CN208314133U - 一种简易的高精度的射频测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种简易的高精度的射频测试系统，包括测试底板和测试治具，测试底板可以实现测试电路控制和测试数据的记录，测试治具用来固定待测设备和测试底板的精确连接，测试底板安装在测试治具内；测试底板主控MCU通过UART通讯口控制8个待测设备和RHF3M076标准LoRa模块，RHF3M076标准LoRa模块承担本测试系统射频测试任务，8个待测设备分时工作，射频输入输出也通过一个8路射频开关连接到RHF3M076标准LoRa模块的射频口，为了使模块工作在射频正常输入输出电频范围，链路中间加载适当的射频衰减器。本实用新型使用在批量生产产线可以实现自动化测试，大大提高了生产的便利和效率。

Description

一种简易的高精度的射频测试系统

技术领域

本实用新型涉及射频测试技术领域，尤其涉及生产线的自动化生产射频测试系统。

背景技术

在现代信息技术日益发达的今天，通讯技术对人们的生活和生产的影响越来越大，甚至人类社会的发展都离不开这些通讯设备，同时人们对通讯的设置功能和质量有了更高的要求，在通讯设备的生产制造过程中对其性能的测试尤为重要；在通信制造领域，对射频设备的射频测试，是通信设备出厂前必须经历的过程，目前在自动化测试领域，射频的生产测试大多采用外接专业仪器的方法，这不仅成本高昂，而且控制也极其复杂，此外，LoRa在测试上也缺乏专业的仪器，目前很多厂家在产线测试时，往往只测试简单的信号强度，覆盖不了LoRa接收，频率误差等其他的测试项目。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服上述不足，为产线上大批量产品生产时射频测试提供了一种简易且高精度的测试方法，无需外接昂贵且复杂的专业射频测量仪器，支持8个产品同时上测试系统完成测试，实现LoRa的自动化测试，且连接简单易用。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术解决方案是：

一种简易的高精度的射频测试系统，本自动化测试系统包括一个测试底板和测试治具，测试底板实现测试电路控制和测试数据的记录，测试治具用来实现待测设备的固定和测试底板的精确连接，测试底板安装在治具内。

本射频测试系统支持8个PCBA待测拼板的测试，测试底板主控MCU通过UART通讯口控制待测设备(8个)和RHF3M076标准LoRa模块，RHF3M076标准LoRa模块承担本测试系统射频测试任务，8个待测设备分时工作，射频输入输出也通过一个8路射频开关连接到RHF3M076标准LoRa模块的射频口，为了使模块工作在射频正常输入输出电频范围，链路中间加载适当的射频衰减器，由于待测设备和RHF3M076标准LoRa模块都是带LoRa收发的设备，通过主控MCU控制参数，使他们工作在相同的频率，相同的射频参数，收发同步，就可以实现8个被测设备的LoRa发送和LoRa接收性能测试。

附图说明

为了更清楚的说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要的说明，显而易见地，下面描述的附图仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。

图1是本实用新型一种简易的高精度的射频测试系统的整体示意图；

图2是本实用新型一种简易的高精度的射频测试系统的实施例的框架示意图。

具体实施方式

下面将结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步详述，显然所描述的实施例只是本实用新型的一部分实施例，不是全部实施例，在此需要说明的是，下面所描述的本实用新型的实施例中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

本实用新型所揭示的是一种简易的高精度的射频测试系统，如图1所示，为本实用新型的较佳实施例，包括测试底板、测试治具、主控MCU、UART通讯口、RHF3M076标准LoRa模块(RHF3M076是瑞兴恒方自主研发的LoRa收发模块，内含有支持LoRaWan固件，使用简单，通过AT指令进行控制，内部由STM32控制器和Semtech射频芯片SX1276实现，可支持Sub-GHz频段内的LoRa应用。)、射频衰减器、供电单元电路，所述Power Supply供电单元电路，由USB5V电源输入，内部有LDO实现3.3v输出，由于需要测量每路电流，所以8个待测模块分别由MOSFET实现分别供电。

测试底板可以实现测试电路控制和测试数据的记录，测试治具用来固定待测设备和测试底板的精确连接，测试底板安装在治具内；本自动化测试系统支持8个PCBA待测拼板的测试，测试底板主控MCU通过UART通讯口控制待测设备(8个)和RHF3M076标准LoRa模块，RHF3M076标准LoRa模块承担本测试系统射频测试任务，8个待测设备分时工作，在图1中，GPIO Bus Switch采用8个FET bus switch，8个FET bus switch的输出汇总连接到主控MCU，每个FET bus switch可以分别控制与使用，实现待测设备的分时控制；RF switch射频开关实现射频通路的正确选择，射频通道通过4个GPIO控制。

如表1所示：switch可以分别控制与使用，实现待测设备的分时控制。

表1

RF_CTL1	RF_CTL2	RF_CTL3	RF_CTL4	待测设备
					0	1	1	0	#1
0	1	0	0	#2
					1	1	0	0	#3
1	0	0	0	#4
					1	1	1	1	#5
1	1	1	0	#6
					1	0	1	0	#7
0	0	1	0	#8

射频输入输出也通过一个8路射频开关连接到RHF3M076标准LoRa模块的射频口，为了使模块工作在射频正常输入输出电频范围，链路中间加载适当的射频衰减器；由于待测设备和RHF3M076标准LoRa模块都是带LoRa收发的设备，通过主控MCU控制参数，使他们工作在相同的频率，相同的射频参数，收发同步，就可以实现8个被测设备的LoRa发送和LoRa接收性能测试；如图2是一个简化的实施例的框架图，清晰地展现出了本申请的技术方案，主控MCU控制待测设备和RHF3M076标准LoRa模块，RHF3M076标准LoRa模块承担本测试系统射频测试任务，本系统供电通过USB统一供电，内置电流测试放大器，自动记录待测设备各工作状态的电流。

本实用新型使用在批量生产产线可以实现自动化测试，大大提高了生产的便利和效率，此外，除了传导测试，本系统还支持辐射性能测试。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型的技术范围作任何限制，故但凡依本实用新型的权利要求书和说明书所做的变化或修饰，皆应属于本实用新型专利涵盖的范围之内。

Claims (5)

1.一种简易的高精度的射频测试系统，包括:测试底板、测试治具、主控MCU、UART通讯口、LoRa模块、射频衰减器和待测设备；

所述测试底板可以实现测试电路控制和测试数据的记录；所述测试底板主控MCU通过UART通讯口控制待测设备和LoRa模块；

所述UART通讯口的GPIO Bus Switch采用八个FET bus switch，八个FETbus switch的输出汇总连接到主控MCU；每个FET bus switch可以分别控制与使用，实现待测设备的分时控制；

所述测试治具用来固定待测设备和测试底板的精确连接；所述测试底板安装在测试治具内；

所述LoRa模块承担本测试系统射频测试任务。

2.根据权利要求1所述的一种简易的高精度的射频测试系统，其特征在于，所述射频测试系统支持八个PCBA待测设备的测试。

3.根据权利要求1所述的一种简易的高精度的射频测试系统，其特征在于，所述LoRa模块上设有射频口，所述射频口上设有一个八路射频开关。

4.根据权利要求2所述的一种简易的高精度的射频测试系统，其特征在于，所述八个PCBA待测设备分时工作。

5.根据权利要求1所述的一种简易的高精度的射频测试系统，其特征在于，所述待测设备和LoRa模块都是带LoRa收发的设备，通过主控MCU控制参数，使他们工作在相同的频率，相同的射频参数，收发同步。