CN209545960U - 一种芯片测试光源控制系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试光源控制系统，包括：可调型LED光源、传输线、USB数据线、光源控制模块，该光源控制模块一端通过传输线与可调型LED光源连接，另一端通过USB数据线与电源连接、以及光源控制模块包括可调电阻；其中，光源控制模块通过调整可调电阻的电阻值而将相应的电流值输出到可调型LED光源。该系统通过调节可调电阻的电阻值而改变可调LED光源的亮度来实现芯片测试的光源控制。

Description

一种芯片测试光源控制系统

技术领域

本实用新型涉及芯片测试工装技术领域，并且更具体地，特别是指一种亮度可调节的芯片测试光源控制系统。

背景技术

芯片在进行测试时需要在各种光源亮度下进行测试，传统测试方式实验日光灯提供光源或者使用手遮盖的方式全部/部分阻隔光源，使用传统方式对光源控制不精确，且效率低，特别是产品测试需要部分阻隔光源提供特定亮度是，传统手遮盖方式对人员要求极高，员工作业是较难遮盖一步到位，提供芯片特定测试所需求的亮度，对测试效率和测试准确性都造成了很大影响。

现有技术中的上述芯片测试光源亮度控制有待改进。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种芯片测试光源控制系统，能够通过调节可调电阻的电阻值而改变可调LED光源的亮度来实现芯片测试的光源控制。

基于上述目的，本实用新型实施例的一方面，提供了一种芯片测试光源控制系统，包括：

可调型LED光源；

传输线；

USB数据线；

光源控制模块，该光源控制模块一端通过传输线与可调型LED光源连接，另一端通过USB数据线与电源连接；以及

光源控制模块包括可调电阻；

其中，光源控制模块通过调整可调电阻的电阻值而将相应的电流值输出到可调型LED光源。

在一些实施例中，可调型LED光源设置在测试芯片的镜头上方用于提供芯片测试所需的输出光亮度。

在一些实施例中，光源控制模块包括记忆档位模块用于记忆各亮度档位的所对应的电阻值。

在一些实施例中，记忆档位模块包括多个记忆档位。

在一些实施例中，光源控制模块通过读取各记忆档位中记忆的不同值来调整可调电阻的电阻值。

在一些实施例中，镜头下方设置有将待测芯片固定的待测芯片固定机构。

在一些实施例中，传输线用于将光源控制模块产生的电流传输至可调型LED光源。

在一些实施例中，USB数据线通过连接到电脑来提供光源控制模块和可调型LED光源的电源。

本实用新型具有以下有益技术效果：

本实用新型实施例提供的一种芯片测试光源控制系统，通过调整可调电阻的电阻值而改变光源控制模块输出的电流值进而改变可调型LED光源的亮度然后将不同亮度值对应的电阻值记录到记忆档位中，在测试芯片时只需将电阻值切换到不同的档位就能实现芯片测试光源控制；该系统的实现方法提供了芯片测试所需光源的精确控制；由于在实际测试芯片之前已经记录了不同电阻值对应的可调型LED光源的不同亮度从而能够高效实现亮度切换。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的示意图；

图2是本实用新型公开的芯片测试光源控制的原理框图；

图3是本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的一个实施例的电源模块电路图；

图4是本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的一个实施例的电压模块电路图；

图5是本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的一个实施例的基准稳压源模块电路图；

图6是本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的一个实施例的USB转串口模块电路图；

图7是本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的一个实施例的主控芯片模块电路图；

图8是本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的一个实施例的双向电压电平转换器模块电路图；

图9是本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的一个实施例的模拟信号放大电路模块电路图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型实施例进一步详细说明。

需要说明的是，本实用新型实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”和“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本实用新型实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。

基于上述目的，本实用新型实施例的第一个方面，提出了一种芯片测试光源控制系统的一个实施例。图1示出了本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的示意图。

