CN205430258U - 一种射频收发模块的射频指标测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种射频模块测试装置，包括测试上位机、测试工装、测量仪器功率计、频谱仪和信号源，其中，所述测试上位机通过GPIB线缆与所述测量仪器功率计、频谱仪和信号源进行并联连接，通过线缆与测试工装连接，且测试工装通过连接器与所述待测射频收发模块进行连接，所述测量仪器功率计、频谱仪和信号源分别通过射频电缆与所述待测射频收发模块连接。本实用新型的装置可以控制仪表，供操作人员按步骤对射频收发模块进行测试、校正，并实时保存校正结果，降低操作人员对校正方法和仪表操作的依赖，减少射频收发模块批量生产中操作人员数量，而实现有效降低调试难度、减少人为操作误差、提高生产效率，降低生产成本的目的。

Description

一种射频收发模块的射频指标测量装置

技术领域

本实用新型属于射频通信领域，具体涉及一种射频收发模块的射频指标测量装置。

背景技术

在射频收发模块的批量生产过程中，需要对其中的多项射频指标进行测试和校正，并且校正结果需被存储到射频收发模块的flash中，供微波通信设备在整机运行时调用。

传统的射频收发模块的测量和校正通常是采用人工操作方式。在操作过程中，针对不同的测量参数和测量频点，需要对仪表进行不同的设置，对其中一项测量参数在某一测量频点的测量过程为：首先手动对仪表和射频模块进行上电和初始化设置，然后手动设置仪表参数、射频模块控制电压等参数，并实时读取仪表记录结果，最后使用特定的算法对所设置的参数和读取的数据进行分析处理。在完成所有测量参数和测量频点的以上操作后，将所有的处理数据存储到射频板的flash中。

这种操作方式存在精度差、效率低、一致性效果不好等缺点，特别是对于该射频收发模块的批量生产中，至少需要2名调试人员配合操作才能完成一个射频收发模块测试工位的工作，提高了生产成本。

实用新型内容

针对现有技术的以上问题，本实用新型提供了一种射频收发模块的射频指标测量装置，其通过设置测试上位机、测试工装和测量仪器功率计、频谱仪和信号源并建立各部件的连接，解决目前射频收发模块批生产过程中测量、校正装置效果和精度较差，效率较低的缺陷。

本实用新型的目的采用如下技术方案实现：

一种射频收发模块的射频指标测量装置，用于对待测射频模块的进行射频指标测试和校正，其特征在于，包括测试上位机、测试工装、测量仪器功率计、频谱仪和信号源，其中，所述测试上位机通过GPIB线缆与所述测量仪器功率计、频谱仪和信号源进行并联连接，通过线缆与测试工装连接，且测试工装通过连接器与所述待测射频收发模块进行连接，所述测量仪器功率计、频谱仪和信号源分别通过射频电缆与所述待测射频收发模块连接。

作为本实用新型的改进，所述测试工装与射频收发模块之间通过30P连接件进行连接，并采用SPI方式进行数据通信。

作为本实用新型的改进，所述测试工装与所述测试上位机之间通过DB9线缆连接，并采用232串口方式进行数据通信。

作为本实用新型的改进，还包括恒压电源，其与测试工装和待测射频模块连接，以为二者提供电源。

作为本实用新型的改进，所述恒压电源为输出12V的恒压电源。

作为本实用新型的改进，所述测量仪器功率计、频谱仪和信号源均带有带GPIB接口。

本实用新型的装置中，测试上位机PC可以通过GPIB接口控制测量仪表并获取测量数据，可以通过232串口发送指令至测试工装，并获取返回数据或返回响应。

本实用新型中，测试上位机PC通过实时显示所获取的仪表测量数据和测试工装返回的测量数据，通过实时显示的测量数据曲线可以方便调试人员及时发现存在故障的射频收发模块，并进行排故。

本实用新型中，测试上位机PC根据预先设定的参数和计算函数对测量数据进行分析、计算，并将计算结果按照固定的数据格式保存到所述测试上位机PC上指定的文件中。

本实用新型中，所述测试工装由单片机、232串口、电源转换、信号输入输出接口及接插件等模块组成，实现测试上位机PC和射频收发模块之间的中转作用。所述单片机在所述测试工装上电后处于串口循环监听状态，随时接收所述测试上位机PC通过232串口发出的控制指令，并根据控制指令类型运行相应API函数和返回响应函数。所述单片机运行API函数向被测射频收发模块进行SPI操作主要包括读写射频芯片寄存器、读写ADC/DAC参数值、读写射频收发模块板载Flash。

本实用新型中，所述读写芯片寄存器的API函数主要实现功能为：所述测试工装能对射频芯片进行参数设置，所设置的参数包括：射频本振参数、中频本振参数、温度传感器开关、接收通道参数、发射通道参数和锁相环参数等。

本实用新型中，所述读写ADC/DAC参数值的API函数主要实现功能为：所述测试工装能对射频收发模块板载的数模转换芯片和模数转换芯片进行写入和读取操作。

本实用新型中，所述读写射频收发模块板载Flash的API函数主要实现功能为：所述测试工装能对射频收发模块板载的Flash芯片进行写入和读取操作。

采用如上技术方案的本实用新型，具有如下的有益效果：

本实用新型的自动测试装置可以降低调试人员对校正方法和仪表操作的依赖，减少射频收发模块测试工位调试人员数量。由自动校正装置控制仪表、调试人员按提示进行测试、自动校正系统实时存储校正数据，可以有效降低生产中调试难度，减少人为操作误差，而有效提高测试效率，降低生产调试成本。

附图说明

图1所示为本实用新型实施例的一种射频收发模块的射频指标测量装置的结构示意图；

图2所示为本实用新型实施例的一种射频收发模块的射频指标测量装置中的测试上位机工作流程图；

图3所示为本实用新型实施例的一种射频收发模块的射频指标测量装置中的测试工装与射频模块的通信示意图；

在所有附图中，相同的附图标记用来表示相同的元件或结构，其中：1为功率计、2为频谱仪、3为射频信号源、4为测试上位机PC、5为测试工装、6为待测射频收发模块。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

图1所示为本实用新型实施例的一种射频指标自动校正系统的结构示意图。该系统包括测试上位机PC1、恒压电源2、测试工装3、待测射频模块4和带GPIB接口的测量仪器功率计5、频谱仪6与信号源7。

测试上位机PC1控制带GPIB接口的测量仪器功率计5、频谱仪6、信号源7和测试工装3，对射频模块4的射频指标参数进行测量和配置，并对测量数据进行分析和处理，最终将数据处理结果自动存储到指定文件，完成对待测射频模块的校正工作。

图2所示为待测射频模块的校正的实现流程图。

配GPIB接口卡的测试上位机PC1通过例如IEEE-488GPIB标准线缆与带GPIB接口的测量仪器功率计5、带GPIB接口的频谱仪6、带GPIB接口的信号源7进行并联方式连接，通过例如标准232串口线缆与测试工装3进行连接，保证测试上位机PC1与测量仪器和测试工装3的物理通信连接。

测试上位机PC可以调用仪器驱动VI对所连接的功率计5、频谱仪6和信号源7进行初始化、参数设置和测量值的获取，可以通过调用串口驱动VI对测试工装3进行指令操作和数据返回获取。

测试上位机PC可以将GPIB接口和232串口获取的数据进行实时显示。

测试上位机PC可对从GPIB接口和232串口获取的数据进行分析处理，得到需要的校正结果。

恒压电源2优选为一输出直流12V恒定电压的移动电源，用于为测试工装3和待测射频模块4提供电源。

测试工装3由单片机、232串口、电源转换模块、信号输入输出接口及接插件组成。测试工装3通过232串口线缆和30P连接器分别与测试上位机PC1和射频收发模块4进行连接，实现测试上位机PC1和射频收发模块4的中转作用。单片机本实施例中优选选用PIC系列微处理器。

测试工装3上电后，单片机控制串口为循环监听状态，并随时通过串口接收测试上位机PC发出的控制指令，根据控制指令类型运行相应API函数对射频收发模块进行SPI操作。

如图3所示，单片机通过API函数对射频收发模块进行SPI操作主要包括：读写射频芯片寄存器、读写ADC/DAC参数值、读写射频收发模块板载Flash等。

通过调用读写芯片寄存器的API函数，测试工装3能对审射频收发模块的射频参数进行设置，所设置的参数可以包括：射频本振参数、中频本振参数、温度传感器开关、接收通道参数、发射通道参数和锁相环参数等。

通过调用写DAC的API函数，测试工装3能直接写入射频收发模块4板载的数模转换芯片需要的数字信号值，而实现对射频收发模块外围控制电路的输入控制，通过调用读ADC的API函数，测试工装3能直接读出射频收发模块4板载的模数转换芯片的实时模拟信号值，而对射频收发模块及外围控制电路的输出进行实时读取和监测。

通过调用读写射频收发模块板载Flash的API函数，测试工装3能对射频收发模块板载的Flash芯片进行写入和读取操作。

本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种射频模块测试装置，用于对待测射频模块(4)进行射频指标测试和校正，其特征在于，包括测试上位机(1)、测试工装(3)、测量仪器功率计(5)、频谱仪(6)和信号源(7)，其中，所述测试上位机(1)通过GPIB线缆与所述测量仪器功率计(5)、频谱仪(6)和信号源(7)进行并联连接，通过线缆与测试工装(3)连接，且测试工装(3)通过连接器与所述待测射频收发模块(4)进行连接，所述测量仪器功率计(5)、频谱仪(6)和信号源(7)分别通过射频电缆与所述待测射频收发模块(4)连接。

2.根据权利要求1所述的一种射频模块测试装置，其中，所述测试工装(3)与射频收发模块(4)之间通过30P连接件进行连接，并采用SPI方式进行数据通信。

3.根据权利要求1或2所述的一种射频模块测试装置，所述测试工装(3)与所述测试上位机(1)之间通过DB9线缆连接，并采用232串口方式进行数据通信。

4.根据权利要求1或2所述的一种射频模块测试装置，其中，还包括恒压电源(2)，其与测试工装(3)和待测射频模块(4)连接，以为二者提供电源。

5.根据权利要求4所述的一种射频模块测试装置，其中，所述恒压电源(2)为输出12V的恒压电源。

6.根据权利要求1或2所述的一种射频模块测试装置，其中，所述测量仪器功率计(5)、频谱仪(6)和信号源(7)均带有带GPIB接口。