CN115422116B - 用于晶上系统jtag菊花链连接的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本公开提出了一种用于晶上系统JTAG菊花链连接的方法和装置。本公开将预制件的TDI和TDO分别扩展为多个，降低多个TDI/TDO同时接触不良的概率；同时，将TDI/TDO由单向IO（输入/输出）设置为双向IO（输入/输出）可配置；以此，可以增加训练逻辑，后续即可在预制件内部通过一系列的检测手段，选择其中一对连接正常的TDI和TDO配置为工作通道进行工作，包括JTAG访问寄存器或者DFT测试，提高了SOW系统中通过JTAG接口进行芯片测试或者寄存器访问的可靠性。

Description

用于晶上系统JTAG菊花链连接的方法和装置

技术领域

本公开涉及半导体技术领域，具体涉及一种用于晶上系统JTAG菊花链连接的方法和装置。

背景技术

随着摩尔定律和登纳德缩放定律逐渐失效，传统的基于器件、组件、模块、机架逐层堆叠系统的工程技术路线遭遇可持续发展瓶颈。为了维持后摩尔时代集成电路领域的可持续发展，基于预制件组装和晶圆级异构集成技术的晶上系统（system on wafer，SOW）逐步成为集成电路领域的研究热点。晶上系统（SOW）将大型信息基础设施的工程技术路线由基于器件、组件、模块、机架逐层堆叠式系统演进为不同颗粒度“预制件”的拼接组装式实现，以实现面向领域应用的不同预制件的灵活互连与功能重建，以满足复杂多样的应用任务需求。其中，预制件可以为采用不同工艺制程和/或不同功能结构和/或不同制造厂商的异构异质预制件；晶圆基板通过重布线层rdl或光刻方式提供预制件之间的互联线路；各预制件通过热压焊与晶圆级互连基板连接；如此各个预制件通过晶圆基板上的互联线实现互联。

JTAG接口(Joint Test Action Group，联合测试工作组)，是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试，也可以通过间接寄存器的方式进行方案。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。

JTAG协议支持通过如图1所示的菊花链的连接方式，使用单个JTAG仿真器对串在菊花链中的器件进行测试或者寄存器访问。

在SOW系统中，预制件相当于未封装的裸芯片（Die），预制件上也包含JTAG接口用于芯片测试或者寄存器访问，而由于引出线限制，不可能每个预制件都引出JTAG接口，这时候就可以通过菊花链的方式将预制件连接起来，以节省晶圆（Wafer）基板的引出线；Die可以通过晶圆针测（Chip Probing，CP）的测试方式获得KGD（Known good die，已知合格芯片）。但是Die连接到Wafer基板上需要经过复杂的工艺，有一定的次品率，而其中失效的部位就可能包括JTAG相关的信号线，所以如果某个预制件的TDI/TDO信号线与基板接触不良会导致整个菊花链上的预制件无法通过JTAG访问。

发明内容

本公开提出了一种用于晶上系统JTAG菊花链连接的方法和装置，可应用于晶上系统各个互联预制件之间的JTAG级联。

第一方面，本公开提供一种用于晶上系统JTAG菊花链连接的方法，所述晶上系统包括多个预制件，所述预制件中设有JTAG控制器，多个所述预制件通过所述JTAG控制器串接在菊花链中，所述JTAG控制器具有多个TDI和多个TDO，所述TDI和所述TDO 的IO方向均支持在输入和输出之间切换，其中，多个所述JTAG控制器包括第一JTAG控制器及其下游的第二JTAG控制器，所述第一JTAG控制器的多个TDO分别连接所述第二JTAG控制器的多个TDI；所述方法包括：所述第一JTAG控制器和所述第二JTAG控制器通过多对TDO和TDI进行信号交互；根据信号交互结果选择其中一对TDO和TDI配置为工作通道。

在一些可选的实施方式中，所述第一JTAG控制器和所述第二JTAG控制器通过多对TDO和TDI进行信号交互，包括：所述第一JTAG控制器的多个TDO的IO方向设为输出，分别向外发送翻转序列形式的第一信号；所述第二JTAG控制器的多个TDI的IO方向设为输入，接收所述第一信号；在所述第一信号发送完毕后，将所述第一JTAG控制器的多个TDO的IO方向切换为输入，并在延迟预设时间后将所述第二JTAG控制器的多个TDI的IO方向切换为输出；所述第二JTAG控制器从多个TDI中选择一个目标TDI，通过所述目标TDI向外输出翻转序列形式的第二信号；所述第一JTAG控制器通过目标TDO接收所述第二信号，所述目标TDO是所述第一JTAG控制器的连接至所述目标TDI的一个TDO；所述根据信号交互结果选择其中一对TDO和TDI作为工作通道，包括：在所述第一JTAG控制器接收到所述第二信号后，将目标TDO和所述目标TDI配置为工作通道。

在一些可选的实施方式中，所述方法还包括：在工作通道配置完成后，将所述第一JTAG控制器的多个TDO的IO方向切换为输出，并在延迟预设时间后将所述第二JTAG控制器的多个TDI的IO方向切换为输入。

在一些可选的实施方式中，所述第二JTAG控制器从多个TDI中选择一个目标TDI，包括：所述第二JTAG控制器对于通过其多个TDI接收到的多个第一信号，选择翻转次数正确且序号最小的TDI，作为目标TDI；或者，选择翻转次数最多且序号最小的TDI，作为目标TDI；或者，选择序号最小的TDI，作为目标TDI。

在一些可选的实施方式中，所述JTAG控制器中多个TDI用来对外连接的凸块分布在裸芯片的不同位置上，且多个TDO用来对外连接的凸块分布在裸芯片的不同位置上。

第二方面，本公开提供一种用于晶上系统JTAG菊花链连接的装置，包括应用于晶上系统中的预制件的JTAG控制器，所述JTAG控制器设于所述预制件中，多个所述预制件通过所述JTAG控制器串接在菊花链中，所述JTAG控制器具有多个TDI和多个TDO，所述TDI和所述TDO 的IO方向均支持在输入和输出之间切换，其中，所述JTAG控制器包括第一JTAG控制器及其下游的第二JTAG控制器，所述第一JTAG控制器的多个TDO分别连接所述第二JTAG控制器的多个TDI；所述第一JTAG控制器和所述第二JTAG控制器被配置成通过多对TDO和TDI进行信号交互，根据信号交互结果选择其中一对TDO和TDI配置为工作通道。

在一些可选的实施方式中，所述第一JTAG控制器和所述第二JTAG控制器被配置成通过多对TDO和TDI进行信号交互，根据信号交互结果选择其中一对TDO和TDI配置为工作通道，包括：所述第一JTAG控制器的多个TDO的IO方向设为输出，分别向外发送翻转序列形式的第一信号；所述第二JTAG控制器的多个TDI的IO方向设为输入，接收所述第一信号；在所述第一信号发送完毕后，将所述第一JTAG控制器的多个TDO的IO方向切换为输入，并在延迟预设时间后将所述第二JTAG控制器的多个TDI的IO方向切换为输出；所述第二JTAG控制器从多个TDI中选择一个目标TDI，通过所述目标TDI向外输出翻转序列形式的第二信号；所述第一JTAG控制器通过目标TDO接收所述第二信号，所述目标TDO是所述第一JTAG控制器的连接至所述目标TDI的一个TDO；在所述第一JTAG控制器接收到所述第二信号后，将目标TDO和所述目标TDI配置为工作通道。

在一些可选的实施方式中，所述第一JTAG控制器和所述第二JTAG控制器进一步被配置成：在工作通道配置完成后，将所述第一JTAG控制器的多个TDO的IO方向切换为输出，并在延迟预设时间后将所述第二JTAG控制器的多个TDI的IO方向切换为输入。

