CN115463764A

CN115463764A - 极片涂布装置和极片涂布方法

Info

Publication number: CN115463764A
Application number: CN202211320311.7A
Authority: CN
Inventors: 黄林
Original assignee: Sunwoda Electric Vehicle Battery Co Ltd
Current assignee: Sunwoda Electric Vehicle Battery Co Ltd
Priority date: 2022-10-26
Filing date: 2022-10-26
Publication date: 2022-12-13

Abstract

本申请实施例提供一种极片涂布装置和极片涂布方法，极片涂布装置包括：标记机构，用于向基材的一侧面上喷涂标记；涂布机构，用于错开标记向基材的两侧面涂布浆料；第一测量器，用于获取标记的位置信息，并检测基材对应标记位置的第一面密度；第二测量器，用于获取标记的位置信息，并检测基材和浆料对应标记位置的第二面密度；控制器，用于根据第一面密度和第二面密度获取浆料的涂布重量，并根据涂布重量调整涂布机构的涂布量。根据第一测量器和第二测量器获取对应同一标记位置的浆料的涂布重量，由此作为涂布机构涂布量的调整基础，可以使得基材进料方向前后部分的浆料涂布重量一致，从而保证极片重量的一致性。

Description

极片涂布装置和极片涂布方法

技术领域

本发明涉及极片涂布技术领域，尤其涉及一种极片涂布装置和极片涂布方法。

背景技术

电池生产过程中的一道工序是将正负极浆料涂布在集流体表面，从而形成正负极极片，正负极极片是电池中电芯的组成部分。

其中，在涂布过程中，通常使用测量仪实时扫描测量涂布基材和涂覆单双面重量，以保证涂布完成的极片的重量在工艺要求范围内。然而，现有的测量仪在测量一致性问题上未得到有效的方法去解决，导致电芯中极片的重量存在差异而影响电池的性能。

发明内容

本申请实施例提供一种极片涂布装置和极片涂布方法，以提升极片涂布的一致性，减少极片重量差异对电池性能的影响。

本申请实施例提供一种极片涂布装置，包括：

基材，所述基材具有用于涂布的相对两侧面；

标记机构，用于向所述基材的一侧面上喷涂标记；

涂布机构，在进料方向上，所述涂布机构位于所述标记机构之后，所述涂布机构用于错开所述标记向所述基材的所述两侧面涂布浆料；

第一测量器，设置于所述涂布机构和所述标记机构之间，所述第一测量器用于获取所述标记的位置信息，并检测所述基材对应所述标记位置的第一面密度；

第二测量器，在所述进料方向上，所述第二测量器设置于所述涂布机构之后，所述第二测量器用于获取所述标记的位置信息，并检测所述基材和所述浆料对应所述标记位置的第二面密度；

控制器，与所述第一测量器、所述第二测量器和所述涂布机构电连接，所述控制器用于根据所述第一面密度和所述第二面密度获取浆料的涂布重量，并根据所述涂布重量调整所述涂布机构的涂布量。

本申请实施例还提供一种极片涂布方法，包括：

向基材的一侧面上喷涂标记；

获取所述标记的位置信息，并检测所述基材对应所述标记位置的第一面密度；

错开所述标记向所述基材涂布浆料；

获取所述标记的位置信息，并检测所述基材和所述浆料对应所述标记位置的第二面密度；

根据所述第一面密度和所述第二面密度获取浆料的涂布重量，并根据所述涂布重量调整涂布浆料的涂布量。

本申请实施例提供的极片涂布装置和极片涂布方法中，通过设置标记机构对基材喷涂标记，根据第一测量器和第二测量器获取对应同一标记位置的浆料的涂布重量，由此作为涂布机构涂布量的调整基础，可以使得基材进料方向前后部分的浆料涂布重量一致，从而保证极片重量的一致性，以减少极片重量差异对电池性能的影响。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的极片涂布装置的结构示意图。

