CN115312114A - 随机存取存储器ram的测试方法、装置、设备及介质 - Google Patents

随机存取存储器ram的测试方法、装置、设备及介质 Download PDF

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CN115312114A CN202211111147.9A CN202211111147A CN115312114A CN 115312114 A CN115312114 A CN 115312114A CN 202211111147 A CN202211111147 A CN 202211111147A CN 115312114 A CN115312114 A CN 115312114A
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路鹏程
史瑞瑞
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Beijing Wuxin Technology Co ltd
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    • G11C29/56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor

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Abstract

本发明公开了一种随机存取存储器RAM的测试方法、装置、设备及介质。方法包括:通过预设格式转换脚本,将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息,存储至预设参数文档中;对各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号和参考模型进行存储;若获取到用户输入的被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,则根据被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取对应的目标测试激励信号和目标参考模型进行测试。本发明实施例可以自动根据参数信息,获取用于触发随机存取存储器RAM测试的测试激励信号、用于模拟随机存取存储器RAM的参考模型,自动根据测试激励信号和参考模型进行测试。

Description

随机存取存储器RAM的测试方法、装置、设备及介质
技术领域
本发明涉及通信技术领域,尤其涉及一种随机存取存储器RAM的测试方法、装置、设备及介质。
背景技术
为了保证项目中使用的随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)的功能的正确性,需要对项目中所使用的所有随机存取存储器RAM进行测试。在测试过程中,给被测随机存取存储器RAM添加激励,分析被测随机存取存储器RAM的响应,从而确定被测随机存取存储器RAM的功能是否正确。
相关技术中,通常需要技术人员先分析被测随机存取存储器RAM的相关参数,根据被测随机存取存储器RAM的相关参数,配置与被测随机存取存储器RAM对应的激励添加方案和响应分析方案,然后基于激励添加方案和响应分析方案,对被测随机存取存储器RAM进行测试。
但是项目中所使用的所有随机存取存储器RAM中包含不同厂家、不同类型的各类随机存取存储器RAM。相关技术的测试方案中,技术人员需要针对不同的随机存取存储器RAM,分析不同的相关参数,配置不同的激励添加方案和响应分析方案,过程繁琐,而且出错几率很大。
发明内容
本发明提供了一种随机存取存储器RAM的测试方法、装置、设备及介质,以解决相关技术的测试方案中,技术人员需要针对不同的随机存取存储器RAM,分析不同的相关参数,配置不同的激励添加方案和响应分析方案,过程繁琐,而且出错几率很大的问题。
根据本发明的一方面,提供了一种随机存取存储器RAM的测试方法,包括:
通过预设格式转换脚本,将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息,将所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息存储至预设参数文档中;
建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号进行存储;
建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型进行存储;
若获取到用户输入的被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,则根据所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型,通过所述目标测试激励信号和所述目标参考模型对所述被测随机存取存储器RAM进行测试。
根据本发明的另一方面,提供了一种随机存取存储器RAM的测试装置,包括:
参数存储模块,用于通过预设格式转换脚本,将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息,将所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息存储至预设参数文档中;
信号存储模块,用于建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号进行存储;
模型存储模块,用于建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型进行存储;
测试模块,用于若获取到用户输入的被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,则根据所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型,通过所述目标测试激励信号和所述目标参考模型对所述被测随机存取存储器RAM进行测试。
根据本发明的另一方面,提供了一种电子设备,所述电子设备包括:
至少一个处理器,以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序,所述计算机程序被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的随机存取存储器RAM的测试方法。
根据本发明的另一方面,提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的随机存取存储器RAM的测试方法。
本发明实施例的技术方案,通过预设格式转换脚本,将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息,将各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息存储至预设参数文档中;然后建立各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,对各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号进行存储;建立各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,对各类随机存取存储器RAM对应的参考模型进行存储;在接收到与被测随机存取存储器RAM对应的测试请求的情况下,根据被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型,通过目标测试激励信号和目标参考模型对被测随机存取存储器RAM进行测试,解决了相关技术的测试方案中,技术人员需要针对不同的随机存取存储器RAM,分析不同的相关参数,配置不同的激励添加方案和响应分析方案,过程繁琐,而且出错几率很大的问题,取到了对各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息、对应的测试激励信号以及对应的参考模型进行存储,在被测随机存取存储器RAM的测试过程中,自动根据被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取当前测试过程中的用于触发被测随机存取存储器RAM进行测试的目标测试激励信号,以及用于模拟被测随机存取存储器RAM的目标参考模型,自动根据获取的目标测试激励信号和目标参考模型对被测随机存取存储器RAM进行测试,确定被测随机存取存储器RAM的功能是否正确,生成相应的当前测试结果,避免了手动操作过程中存在的过程繁琐,而且出错几率很大的问题的有益效果。
应当理解,本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征,也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例一提供的一种随机存取存储器RAM的测试方法的流程图。
图2为本发明实施例二提供的一种随机存取存储器RAM的测试方法的流程图。
图3A为本发明实施例三提供的一种随机存取存储器RAM的测试装置的结构示意图。
图3B为本发明实施例三提供的一种环境架构的示意图。
图4为实现本发明实施例的随机存取存储器RAM的测试方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。
需要说明的是,本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“目标”、“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外,术语“包含”、“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
实施例一
图1为本发明实施例一提供的一种随机存取存储器RAM的测试方法的流程图,本实施例可适用于对项目中所使用的各类随机存取存储器RAM进行测试,从而确定随机存取存储器RAM的功能是否正确的情况。该方法可以由随机存取存储器RAM的测试装置来执行,该随机存取存储器RAM的测试装置可以采用硬件和/或软件的形式实现,该随机存取存储器RAM的测试装置可配置于电子设备中。如图1所示,该方法包括:
步骤101、通过预设格式转换脚本,将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息,将所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息存储至预设参数文档中。
可选的,随机存取存储器RAM的参数信息包含与随机存取存储器RAM相关的多个参数的参数名称和参数数值。与随机存取存储器RAM相关的多个参数,包括但不限于:随机存取存储器RAM的类型、宽度、深度、纠错编码(error correction code,ecc)宽度、用于指示是否带ecc的数值、读操作延迟、实例化个数、物理名字、物理大小、工作频率和/或随机存取存储器标识等。
可选的,随机存取存储器RAM的物理名字是用于唯一标识随机存取存储器RAM的字符序列。随机存取存储器RAM的物理名字可以由用户通过计算机进行自定义,或者由用户编写的计算机程序根据随机存取存储器RAM的物理大小、类型、宽度、深度、是否带位掩码等特征自动生成。
在一个具体实例中,某一类被测随机存取存储器RAM的类型为“1R1W”,宽度为132,深度为18,纠错编ecc宽度为0,用于指示是否带ecc的数值为0,读操作延迟为1拍,实例化个数为2个,物理名字为“*42p24x66*”。该类随机存取存储器RAM的参数信息为:被测随机存取存储器RAM的类型,1R1W;宽度,132;深度,18;纠错编ecc宽度,0;用于指示是否带ecc的数值,0;读操作延迟,1;实例化个数,2;物理名字,*42p24x66*。
可选的,将参数信息转换为预设格式的参数信息是指将参数信息中包含的参数的参数名称替换为与参数对应的预设字符串标识。预设字符串标识是预先设置的用于标识参数的字符串。
由此,可以通过更为简洁的字符串,对随机存取存储器RAM的参数进行存储。
电子设备对各参数的参数名称和对应的预设字符串标识进行存储。基于存储的各参数的参数名称和对应的预设字符串标识,可以根据指定参数的参数名称,查询并确定指定参数对应的预设字符串标识。
可选的,预设格式转换脚本是用户编写并设置于电子设备中的脚本,用于将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息,将,然后将各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息存储至预设参数文档中。
可选的,用户将项目中所使用的每一类随机存取存储器RAM的参数信息,输入至电子设备中。电子设备调用预设格式转换脚本,通过预设格式转换脚本,根据各类随机存取存储器RAM的参数信息中的参数的参数名称,查询并确定各类随机存取存储器RAM的参数信息中的参数对应的预设字符串标识,将各类随机存取存储器RAM的参数信息中的参数的参数名称替换为与参数对应的预设字符串标识,从而将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息,然后将所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息存储至预设参数文档中。
可选的,预设参数文档是用于存储各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息的文档。各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息是不相同的。由此,通过预设参数文档,对项目中所使用的各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息进行统一存储和管理。
在一个具体实例中,某一类随机存取存储器RAM的深度为88,宽度为128,ecc宽度为9,读操作延迟为1拍,实例化个数为1个,物理大小为“88×138”,工作频率为80MHz,随机存取存储器标识为0。该类随机存取存储器RAM的参数信息为:深度,88;宽度,128;ecc宽度,9;读操作延迟,1;实例化个数,1;物理深度,88;物理宽度,138;工作频率,80;随机存取存储器标识,0。深度对应的预设字符串标识是define RAM_DEPTH。宽度对应的预设字符串标识是define RAM_WIDTH。ecc宽度对应的预设字符串标识是define RAM_ECC_WIDTH。读操作延迟对应的预设字符串标识是define RAM_RD_DELAY。实例化个数对应的预设字符串标识是define RAM_INSTANCE。物理深度对应的预设字符串标识是efine RAM_PHYSICS_DEPTH。物理宽度对应的预设字符串标识是define RAM_PHYSICS_WIDTH。工作频率对应的预设字符串标识是define RAM_FREQ。随机存取存储器标识对应的预设字符串标识是define RAM_ID。该类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息为:define RAM_DEPTH,88;define RAM_WIDTH,128;define RAM_ECC_WIDTH,9;define RAM_RD_DELAY,1;define RAM_INSTANCE,1;define RAM_PHYSICS_DEPTH,88;define RAM_PHYSICS_WIDTH,138;define RAM_FREQ,80;define RAM_ID,0。
步骤102、建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号进行存储。
可选的,各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号是当前测试过程中的用于触发各类随机存取存储器RAM进行测试的激励信号。用户将各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号输入至电子设备中。
可选的,所述建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号进行存储,包括:获取所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号;建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,将所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号存储至第一存储位置。
可选的,获取用户输入的各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号,建立各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,从而得到参数信息与测试激励信号之间的对应关系。然后将所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号存储至第一存储位置。第一存储位置是电子设备中用于存储所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号的存储位置。
由此,对当前测试过程中的用于触发各类随机存取存储器RAM进行测试的激励信号进行统一存储和管理。
步骤103、建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型进行存储。
可选的,各类随机存取存储器RAM对应的参考模型是用户编写的各类随机存取存储器RAM的仿真模型,用于模拟各类随机存取存储器RAM。将激励信号输入至随机存取存储器RAM对应的参考模型,随机存取存储器RAM对应的参考模型输出基于激励信号的标准响应信号。参考模型输出的基于激励信号的标准响应信号,是功能正确的随机存取存储器RAM会基于激励信号输出的响应信号。用户将编写的各类随机存取存储器RAM的仿真模型输入至电子设备中。
可选的,所述建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型进行存储,包括:获取所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型;其中,所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型为所述各类随机存取存储器RAM的仿真模型,用于模拟所述各类随机存取存储器RAM;建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,将所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型存储至第二存储位置。
可选的,获取用户输入的各类随机存取存储器RAM对应的参考模型,建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,从而得到参数信息与参考模型之间的对应关系。然后将各类随机存取存储器RAM对应的参考模型存储至第二存储位置。第二存储位置是电子设备中用于存储各类随机存取存储器RAM对应的参考模型的存储位置。
由此,对各类随机存取存储器RAM对应的参考模型进行统一存储和管理。
步骤104、若获取到用户输入的被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,则根据所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型,通过所述目标测试激励信号和所述目标参考模型对所述被测随机存取存储器RAM进行测试。
可选的,被测随机存取存储器RAM为项目中所使用的所有随机存取存储器RAM中的在当前时刻需要进行测试的随机存取存储器RAM。
可选的,用户可以为负责管理被测随机存取存储器RAM的测试过程的测试人员。用户将被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息输入至电子设备中。
可选的,所述根据所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型,包括:在所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息中,查询与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息;若查询到与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息,则根据参数信息与测试激励信号之间的对应关系,获取与所述目标参数信息对应的测试激励信号,并将与所述目标参数信息对应的测试激励信号确定为与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号;根据参数信息与参考模型之间的对应关系,获取与所述目标参数信息对应的参考模型,并将与所述目标参数信息对应的参考模型确定为与所述被测随机存取存储器RAM对应的参考模型。
可选的,在各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息中,查询与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息,包括:在预设参数文档中存储的各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息中,查询与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息。
可选的,若查询到与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息,则根据参数信息与测试激励信号之间的对应关系,获取与所述目标参数信息对应的测试激励信号,作为与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号,根据参数信息与参考模型之间的对应关系,获取与所述目标参数信息对应的参考模型,作为与所述被测随机存取存储器RAM对应的参考模型。
由此,根据被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,在各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号和参考模型中,获取当前测试过程中的用于触发被测随机存取存储器RAM进行测试的目标测试激励信号,以及用于模拟被测随机存取存储器RAM的目标参考模型。
可选的,若没有查询到与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息,则将错误提示信息提供给用户;其中,预设的错误提示信息,用于提示没有查询到与所述被测随机存取存储器RAM的参数信息相同的目标参数信息,无法获取与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型,测试无法进行。
可选的,所述通过所述目标测试激励信号和所述目标参考模型对所述被测随机存取存储器RAM进行测试,包括:将所述目标测试激励信号分别输入至所述被测随机存取存储器RAM和所述目标参考模型;获取所述被测随机存取存储器RAM基于所述目标测试激励信号的目标响应信号;对所述目标响应信号和所述目标参考模型输出与所述目标测试激励信号对应的标准响应信号进行比对,生成所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果。
可选的,将所述目标测试激励信号分别输入至所述被测随机存取存储器RAM和所述目标参考模型。所述被测随机存取存储器RAM输出基于所述目标测试激励信号的目标响应信号。所述目标参考模型输出基于所述目标测试激励信号的目标标准响应信号。目标标准响应信号是功能正确的被测随机存取存储器RAM会基于目标测试激励信号输出的响应信号。
可选的,将所述目标测试激励信号输入至所述被测随机存取存储器RAM,包括:根据被测随机存取存储器RAM的参数信息中的物理名字,确定被测随机存取存储器RAM的输入端口的名字;根据被测随机存取存储器RAM的输入端口的名字,将所述目标测试激励信号输入至被测随机存取存储器RAM的输入端口。
可选的,根据被测随机存取存储器RAM的参数信息中的物理名字,确定被测随机存取存储器RAM的输入端口的名字,包括:根据预设的物理名字与输入端口的名字之间的对应关系,获取与被测随机存取存储器RAM的物理名字对应的输入端口的名字。与被测随机存取存储器RAM的物理名字对应的输入端口的名字即为被测随机存取存储器RAM的输入端口的名字。
可选的,预设的物理名字与输入端口的名字之间的对应关系中包含每一个随机存取存储器RAM的物理名字、以及每一个随机存取存储器RAM的输入端口的名字。各随机存取存储器RAM的物理名字与各随机存取存储器RAM的输入端口的名字一一对应。
可选的,获取所述被测随机存取存储器RAM基于所述目标测试激励信号的目标响应信号,包括:根据被测随机存取存储器RAM的参数信息中的物理名字,确定被测随机存取存储器RAM的输出端口的名字;根据被测随机存取存储器RAM的输出端口的名字,在被测随机存取存储器RAM的输出端口采集所述被测随机存取存储器RAM输出的基于所述目标测试激励信号的目标响应信号。
可选的,根据被测随机存取存储器RAM的参数信息中的物理名字,确定被测随机存取存储器RAM的输出端口的名字,包括:根据预设的物理名字与输出端口的名字之间的对应关系,获取与被测随机存取存储器RAM的物理名字对应的输出端口的名字。与被测随机存取存储器RAM的物理名字对应的输出端口的名字即为被测随机存取存储器RAM的输出端口的名字。
可选的,预设的物理名字与输出端口的名字之间的对应关系中包含每一个随机存取存储器RAM的物理名字、以及每一个随机存取存储器RAM的输出端口的名字。各随机存取存储器RAM的物理名字与各随机存取存储器RAM的输出端口的名字一一对应。
可选的,所述对所述目标响应信号和所述目标参考模型输出与所述目标测试激励信号对应的标准响应信号进行比对,生成所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果,包括:判断所述目标响应信号与所述标准响应信号是否一致;若是,则确定所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果为合格;若否,则确定所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果为不合格。响应信号可以为所述被测随机存取存储器RAM的写使能信号、读使能信号、写操作信号、读操作信号、写数据信号、读数据信号、写时钟信号或读时钟信号等。
可选的,所述被测随机存取存储器RAM输出基于所述目标测试激励信号的目标响应信号。目标标准响应信号是功能正确的被测随机存取存储器RAM会基于目标测试激励信号输出的响应信号。若所述目标响应信号与所述标准响应信号一致,表明所述被测随机存取存储器RAM的功能正确,则确定所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果为合格。若所述目标响应信号与所述标准响应信号不一致,表明所述被测随机存取存储器RAM的功能可能存在异常,则确定所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果为不合格。
由此,通过对被测随机存取存储器RAM基于目标测试激励信号的目标响应信号与目标测试激励信号对应的标准响应信号进行比对,确定被测随机存取存储器RAM的功能是否正确,生成相应的当前测试结果。
可选的,还包括:获取用户输入的激励信号更新信息,根据所述激励信号更新信息更新各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号。
可选的,激励信号更新信息是用于更新各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号的信息,包含用户设置的各类随机存取存储器RAM对应的最新的测试激励信号。根据所述激励信号更新信息,将各类随机存取存储器RAM对应的当前测试激励信号更新为用户设置的各类随机存取存储器RAM对应的最新的测试激励信号。
由此,用户可以通过激励信号更新信息,实时更新各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号,从而实现根据不同的测试需求,改变各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号,然后基于改变后的测试激励信号对项目中需要随机存取存储器RAM进行测试。
本发明实施例的技术方案,通过预设格式转换脚本,将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息,将各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息存储至预设参数文档中;然后建立各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,对各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号进行存储;建立各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,对各类随机存取存储器RAM对应的参考模型进行存储;在接收到与被测随机存取存储器RAM对应的测试请求的情况下,根据被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型,通过目标测试激励信号和目标参考模型对被测随机存取存储器RAM进行测试,解决了相关技术的测试方案中,技术人员需要针对不同的随机存取存储器RAM,分析不同的相关参数,配置不同的激励添加方案和响应分析方案,过程繁琐,而且出错几率很大的问题,取到了对各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息、对应的测试激励信号以及对应的参考模型进行存储,在被测随机存取存储器RAM的测试过程中,自动根据被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取当前测试过程中的用于触发被测随机存取存储器RAM进行测试的目标测试激励信号,以及用于模拟被测随机存取存储器RAM的目标参考模型,自动根据获取的目标测试激励信号和目标参考模型对被测随机存取存储器RAM进行测试,确定被测随机存取存储器RAM的功能是否正确,生成相应的当前测试结果,避免了手动操作过程中存在的过程繁琐,而且出错几率很大的问题的有益效果。
实施例二
图2为本发明实施例二提供的一种随机存取存储器RAM的测试方法的流程图,本发明实施例可以与上述一个或者多个实施例中各个可选方案结合。
如图2所示,该方法包括:
步骤201、通过预设格式转换脚本,将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息,将所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息存储至预设参数文档中。
步骤202、建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号进行存储。
步骤203、建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型进行存储。
步骤204、若获取到用户输入的被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,则根据所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型。
可选的,所述根据所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型,包括:在所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息中,查询与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息;若查询到与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息,则根据参数信息与测试激励信号之间的对应关系,获取与所述目标参数信息对应的测试激励信号,并将与所述目标参数信息对应的测试激励信号确定为与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号;根据参数信息与参考模型之间的对应关系,获取与所述目标参数信息对应的参考模型,并将与所述目标参数信息对应的参考模型确定为与所述被测随机存取存储器RAM对应的参考模型。
可选的,在各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息中,查询与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息,包括:在预设参数文档中存储的各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息中,查询与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息。
可选的,若查询到与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息,则根据参数信息与测试激励信号之间的对应关系,获取与所述目标参数信息对应的测试激励信号,作为与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号,根据参数信息与参考模型之间的对应关系,获取与所述目标参数信息对应的参考模型,作为与所述被测随机存取存储器RAM对应的参考模型。
由此,根据被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,在各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号和参考模型中,获取当前测试过程中的用于触发被测随机存取存储器RAM进行测试的目标测试激励信号,以及用于模拟被测随机存取存储器RAM的目标参考模型。
可选的,若没有查询到与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息,则将错误提示信息提供给用户;其中,预设的错误提示信息,用于提示没有查询到与所述被测随机存取存储器RAM的参数信息相同的目标参数信息,无法获取与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型,测试无法进行。
步骤205、将所述目标测试激励信号分别输入至所述被测随机存取存储器RAM和所述目标参考模型。
步骤206、获取所述被测随机存取存储器RAM基于所述目标测试激励信号的目标响应信号。
步骤207、对所述目标响应信号和所述目标参考模型输出与所述目标测试激励信号对应的标准响应信号进行比对,生成所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果。
本发明实施例的技术方案,取到了对各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息、对应的测试激励信号以及对应的参考模型进行存储,在被测随机存取存储器RAM的测试过程中,自动根据被测随机存取存储器RAM的参数信息,获取当前测试过程中的用于触发被测随机存取存储器RAM进行测试的目标测试激励信号,以及用于模拟被测随机存取存储器RAM的目标参考模型,自动根据获取的目标测试激励信号和目标参考模型对被测随机存取存储器RAM进行测试,确定被测随机存取存储器RAM的功能是否正确,生成相应的当前测试结果,避免了手动操作过程中存在的过程繁琐,而且出错几率很大的问题的有益效果。
实施例三
图3A为本发明实施例三提供的一种随机存取存储器RAM的测试装置的结构示意图。所述装置可以配置于电子设备中。如图3A所示,所述装置包括:参数存储模块301、信号存储模块302、模型存储模块303以及测试模块304。
其中,参数存储模块301,用于通过预设格式转换脚本,将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息,将所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息存储至预设参数文档中;信号存储模块302,用于建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号进行存储;模型存储模块303,用于建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型进行存储;测试模块304,用于若获取到用户输入的被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,则根据所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型,通过所述目标测试激励信号和所述目标参考模型对所述被测随机存取存储器RAM进行测试。
本发明实施例的技术方案,通过预设格式转换脚本,将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息,将各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息存储至预设参数文档中;然后建立各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,对各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号进行存储;建立各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,对各类随机存取存储器RAM对应的参考模型进行存储;在接收到与被测随机存取存储器RAM对应的测试请求的情况下,根据被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型,通过目标测试激励信号和目标参考模型对被测随机存取存储器RAM进行测试,解决了相关技术的测试方案中,技术人员需要针对不同的随机存取存储器RAM,分析不同的相关参数,配置不同的激励添加方案和响应分析方案,过程繁琐,而且出错几率很大的问题,取到了对各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息、对应的测试激励信号以及对应的参考模型进行存储,在被测随机存取存储器RAM的测试过程中,自动根据被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取当前测试过程中的用于触发被测随机存取存储器RAM进行测试的目标测试激励信号,以及用于模拟被测随机存取存储器RAM的目标参考模型,自动根据获取的目标测试激励信号和目标参考模型对被测随机存取存储器RAM进行测试,确定被测随机存取存储器RAM的功能是否正确,生成相应的当前测试结果,避免了手动操作过程中存在的过程繁琐,而且出错几率很大的问题的有益效果。
在本发明实施例的一个可选实施方式中,可选的,测试模块304包括:在执行通过所述目标测试激励信号和所述目标参考模型对所述被测随机存取存储器RAM进行测试的操作时,具体用于:将所述目标测试激励信号分别输入至所述被测随机存取存储器RAM和所述目标参考模型;获取所述被测随机存取存储器RAM基于所述目标测试激励信号的目标响应信号;对所述目标响应信号和所述目标参考模型输出与所述目标测试激励信号对应的标准响应信号进行比对,生成所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果。
在一个具体实例中,测试模块304包括:激励单元,用于若获取到用户输入的被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,则根据所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型;驱动单元,用于将所述目标测试激励信号分别输入至所述被测随机存取存储器RAM和所述目标参考模型;采集单元,用于获取所述被测随机存取存储器RAM基于所述目标测试激励信号的目标响应信号;比对单元,用于对所述目标响应信号和所述目标参考模型输出与所述目标测试激励信号对应的标准响应信号进行比对,生成所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果。
图3B为本发明实施例三提供的一种环境架构的示意图。环境311是用于对被测随机存取存储器RAM 313进行测试的测试环境。环境311包括:激励单元321、驱动单元322、目标参考模型312、采集单元323以及比对单元324。激励单元321与驱动单元322连接,通过驱动单元322将目标测试激励信号分别输入至被测随机存取存储器RAM 313和目标参考模型312。采集单元323获取被测随机存取存储器RAM 313基于目标测试激励信号的目标响应信号。比对单元324对目标响应信号和目标参考模型312输出的与目标测试激励信号对应的标准响应信号进行比对,生成被测随机存取存储器RAM 313的当前测试结果。
在本发明实施例的一个可选实施方式中,可选的,测试模块304在执行根据所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型的操作时,具体用于:在所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息中,查询与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息;若查询到与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息,则根据参数信息与测试激励信号之间的对应关系,获取与所述目标参数信息对应的测试激励信号,并将与所述目标参数信息对应的测试激励信号确定为与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号;根据参数信息与参考模型之间的对应关系,获取与所述目标参数信息对应的参考模型,并将与所述目标参数信息对应的参考模型确定为与所述被测随机存取存储器RAM对应的参考模型。
在本发明实施例的一个可选实施方式中,可选的,信号存储模块302具体用于:获取所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号;建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,将所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号存储至第一存储位置。
在本发明实施例的一个可选实施方式中,可选的,模型存储模块303具体用于:获取所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型;其中,所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型为所述各类随机存取存储器RAM的仿真模型,用于模拟所述各类随机存取存储器RAM;建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,将所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型存储至第二存储位置。
在本发明实施例的一个可选实施方式中,可选的,测试模块304在执行对所述目标响应信号和所述目标参考模型输出与所述目标测试激励信号对应的标准响应信号进行比对,生成所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果时,具体用于:判断所述目标响应信号与所述标准响应信号是否一致;若是,则确定所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果为合格;若否,则确定所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果为不合格。
在本发明实施例的一个可选实施方式中,可选的,信号存储模块302还用于:获取用户输入的激励信号更新信息,根据所述激励信号更新信息更新各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号。
关于上述实施例中的装置,其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述,此处将不做详细阐述说明。
上述随机存取存储器RAM的测试装置可执行本发明任意实施例所提供的随机存取存储器RAM的测试方法,具备执行随机存取存储器RAM的测试方法相应的功能模块和有益效果。
实施例四
图4示出了可以用来实现本发明实施例的随机存取存储器RAM的测试方法的电子设备10的结构示意图。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机,诸如,膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置,诸如,个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备(如头盔、眼镜、手表等)和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例,并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。
如图4所示,电子设备10包括至少一个处理器11,以及与至少一个处理器11通信连接的存储器,如只读存储器(ROM)12、随机访问存储器(RAM)13等,其中,存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序,处理器11可以根据存储在只读存储器(ROM)12中的计算机程序或者从存储单元18构建到随机访问存储器(RAM)13中的计算机程序,来执行各种适当的动作和处理。在RAM 13中,还可存储电子设备10操作所需的各种程序和数据。处理器11、ROM 12以及RAM 13通过总线14彼此相连。输入/输出(I/O)接口15也连接至总线14。
电子设备10中的多个部件连接至I/O接口15,包括:输入单元16,例如键盘、鼠标等;输出单元17,例如各种类型的显示器、扬声器等;存储单元18,例如磁盘、光盘等;以及通信单元19,例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元19允许电子设备10通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。
处理器11可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理器11的一些示例包括但不限于中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、各种专用的人工智能(AI)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的处理器、数字信号处理器(DSP)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理器11执行上文所描述的各个方法和处理,例如随机存取存储器RAM的测试方法。
在一些实施例中,随机存取存储器RAM的测试方法可被实现为计算机程序,其被有形地包含于计算机可读存储介质,例如存储单元18。在一些实施例中,计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 12和/或通信单元19而被载入和/或安装到电子设备10上。当计算机程序构建到RAM 13并由处理器11执行时,可以执行上文描述的随机存取存储器RAM的测试方法的一个或多个步骤。备选地,在其他实施例中,处理器11可以通过其他任何适当的方式(例如,借助于固件)而被配置为执行随机存取存储器RAM的测试方法。
本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、芯片上系统的系统(SOC)、负载可编程逻辑设备(CPLD)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括:实施在一个或者多个计算机程序中,该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释,该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器,可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令,并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。
用于实施本发明的随机存取存储器RAM的测试方法的计算机程序可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器,使得计算机程序当由处理器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。计算机程序可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行,作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。
在本发明的上下文中,计算机可读存储介质可以是有形的介质,其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的计算机程序。计算机可读存储介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备,或者上述内容的任何合适组合。备选地,计算机可读存储介质可以是机器可读信号介质。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。
为了提供与用户的交互,可以在电子设备上实施此处描述的系统和技术,该电子设备具有:用于向用户显示信息的显示装置(例如,CRT(阴极射线管)或者LCD(液晶显示器)监视器);以及键盘和指向装置(例如,鼠标或者轨迹球),用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给电子设备。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互;例如,提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如,视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈);并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入、或者触觉输入)来接收来自用户的输入。
可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统(例如,作为数据服务器)、或者包括中间件部件的计算系统(例如,应用服务器)、或者包括前端部件的计算系统(例如,具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机,用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互)、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如,通信网络)来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括:局域网(LAN)、广域网(WAN)、区块链网络和互联网。
计算系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器,又称为云计算服务器或云主机,是云计算服务体系中的一项主机产品,以解决了传统物理主机与VPS服务中,存在的管理难度大,业务扩展性弱的缺陷。
应该理解,可以使用上面所示的各种形式的流程,重新排序、增加或删除步骤。例如,本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行,只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果,本文在此不进行限制。
上述具体实施方式,并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是,根据设计要求和其他因素,可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明保护范围之内。

Claims (10)

1.一种随机存取存储器RAM的测试方法,其特征在于,包括:
通过预设格式转换脚本,将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息,将所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息存储至预设参数文档中;
建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号进行存储;
建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型进行存储;
若获取到用户输入的被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,则根据所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型,通过所述目标测试激励信号和所述目标参考模型对所述被测随机存取存储器RAM进行测试。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过所述目标测试激励信号和所述目标参考模型对所述被测随机存取存储器RAM进行测试,包括:
将所述目标测试激励信号分别输入至所述被测随机存取存储器RAM和所述目标参考模型;
获取所述被测随机存取存储器RAM基于所述目标测试激励信号的目标响应信号;
对所述目标响应信号和所述目标参考模型输出与所述目标测试激励信号对应的标准响应信号进行比对,生成所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型,包括:
在所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息中,查询与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息;
若查询到与所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息相同的目标参数信息,则根据参数信息与测试激励信号之间的对应关系,获取与所述目标参数信息对应的测试激励信号,并将与所述目标参数信息对应的测试激励信号确定为与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号;
根据参数信息与参考模型之间的对应关系,获取与所述目标参数信息对应的参考模型,并将与所述目标参数信息对应的参考模型确定为与所述被测随机存取存储器RAM对应的参考模型。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号进行存储,包括:
获取所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号;
建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,将所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号存储至第一存储位置。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型进行存储,包括:
获取所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型;其中,所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型为所述各类随机存取存储器RAM的仿真模型,用于模拟所述各类随机存取存储器RAM;
建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,将所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型存储至第二存储位置。
6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述目标响应信号和所述目标参考模型输出与所述目标测试激励信号对应的标准响应信号进行比对,生成所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果,包括:
判断所述目标响应信号与所述标准响应信号是否一致;
若是,则确定所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果为合格;
若否,则确定所述被测随机存取存储器RAM的当前测试结果为不合格。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
获取用户输入的激励信号更新信息,根据所述激励信号更新信息更新各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号。
8.一种随机存取存储器RAM的测试装置,其特征在于,包括:
参数存储模块,用于通过预设格式转换脚本,将各类随机存取存储器RAM的参数信息转换为预设格式的参数信息,将所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息存储至预设参数文档中;
信号存储模块,用于建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的测试激励信号进行存储;
模型存储模块,用于建立所述各类随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息与所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型之间的对应关系,对所述各类随机存取存储器RAM对应的参考模型进行存储;
测试模块,用于若获取到用户输入的被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,则根据所述被测随机存取存储器RAM的预设格式的参数信息,获取与所述被测随机存取存储器RAM对应的目标测试激励信号和目标参考模型,通过所述目标测试激励信号和所述目标参考模型对所述被测随机存取存储器RAM进行测试。
9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
至少一个处理器,以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序,所述计算机程序被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-7中任一项所述的随机存取存储器RAM的测试方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的随机存取存储器RAM的测试方法。
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