在一些可选的实施方式中，所述第二JTAG控制器进一步被配置成：对于通过其多个TDI接收到的多个第一信号，选择翻转次数正确且序号最小的TDI，作为目标TDI；或者，选择翻转次数最多且序号最小的TDI，作为目标TDI；或者，选择序号最小的TDI，作为目标TDI。

在一些可选的实施方式中，所述JTAG控制器中多个TDI用来对外连接的凸块分布在裸芯片的不同位置上，且多个TDO用来对外连接的凸块分布在裸芯片的不同位置上。

为了解决某个预制件的TDI/TDO信号线与基板接触不良会导致整个菊花链上的预制件无法通过JTAG访问的技术问题，本公开提出了一种用于晶上系统JTAG菊花链连接的方法和装置，通过冗余的方式来提高JTAG连接的鲁棒性。

JTAG接口可能的失效方式是TDI/TDO信号与基板接触不良，导致JTAG链中断掉。本公开过将预制件的TDI和TDO分别扩展/复制为多个，降低多个TDI/TDO同时接触不良的概率。另外，本公开在将TDI/TDO分别扩展为多个的同时，将TDI/TDO由单向IO（输入/输出）设置为双向IO（输入/输出）可配置，即，TDI和TDO的IO方向均支持在输入和输出之间切换，以此可以在TDI的入口和TDO的出口增加训练逻辑，后续即可在预制件内部通过一系列的检测手段，选择其中一对连接正常的TDI和TDO配置为工作通道进行工作，包括进行JTAG访问寄存器或者DFT（Design For Test）测试，提高了SOW系统中通过JTAG接口进行芯片测试或者寄存器访问的可靠性。

进一步的，本公开可以将多个TDI/TDO用来对外连接的凸块（Bump）其分布在预制件（例如裸芯片）的不同位置上，进一步降低多对TDI/TDO同时接触不良的概率，避免多对TDI/TDO同时连接不正常。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本公开的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1是根据现有的一种晶上系统JTAG菊花链连接的结构示意图；

图2是根据本公开的用于晶上系统中的预制件的JTAG控制器的结构示意图；

图3是根据本公开用于晶上系统JTAG菊花链连接的装置的结构示意图；

图4A和4B分别是本公开的JTAG控制器在TDI和TDO处的训练状态机的示意图；

图5是根据本公开的一种晶上系统的结构示意图；

图6是根据本公开的用于晶上系统JTAG菊花链连接的方法的流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本公开作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关发明相关的部分。

在本公开的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本公开和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本公开的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”等应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本公开中的具体含义。

在本公开的描述中，需要说明的是，在不冲突的情况下，本公开中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

为了解决某个预制件的TDI/TDO信号线与基板接触不良会导致整个菊花链上的预制件无法通过JTAG访问的技术问题，本公开提出了一种用于晶上系统JTAG菊花链连接的方法和装置，通过冗余的方式来提高JTAG连接的鲁棒性。

本公开的用于晶上系统JTAG菊花链连接的装置，包括应用于晶上系统中的预制件的JTAG控制器。

参考图2，图2是根据本公开的用于晶上系统中的预制件的JTAG控制器30的结构示意图。

本公开的晶上系统包括多个预制件。这里的预制件包括但不限于是裸芯片（Die）。预制件中设有JTAG控制器，多个预制件可通过JTAG控制器提供的JTAG接口串接在菊花链中，菊花链的端部连接JTAG插座。菊花链是一种串联结构，例如图1所示，在信号传递方向上，菊花链的结构依次包括：JTAG插座——JTAG控制器……JTAG控制器——JTAG插座。

如图2所示，本公开中的JTAG控制器30具有TDI和TDO等JTAG接口，且TDI和TDO分别被扩展为多个。例如，可以采用“1to 4”的方式将TDI扩展为4个，可以采用“4 to 1”的方式将TDI扩展为1个。另外，本公开中将TDI和TDO均支持双向IO可配置，即，TDI的IO方向既可以设为输入，以便接受信号输入，也可以切换为输出，以便向外输出信号；同样的，TDO的IO方向既可以设为输出，以便向外输出信号，也可以切换为输入，以便接受信号输入。

参考图3，图3是根据本公开用于晶上系统JTAG菊花链连接的装置的结构示意图。本公开的装置包括至少两个JTAG控制器30。在菊花链中包括多个预制件，每个预制件中包括至少一个JTAG控制器30。

参考图3所示，多个JTAG控制器30的连接方式如下：将多个JTAG控制器中的任一个（非最后一个）定义为第一JTAG控制器31，将第一JTAG控制器下游的一个JTAG控制器定义为第二JTAG控制器32，则第一JTAG控制器31的多个TDO分别连接第二JTAG控制器32的多个TDI；例如，第一JTAG控制器31的4个TDO与第二JTAG控制器32的4个TDI一一对应连接，构成4个连接对。4个连接对中的任一个都可以用来提供第一JTAG控制器31与第二JTAG控制器32的互连，其中至少一个连接对正常，即可确保整个菊花链正常工作。以此，通过冗余的方式来提高JTAG连接的鲁棒性。

在一些可选的实施方式中，本实施例中所说的将JTAG控制器30的TDI和TDO分别扩展为多个，可以理解成将一个TDI（或TDO）的对外连接的管脚或者凸块（Bump）或者导线扩展为多个/多根。

进一步的，本公开可以将多个TDI/TDO用来对外连接的凸块（Bump）其分布在预制件（裸芯片）的不同位置上，进一步降低多对TDI/TDO同时接触不良的概率，避免多对TDI/TDO同时连接不正常。

另外，本公开在将TDI/TDO分别扩展为多个的同时，将TDI/TDO由单向IO（输入/输出）设置为双向IO可配置，即，TDI和TDO的IO方向均支持在输入和输出之间切换，以此，即可以在TDI的入口和TDO的出口增加训练（training）逻辑，后续即可在预制件内部通过一系列的检测手段，选择其中一对连接正常的TDI和TDO配置为工作通道进行工作，包括进行JTAG访问寄存器或者DFT测试等。可选的，训练（training）逻辑包括进行握手操作，需要多个TDI（例如4个）和多个TDO（例如4个）相连（例如通过四根连接线相连）。在后端实现中可以将4根连接线分布在不同的位置，避免出现4根线同时连接不正常。

参考图4A和4B，分别示出了在TDI和TDO处的训练状态机。

如图4A和4B所示，训练（training）逻辑包括如下步骤：

41、复位释放后TDI/TDO两侧的训练状态机同时启动；

42、对于TDO侧默认IO方向为输出，首先向外发送第一信号，例如101010的翻转序列，翻转的次数可以任意设定，但需要TDI/TDO双方的状态机约定好，翻转周期保证对方采样时钟能够采样即可；此时，TDI侧默认IO方向为输入，会检测其引脚的翻转情况，并对0->1和1->0翻转次数进行计数。这里，所说的翻转是指从“0”到“1”或者从“1”到“0”，即，从高电平到低电平或者从低电平到高电平。

43、TDO发送完毕后，立即将TDO设置为输入；TDI延迟一定时间后将IO方向设置为输出，时长确保TDO已经切换为输入状态即可。

44、TDI侧训练状态机，可根据一定的规则选择一个TDI引脚向外输出101010翻转序列；选择的规则可以为：首选选择翻转次数正确且序号最小的；其次选择翻转次数最多且序号最小的；最次选择序号最小的。TDO侧训练状态检测到哪根信号线接收到了翻转序列，并将选择对应的通道作为工作通道，如果没有检测到翻转，则选择序号最小的。TDI/TDO最终会将选择的通道号和状态记录到寄存器中用于可维可测。

45、TDI侧训练状态机发送完毕后，将TDI的IO方向设置为输入，进入正常工作状态；TDO侧状态机延迟一定时间后，确保对方TDI已经切换为输入后，将IO方向设置为输出，进入正常工作状态。

以上，通过步骤41-45说明了改进的JTAG控制器的工作原理和流程。

参考图5，图5是根据本公开的一种晶上系统的结构示意图。如图5所示，在一些可选的实施方式中，可以在晶上系统（SOW）的每一个预制件50中，集成两个JTAG控制器30，分别为横向控制器JTAG_H和纵向控制器JTAG_V，其连接方式如图5所示，横向控制器JTAG_H之间相互连接，纵向控制器JTAG_V之间相互连接，形成横向和纵向两个相互独立的JTAG菊花链。以此，如果横向的连接全部失效，还可以使用纵向的JTAG菊花链，进一步提高鲁棒性。

结合图2至图5可知，本公开的用于晶上系统JTAG菊花链连接的装置，其JTAG控制器30可以具有至少两个，例如包括第一JTAG控制器31及其下游的第二JTAG控制器32，第一JTAG控制器31的多个TDO分别连接第二JTAG控制器32的多个TDI；第一JTAG控制器31和第二JTAG控制器32可被配置成通过多对TDO和TDI进行信号交互，根据信号交互结果选择其中一对TDO和TDI配置为工作通道。

在一些可选的实施方式中，第一JTAG控制器31和第二JTAG控制器32被配置成通过多对TDO和TDI进行信号交互，根据信号交互结果选择其中一对TDO和TDI配置为工作通道，包括：

第一JTAG控制器31的多个TDO的IO方向设为输出，分别向外发送翻转序列形式的第一信号；

第二JTAG控制器32的多个TDI的IO方向设为输入，接收第一信号；

在第一信号发送完毕后，将第一JTAG控制器31的多个TDO的IO方向切换为输入，并在延迟预设时间后将第二JTAG控制器32的多个TDI的IO方向切换为输出；

第二JTAG控制器31从多个TDI中选择一个目标TDI，通过目标TDI向外输出翻转序列形式的第二信号；

第一JTAG控制器31通过目标TDO接收第二信号，目标TDO是第一JTAG控制器的连接至目标TDI的一个TDO；

在第一JTAG控制器31接收到第二信号后，将目标TDO和目标TDI配置为工作通道。

在一些可选的实施方式中，第一JTAG控制器31和第二JTAG控制器32进一步被配置成：在工作通道配置完成后，将第一JTAG控制器31的多个TDO的IO方向切换为输出，并在延迟预设时间后将第二JTAG控制器32的多个TDI的IO方向切换为输入。

在一些可选的实施方式中，第二JTAG控制器32进一步被配置成：对于通过其多个TDI接收到的多个第一信号，选择翻转次数正确且序号最小的TDI，作为目标TDI；或者，选择翻转次数最多且序号最小的TDI，作为目标TDI；或者，选择序号最小的TDI，作为目标TDI。

在一些可选的实施方式中，JTAG控制器30中多个TDI用来对外连接的凸块分布在裸芯片的不同位置上，且多个TDO用来对外连接的凸块分布在裸芯片的不同位置上。

参考图6，是根据本公开的一个用于晶上系统JTAG菊花链连接的方法的流程图。晶上系统包括多个预制件，预制件中设有JTAG控制器，多个预制件通过JTAG控制器串接在菊花链中，JTAG控制器具有多个TDI和多个TDO，TDI和TDO 均支持双向IO可配置，即，TDI和TDO的IO方向均支持在输入和输出之间切换，其中，多个JTAG控制器包括第一JTAG控制器及其下游的第二JTAG控制器，第一JTAG控制器的多个TDO分别连接第二JTAG控制器的多个TDI。本公开的方法可以由JTAG仿真器结合各个JTAG控制器来实施。

如图6所示，本公开的方法包括以下步骤：

步骤61、第一JTAG控制器和第二JTAG控制器通过多对TDO和TDI进行信号交互；

步骤62、根据信号交互结果选择其中一对TDO和TDI配置为工作通道。

在一些可选的实施方式中，步骤61包括：第一JTAG控制器的多个TDO的IO方向设为输出，分别向外发送翻转序列形式的第一信号；第二JTAG控制器的多个TDI的IO方向设为输入，接收第一信号；在第一信号发送完毕后，将第一JTAG控制器的多个TDO的IO方向切换为输入，并在延迟预设时间后将第二JTAG控制器的多个TDI的IO方向切换为输出；第二JTAG控制器从多个TDI中选择一个目标TDI，通过目标TDI向外输出翻转序列形式的第二信号；第一JTAG控制器通过目标TDO接收第二信号，目标TDO是第一JTAG控制器的连接至目标TDI的一个TDO。

在一些可选的实施方式中，步骤62包括：在第一JTAG接收到第二信号后，将目标TDO和目标TDI配置为工作通道。

在一些可选的实施方式中，本公开的方法还包括：在工作通道配置完成后，将第一JTAG控制器的多个TDO的IO方向切换为输出，并在延迟预设时间后将第二JTAG控制器的多个TDI的IO方向切换为输入。

在一些可选的实施方式中，步骤61中，第二JTAG控制器从多个TDI中选择一个目标TDI，包括：第二JTAG控制器对于通过其多个TDI接收到的多个第一信号，选择翻转次数正确且序号最小的TDI，作为目标TDI；或者，选择翻转次数最多且序号最小的TDI，作为目标TDI；或者，选择序号最小的TDI，作为目标TDI。

在一些可选的实施方式中，JTAG控制器中多个TDI用来对外连接的凸块分布在裸芯片的不同位置上，且多个TDO用来对外连接的凸块分布在裸芯片的不同位置上。

在一些可选的实施方式中，一个预制件中集成两个JTAG控制器，分别为横向控制器和纵向控制器。

以上，通过具体实施例对本公开的技术方案进行了详细说明。在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详细描述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

以上描述仅为本公开的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本公开中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离上述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本公开中公开的（但不限于）具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims (8)

1. 一种用于晶上系统JTAG菊花链连接的方法，其特征在于，所述晶上系统包括多个预制件，所述预制件中设有JTAG控制器，多个所述预制件通过所述JTAG控制器串接在菊花链中，所述JTAG控制器具有多个TDI和多个TDO，所述TDI和所述TDO 的IO方向均支持在输入和输出之间切换，其中，多个所述JTAG控制器包括第一JTAG控制器及其下游的第二JTAG控制器，所述第一JTAG控制器的多个TDO分别连接所述第二JTAG控制器的多个TDI；所述方法包括：

所述第一JTAG控制器和所述第二JTAG控制器通过多对TDO和TDI进行信号交互，所交互的信号为翻转序列形式的信号；

根据信号交互结果选择其中翻转次数正确或者翻转次数最多的一对TDO和TDI配置为工作通道；

每一个所述预制件中集成有两个所述JTAG控制器，两个所述JTAG控制器分别为横向控制器和纵向控制器，横向控制器之间相互连接，纵向控制器之间相互连接，形成横向和纵向两个相互独立的JTAG菊花链；

所述第一JTAG控制器和所述第二JTAG控制器通过多对TDO和TDI进行信号交互，包括：

所述第一JTAG控制器的多个TDO的IO方向设为输出，分别向外发送翻转序列形式的第一信号；

所述第二JTAG控制器的多个TDI的IO方向设为输入，接收所述第一信号；

在所述第一信号发送完毕后，将所述第一JTAG控制器的多个TDO的IO方向切换为输入，并在延迟预设时间后将所述第二JTAG控制器的多个TDI的IO方向切换为输出；

所述第二JTAG控制器从多个TDI中选择一个目标TDI，通过所述目标TDI向外输出翻转序列形式的第二信号；

所述第一JTAG控制器通过目标TDO接收所述第二信号，所述目标TDO是所述第一JTAG控制器的连接至所述目标TDI的一个TDO；

所述根据信号交互结果选择其中一对TDO和TDI作为工作通道，包括：

在所述第一JTAG控制器接收到所述第二信号后，将所述目标TDO和所述目标TDI配置为工作通道。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

在工作通道配置完成后，将所述第一JTAG控制器的多个TDO的IO方向切换为输出，并在延迟预设时间后将所述第二JTAG控制器的多个TDI的IO方向切换为输入。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二JTAG控制器从多个TDI中选择一个目标TDI，包括：

所述第二JTAG控制器对于通过其多个TDI接收到的多个第一信号，选择翻转次数正确且序号最小的TDI，作为目标TDI；或者，选择翻转次数最多且序号最小的TDI，作为目标TDI；或者，选择序号最小的TDI，作为目标TDI。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述JTAG控制器中多个TDI用来对外连接的凸块分布在裸芯片的不同位置上，且多个TDO用来对外连接的凸块分布在裸芯片的不同位置上。

5. 一种用于晶上系统JTAG菊花链连接的装置，其特征在于，包括应用于晶上系统中的预制件的JTAG控制器，所述JTAG控制器设于所述预制件中，多个所述预制件通过所述JTAG控制器串接在菊花链中，所述JTAG控制器具有多个TDI和多个TDO，所述TDI和所述TDO 的IO方向均支持在输入和输出之间切换，其中，所述JTAG控制器包括第一JTAG控制器及其下游的第二JTAG控制器，所述第一JTAG控制器的多个TDO分别连接所述第二JTAG控制器的多个TDI；

所述第一JTAG控制器和所述第二JTAG控制器被配置成通过多对TDO和TDI进行信号交互，所交互的信号为翻转序列形式的信号，根据信号交互结果选择其中翻转次数正确或者翻转次数最多的一对TDO和TDI配置为工作通道；

每一个所述预制件中集成有两个所述JTAG控制器，两个所述JTAG控制器分别为横向控制器和纵向控制器，横向控制器之间相互连接，纵向控制器之间相互连接，形成横向和纵向两个相互独立的JTAG菊花链；

所述第一JTAG控制器和所述第二JTAG控制器被配置成通过多对TDO和TDI进行信号交互，根据信号交互结果选择其中一对TDO和TDI配置为工作通道，包括：

所述第一JTAG控制器的多个TDO的IO方向设为输出，分别向外发送翻转序列形式的第一信号；

所述第二JTAG控制器的多个TDI的IO方向设为输入，接收所述第一信号；

在所述第一信号发送完毕后，将所述第一JTAG控制器的多个TDO的IO方向切换为输入，并在延迟预设时间后将所述第二JTAG控制器的多个TDI的IO方向切换为输出；

所述第二JTAG控制器从多个TDI中选择一个目标TDI，通过所述目标TDI向外输出翻转序列形式的第二信号；

所述第一JTAG控制器通过目标TDO接收所述第二信号，所述目标TDO是所述第一JTAG控制器的连接至所述目标TDI的一个TDO；

在所述第一JTAG控制器接收到所述第二信号后，将所述目标TDO和所述目标TDI配置为工作通道。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述第一JTAG控制器和所述第二JTAG控制器进一步被配置成：

在工作通道配置完成后，将所述第一JTAG控制器的多个TDO的IO方向切换为输出，并在延迟预设时间后将所述第二JTAG控制器的多个TDI的IO方向切换为输入。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，

所述第二JTAG控制器进一步被配置成：对于通过其多个TDI接收到的多个第一信号，选择翻转次数正确且序号最小的TDI，作为目标TDI；或者，选择翻转次数最多且序号最小的TDI，作为目标TDI；或者，选择序号最小的TDI，作为目标TDI。

8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，

所述JTAG控制器中多个TDI用来对外连接的凸块分布在裸芯片的不同位置上，且多个TDO用来对外连接的凸块分布在裸芯片的不同位置上。

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