CN217766678U - 触控单元的高低温测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种触控单元的高低温测试系统，包括：控制单元，配置为根据测试参数生成第一控制信号，以及生成采集启动信号；高低温试验箱，与控制单元耦接，根据接收的第一控制信号调整测试参数，以及生成与高低温试验箱状态信息相关的第一反馈信号；数据采集单元，与控制单元耦接，根据接收的采集启动信号生成与采集动作启动相关的采集控制信号，触控测试板，触控测试板置于高低温试验箱内，与数据采集单元以及触控单元耦接，根据接收的采集控制信号对触控单元进行测试以及采集触控数据，并将触控数据提供至数据采集单元；其中，控制单元根据状态信息判断高低温试验箱的工作状态，以生成采集启动信号，能够提高触控单元测试的效率和精度。

Description

触控单元的高低温测试系统

技术领域

本实用新型涉及自动控制测试技术领域，特别涉及一种触控单元的高低温测试系统。

背景技术

随着科技进步，人机互动逐渐融入人们的日常生活中，在诸多场景下，触控屏都是人机交互的重要手段之一。

触控屏在不同温湿度环境下的光电性能是衡量其质量的重要指标，因而生产厂商需要对触控屏、触控电路等进行使用寿命和不同温湿度环境下光电性能测试。现有的触控电路测试流程，需要人工控制高低温试验箱的温度，并在每个温度点操作软件记录数据，不仅会占用大量的人力和时间，且人工操作难以避免因为操作失误导致的数据误差/错误，例如需要测试人员采用目视等方式确认高低温试验箱内的温度，存在一定误差导致最终测试结果的精度较低。同时，高低温试验箱在运行时会产生大量噪声，工作人员长期处于大噪声环境时，其身体也会受到一定程度的影响。

因此，期待一种改进的触控单元的高低温测试系统，能够解决上述问题。

实用新型内容

鉴于上述问题，本实用新型的目的在于提供一种触控单元的高低温测试系统，从而实现触控单元的自动化测试，减少人力投入的同时有效提高测试精度。

根据本实用新型的一方面，提供一种触控单元的高低温测试系统，其特征在于，所述高低温测试系统包括：控制单元，配置为根据测试参数生成第一控制信号，以及生成采集启动信号；高低温试验箱，与控制单元耦接，接收所述第一控制信号，并根据所述第一控制信号调整测试参数，以及生成与高低温试验箱状态信息相关的第一反馈信号；数据采集单元，与所述控制单元耦接，接收所述采集启动信号，并根据所述采集启动信号生成与采集控制信号；触控测试板，所述触控测试板置于所述高低温试验箱内，与所述数据采集单元以及所述触控单元耦接，根据接收的所述采集控制信号对所述触控单元进行测试以及采集触控数据，并将所述触控数据提供至所述数据采集单元；其中，所述控制单元根据所述第一反馈信号判断所述高低温试验箱的工作状态，以生成所述采集启动信号。

可选地，所述高低温试验箱配置为根据所述第一控制信号，调整其变温范围、步进温度、与温度稳定所需时间相关的第一预定时间。

可选地，所述高低温试验箱还配置为根据所述第一控制信号调整其温度冲击试验的变温范围及变温时间。

可选地，所述第一控制信号还包括状态信息读取指令，所述高低温试验箱根据接收的所述状态信息读取指令，生成与其内部温度和/或湿度信息相关的所述第一反馈信号。

可选地，所述数据采集单元配置为完成数据采集后生成第二反馈信号，并将所述第二反馈信号提供至所述控制单元。

可选地，所述触控数据包括实时原始值数据、实时噪声数据、数据帧数、噪声帧数以及实施功耗中任意一者或几者的组合。

可选地，所述控制单元通过串行接口或USB接口与所述高低温试验箱耦接。

可选地，所述触控测试板通过IIC、SPI或GPIO中的任一者与所述触控单元耦接。

可选地，所述高低温试验箱包括：温度控制装置，所述温度控制装置包括加热装置以及散热装置，根据接收的所述第一控制信号调整所述高低温试验箱的温度；温度传感器，根据所述高低温试验箱内的温度生成对应的所述状态信息。

可选地，所述温度控制装置还包括：氮气降温装置，根据接收的所述第一控制信号，加快所示高低温试验箱的降温速度。

可选地，所述高低温试验箱还包括：湿度控制装置，根据接收的所述第一控制信号调整所述高低温试验箱的湿度；湿度传感器，根据所述高低温试验箱内的湿度生成对应的所述状态信息。

本申请提供的触控单元的高低温测试系统，能够实现自动化测试，测试人员只需根据需求搭建测试系统，并向控制单元输入测试参数即可。能够节省人力资源的投入、并利用夜间时间进行测试，提高生产效率并有效降低生产成本。

可选地，控制单元能够通过温度控制装置及湿度控制装置精确调节箱内的温度和湿度，同时还可以根据温湿度传感器反馈的状态信息实时判断高低温试验箱工作状态，并及时调整箱内的温湿度。

可选地，本申请提供的触控单元的高低温测试系统还具有温度冲击试验功能，通过增加氮气降温装置加速降温，可以缩短变温时间，满足温度冲击试验的冲击强度要求。

附图说明

通过以下参照附图对本实用新型实施例的描述，本实用新型的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：

图1示出了本申请实施例的高低温测试系统的结构示意图；

图2示出了图1中高低温试验箱的结构示意图。

具体实施方式

以下将参照附图更详细地描述本实用新型的各种实施例。在各个附图中，相同的元件或者模块采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。

应当理解，在以下的描述中，“电路”可包括单个或多个组合的硬件电路、可编程电路、状态机电路和/或能存储由可编程电路执行的指令的元件。当称元件或电路“连接到”另一元件或称元件或电路“连接在”两个节点之间时，它可以直接耦合或连接到另一元件或者可以存在中间元件，元件之间的连接可以是物理上的、逻辑上的，或者其结合。相反，当称元件“直接耦合到”或“直接连接到”另一元件时，意味着两者不存在中间元件。

同时，在本专利说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定的组件。本领域普通技术人员应当可理解，硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同一个组件。本专利说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。

此外，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或者操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其它变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以下结合具体实施方式对本申请提供的触控单元的高低温测试系统进行进一步说明。

图1示出本申请实施例的高低温测试系统的结构示意图，高低温测试系统包括控制单元101、数据采集单元103、触控测试板104以及高低温试验箱102。

控制单元101通过通信接口与高低温试验箱102耦接，配置为根据测试参数向高低温试验箱102提供第一控制信号Vc1，以控制高低温试验箱102的内部动作；并接收高低温试验箱102提供的第一反馈信号Vfb1，从而判断高低温试验箱102当前的工作状态，并根据第一反馈信号Vfb1生成采集启动信号Vc2。其中第一反馈信号Vfb1包括高低温试验箱102的温度信息和/或湿度信息，控制单元101能够根据温度信息和/或湿度信息判断高低温试验箱102的工作状态。

其中，通信接口例如选自串行接口或USB接口。

高低温试验箱102接收第一控制信号Vc1，并根据第一控制信号Vc1改变测试的相关测试参数，例如调整变温范围、步进温度、等待温度稳定的第一预定时间，还可以调整温度冲击试验的温度范围、变温时间，及内部湿度。

在一种可行的实施例中，第一控制信号Vc1还包括状态信息读取指令，高低温试验箱102接收到状态信息读取指令后，将当前的温度信息和/或湿度信息作为第一反馈信号Vfb1提供至控制单元101，从而令控制单元101能够实时获取高低温试验箱102内部的状态信息，并基于该状态信息判断高低温试验箱102的工作状态，例如高低温试验箱102处于变温阶段还是恒温阶段，温度冲击实验是否满足冲击强度等。

数据采集单元103与控制单元101耦接，接收采集启动信号Vc2，并根据接收的采集启动信号Vc2生成采集控制信号Vc3，以对触控测试板104下发指令，令其进行数据采集动作，并在完成数据采集之后生成第二反馈信号Vfb2，将第二反馈信号Vfb2提供至控制单元101，表明当前阶段的测试工作已经完成。

触控测试板104例如通过USB接口与数据采集单元103耦接，根据接收的采集控制信号Vc3，生成第四控制信号Vc4以控制触控单元105的工作状态。同时还从触控单元105采集触控数据Vdata，并将采集的触控数据Vdata提供至数据采集单元103，在本实施例中，触控测试板104对触控单元105提供的触控数据Vdata进行传输格式的转换，方便数据采集单元103接收，以供测试人员使用。

触控测试板104例如通过IIC(Inter-Integrated Circuit，集成电路总线)、SPI(Serial Peripheral Interface Bus，串行外设接口)或GPIO(General-purpose input/output，通用输入输出接口)等接口与触控单元105耦接，通过第四控制信号Vc4改变触控单元105的模式、进行触控扫描并获取相关数据，再通过触控单元105内的MUC(Micro ControlUnit，微控制单元101)对相关数据进行处理，以生成触控数据Vdata。触控数据Vdata例如包括实时原始值数据、实时噪声数据、数据帧数、噪声帧数以及触控单元105的实时功耗。

可选地，触控测试板104还可以向触控单元105供电。

本申请提供的触控单元的高低温测试系统，能够实现自动化测试，测试人员只需根据需求搭建测试系统，并向控制单元101输入测试参数即可。能够节省人力资源的投入、并利用夜间时间进行测试，提高生产效率并有效降低生产成本。

进一步地，参见图2，图2示出了图1中高低温试验箱的结构示意图。高低温试验箱102包括温度控制装置301、湿度控制装置302以及温湿度传感器303。

温度控制装置301根据接收的第一控制信号Vc1改变高低温试验箱102内的温度，包括加热装置401、降温装置402以及氮气降温装置403。

在多个选定的温度点位下测试触控单元105时，主要由加热装置401和/或散热装置调整步进温度以及在进行测试时保持温度稳定。

当需要进行温度冲击试验，即不停的升温和降温，并快速循环这个过程时，加热装置401能够满足大功率升温的需要，但降温装置402难以满足对降温速度的要求，导致温度冲击试验的冲击强度受限。因此本申请采用氮气降温装置403与降温装置402共同工作的方式，加快降温速度，缩短变温时间，从而满足对冲击强度的要求。

湿度控制装置302则根据接收的第一控制信号Vc1调整高低温试验箱102内的湿度，不仅能保证在变温/恒温过程中，高低温试验箱102内部的湿度始终保持在选定范围内，还使得测试条件多样化，增加高低温测试系统的适用范围。

温湿度传感器303根据高低温试验箱102内的温度、湿度，生成第一反馈信号Vfb1。

在一种可行的实施例中，高低温试验箱102还包括微控制器，微控制器接收第一控制信号Vc1，并根据第一控制信号Vc1调整温度控制装置301、湿度控制装置302以及温湿度传感器303的工作状态，并根据温湿度传感器303采集的温湿度数据生成第一反馈信号Vfb1。

本申请提供的触控单元的高低温测试系统，控制单元101能够通过温度控制装置301及湿度控制装置302精确调节箱内的温度和湿度，同时还可以根据温湿度传感器303反馈的状态信息实时判断高低温试验箱工作状态，并及时调整箱内的温湿度。

