CN115542128A - 一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法 - Google Patents

一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法 Download PDF

Info

Publication number
CN115542128A
CN115542128A CN202211329851.1A CN202211329851A CN115542128A CN 115542128 A CN115542128 A CN 115542128A CN 202211329851 A CN202211329851 A CN 202211329851A CN 115542128 A CN115542128 A CN 115542128A
Authority
CN
China
Prior art keywords
power consumption
evaluation
module
real
integrated circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202211329851.1A
Other languages
English (en)
Inventor
孔金良
范磊
易伟峰
高国青
丁益华
杨介立
郎海龙
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shandong Haoran Electromechanical Device Engineering Co ltd
Huaneng New Energy Co Ltd Shanxi Branch
Original Assignee
Shandong Haoran Electromechanical Device Engineering Co ltd
Huaneng New Energy Co Ltd Shanxi Branch
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shandong Haoran Electromechanical Device Engineering Co ltd, Huaneng New Energy Co Ltd Shanxi Branch filed Critical Shandong Haoran Electromechanical Device Engineering Co ltd
Priority to CN202211329851.1A priority Critical patent/CN115542128A/zh
Publication of CN115542128A publication Critical patent/CN115542128A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R21/00Arrangements for measuring electric power or power factor
    • G01R21/06Arrangements for measuring electric power or power factor by measuring current and voltage

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法,包括评估装置本体,评估装置本体包括类型确定模块、功耗库采集模块、功耗测量模块、功耗测试评估模块、评估方式模块、中心处理模块、结果存储模块和评估报告模块,本发明通过设置类型确定模块,对与评估装置本体连接的数字集成电路状态进行确定,辨别待评估的数字集成电路为运行、待机或者关机状态,并调整对应的评估值,做出对应的评估,得到准确的评估数据;通过设置功耗库采集模块,分别对数字集成电路的电源、工作环境中的温度、风速、电压、电压波形和功率等进行实时采集,评估装置评估范围广得出的数据具有可靠性。

