CN115407385A - 一种电推进束流的多点自动测试方法及系统 - Google Patents

一种电推进束流的多点自动测试方法及系统 Download PDF

Info

Publication number
CN115407385A
CN115407385A CN202210860878.7A CN202210860878A CN115407385A CN 115407385 A CN115407385 A CN 115407385A CN 202210860878 A CN202210860878 A CN 202210860878A CN 115407385 A CN115407385 A CN 115407385A
Authority
CN
China
Prior art keywords
data
test
axis
motion control
scanning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202210860878.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN115407385B (zh
Inventor
陈远明
汤翔
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Sharetek Technology Co Ltd
Original Assignee
Shanghai Sharetek Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Sharetek Technology Co Ltd filed Critical Shanghai Sharetek Technology Co Ltd
Priority to CN202210860878.7A priority Critical patent/CN115407385B/zh
Publication of CN115407385A publication Critical patent/CN115407385A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN115407385B publication Critical patent/CN115407385B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/29Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)

Abstract

本申请公开了一种电推进束流的多点自动测试方法及系统,所述方法包括:运行预扫描任务,启动系统时钟监测运动控制模块是否移动到位;移动到位时,关闭系统时钟,开启扫描任务线程,同时启动探针测试,完成数据采集和存储;一个数据采集的任务周期结束后,执行数据计算子任务;数据计算子任务执行完成后,判断所有的预定测试点位是否都测试完毕,如测试完毕则结束扫描,否则,调用运动控制模块移至下一个预定测试点位,准备下一轮探针测试并退出本次扫描任务线程。本申请可对多种类型的探针进行测试,免去人工测试收集数据和计算带来的误差和不确定性。同时,本申请联合运动控制机构,自动完成大量不连续点位的测试任务,提高了对束流的诊断效率。

Description

一种电推进束流的多点自动测试方法及系统
技术领域
本发明涉及软件技术应用及数据处理领域,尤其涉及一种电推进束流的多点自动测试方法及系统。
背景技术
目前,航空航天领域电推进束流诊断大都使用专门的设备及专用的软件采集探针测试数据,汇总后人工计算分析各技术指标值,以对束流进行诊断。
传统的束流诊断采集不同的探针数据,需要用到不同的设备专用软件。每次数据采集前操作员需要预先设定好一系列参数,再对探针进行单次测试,与此相对,对束流的诊断要用到大量的采样数据,需要操作员反复多次采集操作才能完成大量数据的采集任务,作业任务繁重。而且,各个设备软件只能采集数据,不能对采集的数据进行实时计算,也不能对数据进行汇总后处理。需要人工收集大量测试数据后进行分析计算,过程繁琐,而且容易出错,无法准确高效地收集测试数据及对束流进行诊断。
发明内容
本发明的目的在于提供一种电推进束流的多点自动测试方法及系统,以解决上述技术背景中提出的问题。
为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:
本申请第一个方面提供了一种电推进束流的多点自动测试方法,包括:
运行预扫描任务,即执行运动控制指令将运动控制模块的Z轴和X轴移动到各自的起始设定位置,设定扫描的移动步长、移动速度和结束位置,运动控制模块的轴接收到运动控制指令后以设定的移动速度自行移动,同时,启动系统时钟监测Z轴和X轴是否移动至预定测试点位;
当系统时钟监测到Z轴和X轴都到达预定测试点位,则关闭系统时钟,暂停预设时间后开启扫描任务线程,同时启动探针测试,探针循环读取设备测试数据完成数据采集和存储;
一个数据采集的任务周期结束后,执行数据计算子任务,所述数据计算子任务包括等离子体电势计算、电子温度计算和等离子密度计算;
数据计算子任务执行完成后,判断所有的预定测试点位是否都测试完毕,如测试完毕,则结束扫描,否则,调用运动控制模块移动至下一个预定测试点位,准备下一轮探针测试并退出本次扫描任务线程,同时启动系统时钟监测X轴是否到达下一个预定测试点位,等待运动控制模块到达指点位置后再开启一个新的扫描任务线程,如此往复,直到所有预定测试点位的采集任务全部完成为止。
优选地,所述数据计算子任务具体包括;
A1,等离子体电势计算:
根据中心差分法的求导公式,分别对数据采集到的电压和电流进行计算,得到中心差分电压的数据集合和中心差分电流的数据集合;
分别对得到的中心差分电压的数据集合和中心差分电流的数据集合进行一阶差分变换操作,求得电流对电压的微分,获得电导数据集合;
找出电导数据集合中最大值的索引,此索引对应的中心差分电压为等离子体最大电势,最大电势对应的最大电流即最大饱和离子电流;
A2,电子温度计算:
计算每个中心差分电流的自然对数,得到中心差分电流的自然对数数据列表集合;
利用取自然对数后的中心差分电流与中心差分电压,求一阶差分再求导,得到所有电流电压数据对的电子温度,取所有电子温度斜率比值最靠近1的五个电子温度求平均值,即得到等离子体温度;
A3,等离子体密度计算:
根据求解的电子温度、在计算等离子点位过程中得到的最大饱和离子电流以及探针面积,计算得到等离子体的密度。
优选地,数据采集中的通讯连接设备采用Modbus串行通讯协议。
优选地,所述判断所有的预定测试点位是否都测试完毕的判断依据包括:
判断运动设定参数中的移动步长是否为零,如果是,则测试完第一个初始点位后结束测试、并退出该扫描任务线程;
将运动设定参数中的起始位置加上移动步长后,判断其数值是否大于结束位置,如果是,则结束测试、并退出该扫描任务线程;
如果移动步长不为零、且起始位置加上移动步长后的数值小于等于结束位置,表明有后续测试点位需要继续测试,则执行运动控制指令,使运动控制模块的Z轴和X轴移动到下一个测试点位,同时开启系统时钟监测Z轴和X轴是否移动到位,退出本次扫描任务线程。
优选地,当系统时钟监测到Z轴和X轴都到达预定测试点位,则关闭系统时钟,暂停2秒待探针稳定后开启扫描任务线程。
优选地,所述方法还包括:每一次数据采集的任务结束后,将采集到的点位测试数据保存到内存中,同时,将采集到的点位测试数据一条一条以行的形式写入Excel文件中进行存储。
更优选地,所述方法还包括:非点位测试期间,对历史测试保存的数据文件进行读取和显示。
本申请第二个方面提供了一种电推进束流的多点自动测试系统,包括:
预扫描任务执行模块,用于运行预扫描任务,即执行运动控制指令将运动控制模块的Z轴和X轴移动到各自的起始设定位置,设定扫描的移动步长、移动速度和结束位置,运动控制模块的轴接收到运动控制指令后以设定的移动速度自行移动,同时,启动系统时钟监测Z轴和X轴是否移动至预定测试点位;
数据采集模块,用于当系统时钟监测到Z轴和X轴都到达预定测试点位,则关闭系统时钟,暂停预设时间后开启扫描任务线程,同时启动探针测试,探针循环读取设备测试数据完成数据采集和存储;
数据计算模块,用于当一个数据采集的任务周期结束后,执行数据计算子任务,所述数据计算子任务包括等离子体电势计算、电子温度计算和等离子密度计算;
判断模块,用于在数据计算子任务执行完成后,判断所有的预定测试点位是否都测试完毕,如测试完毕,则结束扫描,否则,调用运动控制模块移动至下一个预定测试点位,准备下一轮探针测试并退出本次扫描任务线程,同时开启系统时钟等待运动控制模块到达指点位置后再开启一个新的扫描任务线程,如此往复,直到所有预定测试点位的采集任务全部完成为止。
优选地,所述系统还包括:数据存储模块,用于在每一次数据采集的任务结束后,将采集到的点位测试数据保存到内存中,同时,将采集到的点位测试数据一条一条以行的形式写入Excel文件中进行存储。
更优选地,所述系统还包括:数据回溯模块,用于在非点位测试期间,对历史测试保存的数据文件进行读取和显示。
与现有技术相比,本发明的技术方案具有以下有益效果:
采用本申请的电推进束流的多点自动测试方法及系统,可以对多种不同类型的探针进行测试,方便对采集数据进行统一的存储、管理、计算和处理,免去了人工测试收集数据和计算带来的误差和不确定性。同时,本申请的技术方案可以联合运动控制机构,一次设定,自动完成大量不连续的点位测试任务,免去了人工测试采集数据的巨量工作和人工测试数据带来的误差对束流诊断准确性的影响,大大提高了对束流的诊断效率。
附图说明
构成本申请的一部分附图用来提供对本申请的进一步理解,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:
图1是本发明的一种电推进束流的多点自动测试方法的测试流程示意图;
图2是本发明的一种电推进束流的多点自动测试方法的扫描运动参数设定的软件界面示意图;
图3是本发明的一种电推进束流的多点自动测试方法中运动控制模块的控制流程示意图;
图4是每一次数据采集的任务结束后,将点位测试数据进行存储的流程示意图;
图5是在非点位测试期间,对历史数据进行回溯的流程示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下参照附图并举实例对本发明进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
实施例一:
图1为一种电推进束流的多点自动测试方法的测试流程示意图。图3是本发明的一种电推进束流的多点自动测试方法中运动控制模块的控制流程示意图。
参阅图1和图3所示,一种电推进束流的多点自动测试方法,具体包括如下步骤:
步骤S1:选择测试模块,确保通讯连接设备正常工作,这里,通讯连接设备采用工业领域常用的Modbus通讯协议。在控制软件中先设置好设备参数和运动参数。运行预扫描任务,即执行运动控制指令将运动控制模块的Z轴和X轴移动到各自的起始设定位置,运动控制模块的轴接收到运动控制指令后,以设定扫描的移动步长、移动速度自行移动,同时,启动系统时钟监测Z轴和X轴是否移动至预定测试点位。
