CN115386298A - 基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液 - Google Patents

基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液 Download PDF

Info

Publication number
CN115386298A
CN115386298A CN202210918975.7A CN202210918975A CN115386298A CN 115386298 A CN115386298 A CN 115386298A CN 202210918975 A CN202210918975 A CN 202210918975A CN 115386298 A CN115386298 A CN 115386298A
Authority
CN
China
Prior art keywords
silicon carbide
polishing solution
chemical mechanical
mechanical polishing
photocatalyst
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202210918975.7A
Other languages
English (en)
Inventor
汤庭滨
肖辉亚
黄灿容
马楠楠
李光
侯康生
韦苏琳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Yong Lin Tech Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Yong Lin Tech Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Yong Lin Tech Co ltd filed Critical Shenzhen Yong Lin Tech Co ltd
Priority to CN202210918975.7A priority Critical patent/CN115386298A/zh
Publication of CN115386298A publication Critical patent/CN115386298A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09GPOLISHING COMPOSITIONS; SKI WAXES
    • C09G1/00Polishing compositions
    • C09G1/02Polishing compositions containing abrasives or grinding agents
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09GPOLISHING COMPOSITIONS; SKI WAXES
    • C09G1/00Polishing compositions
    • C09G1/06Other polishing compositions
    • C09G1/14Other polishing compositions based on non-waxy substances
    • C09G1/18Other polishing compositions based on non-waxy substances on other substances
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K3/00Materials not provided for elsewhere
    • C09K3/14Anti-slip materials; Abrasives
    • C09K3/1409Abrasive particles per se

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Catalysts (AREA)

Abstract

本发明涉及基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液技术领域,尤其涉及在光催化作用下产生活性物质,光催化化学反应领域,包括如下步骤:步骤S1:取质量百分比m0酯类化合物改性质量百分比m1的光催化剂和质量百分比m2的研磨颗粒;步骤S2:用超声波恒温T1处理时间t1,改性后渗透率强,有助于降低被抛光晶圆的粗糙度;步骤S3:将上述处理后的光催化剂和研磨颗粒分散在纯水中,并用双氧水调节PH值。