Description

一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法
技术领域
本发明涉及数字集成电路实时功耗测试领域,具体为一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法。
背景技术
随着电子仪器的精密化发展,数字集成电路实时功耗测试技术需要不断发展演进,以满足实际生产需求,数字集成电路从传统的电子元件逐步演变为微小化、精细化的电子元器件,其制作过程更加复杂化、精准化,一般来说,数字集成电路是集成电路设计和制造的核心产业,数字集成电路在提升整体质量和技术水平的同时,还需要加强生产成本的控制,以保证相关企业的经济效益和社会效益,这就需要加强数字集成电路实时功耗测试技术的应用,以实现对各个生产制造环境的有效控制。
数字集成电路实时功耗测试系统是电子测试技术、自动控制电子计算机技术、数字信息化技术等多项技术综合性的技术成果,因此,数字集成电路实时功耗测试系统具有应用速度快、多参数、高精度、多功能等优点,得到广泛的应用,数字集成电路实时功耗测试系统的目的是准确模拟被测电路的实际工作环境,通过相关测试程序对电路进行测试,并确保测试结果的精准性和快速性,通过数字集成电路实时功耗测试系统的一系列测试结果,可以分析和评估实际电路系统的功能和参数,是否满足实际功能系统的要求,总体而言,数字集成电路实时功耗测试系统可以为电路分析和研究提供适当的理论和实践支持,同时,随着集成电路设计和制造技术的不断发展变化,数字集成电路实时功耗测试系统的应用功能也在逐步完善,为了了解数字集成电路实时功耗测试系统的完善进度,人们通常使用数字集成电路实时功耗测试评估装置对数字集成电路实时功耗测试系统进行评估。
但是,传统的数字集成电路实时功耗测试评估装置存在以下缺点:
传统的数字集成电路实时功耗测试评估装置通常采用统一的评估精度去对不同类型的数字集成电路实时功耗测试系统进行评估,导致得到的评估数据不准确。
发明内容
本发明的目的在于提供一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法,以解决上述背景技术中提出的传统的数字集成电路实时功耗测试评估装置通常采用统一的评估精度去对不同类型的数字集成电路实时功耗测试系统进行评估,导致得到的评估数据不准确的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种数字集成电路实时功耗测试评估装置,包括评估装置本体,所述评估装置本体包括类型确定模块、功耗库采集模块、功耗测量模块、功耗测试评估模块、评估方式模块、中心处理模块、结果存储模块和评估报告模块,所述类型确定模块的一侧、功耗库采集模块的一侧、功耗测量模块的一侧、功耗测试评估模块的一侧、评估方式模块的一侧、结果存储模块的一侧和评估报告模块的一侧均通过导线与中心处理模块相邻的一侧连接,评估装置本体对数字集成电路的实时功耗进行评估后做出对应的评估报告。
作为本发明的一种优选技术方案,所述类型确定模块包括待机评估单元、运行评估单元和关机评估单元,对与采集评估装置本体相连的数字集成电路的状态进行确定,判断数字集成电路为待机、运行或者关机状态。
作为本发明的一种优选技术方案,所述功耗库采集模块包括环境温度采集单元、工作电压采集单元、工作频率采集单元、基本单元采集单元和工作功率采集单元,评估装置本体对数字集成电路的环境温度进行采集,数字集成电路的电压和频率进行采集,电压的波形进行显示和功率精度进行采集。
作为本发明的一种优选技术方案,所述功耗测量模块包括实时功耗获取单元、实时功耗调整单元和实时功耗选取单元,功耗测量模块对数字集成电路的实时功耗进行获取,而后对获取的数据进行选取和获取数据的范围进行调整。
作为本发明的一种优选技术方案,所述功耗测试评估模块包括模拟电路功耗单元和数字集成电路功耗单元,对数字集成电路功耗进行评估时同时评估装置本体进行同情况的模拟电路,保证评估装置本体对数字集成电路评估的准确度。
作为本发明的一种优选技术方案,所述评估方式模块包括平行评估单元和多次评估单元,根据实际情况评估装置本体进行因素相同的平行评估或者多次进行数字集成电路功耗评估。
本发明一种数字集成电路实时功耗测试评估装置的评估方法,包括以下步骤:
步骤一、评估装置与数字集成电路相连:评估装置本体通过导线与待评估的数字集成电路相连;
步骤二、类型确定:对待检测的数字集成电路为待机、运行或者关机状态进行确定;
步骤三、设定评估限值:根据数字集成电路的状态分别设定不同的评估限值;
步骤四、实时功耗采集:环境温度采集单元、工作电压采集单元、工作频率采集单元、基本单元采集单元和工作功率采集单元分别对环境温度、电压、频率、基本电路信息和功率进行采集;
步骤五、实时模拟评估:评估装置本体内模拟电路进行同步的模拟评估;
步骤六、确定评估次数:根据实际情况进行相同情况的平行试验或者多次进行试验;
步骤七、存储评估结果:对试验数据进行存储;
步骤八、得出评估报告:评估装置本体根据试验结果得出实时功耗的评估报告。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1、通过设置类型确定模块,对与评估装置本体连接的数字集成电路状态进行确定,辨别待评估的数字集成电路为运行、待机或者关机状态,并调整对应的评估值,做出对应的评估,得到准确的评估数据;
2、通过设置功耗库采集模块,分别对数字集成电路的电源、工作环境中的温度、风速、电压、电压波形和功率等进行实时采集,评估装置评估范围广得出的数据具有可靠性;
3、通过设置功耗测量模块,对数字集成电路的相关信息进行获取,而后根据待评估内容进行调整和选取,提高评估装置使用的灵活度。
附图说明
图1为本发明评估装置本体的结构示意图;
图2为本发明类型确定模块的结构示意图;
图3为本发明功耗库采集模块的结构示意图;
图4为本发明功耗测量模块的结构示意图;
图5为本发明功耗测试评估模块的结构示意图;
图6为本发明评估方式模块的结构示意图;
图7为本发明的流程图。
图中:1、评估装置本体;2、类型确定模块;21、待机评估单元;22、运行评估单元;23、关机评估单元;3、功耗库采集模块;31、环境温度采集单元;32、工作电压采集单元;33、工作频率采集单元;34、基本单元采集单元;35、工作功率采集单元;4、功耗测量模块;41、实时功耗获取单元;42、实时功耗调整单元;43、实时功耗选取单元;5、功耗测试评估模块;51、模拟电路功耗单元;52、数字集成电路功耗单元;6、评估方式模块;61、平行评估单元;62、多次评估单元;7、中心处理模块;8、结果存储模块;9、评估报告模块。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-7,本发明提供了一种数字集成电路实时功耗测试评估装置,包括评估装置本体1,评估装置本体1包括类型确定模块2、功耗库采集模块3、功耗测量模块4、功耗测试评估模块5、评估方式模块6、中心处理模块7、结果存储模块8和评估报告模块9,类型确定模块2的一侧、功耗库采集模块3的一侧、功耗测量模块4的一侧、功耗测试评估模块5的一侧、评估方式模块6的一侧、结果存储模块8的一侧和评估报告模块9的一侧均通过导线与中心处理模块7相邻的一侧连接,评估装置本体1对数字集成电路的实时功耗进行评估后做出对应的评估报告。