传统的测试需先在控制软件的运动控制页移动轴到指定位置,再到模块页来配置各项参数后开启测试,这样只能采集到单次测试的结果,如果有大量点位需要测试,势必需要操作员大量的操作。本申请在原单次测试的基础上,加入运动控制参数,使测试与运动控制相结合,运动控制设定的参数如图2所示,包括Z轴位置、X轴起始位置、移动步长、移动速度和X轴结束位置等。例如,当运动控制模块的Z轴位置设定于100mm时,X轴从起始位置0mm处以速度20mm/s自行移动,每移动一次运动至一个预定测试点位,直至移动至X轴结束位置300mm处。
上述内容中,先把两轴移动至预先起始位置,以准备探针测试进行数据采集,代码示例如下:
private void PreLpScan()
{
int begin=Convert.ToInt32(textBox23.Text.Trim());
int zPos=Convert.ToInt32(textBox20.Text.Trim());
//起始扫描点位
LpModule.Instance.ScanSpot=begin;
btnLpScan.Enabled=false;
btnLpScan.Text="停止扫描";
chart3.ChartAreas[0].AxisX.Title="电压(V)";
MoveToPos(0,zPos);
MoveToPos(1,LpModule.Instance.ScanSpot);
}
步骤S2:当系统时钟监测到Z轴和X轴都到达预定测试点位,则关闭系统时钟,暂停2秒后待探针稍微稳定后开启扫描任务线程,同时给设备发送开始采集指令。在扫描任务线程里,探针循环读取设备采集到的测试数据,完成数据采集和存储,读取完一个采集周期的测试数据后进入结束采集程序。
其中,数据采集用单独的扫描任务线程,每隔固定的时间读取协议地址数据,并把读取的数据记录下来,以供后续数据存储和处理。
上述内容中,待轴都到达了预定起始位置后,系统全局时钟监测到Z轴和X轴都已到位,随即开启扫描任务线程,同时给设备发送开始采集指令,其代码段示例如下:
Thread.Sleep(2000);//等待探针稳定准备测试
//开启扫描任务线程
LpModule.Instance.TokenSource=new CancellationTokenSource();
Task.Run(()=>LpFetchShowSave(),LpModule.Instance.TokenSource.Token);
步骤S3:一个数据采集的任务周期结束后,执行数据计算子任务。
离子束流的数据计算指标繁多,需要计算的主要指标有等离子体电式、电子温度、等离子体密度等。
具体地,本申请执行数据计算子任务包括如下步骤:
S31:等离子体电式计算。
1)首先,根据中心差分法的求导公式,分别对数据采集到的电压和电流数据集合进行计算,得到中心差分电压的数据集合和中心差分电流的数据集合。
中心差分法公式如下:
Figure BDA0003758473330000061
代码段示例如下:
//中心差分电压
for(int i=0;i<listVoltage.Count-1;i++)
{
listMidVoltage.Add((listVoltage[i]+listVoltage[i+1])/2f);
}
//中心差分电流
for(int j=0;j<listAmpere.Count-1;j++)
{
listMidAmpere.Add((listAmpere[j]+listAmpere[j+1])/2f);
}
2)得到电流和电压的中心差分数据集合后,再对其分别进行一阶差分变换操作,求得电流对电压的微分,获得电导数据集合。一阶差分公式如下:
Δyx=y(x+1)-y(x),(x=0,1,2,...)
代码段示例如下:
//中心法电压电流一阶差分
for(int k=0;k<listMidAmpere.Count-1;k++)
{
if((listMidVoltage[k+1]-listMidVoltage[k])!=0)
listDifference.Add((listMidAmpere[k+1]-listMidAmpere[k])/(listMidVoltage[k+1]-listMidVoltage[k]));
}
3)找出电导数据集合中最大值的索引,此索引对应的中心差分电压为等离子体电势,此索引对应的中心差分电流最大饱和离子电流。
代码段示例如下:
int index=listDifference.FindIndex(x=>x==listDifference.Max());
//饱和电流
saturated=listMidAmpere[index];
S32:电子温度计算。
1)电子温度的计算同样需要先求电流对电压的微分。其微分数据集合可直接从先前的求解等离子体电式中获得。计算每个中心差分电流的自然对数lnN(N>0),得到中心差分电流的自然对数数据列表集合。
代码段示例如下:
//中心电流自然对数
for(int k=0;k<listMidAmpere.Count;k++)
{
listLnMidAmpere.Add(Math.Log(Math.Abs(listMidAmpere[k])));
}
2)利用取自然对数后的中心差分电流与中心差分电压,求一阶差分再求导,得到所有电流电压数据对的电子温度,对所有电子温度斜率比值最靠近1的五个电子温度求平均值,即得到等离子体温度。
代码段示例如下:
int count=0;//连续个数
int index=0;//找到一组数后,不满足条件的第一个下标
bool flag=false;//是否有满足的一组数出现
for(int m=5;m>0;m--)
{
for(int n=0;n<2;n++)
{
for(int i=0;i<listEtSlope.Count;i++)
{
if(listEtSlope[i]>1-0.1*(n+1)&&listEtSlope[i]<1+0.1*(n+1))
{
if(++count>=m)
{
flag=true;
continue;
}
}
else
{
if(flag)
{
index=i;
goto loop;
}
count=0;
}
}
if(index==0&&flag)
{
index=listEtSlope.Count-1;
goto loop;
}
count=0;
}
count=0;
}
S33:等离子体密度计算。
根据求解的电子温度、在计算等离子点位过程中得到的最大饱和离子电流以及探针面积,计算得到等离子体的密度。
步骤S4:数据计算子任务执行完成后,判断所有的预定测试点位是否都测试完毕,如测试完毕,则结束扫描,否则,调用运动控制模块移动至下一个预定测试点位,准备下一轮探针测试并退出本次扫描任务线程,同时等待运动控制模块到达指点位置后再开启一个新的扫描任务线程,如此往复,直到所有预定测试点位的采集任务全部完成为止。
待一轮测试结束后进入结束处理程序,判断所有预定测试点位是否都已测试完毕。判断的依据有两个:一个是判断运动设定参数中的“移动步长”是否为零,如果是,则结束测试、并退出该扫描任务线程。另一个是将运动设定参数中的“起始位置(X)”加上“移动步长”后,判断其数值是否大于“结束位置(X)”,如果是,则结束测试、并退出该扫描任务线程。
如果“移动步长”不为零、且“起始位置(X)”加上“移动步长”后的数值小于等于“结束位置(X)”,表明有后续测试点位需要继续测试,则执行运动控制指令,使运动控制模块的Z轴和X轴移动到下一个测试点位,同时开启系统时钟监测Z轴和X轴是否移动到位,退出本次扫描任务线程。
系统时钟监测到轴均已就位,随即开启下一轮测试。
其中,判断多点位的代码段如下:
//逐点扫描
//步长为0不再进入下一轮扫描,即扫描一个点
//步长不为0,且与起始位置的和大于终点位置也不进入下一轮扫描
if(Convert.ToInt32(textBox21.Text)!=0&&((LpModule.Instance.ScanSpot+Convert.ToInt32(textBox21.Text))<=Convert.ToInt32(textBox22.Text)))
{
LpModule.Instance.ScanSpot=LpModule.Instance.ScanSpot+Convert.ToInt32(textBox21.Text);
MoveToPos(1,LpModule.Instance.ScanSpot);
btnLpScan.Enabled=false;
btnLpScan.Text="停止扫描";
}
else
{
LpModule.Instance.EndofTest();
timer1.Enabled=false;
}
在一种优选实施例中,上述的方法还包括数据存储。具体地,一次离子束流测试任务结束后,采集到的测试数据都会保存在内存中,需要写入磁盘文件永久保存,方便以后查看。保存数据时同时会保存采集的点位等信息,把这些数据一条一条以行的形式存储到Excel文件。文件存储的名字以当前系统日期时间为名,如果有自定义的后缀名称则会附上后缀,便于识别找寻。每次测试数据都会单独生成自己的Excel文件。数据存储流程图参阅图4所示。
在一种优选实施例中,上述的方法还包括数据回溯。具体地,数据回溯是对历史测试保存的数据文件的读取和显示,主要是加载历史测试存储数据,显示到图表上,以曲线的形式展示出来。数据回溯功能只能在非测试时期才能使用,且不依赖通讯连接。数据回溯简要流程参阅图5所示。
实施例二:
另一方面,本申请还公开了一种电推进束流的多点自动测试系统,包括如下模块:
预扫描任务执行模块,用于运行预扫描任务,即执行运动控制指令将运动控制模块的Z轴和X轴移动到各自的起始设定位置,设定扫描的移动步长、移动速度和结束位置,运动控制模块的轴接收到运动控制指令后以设定的移动速度自行移动,同时,启动系统时钟监测Z轴和X轴是否移动至预定测试点位;
数据采集模块,用于当系统时钟监测到Z轴和X轴都到达预定测试点位,则关闭系统时钟,暂停预设时间后开启扫描任务线程,同时启动探针测试,探针循环读取设备测试数据完成数据采集和存储;
数据计算模块,用于当一个数据采集的任务周期结束后,执行数据计算子任务,所述数据计算子任务包括等离子体电势计算、电子温度计算和等离子密度计算;
判断模块,用于在数据计算子任务执行完成后,判断所有的预定测试点位是否都测试完毕,如测试完毕,则结束扫描,否则,调用运动控制模块移动至下一个预定测试点位,准备下一轮探针测试并退出本次扫描任务线程,同时开启系统时钟等待运动控制模块到达指点位置后再开启一个新的扫描任务线程,如此往复,直到所有预定测试点位的采集任务全部完成为止。
在一种优选实施例中,所述系统还包括:数据存储模块和数据回溯模块。
其中,数据存储模块,用于在每一次数据采集的任务结束后,将采集到的点位测试数据保存到内存中,同时,将采集到的点位测试数据一条一条以行的形式写入Excel文件中进行存储。
其中,数据回溯模块,用于在非点位测试期间,对历史测试保存的数据文件进行读取和显示。
综上所述,采用本申请的电推进束流的多点自动测试方法,可以对多种不同类型的探针进行测试,方便对采集数据进行统一的存储、管理、计算和处理,免去了人工测试收集数据和计算带来的误差和不确定性。同时,本申请的技术方案可以联合运动控制机构,一次设定,自动完成大量不连续的点位测试任务,免去了人工测试采集数据的巨量工作和人工测试数据带来的误差对束流诊断准确性的影响,大大提高了对束流的诊断效率。
以上对本发明的具体实施例进行了详细描述,但其只是作为范例,本发明并不限制于以上描述的具体实施例。对于本领域技术人员而言,任何对本发明进行的等同修改和替代也都在本发明的范畴之中。因此,在不脱离本发明的精神和范围下所作的均等变换和修改,都应涵盖在本发明的范围内。

Claims (10)

1.一种电推进束流的多点自动测试方法,其特征在于,包括:
运行预扫描任务,即执行运动控制指令将运动控制模块的Z轴和X轴移动到各自的起始设定位置,设定扫描的移动步长、移动速度和结束位置,运动控制模块的轴接收到运动控制指令后以设定的移动速度自行移动,同时,启动系统时钟监测Z轴和X轴是否移动至预定测试点位;
当系统时钟监测到Z轴和X轴都到达预定测试点位,则关闭系统时钟,暂停预设时间后开启扫描任务线程,同时启动探针测试,探针循环读取设备测试数据完成数据采集和存储;
一个数据采集的任务周期结束后,执行数据计算子任务,所述数据计算子任务包括等离子体电势计算、电子温度计算和等离子密度计算;
数据计算子任务执行完成后,判断所有的预定测试点位是否都测试完毕,如测试完毕,则结束扫描,否则,调用运动控制模块移动至下一个预定测试点位,准备下一轮探针测试并退出本次扫描任务线程,同时启动系统时钟监测X轴是否到达下一个预定测试点位,等待运动控制模块到达指点位置后再开启一个新的扫描任务线程,如此往复,直到所有预定测试点位的采集任务全部完成为止。
2.根据权利要求1所述的一种电推进束流的多点自动测试方法,其特征在于,所述数据计算子任务具体包括;
A1,等离子体电势计算:
根据中心差分法的求导公式,分别对数据采集到的电压和电流进行计算,得到中心差分电压的数据集合和中心差分电流的数据集合;
分别对得到的中心差分电压的数据集合和中心差分电流的数据集合进行一阶差分变换操作,求得电流对电压的微分,获得电导数据集合;
找出电导数据集合中最大值的索引,此索引对应的中心差分电压为等离子体最大电势,最大电势对应的最大电流即最大饱和离子电流;
A2,电子温度计算:
计算每个中心差分电流的自然对数,得到中心差分电流的自然对数数据列表集合;
利用取自然对数后的中心差分电流与中心差分电压,求一阶差分再求导,得到所有电流电压数据对的电子温度,取所有电子温度斜率比值最靠近1的五个电子温度求平均值,即得到等离子体温度;
A3,等离子体密度计算:
根据求解的电子温度、在计算等离子点位过程中得到的最大饱和离子电流以及探针面积,计算得到等离子体的密度。
3.根据权利要求1所述的一种电推进束流的多点自动测试方法,其特征在于,数据采集中的通讯连接设备采用Modbus串行通讯协议。
4.根据权利要求1所述的一种电推进束流的多点自动测试方法,其特征在于,所述判断所有的预定测试点位是否都测试完毕的判断依据包括:
判断运动设定参数中的移动步长是否为零,如果是,则测试完第一个初始点位后结束测试、并退出该扫描任务线程;
将运动设定参数中的起始位置加上移动步长后,判断其数值是否大于结束位置,如果是,则结束测试、并退出该扫描任务线程;
如果移动步长不为零、且起始位置加上移动步长后的数值小于等于结束位置,表明有后续测试点位需要继续测试,则执行运动控制指令,使运动控制模块的Z轴和X轴移动到下一个测试点位,同时开启系统时钟监测Z轴和X轴是否移动到位,退出本次扫描任务线程。
5.根据权利要求1所述的一种电推进束流的多点自动测试方法,其特征在于,当系统时钟监测到Z轴和X轴都到达预定测试点位,则关闭系统时钟,暂停2秒待探针稳定后开启扫描任务线程。
6.根据权利要求1所述的一种电推进束流的多点自动测试方法,其特征在于,所述方法还包括:每一次数据采集的任务结束后,将采集到的点位测试数据保存到内存中,同时,将采集到的点位测试数据一条一条以行的形式写入Excel文件中进行存储。
7.根据权利要求6所述的一种电推进束流的多点自动测试方法,其特征在于,所述方法还包括:非点位测试期间,对历史测试保存的数据文件进行读取和显示。
8.一种电推进束流的多点自动测试系统,其特征在于,包括:
预扫描任务执行模块,用于运行预扫描任务,即执行运动控制指令将运动控制模块的Z轴和X轴移动到各自的起始设定位置,设定扫描的移动步长、移动速度和结束位置,运动控制模块的轴接收到运动控制指令后以设定的移动速度自行移动,同时,启动系统时钟监测Z轴和X轴是否移动至预定测试点位;
数据采集模块,用于当系统时钟监测到Z轴和X轴都到达预定测试点位,则关闭系统时钟,暂停预设时间后开启扫描任务线程,同时启动探针测试,探针循环读取设备测试数据完成数据采集和存储;
数据计算模块,用于当一个数据采集的任务周期结束后,执行数据计算子任务,所述数据计算子任务包括等离子体电势计算、电子温度计算和等离子密度计算;
判断模块,用于在数据计算子任务执行完成后,判断所有的预定测试点位是否都测试完毕,如测试完毕,则结束扫描,否则,调用运动控制模块移动至下一个预定测试点位,准备下一轮探针测试并退出本次扫描任务线程,同时开启系统时钟等待运动控制模块到达指点位置后再开启一个新的扫描任务线程,如此往复,直到所有预定测试点位的采集任务全部完成为止。
9.根据权利要求8所述的一种电推进束流的多点自动测试系统,其特征在于,所述系统还包括:数据存储模块,用于在每一次数据采集的任务结束后,将采集到的点位测试数据保存到内存中,同时,将采集到的点位测试数据一条一条以行的形式写入Excel文件中进行存储。
10.根据权利要求9所述的一种电推进束流的多点自动测试系统,其特征在于,所述系统还包括:数据回溯模块,用于在非点位测试期间,对历史测试保存的数据文件进行读取和显示。
CN202210860878.7A 2022-07-21 2022-07-21 一种电推进束流的多点自动测试方法及系统 Active CN115407385B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210860878.7A CN115407385B (zh) 2022-07-21 2022-07-21 一种电推进束流的多点自动测试方法及系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210860878.7A CN115407385B (zh) 2022-07-21 2022-07-21 一种电推进束流的多点自动测试方法及系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN115407385A true CN115407385A (zh) 2022-11-29
CN115407385B CN115407385B (zh) 2024-03-08

Family

ID=84158334

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210860878.7A Active CN115407385B (zh) 2022-07-21 2022-07-21 一种电推进束流的多点自动测试方法及系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN115407385B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116669269A (zh) * 2023-06-25 2023-08-29 中国科学院力学研究所 一种多点冗余火箭燃烧等离子体诊断方法及系统

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990033133A (ko) * 1997-10-23 1999-05-15 윤종용 컴퓨터 시스템의 리얼타임클럭 진단방법 및 그장치
CN104076214A (zh) * 2014-06-11 2014-10-01 南京第五十五所技术开发有限公司 多通道微波组件自动测试方法
CN106568805A (zh) * 2016-11-08 2017-04-19 华中科技大学 一种高集成度朗缪尔探针诊断系统及方法
CN107748302A (zh) * 2017-09-06 2018-03-02 国营芜湖机械厂 一种座椅电气附件自动综合检测设备自动测试控制方法
WO2020164263A1 (zh) * 2019-02-11 2020-08-20 平安科技(深圳)有限公司 librgw的性能测试方法、装置和计算机设备
US10796041B1 (en) * 2019-04-19 2020-10-06 Cadence Design Systems, Inc. Compacting test patterns for IJTAG test
US20200409828A1 (en) * 2019-06-26 2020-12-31 Inventec (Pudong) Technology Corporation Automatic test system and method thereof
CN113466920A (zh) * 2021-07-02 2021-10-01 兰州空间技术物理研究所 一种电推进束流特性参数诊断设备
CN114377307A (zh) * 2021-12-28 2022-04-22 中国原子能科学研究院 一种笔形束扫描束流位置快速校正装置及方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990033133A (ko) * 1997-10-23 1999-05-15 윤종용 컴퓨터 시스템의 리얼타임클럭 진단방법 및 그장치
CN104076214A (zh) * 2014-06-11 2014-10-01 南京第五十五所技术开发有限公司 多通道微波组件自动测试方法
CN106568805A (zh) * 2016-11-08 2017-04-19 华中科技大学 一种高集成度朗缪尔探针诊断系统及方法
CN107748302A (zh) * 2017-09-06 2018-03-02 国营芜湖机械厂 一种座椅电气附件自动综合检测设备自动测试控制方法
WO2020164263A1 (zh) * 2019-02-11 2020-08-20 平安科技(深圳)有限公司 librgw的性能测试方法、装置和计算机设备
US10796041B1 (en) * 2019-04-19 2020-10-06 Cadence Design Systems, Inc. Compacting test patterns for IJTAG test
US20200409828A1 (en) * 2019-06-26 2020-12-31 Inventec (Pudong) Technology Corporation Automatic test system and method thereof
CN113466920A (zh) * 2021-07-02 2021-10-01 兰州空间技术物理研究所 一种电推进束流特性参数诊断设备
CN114377307A (zh) * 2021-12-28 2022-04-22 中国原子能科学研究院 一种笔形束扫描束流位置快速校正装置及方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116669269A (zh) * 2023-06-25 2023-08-29 中国科学院力学研究所 一种多点冗余火箭燃烧等离子体诊断方法及系统
CN116669269B (zh) * 2023-06-25 2024-03-29 中国科学院力学研究所 一种多点冗余火箭燃烧等离子体诊断方法及系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN115407385B (zh) 2024-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9013574B2 (en) Machine vision system program editing environment including synchronized user interface features
JP6122282B2 (ja) リアルタイムコンテキスト生成機能を含むマシンビジョンシステムプログラム編集環境
CN101865975B (zh) 主板测试系统及方法
CN115407385A (zh) 一种电推进束流的多点自动测试方法及系统
WO2022007710A1 (zh) 一种检测车辆发电机的方法及电池检测仪
CN109186636A (zh) 一种imu自动标定的测试方法和系统
CN112526319B (zh) 芯片测试方法、装置、处理器芯片及服务器
CN111309791A (zh) 一种检测仪器数据自动采集方法
CN111654691B (zh) 一种性能测试方法、装置、计算机存储介质及系统
CN110749814A (zh) 一种芯片ic样本自动化测试系统及方法
JPH1090333A (ja) 機器特性の試験装置および試験方法
CN113778415A (zh) 基于图形化编程的ModBus通讯脚本生成方法和装置
CN113918741A (zh) 数据处理方法、装置、系统、计算机设备和存储介质
CN111874002A (zh) 一种车辆检测方法、装置以及相关设备
CN114894239B (zh) 一种数据采集方法以及数据采集器
CN117609152B (zh) 一种数据回读方法、装置、设备及存储介质
CN110749812A (zh) 一种硬件电路的自动化测试方法、系统及装置
CN218826214U (zh) 一种核电厂信号处理组件精度测试装置
CN116736025B (zh) 一种模拟量采集类设备的闭环自动测试装置及方法
CN112925579A (zh) 一种波形记录仪数据集成处理方法及装置
CN109375576B (zh) 一种plc程序信号在线分析和诊断方法
CN117609152A (zh) 一种数据回读方法、装置、设备及存储介质
CN115790708A (zh) 样品测试方法、系统、计算机可读存储介质及程序产品
CN116662173A (zh) 一种测试方法、装置、设备及介质
CN117269716A (zh) 基于mcu的磁传感芯片测试装置及测试方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information
CB02 Change of applicant information

Country or region after: China

Address after: 201109, 3rd Floor, Building 2, No. 1259 Ping'an Road, Minhang District, Shanghai

Applicant after: Shanghai Xuantian Intelligent Technology Co.,Ltd.

Address before: 201109 floor 2, building 4, No. 1259, Ping'an Road, Minhang District, Shanghai

Applicant before: SHANGHAI NOKIDA TECHNOLOGY CO.,LTD.

Country or region before: China

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant