＝1：N，其中N表示记录时刻的总数量。在表二中，N＝60。表二中的第二列为记录时刻t_n，表示第n个记录时刻，以秒(S)为单位。表二中的第三列为工作状态a_n，表示对应于某一记录时刻的电子设备的工作状态。在该示例中，工作状态a_n对应于电化学仪表所测量的pH值，单位为毫伏mV。

表二：记录时刻t_n与对应的工作状态a_n示例

在步骤S130，建立第一干扰频率序列和工作状态之间的第一对应关系。

可以理解，表二所示的记录时刻t_n可以提供在时域上电子设备的工作状态的变化。然而，并不能直接得出干扰频率和电子设备的工作状态之间的对应关系，而该对应关系是进行电子设备性能评估的重要指标。因此需要建立第一干扰频率与工作状态之间的第一对应关系。

本发明对于如何建立该第一对应关系的具体方法不做限制。

在一些实施例中，建立第一干扰频率序列和工作状态之间的第一对应关系的步骤包括以下步骤：

步骤S210：根据时间序列t重组第一干扰频率序列获得第二干扰频率序列，第二干扰频率序列包括多个第二干扰频率，使多个第二干扰频率与多个记录时刻一一对应。

步骤S220：将多个第二干扰频率与多个工作状态之间的第二对应关系作为第一对应关系。

具体地，如表一和表二所示的实施例，时间序列t中包括60个记录时刻以及60个工作状态，而第一干扰频率序列中只包括13个第一干扰频率，并不能直接将第一干扰频率与工作状态相对应，而是需要对第一干扰频率序列进行重组，使其包括60个第二干扰频率，从而使第二干扰频率与记录时刻一一对应，从而也与工作状态一一对应。

本发明对于如何根据时间序列t重组第一干扰频率序列的方法不做限制。

在一些实施例中，设时间序列t中包括N个记录时刻，第一干扰频率序列中包括M个第一干扰频率，第二干扰频率序列中包括N个第二干扰频率，其中M和N都是大于等于1的正整数。步骤S210中的根据时间序列t重组第一干扰频率序列获得第二干扰频率序列的步骤包括：

步骤S212：获得时间序列的开始时刻和结束时刻，计算结束时刻与开始时刻的差值，将述差值除以M-1获得一比率。

根据表二所示的示例，M＝13。时间序列t的开始时刻t_start＝0.00S，结束时刻t_end＝59.56S。采用下面的公式计算比率η：

步骤S214：获得第一干扰频率序列的第一频率索引，第一频率索引包括从1到M的M个正整数，每个第一频率索引对应于一个第一干扰频率。

根据表一所示的示例，第一频率索引Index1如表一中的第一列所示，包括从1到13共13个第一频率索引Index1。

步骤S216：将时间序列除以比率并取整得到第二频率索引，每个记录时刻对应于一个第二频率索引。

下面的表三是在表一的基础上增加了第四列，即第二频率索引Index2。将时间序列t中的每个记录时刻t_n除以上述的比率η，并对其结果取整，可以获得第二频率索引Index2。

表三：

根据表三所示，第二频率索引Index2与记录时刻t_n一一对应，同时也与工作状态a_n一一对应。

步骤S218：根据第二频率索引为每个工作状态分配一个第二干扰频率，第二干扰频率等于第二频率索引所对应的第一干扰频率。

下面的表四是在表三的基础上增加了第五列，即第二干扰频率。对比表一和表四，第二干扰频率f_Index2的数值等于第二频率索引Index2所对应的第一干扰频率f_Index1。例如，工作状态a₁-a₅对应的第二频率索引Index2都是1，而第一频率索引Index1＝1的第一干扰频率f₁＝80.00MHz，则该5个第二干扰频率都是80.00MHz，依此类推。

表四：

根据上述的步骤可以得到60个第二干扰频率与60个工作状态a_n之间的第二对应关系，将该第二对应关系作为步骤S130中所要获得的第一对应关系。

在一些实施例中，上述第一干扰频率序列中的第一干扰频率的个数M小于记录时刻的个数N。

在一些实施例中，本发明的测试方法以图表形式和/或文本形式呈现步骤S130中所获得的第一对应关系。

图2是本发明一实施例的测试方法用图表示第一对应关系的示例。参考图2所示，其中横轴为频率，单位是MHz；纵轴为pH值，单位是mV。图2所示为电子设备是电化学仪表的实施例，在坐标系中用雪花形状的点表示pH值数据。

根据本发明的测试方法，可以获得电磁干扰信号的干扰频率与电化学仪表数据之间的第一对应关系。如图2所示，该电子设备在干扰频率处于80-90.16MHz的范围内，工作状态具有向上下波动的现象。

通过采用如图2所示的图标形式和/或文本形式来呈现干扰频率与工作状态之间的对应关系，可以使用户对RS测试的结果一目了然，有助于用户提高对电子设备性能的测试效率。

图3是本发明一实施例的电子设备的电磁辐射抗扰度的测试系统的框图。参考图3所示，该实施例的测试系统300包括测试设备310、电子设备320和控制器330。其中，测试设备310配置为向电子设备320施加电磁干扰信号，电磁干扰信号具有由多个第一干扰频率组成的第一干扰频率序列，多个第一干扰频率在一预设频率范围内以预设步长逐步增大或减小；电子设备320配置为将电子设备310的工作状态发送至控制器330；控制器330配置为根据一时间序列接收和记录电子设备320在受到电磁干扰信号的干扰时的工作状态，时间序列包括多个记录时刻，工作状态和记录时刻一一对应，以及第一干扰频率序列和工作状态之间的第一对应关系。

本发明的测试方法可以由该测试系统300来实施，本说明书关于测试方法的说明内容都可以用于说明本发明的测试系统300，相同的内容将不再重复。

在一些实施例中，测试系统300中的电子设备320通过自身的通信模块与控制器330进行数据通信。电子设备320通过通信模块将自身的工作状态以一定的通信周期发送至控制器330，控制器330对所获得的工作状态进行存储和分析，获得干扰频率和工作状态的对应关系。

在一些实施例中，测试系统300中的测试设备310也具有通信模块，并通过该通信模块将干扰频率发送至控制器330。

在一些实施例中，控制器330还配置为，建立第一干扰频率序列和工作状态之间的第一对应关系的步骤包括：

步骤S310：根据时间序列重组第一干扰频率序列获得第二干扰频率序列，第二干扰频率序列包括多个第二干扰频率，使多个第二干扰频率与多个记录时刻一一对应；以及

步骤S320：将多个第二干扰频率与多个工作状态之间的第二对应关系作为第一对应关系。

在一些实施例中，时间序列中包括N个记录时刻，第一干扰频率序列中包括M个第一干扰频率，第二干扰频率序列中包括N个第二干扰频率，其中M和N都是大于等于1的正整数，控制器还配置为，执行上述的步骤S310中根据时间序列重组第一干扰频率序列获得第二干扰频率序列的步骤包括：

步骤S312：获得时间序列的开始时刻和结束时刻，计算结束时刻与开始时刻的差值，将差值除以M-1获得一比率；

步骤S314：获得第一干扰频率序列的第一频率索引，第一频率索引包括从1到M的M个正整数，每个第一频率索引对应于一个第一干扰频率；

步骤S316：将时间序列除以比率并取整得到第二频率索引，每个记录时刻对应于一个第二频率索引；以及

步骤S318：根据第二频率索引为每个工作状态分配一个第二干扰频率，第二干扰频率等于第二频率索引所对应的第一干扰频率。

在一些实施例中，M小于N。

在一些实施例中，控制器330还配置为以图表形式和/或文本形式呈现第一对应关系。在这些实施例中，测试系统300还可以包括显示装置，该显示装置与控制器330相连接，控制器330发送所要显示的内容至该显示装置。

在一些实施例中，电子设备320包括称重传感器、电化学仪表等。

上文已对基本概念做了描述，显然，对于本领域技术人员来说，上述发明披露仅仅作为示例，而并不构成对本申请的限定。虽然此处并没有明确说明，本领域技术人员可能会对本申请进行各种修改、改进和修正。该类修改、改进和修正在本申请中被建议，所以该类修改、改进、修正仍属于本申请示范实施例的精神和范围。

同时，本申请使用了特定词语来描述本申请的实施例。如“一个实施例”、“一实施例”、和/或“一些实施例”意指与本申请至少一个实施例相关的某一特征、结构或特点。因此，应强调并注意的是，本说明书中在不同位置两次或多次提及的“一实施例”或“一个实施例”或“一替代性实施例”并不一定是指同一实施例。此外，本申请的一个或多个实施例中的某些特征、结构或特点可以进行适当的组合。

本申请的一些方面可以完全由硬件执行、可以完全由软件(包括固件、常驻软件、微码等)执行、也可以由硬件和软件组合执行。以上硬件或软件均可被称为“数据块”、“模块”、“引擎”、“单元”、“组件”或“系统”。处理器可以是一个或多个专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理器件(DAPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、处理器、控制器、微控制器、微处理器或者其组合。此外，本申请的各方面可能表现为位于一个或多个计算机可读介质中的计算机产品，该产品包括计算机可读程序编码。例如，计算机可读介质可包括，但不限于，磁性存储设备(例如，硬盘、软盘、磁带……)、光盘(例如，压缩盘CD、数字多功能盘DVD……)、智能卡以及闪存设备(例如，卡、棒、键驱动器……)。

计算机可读介质可能包含一个内含有计算机程序编码的传播数据信号，例如在基带上或作为载波的一部分。该传播信号可能有多种表现形式，包括电磁形式、光形式等等、或合适的组合形式。计算机可读介质可以是除计算机可读存储介质之外的任何计算机可读介质，该介质可以通过连接至一个指令执行系统、装置或设备以实现通讯、传播或传输供使用的程序。位于计算机可读介质上的程序编码可以通过任何合适的介质进行传播，包括无线电、电缆、光纤电缆、射频信号、或类似介质、或任何上述介质的组合。

同理，应当注意的是，为了简化本申请披露的表述，从而帮助对一个或多个发明实施例的理解，前文对本申请实施例的描述中，有时会将多种特征归并至一个实施例、附图或对其的描述中。但是，这种披露方法并不意味着本申请对象所需要的特征比权利要求中提及的特征多。实际上，实施例的特征要少于上述披露的单个实施例的全部特征。

一些实施例中使用了描述成分、属性数量的数字，应当理解的是，此类用于实施例描述的数字，在一些示例中使用了修饰词“大约”、“近似”或“大体上”来修饰。除非另外说明，“大约”、“近似”或“大体上”表明所述数字允许有±20％的变化。相应地，在一些实施例中，说明书和权利要求中使用的数值参数均为近似值，该近似值根据个别实施例所需特点可以发生改变。在一些实施例中，数值参数应考虑规定的有效数位并采用一般位数保留的方法。尽管本申请一些实施例中用于确认其范围广度的数值域和参数为近似值，在具体实施例中，此类数值的设定在可行范围内尽可能精确。

Claims

1.一种电子设备的电磁辐射抗扰度的测试方法，其特征在于，包括：

向电子设备施加电磁干扰信号，所述电磁干扰信号具有由多个第一干扰频率组成的第一干扰频率序列，所述多个第一干扰频率在一预设频率范围内以预设步长逐步增大或减小；

根据一时间序列记录所述电子设备在受到所述电磁干扰信号的干扰时的工作状态，所述时间序列包括多个记录时刻，所述工作状态和所述记录时刻一一对应；以及

建立所述第一干扰频率序列和所述工作状态之间的第一对应关系。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，建立所述第一干扰频率序列和所述工作状态之间的第一对应关系的步骤包括：

根据所述时间序列重组所述第一干扰频率序列获得第二干扰频率序列，所述第二干扰频率序列包括多个第二干扰频率，使所述多个第二干扰频率与所述多个记录时刻一一对应；以及

将所述多个第二干扰频率与所述多个工作状态之间的第二对应关系作为所述第一对应关系。

3.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述时间序列中包括N个记录时刻，所述第一干扰频率序列中包括M个所述第一干扰频率，所述第二干扰频率序列中包括N个所述第二干扰频率，其中M和N都是大于等于1的正整数，根据所述时间序列重组所述第一干扰频率序列获得第二干扰频率序列的步骤包括：

获得所述时间序列的开始时刻和结束时刻，计算所述结束时刻与所述开始时刻的差值，将所述差值除以M-1获得一比率；

获得所述第一干扰频率序列的第一频率索引，所述第一频率索引包括从1到M的M个正整数，每个所述第一频率索引对应于一个所述第一干扰频率；

将所述时间序列除以所述比率并取整得到第二频率索引，每个所述记录时刻对应于一个所述第二频率索引；以及

根据所述第二频率索引为每个所述工作状态分配一个第二干扰频率，所述第二干扰频率等于所述第二频率索引所对应的第一干扰频率。

4.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，M小于N。

5.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，以图表形式和/或文本形式呈现所述第一对应关系。

6.一种电子设备的电磁辐射抗扰度的测试系统，其特征在于，包括：

测试设备，配置为向电子设备施加电磁干扰信号，所述电磁干扰信号具有由多个第一干扰频率组成的第一干扰频率序列，所述多个第一干扰频率在一预设频率范围内以预设步长逐步增大或减小；

电子设备，配置为将所述电子设备的工作状态发送至控制器；以及

控制器，配置为根据一时间序列接收和记录所述电子设备在受到所述电磁干扰信号的干扰时的工作状态，所述时间序列包括多个记录时刻，所述工作状态和所述记录时刻一一对应，以及建立所述第一干扰频率序列和所述工作状态之间的第一对应关系。

7.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述控制器还配置为，所述建立所述第一干扰频率序列和所述工作状态之间的第一对应关系的步骤包括：

8.如权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述时间序列中包括N个记录时刻，所述第一干扰频率序列中包括M个所述第一干扰频率，所述第二干扰频率序列中包括N个所述第二干扰频率，其中M和N都是大于等于1的正整数，根据所述时间序列重组所述第一干扰频率序列获得第二干扰频率序列的步骤包括：

9.如权利要求8所述的测试系统，其特征在于，M小于N。

10.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述控制器还配置为以图表形式和/或文本形式呈现所述第一对应关系。