一种芯片测试光源控制系统，包括：

可调型LED光源1；

传输线2；

USB数据线4；

光源控制模块3，该光源控制模块3一端通过传输线2与可调型LED光源1连接，另一端通过USB数据线4与电源6连接；以及

光源控制模块3包括可调电阻5；

其中，光源控制模块3通过调整可调电阻5的电阻值而将相应的电流值输出到可调型LED光源1。

如图1所示，在芯片测试镜头上方安装一个可调型LED光源1，通过传输线2连接至光源控制模块3，光源控制模块3由USB数据线4负责供电，可以通过可调电阻5对可调型LED光源1进行亮度调节。可调电阻5调节各亮度档位所对应的电阻。

在一个优选实施例中，可调型LED光源1设置在测试芯片的镜头上方用于提供芯片测试所需的输出光亮度。

其中，可调型LED光源1负责提供芯片测试所需的稳定的输出光亮度。

在一个优选实施例中，光源控制模块3包括记忆档位模块用于记忆各亮度档位的所对应的电阻值。记忆档位模块包括多个记忆档位。光源控制模块3通过读取各记忆档位中记忆的不同值来调整可调电阻5的电阻值。

其中，光源控制模块3通过可调电阻5调节并记忆各亮度档位的所对应的电阻、电流值。光源控制模块3可记忆多个亮度档位，产品测试时读取相应档位设置，即可将光源切换至已设置好的亮度，LED光源1衰减时间长，提供亮度精准且切换时间短，使得产品测试效率有大幅提高。

在一个优选实施例中，镜头下方设置有将待测芯片固定的待测芯片固定机构。

在一个优选实施例中，传输线2用于将光源控制模块3产生的电流传输至可调型LED光源1。

其中，传输线2负责将光源控制模块3设置好的电流传输至可调型LED光源1。

在一个优选实施例中，USB数据线4通过连接到电脑来提供光源控制模块3和可调型LED光源1的电源。

其中，USB数据线4负责提供光源控制模块3及可调型LED光源1工作时所需的电源。

本实用新型实施例的另一方面还提供了一种芯片测试光源控制方法，包括以下步骤：

(1)连接光源控制系统；

(2)通过调整可调电阻5的电阻值改变可调型LED光源1的亮度，并将不同亮度对应的电阻值记录到记忆档位模块的不同记忆档位中；

(3)将待测芯片连接到光源控制系统并且读取记忆档位模块中的记录值i；

(4)光源控制模块3将可调电阻5的电阻值切换到与档位记录值i相对应的值；

(5)光源控制模块3将产生的电流值通过传输线2输出到可调型LED光源1使其产生相应的亮度；

重复步骤(3)-(5)，读取不同的记录值，直到测试完毕。

其中，系统由USB数据线(4)连接至电脑来提供运行所需的电源，将可调型LED光源1安装于芯片测试镜头上方后，光源控制模块3对电路内部可调电阻5的值进行调整，通过传输线2将电流输送至可调型LED光源1，可调型LED光源)在不同电流的作用下会提供不同的光源亮度值测试芯片，同时光源控制模块3又多个记忆档位，满足芯片在不同测试光源亮度检的实时切换，芯片测试前先调试好各档位亮度对应的阻抗值，随后当芯片开始测试时首先读取档位一的亮度值，光源控制模块3将切换到档位1对应的阻抗回路，输出对应电流值调型LED光源1，接着芯片测试可以读取档位二的亮度值，源控制模块3会快速切换到档位2对应的阻抗回路，芯片可以完成档位二亮度下的测试，以此类推，系统提供的亮度精确可控，同时切换效率高。

在一个优选实施例中，连接光源控制系统包括：

USB数据线4与电源6和光源控制模块3连接，传输线2与可调型LED光源1和光源控制模块3连接。

图2示出了本实用新型公开的芯片测试光源控制的原理框图。

如图2所示，1.芯片介绍：

TPS73801：1A、低噪声、快速瞬态响应低压降线性稳压器；

LT1963：1.5A、低噪声、快速瞬态响应LDO稳压器；

SN75240PW：双路USB端口瞬态抑制器；

C8051F500-IQ：8-BIT,FLASH,24MHz,MICROCONTROLLER,PQFP48；

pl2303HXD：USB转标准串口芯片；

LMR62014XMF：升压稳压器；

TXB0108PWR：+/-15kV ESD保护的8位双向电压电平转换器；

MAX766：-15V High-Efficiency,Low IQ DC-DC Inverters；

ADR435B：基准电压源,具有低噪声、高精度和低温度漂移性能；

AD5570：高精度16位12/15V Digital-A nalog convertor；

OPA4180ID：线性放大器；

BC868：Transistors。

2.功能模块：

实现方式：由mcu C8051通过USB转标准串口芯片接受PC端控制指令，并将其通过D/A转换芯片、放大器去控制光源板电流强度以达到亮度变换调节的功能。

图3示出了本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的一个实施例的电源模块电路图。

如图3所示，电源模块通过LMR62014XMF提供部分芯片工作所需要的+15V电压。

图4示出了本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的一个实施例的电压模块电路图。

如图4所示，电压模块通过MAX766提供部分新pain工作所需要的-15V电压。

图5示出了本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的一个实施例的基准稳压源模块电路图。

如图5所示，有高精度基准稳压源ADR435B提供DA芯片工作时所需要的5V电压。

图6示出了本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的一个实施例的USB转串口模块电路图。

如图6所示，USB转串口模块因为8051使用tx，rx串口通讯方式，无法直接与PC端USB口通讯，所以需要使用USB转串口芯片实现通讯功能。

图7示出了本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的一个实施例的主控芯片模块电路图。

如图7所示，主控芯片，C8051从PC段接受调解命令，通过内部编程指令将其发送至D/A转换芯片，工作电压有2颗稳压器分别提供2.5V和3.3V电压。

图8示出了本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的一个实施例的双向电压电平转换器模块电路图。

如图8所示，因为MCU与DA芯片工作电压不同，无法直接进行数据传输，所以需要接入8位双向电压电平转换器实现两者的数据信号传输。

图9示出了本实用新型公开的芯片测试光源控制系统的一个实施例的模拟信号放大电路模块电路图。

如图9所示，模拟信号放大电路从D/A芯片接收到单片机指令后将其转换成模拟信号，OPA4180ID主要通过跟随功能稳定输出电流，再经由三极管将其从uA级别放大至mA级别。

本实用新型实施例提供的一种芯片测试光源控制系统，能够通过调整可调电阻5的电阻值而改变光源控制模块3输出的电流值进而改变可调型LED光源1的亮度然后将不同亮度值对应的电阻值记录到记忆档位中，在测试芯片时只需将电阻值切换到不同的档位就能实现芯片测试光源控制；该系统的实现方法提供了芯片测试所需光源的精确控制；由于在实际测试芯片之前已经记录了不同电阻值对应的可调型LED光源1的不同亮度从而能够高效实现亮度切换。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本实用新型实施例公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本实用新型实施例的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上所述的本实用新型实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本实用新型实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型实施例的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种芯片测试光源控制系统，其特征在于，包括：

可调型LED光源；

传输线；

USB数据线；

光源控制模块，所述光源控制模块一端通过所述传输线与所述可调型LED光源连接，另一端通过所述USB数据线与电源连接；以及

所述光源控制模块包括可调电阻；

其中，所述光源控制模块通过调整所述可调电阻的电阻值而将相应的电流值输出到所述可调型LED光源。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述可调型LED光源设置在测试芯片的镜头上方，用于提供芯片测试所需的输出光亮度。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光源控制模块包括记忆档位模块，用于记忆各亮度档位的所对应的电阻值。

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述记忆档位模块包括多个记忆档位。

5.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述光源控制模块通过读取各记忆档位中记忆的不同值来调整所述可调电阻的电阻值。

6.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述镜头下方设置有将待测芯片固定的待测芯片固定机构。

7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述传输线用于将所述光源控制模块产生的电流传输至所述可调型LED光源。

8.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述USB数据线通过连接到电脑来提供所述光源控制模块和所述可调型LED光源的电源。