图2为本申请实施例提供的基材和极片涂布装置中部分结构的场景示意图。

图3为图1所示的极片涂布装置中部分结构的结构示意图。

图4为本申请实施例提供的极片涂布方法的流程示意图。

附图标记说明

10-基材 11-料带 12-标记

13-设定区域 2-极片涂布装置 20-标记机构

21-涂布机构 22-第一测量器 220-识别仪

221-扫描仪 23-第二测量器 24-控制器

25-烘干机构 26-第三测量器 30-基座

31-第二支架 32-第三支架 33-第四支架

X-进料方向 Y-第一方向。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

请参阅图1，图1为本申请实施例提供的极片涂布装置的结构示意图。本申请实施例提供一种极片涂布装置2，极片涂布装置2用在电池极片生产过程中。电池生产过程中的一道工序是将正负极浆料涂布在集流体表面，经烘干、裁切后得到正负极极片，正负极极片是电池中电芯的主要组成部分，电芯封装在壳体中形成电池。其中，在涂布过程中，通常使用测量仪实时扫描测量涂布基材和涂覆单双面重量，以保证涂布完成的极片重量在工艺要求范围内。然而，现有的测量仪在测量一致性问题上未得到有效的方法去解决，导致电芯中极片的重量存在差异而影响电池的性能。

本申请实施例通过对极片涂布装置2进行改进，来调整浆料涂布的均匀性，从而使得极片重量一致，提升电池的性能。

示例性的，极片涂布装置2包括基材10、标记机构20、涂布机构21、第一测量器22、第二测量器23以及控制器24。

请结合图1并参阅图2，图2为本申请实施例提供的基材和极片涂布装置中部分结构的场景示意图。基材10是浆料涂布的基础结构，对应每一电池的极片的基材也可以称为集流体，集流体是汇集电流的结构或零件。在极片生产过程中，为提升生产效率，通常将基材10整理收卷，通过将基材10不断放卷进行涂布，涂布烘干完成的基材10和浆料干膜作为极片的料带11，对料带进行切割，可以得到批量的极片，由此来进行大批量的极片的生产。基材10具有用于涂布的相对两侧面，其中，对于每一侧面的基材10来说，其可以沿与进料方向X垂直的第一方向Y涂布多个区域的浆料，由此，可以同时得到多条料带11，进而可以提升生产效率。涂布浆料的多个基材10的区域可以依次间隔，以留出余量供裁剪或者防止干涉。

标记机构20用于向基材10的一侧面喷涂标记12。比如，标记机构20可以为带有喷码头以及供液组件的机构，通过供液组件提供喷码液体，喷码头朝向目标喷射液体来形成标记12，通过设置喷码头的喷射形状，可以形成不同大小和不同形状的标记12。比如，本申请实施例可以在基材10的一侧面上喷涂标记12，标记12可以为边长为10毫米的正方形图案。为防止标记12被浆料遮盖，可以将标记12喷涂在基材10形成料带11之外的空白区域，如在第一方向Y上，将标记12喷涂在基材10一侧面的上端。当然，并不限定标记12的喷涂位置，能够不被浆料遮挡的基材10上的位置均可。

涂布机构21用于向基材10的两侧面涂布浆料。涂布机构21也可以具有供浆料组件和喷头，喷头的数量可以根据需要设定，如在图2中所述，可以设置三个喷头对基材10进行喷涂，每一喷头的喷涂区域根据极片的尺寸来适应性设计。通过调整喷头涂布浆料的喷涂量，可以形成不同重量的浆料以及浆料干膜。极片涂布装置2可以设置有工作台或者基座，涂布机构21可以相对于工作台或者基座固定，通过基材10的放卷进料来实现对基材10不同区域涂布浆料。示例性的，在进料方向X上，涂布机构21位于标记机构20之后。涂布机构21用于错开标记12向基材10的两侧面涂布浆料。需要说明的是，对于基材10两侧面浆料的涂布，可以采用一个涂布机构21来进行，如对基材10的一侧面涂布完成后，翻转基材10，来使用同一涂布机构21对基材10的另一侧面进行涂布。也可以采用两个或者多个涂布机构21来对基材10的两侧面进行涂布，两个涂布机构21可以设置在基材10的相对两侧面，或者通过基材10的卷绕来改变基材10的两侧面与两个涂布机构21的相对位置。

第一测量器22设置于涂布机构21和标记机构20之间。第一测量器22用于获取标记12的位置信息，并检测基材10对应标记12位置的第一面密度。在进料方向X上，第二测量器23设置于涂布机构21之后。第二测量器23用于获取标记12的位置信息，并检测基材10和浆料对应标记12位置的第二面密度。

控制器24与第一测量器22、第二测量器23和涂布机构21电连接。控制器24用于根据第一面密度和第二面密度获取浆料的涂布重量，并根据涂布重量调整涂布机构21的涂布量。控制器24可以理解为极片涂布装置2的控制中心，控制器24可以控制第一测量器22采集标记12的位置信息的时机，以及检测基材10对应标记12位置的第一面密度的时机。控制器24对第二测量器23的控制可以参照第一测量器22，这里不再赘述。控制器24还可以与标记机构20电连接，以控制标记机构20喷涂标记的时机、喷涂标记的位置等。控制器24还可以控制涂布机构21的涂布量。示例性的，控制器24可以采用PLC(Programmable logicController，可编程控制器)控制，PLC控制系统是在传统的顺序控制器的基础上引入了微电子技术、计算机技术、自动控制技术和通讯技术而形成的一代新型工业控制装置，目的是用来取代继电器、执行逻辑、记时、计数等顺序控制功能，建立柔性的远程控制系统。具有通用性强、使用方便、适应面广、可靠性高、抗干扰能力强、编程简单等特点。

本申请实施例提供的极片涂布装置2中，通过设置标记机构20对基材10喷涂标记12，根据第一测量器22和第二测量器23获取对应同一标记位置的浆料的涂布重量，由此作为涂布机构21涂布量的调整基础，可以使得基材10进料方向X前后部分的浆料涂布重量一致，从而保证极片重量的一致性，以减少极片重量差异对电池性能的影响。

示例性的，请继续参阅图1和图2，第一测量器22和第二测量器23均包括识别仪220和扫描仪221，识别仪220与扫描仪221电连接。

识别仪220用于获取标记12的位置信息。比如，识别仪220可以为色标传感器，色标传感器常用于检测特定色标或物体上的斑点，它是通过与非色标区相比较来实现色标检测，而不是直接测量颜色。色标传感器实际是一种反向装置，光源垂直于目标物体安装，而接收器与物体成锐角方向安装，让它只检测来自目标物体的散射光，从而避免传感器直接接收反射光，并且可使光束聚焦很窄。白炽灯和单色光源都可用于色标检测。通过色标传感器可以识别到标记12的图案以及标记12的位置信息。再比如，识别仪220还可以为照相机或者摄像机，通过拍摄图片与预设标记对比得到标记12以及标记12的位置信息。当然，识别仪220还可以为其他类型或者原理制作的仪器，这里不再一一举例。

扫描仪221能够根据标记12的位置信息扫描设定区域13，以获取对应设定区域13的基材10的第一面密度或者对应设定区域13的基材10和浆料的第二面密度。需要说明的是，单位面积上极片的质量，称为极片的面密度。极片的面密度是决定电池的一致性的最重要的因素。扫描仪221可以为面密度测重仪。面密度测重仪的工作原理是：由Kr85(氪85)衰变产生的β射线，穿透电池极片时，一部分射线被极片吸收。导致穿透极片后的射线强度相对于入射射线强度有一定的衰减。衰减比例与被穿透极片的面密度呈负指数关系。通过填充有特殊气体电离室检测射线穿透极片前后的射线强度，即可推算出极片的面密度。面密度定义为单位面积s上的极片的质量m。扫描仪221可以直接获取设定区域13的面密度，由此得到设定区域13的浆料的涂布重量。通过将第一测量器22和第二测量器23扫描同一设定区域13，可以得到同一设定区域13内浆料的面密度，由此作为涂布机构21涂布量的调整基础，从而保证极片重量的一致性。

其中，扫描仪221能够沿与进料方向X垂直的第一方向Y移动，从而可以实现对设定区域13的扫描与检测。比如，在需要扫描设定区域13时，可以使基材10停止进料，扫描仪221对设定区域13扫描完成后再控制基材10进料。当然，也可以通过控制扫描仪221的运动轨迹与基材10的进料速度相适配，来实现扫描仪221对设定区域13的扫描与检测。对于扫描仪221的移动，可以通过设置支架结构来实现。例如，可以在极片涂布装置2的基座上设置沿第一方向Y延伸的第一支架，扫描仪221沿第一方向Y与第一支架滑动连接。识别仪220与扫描仪221沿进料方向X滑动连接，从而识别仪220既可以跟随扫描仪221沿第一方向Y移动，识别仪220又可以相对于扫描仪221沿进料方向X移动，以实现对标记12的识别与获取。

示例性的，请参阅图3，图3为图1所示的极片涂布装置中部分结构的结构示意图。识别仪220可以在基材10的预设区域内分别沿第一方向Y和进料方向X移动。比如，识别仪220可以沿进料方向X滑动连接于第二支架31，第二支架31可以与基座30沿第一方向Y滑动连接。

标记机构20也可以移动到预设位置进行标记的喷涂。比如，标记机构20可以沿进料方向X滑动安装于第三支架32，从而实现标记机构20沿进料方向X的移动。第三支架32与第四支架33沿靠近或者远离基材10的方向滑动连接，第三支架32可以相对于第四支架33靠近基材10移动或者远离基材10移动，并带动标记机构20靠近或者远离基材10。第四支架33可以与基座30沿第一方向Y滑动连接，以带动标记机构20沿第一方向Y移动。由于标记机构20可以靠近或者远离基材10移动，从而可以避让识别仪220的移动，以防止二者产生干涉。当然，标记机构20与识别仪220的相对位置在图3中只是示意，表明通过支架的设置以及支架之间的连接可以实现识别仪220的移动以及标记机构20的移动，而不应理解为对标记机构20与识别仪220的实际位置关系的限制。

示例性的，第一测量器22可以与第二测量器23通信连接，以实现对第二测量器23的扫描仪221的扫描位置进行调整，提高第一测量器22和第二测量器23的对设定区域13的测量精度。比如，第一测量器22的识别仪220用于获取标记12的第一位置信息，第二测量器23的识别仪220用于获取标记12的第二位置信息。基材10在进料过程中，会出现辊不能将基材10拉平的现象，拉平可以理解为在第一方向Y和进料方向X均使得基材10处于预设位置范围内，由此会出现第一测量器22获取的第一位置信息与第二测量器23获取的第二位置信息不匹配的情况，导致第二测量器23与第一测量器22扫描的并非同一设定区域13。为了解决这一问题，本申请实施例还可以对第二测量器23的扫描位置进行纠偏。示例性的，控制器24分别与第一测量器22的识别仪220和第二测量器23的识别仪220电连接，控制器24用于根据第一位置信息和第二位置信息获取位置误差，并根据位置误差调整第二测量器23的扫描仪221扫描的位置，以使第二测量器23的扫描仪221能够扫描到设定区域13，以使得第一测量器22和第二测量器23扫描的是同一区域的面密度，以此来保证浆料涂布重量的检测精度。当然，还可以将第一位置信息和第二位置信息作为基材10纠偏的基础，使基材10回正后，第二测量器23再扫描设定区域13。第一测量器22和第二测量器23的通信连接，可以实现对扫描设定区域13的纠偏，从而保证浆料涂布重量的检测精度。并且，第一测量器22和第二测量器23的通信连接，还可以作为对基材10纠偏的基础，复用了第一测量器22和第二测量器23，可以节省器件，降低极片涂布装置2的成本。

需要说明的是，第二测量器23能够检测基材10和浆料湿态的第二面密度，再根据第一测量器22获取的基材10的第一面密度即可以得到浆料湿态的涂布重量。由于浆料干膜状态的重量是成型极片的涂布重量，因此，还可以利用浆料干膜的重量来作为涂布机构21涂布量的调整基础。

示例性的，极片涂布装置2还包括烘干机构25和第三测量器26。

在进料方向X上，烘干机构25设置于第二测量器23之后，烘干机构25用于将涂布浆料烘干得到干膜。烘干机构25也即是通过加热将涂布的浆料进行烘干的机构，其可以采用对涂布的浆料吹热风进行烘干，也即可以通过导热结构向涂布的浆料辐射热量进行烘干。

在进料方向X上，第三测量器26设置于烘干机构25之后。第三测量器26用于获取标记12的位置信息，并检测基材10和干膜对应标记12位置的第三面密度，比如可以检测设定区域13的第三面密度。将第三面密度与第一面密度对比得到干膜的重量，干膜的重量作为涂布机构21的涂布量调整基础。或者是将第三面密度与第二面密度对比得到干膜与湿膜的重量差，由此作为确认先前根据第二面密度和第一面密度调整涂布机构21的涂布量的准确性。其中，控制器24与第三测量器26电连接，控制器24还用于根据第三面密度调整涂布机构21的涂布量。第三测量器26的结构组成可以参照第一测量器22和第二测量器23的说明，所区别的在于第三测量器26与第一测量器22和第二测量器23的设置位置不同。

为了实现对基材10的相对两侧面浆料的涂布、烘干与检测，极片涂布装置2可以包括两个第二测量器23、两个第三测量器26、两个涂布机构21以及两个烘干机构25。两个第二测量器23与控制器24电连接，控制器24用于获取基材10的两侧面浆料的两个涂布重量，并根据每一涂布重量调整涂布机构21的涂布量。两个第三测量器26与控制器24电连接，控制器24用于获取基材10的两侧面干膜的两个涂布重量，并根据每一涂布重量调整涂布机构21的涂布量。两个涂布机构21分别对基材10的两侧面进行涂布。两个烘干机构25分别对基材10的两侧面的涂布浆料进行烘干。

其中，示例性的，在进料方向X上，标记机构20、第一测量器22、一个涂布机构21、一个第二测量器23、一个烘干机构25和一个第三测量器26依次排布，通过辊结构将基材10翻转，在进料方向X上依次设置另一涂布机构21、另一第二测量器23、另一烘干机构25和另一第三测量器26，最后将涂布完成的基材10进行收卷。这样设置的极片涂布装置2结构紧凑，无需手动将基材10翻转，减少了基材10位置偏差情况的出现，可以提升极片的涂布效果和涂布均一性。

如图4所示，图4为本申请实施例提供的极片涂布方法的流程示意图。本申请实施例还提供一种极片涂布方法，应用于上述极片涂布装置2中，极片涂布装置2可以参照图1至图3以及上述说明。极片涂布方法包括：

101、向基材的一侧面上喷涂标记。

示例性的，可以采用标记机构20向基材10的一侧面喷涂标记12。比如，可以控制标记机构20移动到对应基材10的预设区域，再控制标记机构20朝向靠近基材10的方向移动，然后控制标记机构20进行喷涂。可以通过设置标记机构20的喷涂速度以及喷涂量等参数，来实现对基材10预设区域喷涂具有颜色和/或图案的标记12。还可以控制标记机构20的喷涂时刻，如在基材10停止进料时进行喷涂。

比如，可以在基材10沿第一方向Y的上端区域喷涂标记12，标记12可以为边长为10毫米的正方形图案。

102、获取标记的位置信息，并检测基材对应标记位置的第一面密度。

标记12的位置信息可以作为测基材10的第一面密度的基准定位。设置标记12，再对应检测对应同一标记位置的涂布浆料的重量，作为后续涂布量的调整基准。

比如，可以先获取标记12的位置信息，然后根据标记12的位置信息扫描设定区域13，从而获取设定区域13的基材10的第一面密度。

上述动作或者步骤可以通过第一测量器22来实现。第一测量器22包括识别仪220和扫描仪221，识别仪220与扫描仪221电连接。识别仪220用于获取标记12的位置信息，比如，可以将识别仪220移动到对应标记12的位置，以对标记12进行识别和检测。扫描仪221能够根据标记12的位置信息扫描设定区域13，以获取对应设定区域13的基材10的第一面密度。在获取到标记12的位置信息后，控制扫描仪221在扫描设定区域13，从而得到设定区域13的基材10的第一面密度。

103、错开标记向基材涂布浆料。

为了防止标记12被遮盖，在向基材10涂布浆料时，可以错开标记12的位置。比如，对基材10可以设置空白区域和涂布区域，将标记12喷涂在空白区域，在涂布区域对基材10涂布浆料，可以防止浆料将标记12遮盖。

可以采用涂布机构21对基材10进行涂布，控制涂布机构21在涂布区域进行涂布，可以通过移动涂布机构21或者设置多个喷头进行涂布。通过调整涂布浆料的喷涂量，可以形成不同重量的浆料以及浆料干膜。对涂布浆料的重量进行检测，可以调整浆料的涂布量，以保证进料方向X浆料涂布的均匀性，进而提升极片重量的一致性。

104、获取标记的位置信息，并检测基材和浆料对应标记位置的第二面密度。

获取标记12的位置信息，根据标记12的位置信息扫描设定区域13，以获取设定区域13的基材10和浆料的第二面密度。通过扫描同一区域得到浆料的涂布重量，作为涂布机构21涂布量的调整基础，可以提升极片涂布的均一性。可以采用第二测量器23进行标记12的位置信息的获取以及设定区域13的扫描。第二测量器23包括识别仪220和扫描仪221，识别仪220与扫描仪221电连接。识别仪220用于获取标记12的位置信息，比如，可以将识别仪220移动到对应标记12的位置，以对标记12进行识别和检测。扫描仪221能够根据标记12的位置信息扫描设定区域13，以获取对应设定区域13的基材10和浆料的第二面密度。在获取到标记12的位置信息后，控制扫描仪221在扫描设定区域13，从而得到设定区域13的基材10和浆料的第二面密度。

其中，基材10在进料过程中，会出现辊不能将基材10拉平的现象，拉平可以理解为在第一方向Y和进料方向X均使得基材10处于预设位置范围内，由此会出现第一测量器22获取的第一位置信息与第二测量器23获取的第二位置信息不匹配的情况，导致第二测量器23与第一测量器22扫描的并非同一设定区域13。

示例性的，可以获取标记12的第一位置信息和第二位置信息，根据第一位置信息和第二位置信息获取位置误差，根据位置误差调整扫描的位置，以扫描到设定区域13。

比如，可以对第二测量器23的扫描位置进行纠偏。根据第一位置信息和第二位置信息获取位置误差，并根据位置误差调整第二测量器23的扫描仪221扫描的位置，以扫描到设定区域13，以使得第一测量器22和第二测量器23扫描的是同一区域的面密度，以此来保证浆料涂布重量的检测精度。当然，还可以将第一位置信息和第二位置信息作为基材10纠偏的基础，使基材10回正后，第二测量器23再扫描设定区域13。第一测量器22和第二测量器23的通信连接，可以实现对扫描设定区域13的纠偏，从而保证浆料涂布重量的检测精度。并且，第一测量器22和第二测量器23的通信连接，还可以作为对基材10纠偏的基础，复用了第一测量器22和第二测量器23，可以节省器件，降低极片涂布装置2的成本。

105、根据第一面密度和第二面密度获取浆料的涂布重量，并根据涂布重量调整涂布浆料的涂布量。

由于第一面密度和第二面密度均为设定区域13内的面密度，第一面密度为基材10的面密度，第二面密度为基材10和浆料的面密度，第二面密度与第一面密度的差值即为湿态涂布浆料的重量，根据这个涂布重量可以调整后续涂布浆料的涂布量，由此来提升进料方向X浆料涂布的均一性，以使得极片重量保持一致。

本申请实施例提供的极片涂布方法中，通过对基材10喷涂标记12，然后获取对应同一标记位置的浆料的涂布重量，由此作为浆料涂布量的调整基础，可以使基材10进料方向X前后部分的浆料涂布重量一致，从而保证极片重量的一致性，以减少极片重量差异对电池性能的影响。

其中，第二测量器23能够检测基材10和浆料湿态的第二面密度，再根据第一测量器22获取的基材10的第一面密度即可以得到浆料湿态的涂布重量。由于浆料干膜状态的重量是成型极片的涂布重量，因此，还可以利用浆料干膜的重量来作为涂布机构21涂布量的调整基础。

比如，可以对涂布的浆料烘干得到干膜。获取标记12的位置信息，并检测基材10和干膜对应标记位置的第三面密度。根据第三面密度调整涂布浆料的涂布量。比如可以检测设定区域13的第三面密度，将第三面密度与第一面密度对比得到干膜的重量，干膜的重量作为涂布机构21的涂布量调整基础。或者是将第三面密度与第二面密度对比得到干膜与湿膜的重量差，由此作为确认先前根据第二面密度和第一面密度调整涂布机构21的涂布量的准确性。

示例性的，可以对基材10的相对两侧面均设置上述检测步骤，以提升基材10双面涂布浆料的均一性，进而提升极片的重量度一致性。

以上对本申请实施例提供的极片涂布装置和极片涂布方法进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请。同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims

1.一种极片涂布装置，其特征在于，包括：

基材，所述基材具有用于涂布的相对两侧面；

标记机构，用于向所述基材的一侧面上喷涂标记；

2.根据权利要求1所述的极片涂布装置，其特征在于，所述第一测量器和所述第二测量器均包括：

识别仪，用于获取所述标记的位置信息；

扫描仪，与所述识别仪电连接，所述扫描仪能够根据所述标记的位置信息扫描设定区域，以获取对应所述设定区域的所述基材的第一面密度或者获取对应所述设定区域的所述基材和所述浆料的第二面密度。

3.根据权利要求2所述的极片涂布装置，其特征在于，所述扫描仪能够沿与所述进料方向垂直的第一方向移动；

所述识别仪与所述扫描仪沿所述进料方向滑动连接。

4.根据权利要求2所述的极片涂布装置，其特征在于，所述第一测量器的识别仪用于获取所述标记的第一位置信息；所述第二测量器的识别仪用于获取所述标记的第二位置信息；

所述控制器分别与所述第一测量器的识别仪和所述第二测量器的识别仪电连接，所述控制器用于根据所述第一位置信息和所述第二位置信息获取位置误差，并根据所述位置误差调整所述第二测量器的扫描仪扫描的位置，以使所述第二测量器的扫描仪扫描到所述设定区域。

5.根据权利要求1-4任一项所述的极片涂布装置，其特征在于，所述极片涂布装置还包括：

烘干机构，在所述进料方向上，所述烘干机构设置于所述第二测量器之后，所述烘干机构用于将涂布的浆料烘干得到干膜；和

第三测量器，在所述进料方向上，所述第三测量器设置于所述烘干机构之后，所述第三测量器用于获取所述标记的位置信息，并检测所述基材和所述干膜对应所述标记位置的第三面密度；

其中，所述控制器与所述第三测量器电连接，所述控制器还用于根据所述第三面密度调整所述涂布机构的涂布量。

6.根据权利要求1-4任一项所述的极片涂布装置，其特征在于，所述极片涂布装置包括两个第二测量器，所述两个第二测量器与所述控制器电连接，所述控制器还用于获取所述基材的所述两侧面浆料的两个涂布重量，并根据每一所述涂布重量调整所述涂布机构的涂布量。

7.一种极片涂布方法，其特征在于，包括：

向基材的一侧面上喷涂标记；

错开所述标记向所述基材涂布浆料；

8.根据权利要求7所述的极片涂布方法，其特征在于，所述获取所述标记的位置信息，并检测所述基材对应所述标记位置的第一面密度，包括：

获取所述标记的位置信息；

根据所述标记的位置信息扫描设定区域，以获取所述设定区域的基材的第一面密度；

所述获取所述标记的位置信息，并检测所述基材和所述浆料对应所述标记位置的第二面密度，包括：

根据所述标记的位置信息扫描所述设定区域，以获取所述设定区域的基材和浆料的第二面密度。

9.根据权利要求8所述的极片涂布方法，其特征在于，所述根据所述标记的位置信息扫描所述设定区域，以获取所述设定区域的基材和浆料的第二面密度，包括：

获取所述标记的第一位置信息和第二位置信息；

根据所述第一位置信息和所述第二位置信息获取位置误差；

根据所述位置误差调整扫描的位置，以扫描到所述设定区域。

10.根据权利要求7所述的极片涂布方法，其特征在于，所述极片涂布方法还包括：

对涂布的浆料烘干得到干膜；

获取所述标记的位置信息，并检测所述基材和所述干膜对应所述标记位置的第三面密度；

根据所述第三面密度调整涂布浆料的涂布量。