类型确定模块2包括待机评估单元21、运行评估单元22和关机评估单元23,对于采集评估装置本体1相连的数字集成电路的状态进行确定,判断数字集成电路为待机、运行或者关机状态。
功耗库采集模块3包括环境温度采集单元31、工作电压采集单元32、工作频率采集单元33、基本单元采集单元34和工作功率采集单元35,评估装置本体1对数字集成电路的环境温度进行采集,数字集成电路的电压和频率进行采集,电压的波形进行显示和功率精度进行采集。
功耗测量模块4包括实时功耗获取单元41、实时功耗调整单元42和实时功耗选取单元43,功耗测量模块4对数字集成电路的实时功耗进行获取,而后对获取的数据进行选取和获取数据的范围进行调整。
功耗测试评估模块5包括模拟电路功耗单元51和数字集成电路功耗单元52,对数字集成电路功耗进行评估时同时评估装置本体1进行同情况的模拟电路,保证评估装置本体1对数字集成电路评估的准确度。
评估方式模块6包括平行评估单元61和多次评估单元62,根据实际情况评估装置本体1进行因素相同的平行评估或者多次进行数字集成电路功耗评估。
本发明一种数字集成电路实时功耗测试评估装置的评估方法,包括以下步骤:
步骤一、评估装置与数字集成电路相连:评估装置本体1通过导线与待评估的数字集成电路相连;
步骤二、类型确定:对待检测的数字集成电路为待机、运行或者关机状态进行确定;
步骤三、设定评估限值:根据数字集成电路的状态分别设定不同的评估限值;
步骤四、实时功耗采集:环境温度采集单元31、工作电压采集单元32、工作频率采集单元33、基本单元采集单元34和工作功率采集单元35分别对环境温度、电压、频率、基本电路信息和功率进行采集;
步骤五、实时模拟评估:评估装置本体1内模拟电路进行同步的模拟评估;
步骤六、确定评估次数:根据实际情况进行相同情况的平行试验或者多次进行试验;
步骤七、存储评估结果:对试验数据进行存储;
步骤八、得出评估报告:评估装置本体1根据试验结果得出实时功耗的评估报告。
本发明在使用时:工作人员将评估装置本体1通过导线与待评估的数字集成电路相连,类型确定模块2对待检测的数字集成电路为待机、运行或者关机状态进行确定,工作人员根据数字集成电路的状态分别设定不同的评估限值,环境温度采集单元31、工作电压采集单元32、工作频率采集单元33、基本单元采集单元34和工作功率采集单元35分别对环境温度、电压、频率、基本电路信息和功率进行采集,功耗测量模块4对数字集成电路的实时功耗进行获取,而后对获取的数据进行选取和获取数据的范围进行调整,评估装置本体1内模拟电路进行同步的模拟评估,根据实际情况进行相同情况的平行试验或者多次进行试验,对试验数据进行存储,评估装置本体1根据试验结果得出实时功耗的评估报告。
尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种数字集成电路实时功耗测试评估装置,包括评估装置本体(1),其特征在于:所述评估装置本体(1)包括类型确定模块(2)、功耗库采集模块(3)、功耗测量模块(4)、功耗测试评估模块(5)、评估方式模块(6)、中心处理模块(7)、结果存储模块(8)和评估报告模块(9),所述类型确定模块(2)的一侧、功耗库采集模块(3)的一侧、功耗测量模块(4)的一侧、功耗测试评估模块(5)的一侧、评估方式模块(6)的一侧、结果存储模块(8)的一侧和评估报告模块(9)的一侧均通过导线与中心处理模块(7)相邻的一侧连接。
2.根据权利要求1所述的一种数字集成电路实时功耗测试评估装置,其特征在于:所述类型确定模块(2)包括待机评估单元(21)、运行评估单元(22)和关机评估单元(23)。
3.根据权利要求1所述的一种数字集成电路实时功耗测试评估装置,其特征在于:所述功耗库采集模块(3)包括环境温度采集单元(31)、工作电压采集单元(32)、工作频率采集单元(33)、基本单元采集单元(34)和工作功率采集单元(35)。
4.根据权利要求1所述的一种数字集成电路实时功耗测试评估装置,其特征在于:所述功耗测量模块(4)包括实时功耗获取单元(41)、实时功耗调整单元(42)和实时功耗选取单元(43)。
5.根据权利要求1所述的一种数字集成电路实时功耗测试评估装置,其特征在于:所述功耗测试评估模块(5)包括模拟电路功耗单元(51)和数字集成电路功耗单元(52)。
6.根据权利要求1所述的一种数字集成电路实时功耗测试评估装置,其特征在于:所述评估方式模块(6)包括平行评估单元(61)和多次评估单元(62)。
7.根据权利要求1-6任一所述的一种数字集成电路实时功耗测试评估装置的评估方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一、评估装置本体(1)与数字集成电路相连:评估装置本体(1)通过导线与待评估的数字集成电路相连;
步骤二、类型确定:对待检测的数字集成电路为待机、运行或者关机状态进行确定;
步骤三、设定评估限值:根据数字集成电路的状态分别设定不同的评估限值;
步骤四、实时功耗采集:环境温度采集单元(31)、工作电压采集单元(32)、工作频率采集单元(33)、基本单元采集单元(34)和工作功率采集单元(35)分别对环境温度、电压、频率、基本电路信息和功率进行采集;
步骤五、实时模拟评估:评估装置本体(1)内模拟电路进行同步的模拟评估;
步骤六、确定评估次数:根据实际情况进行相同情况的平行试验或者多次进行试验;
步骤七、存储评估结果:对试验数据进行存储;
步骤八、得出评估报告:评估装置本体(1)根据试验结果得出实时功耗的评估报告。
CN202211329851.1A 2022-10-27 2022-10-27 一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法 Pending CN115542128A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202211329851.1A CN115542128A (zh) 2022-10-27 2022-10-27 一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202211329851.1A CN115542128A (zh) 2022-10-27 2022-10-27 一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN115542128A true CN115542128A (zh) 2022-12-30

Family

ID=84718560

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202211329851.1A Pending CN115542128A (zh) 2022-10-27 2022-10-27 一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN115542128A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115792364A (zh) * 2023-02-07 2023-03-14 南京美斯玛微电子技术有限公司 一种基于待机状态分析的功耗计算方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115792364A (zh) * 2023-02-07 2023-03-14 南京美斯玛微电子技术有限公司 一种基于待机状态分析的功耗计算方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN112649719B (zh) 一种芯片中线性稳压器的测试方法、装置以及设备
CN115542128A (zh) 一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法
CN116955027B (zh) 一种mcu芯片测试系统及其测试方法
CN109507625A (zh) 电池模拟器的自动校准方法及终端设备
CN114167132B (zh) 无线终端的功耗检测方法、装置、电子设备及存储介质
CN115856760A (zh) 一种基于电能表数据信息的动态检定系统和方法
CN103344937B (zh) 智能电能表功耗检测设备及检测方法
CN114705965A (zh) 基于大数据的第三代半导体可靠性数据分析系统
CN116449235B (zh) 一种储能电池测试数据处理方法及系统
CN101957436B (zh) 一种it服务器类设备的电源质量测试仪和测试方法
CN112345992A (zh) 一种脉冲电流法局部放电复合参量的校准方法及系统
CN204008941U (zh) 多芯线电缆端子压接质量精密检测装置
CN104035000B (zh) 多芯线电缆端子压接质量精密检测装置与检测方法
CN115932706A (zh) 一种电能表数据分析方法、电能表以及存储介质
CN111707803B (zh) 一种便携式土壤多参数原位测定及校准装置的使用方法
CN115278390A (zh) 一种通信基站建设用综合机柜结构及其控制系统
CN114111873A (zh) 一种冰箱检测仪的在线校准系统及其方法
CN110031774B (zh) 一种电池组内阻的在线测量方法及装置
CN113514168A (zh) 多路温度传感器测试装置
CN204536509U (zh) 基于avr的扣式电池容量检测装置
CN201653544U (zh) 激光器老化检测装置
CN102072990A (zh) 激光器老化检测装置
CN219777880U (zh) 一种电池电量检测和显示装置
CN217766678U (zh) 触控单元的高低温测试系统
CN212083646U (zh) 一种电能表校验流水线在线核查系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination