CN115574685A - 一种米粒粒长检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种米粒粒长检测方法，通过米粒长度检测装置进行检测，米粒长度检测装置包括面板，面板上设有米粒粒宽定挡条、米粒粒长定挡板、十块米粒粒宽动挡板和十块米粒粒长动挡板，米粒粒宽定挡条同米粒粒长定挡板垂直，米粒粒宽动挡板平行于米粒粒宽定挡条，米粒粒长动挡板平行于米粒粒长定挡板，米粒粒长动挡板同面板之间设有米粒粒长动挡板状态保持机构，米粒粒宽动挡板同面板之间设有平行度保持机构，米粒粒宽动挡板、米粒粒长动挡板、米粒粒宽定挡条和米粒粒长定挡板之间围成十个米粒储存格。本发明具有能够准确地检测出米粒粒长的优点，解决了现有的大米直接头尾对接在一起来检测粒长检测精度低的问题。

Description

一种米粒粒长检测方法

技术领域

本发明涉及食品检测技术领域，尤其涉及一种米粒粒长检测方法。

背景技术

在对食品中的大米及大米粉的检测过程中，需要对米粒的粒长进行检测。现有的检测米粒粒长的方法为，将十颗大米按照头对头，尾对尾，不重叠，不留空隙的方式，紧靠直尺摆成一行与面板上，然后测量米粒排成的米粒行的长度，长度除以十即为米粒长度(米粒长度方向的两端称为头端和尾端)。由于米粒的宽度方向会有差异的，米粒收尾不会产生错开，此时只能够通过眼睛目测估算头尾是否为处于相当于抵接在一起(即目测首尾是否位于同一个面上，认为位于一个面上则相当于抵接在一起了)，而且米粒非圆柱体，同直尺靠拢的过程中推的力不平衡会导致摆动从而使得米粒的长度变化、该变化会导致不同的米粒件的长度方向线存在夹角也即不平行，以上种种会导致检测精度差也即误差大。

发明内容

本发明旨在提供一种能够准确地检测出米粒粒长的米粒粒长检测方法，解决了现有的大米直接头尾对接在一起来检测粒长检测精度低的问题。

以上技术问题是通过以下技术方案解决的：一种米粒粒长检测方法，其特征在于，通过米粒长度检测装置进行检测，米粒长度检测装置包括面板，所述面板上设有米粒粒宽定挡条、米粒粒长定挡板、十块米粒粒宽动挡板和十块米粒粒长动挡板，所述米粒粒宽定挡条同米粒粒长定挡板垂直，米粒粒宽动挡板平行于米粒粒宽定挡条，米粒粒长动挡板平行于米粒粒长定挡板，米粒粒长动挡板沿米粒粒宽定挡条的延伸方向分布，米粒粒宽动挡板沿米粒粒宽定挡条的延伸方向分布，相邻的两块米粒粒长动挡板之间有且仅有一块米粒粒宽动挡板，米粒粒长动挡板同面板之间设有使米粒粒长动挡板同米粒粒长定挡板保持平行和使米粒粒长动挡板保持垂直于面板状态的米粒粒长动挡板状态保持机构，米粒粒宽动挡板同面板之间设有使米粒粒宽动挡板同米粒粒宽定挡条保持平行的平行度保持机构，离米粒粒长定挡板最近的米粒粒宽动挡板、离米粒粒长定挡板最近的米粒粒长动挡板、米粒粒宽定挡条和米粒粒长定挡板之间围成第一米粒储存格，米粒粒宽定挡条、相邻的两块米粒粒长动挡板和位于相邻的两块米粒粒长动挡板之间的米粒粒宽动挡板围出第二米粒储存格，米粒粒长动挡板构成沿米粒粒宽定挡条延伸方向的两侧表面、米粒粒宽动挡板朝向米粒粒宽定挡条一次的表面、米粒粒宽定挡条朝向米粒粒宽动挡板一侧的表面和米粒粒长定挡板朝向米粒粒长动挡板一次的表面都为竖平面，面板的上表面为水平面；进行米粒粒长检测的过程为：在第一米粒储存格内以长度方向同米粒粒长定挡板的延伸方向相同的状态存放一颗米粒，在每一个第二米粒储存格内各以长度方向同米粒粒长定挡板的延伸方向相同的状态存放一颗米粒；移动十个米粒粒宽动挡板到所述十粒米粒的宽度方向的一端同米粒粒宽定挡条抵接在一起、另一端一一对应地同十块米粒粒宽动挡板一一对应地抵接在一起；移动十个米粒粒长动挡板到：第一米粒储存格中的米粒的长度方向的一端同米粒粒长定挡板抵接在一起、另一端同离米粒粒长定挡板最近的米粒粒长动挡板抵接在一起，第二米粒储存格中的米粒的长度方向的两端一一对应地同相邻的两块米粒粒长动挡板抵接在一起；测量离米粒粒长定挡板最远的米粒粒长动挡板距离米粒粒长定挡板之间的间隔距离L1,米粒的粒长L＝(L1-L2)/10，L2为除离米粒粒长定挡板最远的米粒粒长动挡板外的九个米粒粒长动挡板的厚度之和。通过米粒粒宽动挡板沿垂直于米粒长度的方向推米粒实现同米粒粒宽定挡条靠拢，从而能够使得所有的米粒的长度方向线为平行的，通过米粒粒长动挡板沿粒长方向推米粒到米粒同米粒粒长底板抵接在一起来间接判断相邻的米粒是否头尾抵接在一起，判断准确性好。以上方案从而起到提高米粒长度测量精度的作用。

作为优选，还包括横向刻度尺，离米粒粒长定挡板最远的米粒粒长定挡板上设有指示针，指示针指向所述横向刻度尺上的刻度，横向刻度尺同指示针对齐的刻度为米粒的粒长。进行了预算刻度标识处理，能够直接获知米粒长度，测量时的方便性好。

作为优选，所述平行度保持机构包括设置在面板上的两条纵向导向滑槽和设置在米粒粒宽动挡板上的两个米粒粒宽动挡板部导向滑块，纵向导向滑槽垂直于米粒粒宽定挡条，两个所述米粒粒宽动挡板部导向滑块一一对应地滑动连接在两条所述纵向导向滑槽内；移动米粒粒宽动挡板的过程中米粒粒宽动挡板部导向滑块在纵向导向滑槽内滑动而使得米粒粒宽动挡板沿米粒长度方向两端的位移量相等。

作为优选，所述米粒粒宽动挡板同面板之间设有驱动米粒粒宽动挡板朝向米粒粒宽定挡条移动的弹簧。无需人工固定，能够使得米粒粒宽动挡板保持抵接在米粒上的状态。

作为优选，所述米粒粒长动挡板状态保持机构包括设置在面板上的横向导向滑槽、设置在米粒粒宽定挡条上的横向延伸的长条通孔、设置在米粒粒长动挡板下侧面且滑动连接在横向导向滑槽内的下导向滑块和设置在米粒粒长动挡板端面且滑动连接在长条通孔内的前导向滑块，所述前导向滑块设有滑动连接米粒粒长定挡条远离米粒粒宽动挡板一侧表面上的钩头，长条通孔沿纵向贯通米粒粒宽定挡条，横向导向滑槽同长条通孔平行，所有的米粒粒长动挡板的米粒粒长动挡板状态保持机构公用长条孔和横向导向滑槽；移动米粒粒长动挡板的过程中能够使得米粒粒长动挡板沿米粒宽度方向两端的位移量和上下两端的位移量相等。

作为优选，横向导向滑槽沿上下方向贯通面板。能够避免横向导向滑槽内积尘而上顶米粒粒长动挡板产生扭曲前导向滑块的力，从而使得前导向滑块强度小时也不容易断裂。

作为优选，所述米粒粒长动挡板同面板之间设有间隙。移动米粒粒长动挡板时不会损坏面光源。

作为优选，所述面板上设有朝上照射的光源板，所述第一米粒储存格和第二米粒储存格都位于所述光源板的上方。能够方便地观察米粒同挡板之间是否抵接在一起。

作为优选，所述米粒粒长定挡板位于第一米粒储存格一侧的表面、米粒粒长动挡板位于第一米粒储存格一侧的表面和米粒粒长动挡板位于第二米粒储存格一侧的表面都设有检测时同米粒接触的镜子层；判断米粒同米粒粒长动挡板和米粒粒长定挡板是否接触时，通过观察米粒在所述镜子层内的米粒像同米粒是否接触来进行判断，位于第一米格内的米粒于米粒粒长定挡板上的镜面层内的米粒像同米粒接触时则表示米粒同米粒粒长定挡板接触，位于第二米格内的米粒于米粒粒长动挡板上的镜面层内的米粒像接触时则表示米粒同米粒粒长动挡板接触。朝向镜子里观察能够2倍扩大米粒同挡板之间的间隙，从而能够提高判断米粒同挡板是否抵接在一起时的准确性。

作为优选，所述米粒粒长定挡板同米粒粒宽定挡条连接在一起。所述横向刻度尺位移米粒粒宽定挡条的上端面上。

发明具有以下有益效果：检测出的米粒粒长准确性好。

附图说明

图1为大米检测装置的示意图；

图2为图1的A处的局部放大示意图；

图3为图1的B—B剖视示意图。

图中：面板1、米粒粒宽定挡条2、米粒粒长定挡板3、米粒粒宽动挡板4、米粒粒长动挡板5、米粒粒长动挡板状态保持机构6、平行度保持机构7、横向导向滑槽8、长条通孔9、下导向滑块10、前导向滑块11、钩头12、纵向导向滑槽13、米粒粒宽动挡板部导向滑块14、弹簧15、连接块16、第一米粒储存格17、第二米粒储存格18、横向刻度尺19、离米粒粒长定挡板最远的米粒粒长定挡板20、指示针21、光源板22、米粒23、间隙24。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参见图1到图3，一种米粒粒长检测方法，通过米粒长度检测装置进行检测，米粒长度检测装置包括面板1。面板上设有米粒粒宽定挡条2、米粒粒长定挡板3、十块米粒粒宽动挡板4和十块米粒粒长动挡板5。米粒粒宽定挡条同米粒粒长定挡板垂直，米粒粒长定挡板同米粒粒宽定挡条连接在一起，米粒粒宽动挡板平行于米粒粒宽定挡条，米粒粒长动挡板平行于米粒粒长定挡板，米粒粒长动挡板沿米粒粒宽定挡条的延伸方向分布于一条直线上。米粒粒宽动挡板沿米粒粒宽定挡条的延伸方向分布于一条直线上。相邻的两块米粒粒长动挡板之间有且仅有一块米粒粒宽动挡板，米粒粒长动挡板同面板之间设有使米粒粒长动挡板同米粒粒长定挡板保持平行和使米粒粒长动挡板保持垂直于面板状态的米粒粒长动挡板状态保持机构6。米粒粒宽动挡板同面板之间设有使米粒粒宽动挡板同米粒粒宽定挡条保持平行的平行度保持机构7。米粒粒长动挡板状态保持机构包括设置在面板上的横向导向滑槽8、设置在米粒粒宽定挡条上的横向延伸的长条通孔9、设置在米粒粒长动挡板下侧面且滑动连接在横向导向滑槽内的下导向滑块10和设置在米粒粒长动挡板端面且滑动连接在长条通孔内的前导向滑块11，前导向滑块设有滑动连接米粒粒长定挡条远离米粒粒宽动挡板一侧表面上的钩头12，长条通孔沿纵向贯通米粒粒宽定挡条，横向导向滑槽同长条通孔平行。所有的米粒粒长动挡板的米粒粒长动挡板状态保持机构公用长条孔和横向导向滑槽。横向导向滑槽沿上下方向贯通面板。米粒粒长动挡板同面板之间设有间隙24。米粒粒长动挡板状态保持机构的设置，使得移动米粒粒长动挡板的过程中能够使得米粒粒长动挡板沿米粒宽度方向两端的位移量和上下两端的位移量相等。平行度保持机构包括设置在面板上的两条纵向导向滑槽13和设置在米粒粒宽动挡板上的两个米粒粒宽动挡板部导向滑块14，纵向导向滑槽垂直于米粒粒宽定挡条，两个米粒粒宽动挡板部导向滑块一一对应地滑动连接在两条所述纵向导向滑槽内；移动米粒粒宽动挡板的过程中米粒粒宽动挡板部导向滑块在纵向导向滑槽内滑动而使得米粒粒宽动挡板沿米粒长度方向两端的位移量相等。米粒粒宽动挡板同面板之间设有驱动米粒粒宽动挡板朝向米粒粒宽定挡条移动的弹簧15，弹簧一端连接在连接面板上的连接块16上。另一条连接在米粒粒宽动挡板远离米粒粒宽定挡条的一次上。离米粒粒长定挡板最近的米粒粒宽动挡板、离米粒粒长定挡板最近的米粒粒长动挡板、米粒粒宽定挡条和米粒粒长定挡板之间围成第一米粒储存格17，米粒粒宽定挡条、相邻的两块米粒粒长动挡板和位于相邻的两块米粒粒长动挡板之间的米粒粒宽动挡板围出第二米粒储存格18，第二米粒储存格共有9个。米粒粒长动挡板和米粒粒长定挡板都垂直于面板。面板上设有横向刻度尺19，刻度尺位移米粒粒宽定挡条的上端面上，离米粒粒长定挡板最远的米粒粒长定挡板20上设有指示针21，指示针指向横向刻度尺上的刻度，横向刻度尺同指示针对齐的刻度为米粒的粒长。面板上设有朝上照射的光源板22，第一米粒储存格和第二米粒储存格都位于所述光源板的上方。米粒粒长定挡板位于第一米粒储存格一侧的表面、米粒粒长动挡板位于第一米粒储存格一侧的表面和米粒粒长动挡板位于第二米粒储存格一侧的表面都设有检测时同米粒接触的镜子层。

进行米粒粒长检测的过程为：在第一米粒储存格内以长度方向(图1中的左右方向，也即横向)同米粒粒长定挡板的延伸方向相同的状态存放一颗米粒，在每一个第二米粒储存格内各以长度方向同米粒粒长定挡板的延伸方向相同的状态存放一颗米粒23；移动十个米粒粒宽动挡板到十粒米粒的宽度方向的一端同米粒粒宽定挡条抵接在一起、另一端一一对应地同十块米粒粒宽动挡板一一对应地抵接在一起；移动十个米粒粒长动挡板到：第一米粒储存格中的米粒的长度方向的一端同米粒粒长定挡板抵接在一起、另一端同离米粒粒长定挡板最近的米粒粒长动挡板抵接在一起，第二米粒储存格中的米粒的长度方向的两端一一对应地同相邻的两块米粒粒长动挡板抵接在一起；测量离米粒粒长定挡板最远的米粒粒长动挡板距离米粒粒长定挡板之间的间隔距离L1,米粒的粒长L＝(L1-L2)/10，L2为除离米粒粒长定挡板最远的米粒粒长动挡板外的九个米粒粒长动挡板的厚度之和。本实施例中，直接读取出指针指向的刻度即为米粒的粒长。判断米粒同米粒粒长动挡板和米粒粒长定挡板是否接触时，通过观察米粒在所述镜子层内的米粒像同米粒是否接触来进行判断，位于第一米格内的米粒于米粒粒长定挡板上的镜面层内的米粒像同米粒接触时则表示米粒同米粒粒长定挡板接触，位于第二米格内的米粒于米粒粒长动挡板上的镜面层内的米粒像接触时则表示米粒同米粒粒长动挡板接触。

Claims (10)

1.一种米粒粒长检测方法，其特征在于，通过米粒长度检测装置进行检测，米粒长度检测装置包括面板，所述面板上设有米粒粒宽定挡条、米粒粒长定挡板、十块米粒粒宽动挡板和十块米粒粒长动挡板，所述米粒粒宽定挡条同米粒粒长定挡板垂直，米粒粒宽动挡板平行于米粒粒宽定挡条，米粒粒长动挡板平行于米粒粒长定挡板，米粒粒长动挡板沿米粒粒宽定挡条的延伸方向分布，米粒粒宽动挡板沿米粒粒宽定挡条的延伸方向分布，相邻的两块米粒粒长动挡板之间有且仅有一块米粒粒宽动挡板，米粒粒长动挡板同面板之间设有使米粒粒长动挡板同米粒粒长定挡板保持平行和使米粒粒长动挡板保持垂直于面板状态的米粒粒长动挡板状态保持机构，米粒粒宽动挡板同面板之间设有使米粒粒宽动挡板同米粒粒宽定挡条保持平行的平行度保持机构，离米粒粒长定挡板最近的米粒粒宽动挡板、离米粒粒长定挡板最近的米粒粒长动挡板、米粒粒宽定挡条和米粒粒长定挡板之间围成第一米粒储存格，米粒粒宽定挡条、相邻的两块米粒粒长动挡板和位于相邻的两块米粒粒长动挡板之间的米粒粒宽动挡板围出第二米粒储存格，米粒粒长动挡板沿米粒粒宽定挡条延伸方向的两侧表面、米粒粒宽动挡板朝向米粒粒宽定挡条一侧的表面、米粒粒宽定挡条朝向米粒粒宽动挡板一侧的表面和米粒粒长定挡板朝向米粒粒长动挡板一次的表面都为竖平面，面板的上表面为水平面；进行米粒粒长检测的过程为：在第一米粒储存格内以长度方向同米粒粒长定挡板的延伸方向相同的状态存放一颗米粒，在每一个第二米粒储存格内各以长度方向同米粒粒长定挡板的延伸方向相同的状态存放一颗米粒；移动十个米粒粒宽动挡板到所述十粒米粒的宽度方向的一端同米粒粒宽定挡条抵接在一起、另一端一一对应地同十块米粒粒宽动挡板一一对应地抵接在一起；移动十个米粒粒长动挡板到：第一米粒储存格中的米粒的长度方向的一端同米粒粒长定挡板抵接在一起、另一端同离米粒粒长定挡板最近的米粒粒长动挡板抵接在一起，第二米粒储存格中的米粒的长度方向的两端一一对应地同相邻的两块米粒粒长动挡板抵接在一起；测量离米粒粒长定挡板最远的米粒粒长动挡板距离米粒粒长定挡板之间的间隔距离L1,米粒的粒长L＝(L1-L2)/10，L2为除离米粒粒长定挡板最远的米粒粒长动挡板外的九个米粒粒长动挡板的厚度之和。

2.根据权利要求1所述的一种米粒粒长检测方法，其特征在于，还包括横向刻度尺，离米粒粒长定挡板最远的米粒粒长定挡板上设有指示针，指示针指向所述横向刻度尺上的刻度，横向刻度尺同指示针对齐的刻度为米粒的粒长。

3.根据权利要求1或2所述的一种米粒粒长检测方法，其特征在于，所述平行度保持机构包括设置在面板上的两条纵向导向滑槽和设置在米粒粒宽动挡板上的两个米粒粒宽动挡板部导向滑块，纵向导向滑槽垂直于米粒粒宽定挡条，两个所述米粒粒宽动挡板部导向滑块一一对应地滑动连接在两条所述纵向导向滑槽内。

4.根据权利要求3所述的一种米粒粒长检测方法，其特征在于，所述米粒粒宽动挡板同面板之间设有驱动米粒粒宽动挡板朝向米粒粒宽定挡条移动的弹簧。

5.根据权利要求1或2所述的一种米粒粒长检测方法，其特征在于，所述米粒粒长动挡板状态保持机构包括设置在面板上的横向导向滑槽、设置在米粒粒宽定挡条上的横向延伸的长条通孔、设置在米粒粒长动挡板下侧面且滑动连接在横向导向滑槽内的下导向滑块和设置在米粒粒长动挡板端面且滑动连接在长条通孔内的前导向滑块，所述前导向滑块设有滑动连接米粒粒长定挡条远离米粒粒宽动挡板一侧表面上的钩头，长条通孔沿纵向贯通米粒粒宽定挡条，横向导向滑槽同长条通孔平行，所有的米粒粒长动挡板的米粒粒长动挡板状态保持机构公用长条孔和横向导向滑槽。

6.根据权利要求5所述的一种米粒粒长检测方法，其特征在于，横向导向滑槽沿上下方向贯通面板。

7.根据权利要求5所述的一种米粒粒长检测方法，其特征在于，所述米粒粒长动挡板同面板之间设有间隙。

8.根据权利要求1或2所述的一种米粒粒长检测方法，其特征在于，所述面板上设有朝上照射的光源板，所述第一米粒储存格和第二米粒储存格都位于所述光源板的上方。

9.根据权利要求1或2所述的一种米粒粒长检测方法，其特征在于，所述米粒粒长定挡板位于第一米粒储存格一侧的表面、米粒粒长动挡板位于第一米粒储存格一侧的表面和米粒粒长动挡板位于第二米粒储存格一侧的表面都设有检测时同米粒接触的镜子层；判断米粒同米粒粒长动挡板和米粒粒长定挡板是否接触时，通过观察米粒在所述镜子层内的米粒像同米粒是否接触来进行判断，位于第一米格内的米粒于米粒粒长定挡板上的镜面层内的米粒像同米粒接触时则表示米粒同米粒粒长定挡板接触，位于第二米格内的米粒于米粒粒长动挡板上的镜面层内的米粒像接触时则表示米粒同米粒粒长动挡板接触。

10.根据权利要求1或2所述的一种米粒粒长检测方法，其特征在于，所述米粒粒长定挡板同米粒粒宽定挡条连接在一起。

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