可选地，本申请提供的触控单元的高低温测试系统还具有温度冲击试验功能，通过增加氮气降温装置403加速降温，可以缩短变温时间，满足温度冲击试验的冲击强度要求。

应当说明，本领域普通技术人员可以理解，本文中使用的与电路运行相关的词语“期间”、“当”和“当……时”不是表示在启动动作开始时立即发生的动作的严格术语，而是在其与启动动作所发起的反应动作(reaction)之间可能存在一些小的但是合理的一个或多个延迟，例如各种传输延迟等。本文中使用词语“大约”或者“基本上”意指要素值(element)具有预期接近所声明的值或位置的参数。然而，如本领域所周知的，总是存在微小的偏差使得该值或位置难以严格为所声明的值。本领域已恰当的确定了，至少百分之十(10％)的偏差是偏离所描述的准确的理想目标的合理偏差。当结合信号状态使用时，信号的实际电压值或逻辑状态(例如“1”或“0”)取决于使用正逻辑还是负逻辑。

依照本实用新型的实施例如上文，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本实用新型以及在本实用新型基础上的修改使用。本实用新型的保护范围应当以本实用新型权利要求及其等效物所界定的范围为准。

Claims (11)

1.一种触控单元的高低温测试系统，其特征在于，所述高低温测试系统包括：

控制单元，配置为根据测试参数生成第一控制信号，以及生成采集启动信号；

高低温试验箱，与控制单元耦接，接收所述第一控制信号，并根据所述第一控制信号调整测试参数，以及生成与高低温试验箱状态信息相关的第一反馈信号；

数据采集单元，与所述控制单元耦接，接收所述采集启动信号，并根据所述采集启动信号生成与采集控制信号；

触控测试板，所述触控测试板置于所述高低温试验箱内，与所述数据采集单元以及所述触控单元耦接，根据接收的所述采集控制信号对所述触控单元进行测试以及采集触控数据，并将所述触控数据提供至所述数据采集单元；其中，

所述控制单元根据所述第一反馈信号判断所述高低温试验箱的工作状态，以生成所述采集启动信号。

2.根据权利要求1所述的高低温测试系统，其特征在于，所述高低温试验箱配置为根据所述第一控制信号，调整其变温范围、步进温度、与温度稳定所需时间相关的第一预定时间。

3.根据权利要求2所述的高低温测试系统，其特征在于，所述高低温试验箱还配置为根据所述第一控制信号调整其温度冲击试验的变温范围及变温时间。

4.根据权利要求1所述的高低温测试系统，其特征在于，所述第一控制信号还包括状态信息读取指令，所述高低温试验箱根据接收的所述状态信息读取指令，生成与其内部温度和/或湿度信息相关的所述第一反馈信号。

5.根据权利要求1所述的高低温测试系统，其特征在于，所述数据采集单元配置为完成数据采集后生成第二反馈信号，并将所述第二反馈信号提供至所述控制单元。

6.根据权利要求1所述的高低温测试系统，其特征在于，所述触控数据包括实时原始值数据、实时噪声数据、数据帧数、噪声帧数以及实施功耗中任意一者或几者的组合。

7.根据权利要求1所述的高低温测试系统，其特征在于，所述控制单元通过串行接口或USB接口与所述高低温试验箱耦接。

8.根据权利要求1所述的高低温测试系统，其特征在于，所述触控测试板通过IIC、SPI或GPIO中的任一者与所述触控单元耦接。

9.根据权利要求1所述的高低温测试系统，其特征在于，所述高低温试验箱包括：

温度控制装置，所述温度控制装置包括加热装置以及散热装置，根据接收的所述第一控制信号调整所述高低温试验箱的温度；

温度传感器，根据所述高低温试验箱内的温度生成对应的所述状态信息。

10.根据权利要求9所述的高低温测试系统，其特征在于，所述温度控制装置还包括：

氮气降温装置，根据接收的所述第一控制信号，加快所示高低温试验箱的降温速度。

11.根据权利要求9所述的高低温测试系统，其特征在于，所述高低温试验箱还包括：

湿度控制装置，根据接收的所述第一控制信号调整所述高低温试验箱的湿度；

湿度传感器，根据所述高低温试验箱内的湿度生成对应的所述状态信息。

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