Description

基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液
【技术领域】
本发明涉及基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液技术领域,尤其涉及在光催化作用下产生活性物质,光催化化学反应领域。
【背景技术】
随着制程越来越先进,半导体抛光工艺也越来越多高达十几次甚至几十次。由于SiC的高硬度和高化学稳定性,使用传统CMP法的MRR较低(<1 000nm/h)。经过切割、研磨或机械抛光的SiC基片Si面Si原子有3个键牢牢与3个C原子相连。
用紫外光照射半导体材料(光催化剂)时,能量大于禁带宽度时,价带上的电子(e-)受到激发跃迁至导带,在空间电场的作用下分离,然后迁移至表面,同时在价带上留下相应的带正电荷的空穴(h+)。
【发明内容】
为克服上述的技术问题,因此,提出了一种基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液。在碱性抛光液中,会削弱Si与C之间的键,该键容易与外界其他原子反应而重构或者去除,基片的Si原子与氢氧根(OH-)发生硅氧化水反应,二氧化钛、二氧化铈表面会生成光生电子和空穴,抛光液中的水分子与OH-可以有效的捕获光生空穴,生成具有强氧化能力的羟基自由基·OH,与单晶SiC发生反应生成SiO2氧化层,最终实现SiC的超精密加工。用丙烯酸酯等酯类化合物改性耐热性较好,和TiO2等纳米材料表面极性很强,本身具有很强的疏油亲水特点,容易分散在纯水当中;H2O2分解产生数量众多的中间态的羟基自由基OH-,羟基自由基·OH的强氧化性是碳化硅被氧化的驱动力,抛光液的氧化性最强、稳定性最好。有利于表面光滑度的提高,生成的OH-在碳化硅的表面生成硬度较软、结合力小的SiO2层,利用CMP过程中磨料的机械去除作用将软质SiO2层去除,以实现基片的超精密加工,本发明基于此而研发。
本发明解决技术问题的方案是提供基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液,包括如下步骤:
步骤S1:取质量百分比m0酯类化合物改性质量百分比m1的光催化剂和质量百分比m2的研磨颗粒;
步骤S2:用超声波恒温T1处理时间t1,改性后渗透率强,有助于降低被抛光晶圆的粗糙度;
步骤S3:将上述处理后的光催化剂和研磨颗粒分散在纯水中,并用双氧水调节PH值;
优选地,所述酯类化合物为丙烯酸酯或正桂酸乙酯;
优选地,所述光催化剂是二氧化铈和锐钛矿型二氧化钛的混合物;
优选地,所述二氧化铈和锐钛矿型二氧化钛的质量比为1:2-1:1;
优选地,所述酯类化合物质量百分比m0为1-2wt%,光催化剂的光催化剂粒径为20-200nm,光催化剂质量百分比m1为0.7-0.9wt%,研磨颗粒质量百分比m2为5wt%;
优选地,所述研磨颗粒为碳化硅颗粒;
优选地,所述时间t1为1-2h,超声波恒温T1为40-60℃;
优选地,所述pH值为3-4,捕获抛光液中羟基自由基·OH的生成产物,羟基自由基·OH的强氧化性是碳化硅被氧化的驱动力,抛光液的氧化性最强、稳定性最好;
优选地,需要配合光源使用,光源包括但不限于氙灯、卤素灯、LED,所述光源涵盖波长为320-385nm,该波长范围能有效的激发光催化剂发生禁带跃迁。
相对于现有技术,本发明具有如下优点:
通过采用酯类化合物改性改性光催化抛光液对碳化硅晶片进行精抛处理,发现粗抛工序后残留下的损伤层可被去除,从而获得高质量的抛光表面。
【附图说明】
图1是本发明基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液的流程示意图;
图2为本发明本发明的基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液的光催化剂的能带结构。
图3为用本发明的基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液抛光后样品粗糙度轮廓图。
【具体实施方式】
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施实例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用于解释本发明,并不用于限定本发明。
请参阅图1,本发明提供了基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液,包括如下步骤:
步骤S1:取质量百分比m0酯类化合物改性质量百分比m1的光催化剂和质量百分比m2的研磨颗粒;
步骤S2:用超声波恒温T1处理时间t1,改性后渗透率强,有助于降低被抛光晶圆的粗糙度;
步骤S3:将上述处理后的光催化剂和研磨颗粒分散在纯水中,并用双氧水调节PH值;
在本发明的步骤S1中,所述酯类化合物为丙烯酸酯或正桂酸乙酯;
在本发明的步骤S1中,所述光催化剂是二氧化铈和锐钛矿型二氧化钛的混合物;
在本发明的步骤S1中,所述二氧化铈和锐钛矿型二氧化钛的质量比为1:2-1:1;
在本发明的步骤S1中,所述酯类化合物质量百分比m0为1-2wt%,光催化剂的光催化剂粒径为20-200nm,光催化剂质量百分比m1为0.7-0.9wt%,研磨颗粒质量百分比m2为5wt%;
在本发明的步骤S1中,所述研磨颗粒为碳化硅颗粒;
在本发明的步骤S2中,所述时间t1为1-2h,超声波恒温T1为40-60℃;
在本发明的步骤S3中,所述pH值为3-4,捕获抛光液中羟基自由基·OH的生成产物,羟基自由基·OH的强氧化性是碳化硅被氧化的驱动力,抛光液的氧化性最强、稳定性最好;
本发明还需要配合光源使用,光源包括但不限于氙灯、卤素灯、LED,所述光源涵盖波长为320-385nm,该波长范围能有效的激发光催化剂发生禁带跃迁。
在本发明实施例中,提供进一步具体实施例,结合图1,具体如下:
1、第一具体实施例:
利用m0为1wt%酯类化合物改性质量百分比m1的光催化剂,其中包含0.2wt%的二氧化铈和0.5wt%锐钛矿型二氧化钛,质量百分比m2为5wt%的碳化硅研磨颗粒并分散在纯水中,利用酯类化合物改性碳化硅和锐钛矿型二氧化钛,改性后渗透率强,有助于降低被抛光晶圆的粗糙度;用超声波超声处理时间t1为1h、超声波恒温T1为40℃;并用双氧水调节PH值至3;
2、第二具体实施例:
利用m0为1wt%酯类化合物改性质量百分比m1的光催化剂,其中包含0.3wt%的二氧化铈和0.4wt%锐钛矿型二氧化钛,质量百分比m2为5wt%的碳化硅研磨颗粒并分散在纯水中,利用酯类化合物丙烯酸酯改性碳化硅和锐钛矿型二氧化钛,改性后渗透率强,有助于降低被抛光晶圆的粗糙度;用超声波超声处理时间t1为1h、超声波恒温T1为40℃;并用双氧水调节PH值至3;
3、第三具体实施例:
利用m0为1wt%酯类化合物改性质量百分比m1的光催化剂,其中包含0.2wt%的二氧化铈和0.5wt%锐钛矿型二氧化钛,质量百分比m2为5wt%的碳化硅研磨颗粒并分散在纯水中,利用酯类化合物丙烯酸酯改性碳化硅和锐钛矿型二氧化钛,改性后渗透率强,有助于降低被抛光晶圆的粗糙度;用超声波超声处理时间t1为1h、超声波恒温T1为50℃;并用双氧水调节PH值至3.5;
4、第四具体实施例:
利用m0为1wt%酯类化合物改性质量百分比m1的光催化剂,其中包含0.2wt%的二氧化铈和0.6wt%锐钛矿型二氧化钛,质量百分比m2为5wt%的碳化硅研磨颗粒并分散在纯水中,利用酯类化合物正桂酸乙酯改性碳化硅和锐钛矿型二氧化钛,改性后渗透率强,有助于降低被抛光晶圆的粗糙度;用超声波超声处理时间t1为1.5h、超声波恒温T1为50℃;并用双氧水调节PH值至3;
5、第五具体实施例:
利用m0为1wt%酯类化合物改性质量百分比m1的光催化剂,其中包含0.2wt%的二氧化铈和0.7wt%锐钛矿型二氧化钛,质量百分比m2为5wt%的碳化硅研磨颗粒并分散在纯水中,利用酯类化合物正桂酸乙酯改性碳化硅和锐钛矿型二氧化钛,改性后渗透率强,有助于降低被抛光晶圆的粗糙度;用超声波超声处理时间t1为1.5h、超声波恒温T1为50℃;并用双氧水调节PH值至3;
其中,第一具体实施例至第五具体实施例,采用365nm LED紫外光源,其功率为1000-2000mW/cm2。
图2为本发明的基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液的二氧化钛能带图。图3为用本发明的基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液抛光后样品粗糙度轮廓图。
相对于现有技术,本发明具有如下优点:
通过采用酯类化合物改性改性光催化抛光液对碳化硅晶片进行精抛处理,发现粗抛工序后残留下的损伤层可被去除,从而获得高质量的抛光表面。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是在本发明的构思之内所作的任何修改,等同替换和改进等均应包含在本发明的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液,其特征在于:包括如下步骤:
步骤S1:取质量百分比m0酯类化合物改性质量百分比m1的光催化剂和质量百分比m2的研磨颗粒;
步骤S2:用超声波恒温T1处理时间t1,改性后渗透率强,有助于降低被抛光晶圆的粗糙度;
步骤S3:将上述处理后的光催化剂和研磨颗粒分散在纯水中,并用双氧水调节PH值。
2.如权利要求1所述的光催化机理的碳化硅化学机械抛光液,其特征在于:所述酯类化合物为丙烯酸酯或正桂酸乙酯。
3.如权利要求1所述的光催化机理的碳化硅化学机械抛光液,其特征在于:所述光催化剂是二氧化铈和锐钛矿型二氧化钛的混合物。
4.如权利要求3所述的光催化机理的碳化硅化学机械抛光液,其特征在于:所述二氧化铈和锐钛矿型二氧化钛的质量比为1:2-1:1。
5.如权利要求1所述的光催化机理的碳化硅化学机械抛光液,其特征在于:所述酯类化合物质量百分比m0为1-2wt%,光催化剂粒径为20-200nm,光催化剂质量百分比m1为0.7-0.9wt%,研磨颗粒质量百分比m2为5wt%。
6.如权利要求5所述的光催化机理的碳化硅化学机械抛光液,其特征在于:所述研磨颗粒为碳化硅颗粒。
7.如权利要求1所述的光催化机理的碳化硅化学机械抛光液,其特征在于:所述时间t1为1-2h,超声波恒温T1为40-60℃。
8.如权利要求1所述的光催化机理的碳化硅化学机械抛光液,其特征在于:所述pH值为3-4,捕获抛光液中羟基自由基·OH的生成产物,羟基自由基·OH的强氧化性是碳化硅被氧化的驱动力,抛光液的氧化性最强、稳定性最好。
9.如权利要求1所述的光催化机理的碳化硅化学机械抛光液,其特征在于:需要配合光源使用,光源包括但不限于氙灯、卤素灯、LED,所述光源涵盖波长为320-385nm,该波长范围能有效的激发光催化剂发生禁带跃迁。
CN202210918975.7A 2022-07-29 2022-07-29 基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液 Pending CN115386298A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210918975.7A CN115386298A (zh) 2022-07-29 2022-07-29 基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210918975.7A CN115386298A (zh) 2022-07-29 2022-07-29 基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN115386298A true CN115386298A (zh) 2022-11-25

Family

ID=84118441

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210918975.7A Pending CN115386298A (zh) 2022-07-29 2022-07-29 基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN115386298A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116494026A (zh) * 2023-06-09 2023-07-28 浙江大学 一种面向硬脆元件的电化学催化原子级柔性抛光方法

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004055615A (ja) * 2002-07-16 2004-02-19 Toshiba Corp 研磨部材及び半導体装置の製造方法
CN1833068A (zh) * 2003-08-04 2006-09-13 大和纺织株式会社 填料固着纤维、纤维结构物和纤维成形体以及它们的制造方法
JP2007258735A (ja) * 2001-07-30 2007-10-04 Toshiba Corp 半導体装置の製造方法
CN104669075A (zh) * 2014-12-08 2015-06-03 沈阳工业大学 金刚石刀具光催化辅助刃磨方法及装置
CN105773399A (zh) * 2016-03-29 2016-07-20 清华大学 抛光液、抛光机以及抛光方法
CN109866084A (zh) * 2019-04-08 2019-06-11 北京建筑大学 一种uv光催化辅助化学机械抛光装置及抛光方法
CN111269659A (zh) * 2020-03-26 2020-06-12 大连圣多教育咨询有限公司 一种水基抛光液
CN111303772A (zh) * 2020-02-25 2020-06-19 山西烁科晶体有限公司 一种超快速低损碳化硅衬底抛光液及其制备方法
CN113831845A (zh) * 2021-10-29 2021-12-24 大连理工大学 一种可见光辅助金刚石化学机械抛光液及抛光方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007258735A (ja) * 2001-07-30 2007-10-04 Toshiba Corp 半導体装置の製造方法
JP2004055615A (ja) * 2002-07-16 2004-02-19 Toshiba Corp 研磨部材及び半導体装置の製造方法
CN1833068A (zh) * 2003-08-04 2006-09-13 大和纺织株式会社 填料固着纤维、纤维结构物和纤维成形体以及它们的制造方法
CN104669075A (zh) * 2014-12-08 2015-06-03 沈阳工业大学 金刚石刀具光催化辅助刃磨方法及装置
CN105773399A (zh) * 2016-03-29 2016-07-20 清华大学 抛光液、抛光机以及抛光方法
CN109866084A (zh) * 2019-04-08 2019-06-11 北京建筑大学 一种uv光催化辅助化学机械抛光装置及抛光方法
CN111303772A (zh) * 2020-02-25 2020-06-19 山西烁科晶体有限公司 一种超快速低损碳化硅衬底抛光液及其制备方法
CN111269659A (zh) * 2020-03-26 2020-06-12 大连圣多教育咨询有限公司 一种水基抛光液
CN113831845A (zh) * 2021-10-29 2021-12-24 大连理工大学 一种可见光辅助金刚石化学机械抛光液及抛光方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116494026A (zh) * 2023-06-09 2023-07-28 浙江大学 一种面向硬脆元件的电化学催化原子级柔性抛光方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Yuan et al. UV-TiO2 photocatalysis-assisted chemical mechanical polishing 4H-SiC wafer
JP5516424B2 (ja) エピタキシャル成長用炭化珪素単結晶基板の製造方法
KR101245276B1 (ko) 산화세륨 연마재의 재생 방법
US20030093957A1 (en) Process for producing abrasive particles and abrasive particles produced by the process
JP6781748B2 (ja) 水素製造方法及び水素製造用シリコン微細粒子
EP2511358B1 (en) Polishing slurry for silicon carbide and polishing method therefor
WO2003044123A1 (en) Particles for use in cmp slurries and method for producing them
CN115386298A (zh) 基于光催化机理的碳化硅化学机械抛光液
TWI433814B (zh) 包含非離子熱活性奈米催化劑的化學機械研磨研漿成分與其研磨方法
CN1939992A (zh) 抛光浆、GaxIn1-xAsyP1-y晶体表面处理方法和GaxIn1-xAsyP1-y晶体衬底
CN109866084A (zh) 一种uv光催化辅助化学机械抛光装置及抛光方法
US20130196513A1 (en) Processing method
CN109623581A (zh) 一种硬质材料的表面抛光方法
Wang et al. Chemical–mechanical polishing of 4H silicon carbide wafers
JP4752072B2 (ja) 研磨方法及び研磨装置
CN111748285A (zh) 一种含高铁酸盐的碳化硅抛光液及其制备方法和应用
CN112809458B (zh) 碳化硅晶片及其加工方法
JP6534137B2 (ja) 複合化砥粒
TWI231523B (en) Method of cleaning surface of semiconductor wafer
Shi et al. Polishing of diamond, SiC, GaN based on the oxidation modification of hydroxyl radical: status, challenges and strategies
CN117020936A (zh) 一种光催化复合抛光垫及其制备方法与抛光方法
KR102489838B1 (ko) 반도체 공정의 화학기계적 연마(CMP)를 위한 연마 입자 분산성 향상을 통한 시너지 효과 극대화와 SiC 및 GaN 기판 가공 방법 및 시스템
JP2015226951A (ja) 研磨装置
CN109971362B (zh) 一种高稳定高效抛光液及其制备方法和应用
夏永 et al. Effect of photo-Fenton reaction on chemical mechanical polishing of 6H-SiC

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination