CN115248372A - 防错自动测试方法和防错自动测试系统 - Google Patents
防错自动测试方法和防错自动测试系统 Download PDFInfo
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Abstract
本发明涉及一种防错自动测试方法和系统。所述方法包括生成产品计划数据表,测试工装数据表和产品测试程序与工装数据表;获取测试工装的测试工装型号,扫描测试产品的条形码并生成第一防错请求指令,基于所述产品计划数据表、工装数据表和测试工装数据表以及第一防错请求指令判断测试程序、版本号是否正确、测试工装型号对应的测试工具是否满足要求、待测试的测试产品是否正确,并在判定正确时为测试电路上电并对所述测试产品进行测试。本发明可以有效防止产品条形码错误、使用不正确的测试工装;使用不正确的测试程序;测试工具(例如测试探针和电连接器)没有及时更换。可以减少生产线的不良品和返工,降低成本,提高生产效率和产品质量。
Description
技术领域
本发明涉及智能制造领域,更具体地说,涉及一种防错自动测试方法和防错自动测试系统。
背景技术
当今如在电子产品的生产中,需要对PCBA电路板和整机模块进行FCT(FunctionalCircuit Test)功能测试。与传统的人工测试相比,自动测试省时省力,可以提高劳动生产率和产品质量,所以现代制造企业广泛地使用了自动测试系统,就是将计算机与测试设备集成在一起,采用标准化的系统接口,通过测试电缆连接到测试工装,测试工装通过测试探针组成的针床连接待测产品,或者通过电连接器与待测产品的输入输出端子连接,由计算机控制自动施加激励信号和测量响应信号,完成测试。其中,很多企业使用的是通用性的自动测试系统,可以兼容多种型号产品的测试。对于不同型号的待测产品,只要更换连接与待测产品相匹配的测试工装,在计算机上运行相匹配的测试程序就可以完成该型号产品的测试。
同时,现代制造企业普遍采用条形码(一维码或二维码)来对测试数据进行记录和追溯,以至对产品的生产过程进行全流程的管理。
因此,目前常见的通用性自动测试系统存在以下缺陷。1、操作人员必须人工确认待测产品的条形码是正确的,如果条形码不正确,会影响测试数据的记录和追溯。2、操作人员必须人工确认待测产品与所使用的测试工装、测试程序都是匹配的,如果使用了不正确的测试工装、测试程序,则需要返工,甚至可能损坏待测产品和测试工装。3、测试探针和电连接器都有一定的使用寿命,测试工装的维护人员需要记录它们的使用次数,超过一定的使用次数以后需要及时更换,否则由于表面氧化、形变等原因,容易出现接触不良影响测试结果的准确性。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于,针对现有技术的上述缺陷,提供一种防错自动测试方法和防错自动测试系统,能够自动匹配测试产品、产品条形码、测试工装和测试程序、防止因测试探针和电连接器没有及时更换造成的测试结果错误,从而有效减少生产线由此造成的的不良品和返工,降低成本,提高生产效率和产品质量。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:构造一种防错自动测试方法,包括:
S1、为每个测试产品生成条形码并基于全部的所述条形码构造产品计划数据表,为全部的测试工装生成测试工装数据表,基于每个测试产品和其对应的测试工装和测试程序生成产品测试程序与工装数据表;
S2、在每个测试工装的非易失性存储电路中写入所述测试工装的测试工装型号;
S3、开启待使用的所述测试工装的测试程序以上电所述测试工装的所述非易失性存储电路以获取所述测试工装的测试工装型号,扫描一个待测试的测试产品的条形码,并基于所述测试程序、所述测试工装型号和所述条形码生成第一防错请求指令;
S4、基于所述产品测试程序、工装数据表和所述测试工装数据表以及所述第一防错请求指令判断所述测试程序、所述版本号是否正确以及所述测试工装型号对应的测试工具是否满足要求,如果是执行步骤S5,否则返回错误信息并终止测试;
S5、放置扫描每个待测试的测试产品的条形码并基于所述条形码和所述产品计划数据表判断所述待测试的测试产品是否正确,如果是执行步骤S6,否则返回错误信息并终止测试;
S6、为测试电路上电并对所述测试产品进行测试。
在本发明所述的防错自动测试方法中,所述步骤S1进一步包括:
S11、为每个所述测试产品生成所述条形码,并基于所述条形码构造所述产品计划数据表;所述条形码包括生产日期、产品型号、硬件版本号和产品流水号,所述产品计划数据包括所述条形码、生产日期、产品型号、硬件版本号和流水号;
S12、根据所述测试工装的型号、测试工具的型号以及使用次数生成所述测试工装数据表,所述测试工装数据表包括测试工装型号、工装编号,测试次数和使用次数限值;
S14、基于每个所述测试产品和其对应的测试工装和测试程序生成产品测试程序与工装数据表,所述产品测试程序与工装数据表包括产品型号、测试程序名称、最新版本号和测试工装型号。
在本发明所述的防错自动测试方法中,初次录入时,将所述测试次数设置为0,且每次更换测试工具之后,将所述测试次数清零,所述测试工具包括测试探针或连接器。
在本发明所述的防错自动测试方法中,所述非易失性存储电路包括非易失性存储器、继电器、续流二级管、开关管、第一电阻和第二电阻;
所述开关管的控制端经所述第一电阻接收来自测试电路的测试控制信号、第一端接地、第二端连接所述续流二级管的阳极和所述继电器的第一端,所述续流二级管的阴极连接所述继电器的第二端和第一电源,所述第二电阻连接在所述开关管的控制端和地之间,所述继电器的第一触头连接第二电源、第一触点连接所述非易失性存储器的电源端、第二触头接地、第二触点连接所述非易失性存储器的接地端;
所述非易失性存储器基于所述测试控制信号上电或者下电,所述非易失性存储器仅上电时允许读写。
在本发明所述的防错自动测试方法中,所述非易失性存储器包括EEPROM、PROM、EPROM以及闪存。
在本发明所述的防错自动测试方法中,所述步骤S3进一步包括:
S31、开启待使用的所述测试工装的测试程序;
S32、所述测试程序控制所述测试工装的所述非易失性存储电路上电并读取所述测试工装型号,然后控制所述非易失性存储电路下电;
S33、扫描待测试的所述测试产品的所述条形码;
S34、基于所述测试程序、所述测试工装型号和所述条形码生成所述第一防错请求指令,所述第一防错请求指令包括所述条形码、测试程序名称、版本号、所述测试工装型号。
在本发明所述的防错自动测试方法中,所述步骤S4进一步包括:
S41、解析所述条形码以获取所述测试产品的产品型号,并基于所述产品型号在所述产品测试程序与工装数据表中检索对应的测试程序名称和最新版本号,判断所述对应的测试程序名称和最新版本号与所述第一防错请求指令中的测试程序名称和版本号是否一致,如果是执行步骤S42,否则返回测试程序错误信息并终止测试;
S42、基于所述产品型号在所述产品测试程序与工装数据表中检索对应的测试工装型号,并判断所述对应的测试工装型号是否与所述第一防错请求指令中的所述测试工装型号一致,如果是执行步骤S43,否则返回测试工装错误信息并终止测试;
S43、基于所述测试工装型号在所述测试工装数据表中检索对应的测试次数和使用次数限值,并判断所述测试次数是否小于所述使用次数限值,如果是则将所述测试次数加1然后执行步骤S5,否则返回测试工具需要维护信息并终止测试。
在本发明所述的防错自动测试方法中,所述步骤S5进一步包括:
S51、将每个待测试的测试产品放置在所述测试工装上并扫描其条形码;
S52、在所述产品计划数据表中检索所述条形码并判定所述测试产品的条形码是否正确,如果是执行步骤S6,否则返回条形码错误信息并终止测试。
本发明解决其技术问题采用的另一技术方案是,构造一种防错自动测试系统,包括测试工装、测试系统柜和数据中心服务器,所述测试工装包括工装电路和测试工具,所述测试系统柜包括测试电路和测试计算机,所述工装电路包括非易失性存储电路,所述测试系统柜通信连接所述测试工装和所述数据中心服务器;
所述防错自动测试系统用于执行所述的防错自动测试方法。
在本发明所述的防错自动测试系统中,所述非易失性存储电路包括非易失性存储器、继电器、续流二级管、开关管、第一电阻和第二电阻;
所述开关管的控制端经所述第一电阻接收来自测试电路的测试控制信号、第一端接地、第二端连接所述续流二级管的阳极和所述继电器的第一端,所述续流二级管的阴极连接所述继电器的第二端和第一电源,所述第二电阻连接在所述开关管的控制端和地之间,所述继电器的第一触头连接第二电源、第一触点连接所述非易失性存储器的电源端、第二触头接地、第二触点连接所述非易失性存储器的接地端;
所述非易失性存储器基于所述测试控制信号上电或者下电,所述非易失性存储器仅上电时允许读写。
本发明的通过检索查表产品计划数据表、测试工装数据表和所述产品测试程序与工装数据表,可以有效判断产品条形码是否错误、测试程序、测试工装是否正确以及测试工具是否满足要求,可以有效防止产品条形码错误、使用不正确的测试工装;使用不正确的测试程序;测试工具(例如测试探针和电连接器)没有及时更换。这样可以减少生产线的不良品和返工,降低成本,提高生产效率和产品质量。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明,附图中:
图1是本发明的防错自动测试方法的优选实施例的流程图;
图2是根据本发明的防错自动测试方法的优选实施例的非易失性存储电路的电路图;
图3是根据本发明的防错自动测试方法的优选实施例的基于第一防错请求指令的判断步骤的流程图;
图4是根据本发明的防错自动测试方法的优选实施例的条形码判断步骤的流程图;
图5是本发明的防错自动测试方法的又一优选实施例的流程图;
图6是图5所示的第一请求步骤的流程图;
图7是图5所示的第二请求步骤的流程图;
图8是本发明的防错自动测试系统的优选实施例的原理框图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
图1是本发明的防错自动测试方法的第一优选实施例的流程图。如图1所示,在步骤S1中,为每个测试产品生成条形码并基于全部的所述条形码构造产品计划数据表,为全部的测试工装生成测试工装数据表,基于每个测试产品和其对应的测试工装和测试程序生成产品测试程序与工装数据表。
在本发明的一个优选实施例中,可以为每个所述测试产品生成所述条形码;然后基于所述条形码构造所述产品计划数据表,所述条形码包括生产日期、产品型号、硬件版本号和产品流水号;所述产品计划数据包括所述条形码、生产日期、产品型号、硬件版本号和流水号。
在此,所述条形码可以是二维码或者一维码。例如,在进行产品的功能测试钱,可以安排生产计划,工作人员可以登录服务器,输入生产日期、产品型号、硬件版本、本批次生产数量等信息,服务器根据这些信息,按照规定的条形码编码规则生成所有待测产品的条形码,保存在数据库的产品计划数据表中,每一个条形码对应产品计划数据表中的一条记录。生产车间根据这个数据表来打印和在产品上粘贴条形码。
在本发明的一个优选实施例中,所述条形码包括生产日期(年月日)、产品型号、硬件版本号和产品流水号。例如当2022年7月1日计划生产某测试产品1000片,产品型号为00034,硬件版本号为100,计划人员录入以上信息后,服务器在产品计划数据表中生成流水号为0001至1000的1000条条形码记录,即条形码220701000341000001至220701000341001000。因此,所述产品计划数据包括所述条形码、生产日期、产品型号、硬件版本号和流水号,优选其还可以包括ID号。
在本发明的一个优选实施例中,根据所述测试工装的型号、测试工具的型号以及使用次数生成所述测试工装数据表,所述测试工装数据表包括测试工装型号、工装编号,测试次数和使用次数限值。
在此,可以将每个测试工装的测试工装型号、测试工装中采用的测试工具的型号、该测试工具已经被使用的次数,以及其需要进行维护的最大使用次数(即使用次数限值)录入,从而生成测试工装数据表。在一个优选实施例中,所述测试工装数据表包含但不限于以下字段:ID、测试工装型号、工装编号,测试次数和使用次数限值。在此,使用次数限值是根据测试工具的种类和型号确定的。例如当测试工具为某一类型的测试探针时,其使用次数限值可以是N次,而当其为某一类型的连接器时,其使用次数限值可能为M次,其中N和M为正整数,其通常记载在测试工具的使用说明书中,也可以根据经验确定初次录入时,将所述测试次数设置为0,且每次更换测试工具之后,将所述测试次数清零。每使用一次后,测试次数加1。在测试工装数据表中,每一个测试工装对应数据表中的一条记录。
在本发明的一个优选实施例中,基于每个所述测试产品和其对应的测试工装和测试程序生成产品测试程序与工装数据表,所述产品测试程序与工装数据表包括产品型号、测试程序名称、最新版本号和测试工装型号。例如可以要登录服务器,在用户界面操作,将产品型号、测试程序名称、最新版本号、测试工装型号等信息录入数据库,保存在产品测试程序与工装数据表。每一种待测产品型号对应产品测试程序与工装数据表中的一条记录。
在本发明的优选实施例中,所述产品计划数据表,测试工装数据表和产品测试程序与工装数据表可以同时生成,也可以按照任何顺序生成,并且其可以存储在测试工装中,也可以存储在于测试工装通信连接测试系统柜中,或者存储在数据中心服务器中。在本发明中,优选存储在远端的数据中心服务器。该数据中心服务器可以与控制测试工装的测试系统柜通信。
返回参考图1,在步骤S2中,在每个测试工装的非易失性存储电路中写入所述测试工装的测试工装型号。在本发明的优选实施例中,测试工装内的工装电路中包含有非易失性存储器,工装调试过程中,装备工程师可以往非易失性存储器中写入工装型号、编号信息。
图2是根据本发明的防错自动测试方法的优选实施例的非易失性存储电路的电路图。如图2所示,所述非易失性存储电路包括非易失性存储器U1、继电器K1、续流二级管D1、开关管Q1、电阻R4和电阻R5。所述开关管Q1的控制端经所述电阻R4接收来自测试电路的测试控制信号、第一端接地、第二端连接所述续流二级管D1的阳极和所述继电器K1的第一端,所述续流二级管D1的阴极连接所述继电器K1的第二端和第一电源,所述电阻R5连接在所述开关管Q1的控制端和地之间,所述继电器K1的第一触头连接第二电源、第一触点连接所述非易失性存储器U1的电源端、第二触头接地、第二触点连接所述非易失性存储器U1的接地端;所述非易失性存储器U1基于所述测试控制信号上电或者下电,所述非易失性存储器U1仅上电时允许读写。
在图2所示的优选实施例中,所述非易失性存储器U1为I2C总线接口的EEPROM芯片,继电器K1为12V驱动继电器,开关管Q1是三极管。I2C_SCL、I2C_SDA分别是I2C总线的时钟线和数据线,通过测试电缆连接到测试电路的微控制器的I2C接口,I2C_WP是所述EEPROM芯片U1的写保护引脚,连接到测试电路的微控制器的IO口。VCC1、GND1是EEPROM芯片的电源端和接地端,VCC端、GND端是来自测试电路的3.3V电源和地。+12V是来自测试电路的12V电源,DO1是来自测试电路的控制信号。
如图2所示,三极管Q1的基极经电阻R4连接控制信号DO1,发射极接地、集电极连接续流二级管D1的阳极和继电器K1的第一端2,所述续流二级管D1的阴极连接所述继电器K1的第二端1和12V电源。所述继电器K1的第一触头4连接3.3V电源VCC、第一触点5连接EEPROM芯片的电源端VCC1、第二触头7接GND端、第二触点8连接所述非易失性存储器U1的接地端GND1。当测试电路的微控制器输出高电平控制信号DO1时,三极管Q1导通,驱动继电器K1闭合,这时3.3V电源VCC与EEPROM芯片的电源端VCC1接通,地GND与EEPROM芯片的接地端GND1接通。EEPROM芯片上电可以进行读写。当微控制器控制DO1输出低电平控制信号DO1时,三极管Q1截止,驱动继电器K1断开,3.3V电源VCC与EEPROM芯片的电源端VCC1断开,地GND与EEPROM芯片的接地端GND1断开,因此EEPROM芯片下电不能读写。因此,所述非易失性存储电路的上下电控制独立于测试工装的其它电路。
本领域技术人员知悉,虽然本实施例中采用的是I2C总线接口的EEPROM芯片,也可以采用其它接口的EEPROM器件,当然也可以采用其他类型的非易失性存储器,例如PROM、EPROM、闪存(Flash memory)等等。类似地,也可以采用MOS管、晶闸管、IGBT管等其他开关管替代三极管Q1。
在此,测试电路可以测试工装完成测试产品的相关测试所需的电路,其可以根据实际的测试产品和测试工装设置,在此可以采用本领域中已知的任何适合的测试电路。
返回图1,在步骤S3中,开启待使用的所述测试工装的测试程序以上电所述测试工装的所述非易失性存储电路以获取所述测试工装的测试工装型号,扫描一个待测试的测试产品的条形码,并基于所述测试程序、所述测试工装型号和所述条形码生成第一防错请求指令。
在本发明的优选实施例中,装备工程师可以调用和调试测试程序,测试程序中会读取工装型号,提示扫描待测产品条形码,进行第一次防错检查,如果有错误则弹出错误提示,终止测试。
下面具体说明如下,首先选择要进行测试的测试工装,即待使用的所述测试工装,然后开启该待使用的所述测试工装的测试程序。然后所述测试程序控制所述测试工装的所述非易失性存储电路上电并读取所述测试工装型号,然后控制所述非易失性存储电路下电。
随后可以提示对待测试的所述测试产品的所述条形码进行扫码。这时,虽然一批测试产品会有很多个,例如前面提及的1000个,此时只需要扫码第一个测试产品或者随机选取一个作为待测试产品,并且在扫码时,不需要将该测试产品放到测试工装上。随后,基于所述测试程序、所述测试工装型号和所述条形码生成所述第一防错请求指令。由于测试程序开启时,就可以提供其测试程序名称和版本号,而通过扫码可以获得所述测试产品的所述条形码,通过上电所述非易失性存储电路可以读取所述测试工装型号,因此可以基于这些信息生成所述第一防错请求指令。基于以上可知,所述第一防错请求指令至少包括所述条形码、测试程序名称、版本号、所述测试工装型号。
在步骤S4中,基于所述产品测试程序、工装数据表和所述测试工装数据表以及所述第一防错请求指令判断所述测试程序、所述版本号是否正确以及所述测试工装型号对应的测试工具是否满足要求,如果是执行步骤S5进行后续判断,否则返回错误信息并终止测试。
图3是根据本发明的防错自动测试方法的优选实施例的基于第一防错请求指令的判断步骤的流程图。如图3所示,在步骤S41中,解析所述条形码以获取所述测试产品的产品型号,并基于所述产品型号在所述产品测试程序与工装数据表中检索对应的测试程序名称和最新版本号,判断所述对应的测试程序名称和最新版本号与所述第一防错请求指令中的测试程序名称和版本号是否一致,如果是执行步骤S42,否则执行步骤S46,返回测试程序错误信息并终止测试。
在本发明的优选实施例中,在接收到所述第一防错请求指令后,可以对其进行解析,从而获取其中的各项参数,即位于所述第一防错请求指令中的条形码、测试程序名称、版本号和测试工装型号。为了便于后续描述,我们将所述第一防错请求指令中测试程序名称、版本号和测试工装型号命名为测试程序名称1、版本号1和测试工装型号1。
如前所述,条形码中一般包括生产日期、产品型号、硬件版本号和产品流水号,因此通过对条形码进行解析,可以获得测试产品的产品型号。如前所述,所述产品测试程序与工装数据表包括产品型号、测试程序名称、最新版本号和测试工装型号。此时,采用查表法根据所述产品型号可以在所述产品测试程序与工装数据表中检索对应的测试程序名称和最新版本号,将其命名为测试程序名称2和最新版本号。
然后,分别将测试程序名称1与测试程序名称2,以及版本号1和最新版本号进行比较,如果均相同,证明测试程序名称和版本号均为正确,可以执行步骤S42,否则说明测试程序名称和版本号有错误,这时执行步骤S46,返回测试程序错误信息并终止测试。
在步骤S42中,基于所述产品型号在所述产品测试程序与工装数据表中检索对应的测试工装型号,并判断所述对应的测试工装型号是否与所述第一防错请求指令中的所述测试工装型号一致,如果是执行步骤S43,否则返回测试工装错误信息并终止测试。
类似地,采用查表法根据所述产品型号可以在所述产品测试程序与工装数据表中检索对应的测试工装型号,将其命名为测试工装型号2。将所述第一防错请求指令中测试工装型号,即测试工装型号1与测试工装型号2进行比较,如果相同,证明测试工装型号正确,可以执行步骤S43,否则说明测试工装型号错误,这时执行步骤S47,返回测试工装错误信息并终止测试。
在步骤S43中,基于所述测试工装型号在所述测试工装数据表中检索对应的测试次数和使用次数限值,并判断所述测试次数是否小于所述使用次数限值,如果是则将所述测试次数加1并写回所述测试工装数据表然后执行步骤S5,否则执行步骤S48返回测试工具需要维护信息并终止测试。当然,也可以返回测试工具需要更换信息并终止测试。这取决于测试工具的种类和型号。
如前所述,所述测试工装数据表至少包括测试工装型号、工装编号,测试次数和使用次数限值。因此,基于所述测试工装型号采用查表法可以查询到所述测试工装型号对应的测试次数和使用次数限值。此时,将两者进行比较,例如如果测试次数为2,而使用次数限值为3,说明测试次数未达到使用次数限值,可以继续测试,这时将测试次数+1并执行步骤S5。而在下一次测试时,由于测试次数已经为3,而使用次数限值为3,说明测试次数达到使用次数限值,继续测试可能导致误差,不准确或者对测试产品造成损害,因此执行步骤S48返回测试工具需要维护信息并终止测试。
在本发明的其他优选实施例中,所述步骤S42和S43可以同时执行,也可以先执行步骤S43,然后执行步骤S42。
在之前测试过程中,由于非易失性存储电路的上下电控制独立于测试工装的其它电路,因此测试工装的其他电路不会上电和下电,并且待测试产品也不会放置在测试工装上,将其扫描之后可放置在一旁,因此不会因为测试程序或者测试工装错误造成测试工装后测试产品的损坏。进一步地,通过检索查表测试工装数据表和所述产品测试程序与工装数据表,可以有效判断测试程序、测试工装是否正确以及测试工具是否满足要求,可以有效防止使用不正确的测试工装;使用不正确的测试程序;测试工具(例如测试探针和电连接器)没有及时更换。这样可以减少生产线的不良品和返工,降低成本,提高生产效率和产品质量。
在完成以上检测之后,可以进入下一步骤检测,即执行步骤S5。在步骤S5中,放置扫描每个待测试的测试产品的条形码并基于所述条形码和所述产品计划数据表判断所述待测试的测试产品是否正确,如果是执行步骤S6,否则返回错误信息并终止测试。
图4是根据本发明的防错自动测试方法的优选实施例的条形码判断步骤的流程图。如图4所示,在步骤S51中,将每个待测试的测试产品放置在所述测试工装上并扫描其条形码。在步骤S52中,在所述产品计划数据表中检索所述条形码并判定所述测试产品的条形码是否正确,如果是执行步骤S6,否则执行步骤S53返回条形码错误信息并终止测试。
例如,在本发明的优选实施例中,可以提示放置全部的测试产品到测试工装(例如测试针床)上,并依次扫描每个测试产品的条形码。然后根据该条形码去查表所述产品计划数据表,如果该条形码存在于所述产品计划数据表中,说明其属于本批次要进行生产的产品,此时判定所述测试产品的条形码是否正确,可以执行后续的测试步骤,如果不是则执行步骤S53返回条形码错误信息并终止测试。
在本发明的另一优选实施例中,可以将每个待测试的测试产品放置在所述测试工装上并扫描其条形码。基于所述条形码在所述产品计划数据表中检索所述条形码对应的生产日期。解析所述条形码以获取所述测试产品的生产日期并基于所述对应的生产日期判定所述测试产品的条形码是否正确,如果是执行步骤S6,否则返回条形码错误信息并终止测试。在该步骤中,通过检索产品计划数据表,可以有效判断产品条形码是否正确,有效避免了产品条形码错误,生产批次错误的问题。并且在该步骤中,也未正式上电测试电路,避免了上电之后,误操作造成的测试产品浪费,提高生产效率和产品质量。
在步骤S6中,为测试电路上电并对所述测试产品进行测试。此时可以开始测试流程,即对待测产品的各项功能、性能进行测试。在此,可以针对测试产品的种类和选择的测试工装,基于本领域中任何适合的测试流程进行测试。
测试完成后,如果不再测试下一个产品,则结束测试。如果要继续测试同一批次的下一个或一些产品,则返回到提示放置测试产品的步骤,即返回到步骤S5,放置扫描每个待测试的测试产品的条形码并基于所述条形码和所述产品计划数据表判断所述待测试的测试产品是否正确。这时候不再需要执行前面部分的步骤S1-4中构建表格、读取工装型号,以及测试工具、程序的检测过程。当需要更换测试工装、打开新的测试程序时,才结束当前的测试程序。更换好测试工装,打开新的测试程序后,才会从头开始运行。
本发明通过检索查表产品计划数据表、测试工装数据表和所述产品测试程序与工装数据表,可以有效判断产品条形码是否错误、测试程序、测试工装是否正确以及测试工具是否满足要求,可以有效防止产品条形码错误、使用不正确的测试工装;使用不正确的测试程序;测试工具(例如测试探针和电连接器)没有及时更换。这样可以减少生产线的不良品和返工,降低成本,提高生产效率和产品质量。
图5是本发明的防错自动测试方法的又一优选实施例的流程图。图6是图5所示的第一请求步骤的流程图。图7是图5所示的第二请求步骤的流程图。
在执行图5所示方法之前,需要为每个测试产品生成条形码并基于全部的所述条形码构造产品计划数据表,为全部的测试工装生成测试工装数据表,基于每个测试产品和其对应的测试工装和测试程序生成产品测试程序与工装数据表。
例如在安排生产计划时,录入生产日期、产品型号、硬件版本、本批次生产数量等信息,然后根据这些信息,按照公司的条形码编码规则生成所有待测产品的条形码,保存在数据库的产品计划数据表中,每一个条形码对应产品计划数据表中的一条记录。生产车间根据这个产品计划数据表来打印和在产品上粘贴条形码。
可以将产品型号、测试程序名称、最新版本号、测试工装型号等信息录入数据库,保存在产品测试程序与工装数据表中。每一种测试产品型号对应产品测试程序与工装数据表中的一条记录;还要将工装型号、编号录入数据库,根据测试探针或电连接器的型号设定其需要维护更换的使用次数,服务器自动将工装已测试次数设置为0,保存在测试工装数据表中。每一台测试工装对应数据表中的一条记录。该测试工装数据表包含但不限于以下字段:ID,测试工装型号,工装编号,已测试的次数,需要维护的使用次数。其中,录入时服务器自动将已测试的次数设置为0。每次更换测试探针或电连接器后,维护人员也要登录服务器操作,将已测试的次数清零。
然后测试程序会读取工装型号,提示扫描待测产品条形码,并进行判断,如果有错误则弹出错误提示,终止测试,其具体过程如图5所示。
如图5所示,开始先控制测试工装的非易失性存储器电路上电,读取工装型号、编号,读取完成则下电。再提示扫描第一个待测产品的条形码,向服务器发送请求1,请求中带有第一个待测产品的条形码、测试程序名称、版本号、测试工装型号和编号。在此,所述非易失性存储器电路可以参照图3所示实施例构造,在此不在累述了。
如图6所示,服务器收到请求1后,从中得到各项参数,再从产品条形码中解析出产品型号。根据产品型号去检索产品测试程序与工装数据表,判断测试程序名称和版本号是否正确,错误则返回“测试程序不正确”的信息;如果测试程序正确,又判断测试工装型号是否正确,错误则返回“测试工装不正确”的信息。如果测试程序和测试工装都正确,再根据工装型号和编号去检索“测试工装”数据表,判断已测试的次数是否达到需要维护更换的使用次数,达到则返回“测试探针/电连接器需要维护、更换”的信息。未达到则将工装已测试的次数加1,写回到“测试工装”数据表,然后返回“请求1通过”的信息。上述的检查只对测试工装的非易失性存储器电路上电,没有对测试工装的其它部分电路上电,待测产品也还没有放置到测试工装上,可以避免测试程序和测试工装错误造成的损坏。如果请求1的检查不通过,则弹出错误提示,终止测试。
请求1的检查通过以后,返回图5所示的下一步骤,提示放置待测产品,扫描产品条形码。然后向服务器发送请求2,请求中带有待测产品的条形码。
如图7所示,服务器收到请求2后,从中得到待测产品的条形码,根据此条形码去检索产品计划数据表,判断是否属于本批次要生产的产品,如果不是则返回“产品条形码不正确”的信息,如果是则返回“请求2通过,允许测试”。如果请求2的检查不通过,则弹出错误提示,终止测试。请求2的检查通过以后,开始主测试流程,即进行待测产品的各项功能、性能测试。
测试完成后,如果不再测试下一个产品,则结束测试。如果要继续测试下一个产品,则流程跳转回到提示放置待测产品,扫描产品条形码。这时候不再需要执行前面部分的读取工装型号、编号,向服务器发送请求1等步骤。当需要更换测试工装、打开新的测试程序时,才结束当前的测试程序。更换好测试工装,打开新的测试程序后,才会从头开始运行。
图8是本发明的防错自动测试系统的优选实施例的原理框图。如图8所示,本发明的防错自动测试系统包括测试工装、测试系统柜和数据中心服务器。所述数据中心服务器上存储前述产品计划数据表,测试工装数据表,产品测试程序与工装数据表。所述产品计划数据表,测试工装数据表,产品测试程序与工装数据表的生成可以参照前述方法步骤,在此不在累述。
所述测试系统柜包括测试工装包括工装电路、测试针床和工装接口。当然,也可以采用其他适合的测试工具替代测试针床,其作用是对进行测试。所述工装电路包括非易失性存储电路和测试电路。所述非易失性存储电路可以根据前述实施例构造,在此就不再累述了。所述测试电路可以是测试工装完成测试产品的相关测试所需的电路,其可以根据实际的测试产品和测试工装设置,在此可以采用本领域中已知的任何适合的测试电路。所述测试系统柜包括测试公共电路、测试计算机以及相关测试仪器设备以及接口,从而通过测试电缆1-n与测试工装的接口1-n通信。测试计算机通过局域网或广域网连接数据中心服务器。所述防错自动测试系统可以用于执行前述防错自动测试方法。
每个测试工装的非易失性存储电路中写入所述测试工装的测试工装型号。在实际操作时,所述测试计算机开启待使用的所述测试工装的测试程序以上电所述测试工装的所述非易失性存储电路以获取所述测试工装的测试工装型号。所述测试工装自带的扫描仪扫描一个待测试的测试产品的条形码,并发送给所述测试计算机。所述测试计算机并基于所述测试程序、所述测试工装型号和所述条形码生成第一防错请求指令。所述测试计算机可以从所述数据中心服务器获取工装数据表、所述测试工装数据表并将其与第一防错请求指令进行比较,从而判断所述测试程序、所述版本号是否正确以及所述测试工装型号对应的测试工具是否满足要求,如果是则执行后续判断,否则在其显示屏幕上返回错误信息并终止测试。所述测试计算机可以从所述数据中心服务器获取产品计划数据表。然后提示放置扫描每个待测试的测试产品的条形码并基于所述条形码和所述产品计划数据表判断所述待测试的测试产品是否正确,如果是执行测试步骤,否则在其显示屏幕上返回错误信息并终止测试。在判定可以执行测试步骤后,所述述测试计算机可以为测试电路上电并对所述测试产品进行测试。具体过程可以参照前述方法实施例,在此就不再累述了。
本发明的通过检索查表产品计划数据表、测试工装数据表和所述产品测试程序与工装数据表,可以有效判断产品条形码是否错误、测试程序、测试工装是否正确以及测试工具是否满足要求,可以有效防止产品条形码错误、使用不正确的测试工装;使用不正确的测试程序;测试工具(例如测试探针和电连接器)没有及时更换。这样可以减少生产线的不良品和返工,降低成本,提高生产效率和产品质量。
虽然本发明是通过具体实施例进行说明的,本领域技术人员应当明白,在不脱离本发明范围的情况下,还可以对本发明进行各种变换及等同替代。另外,针对特定情形或材料,可以对本发明做各种修改,而不脱离本发明的范围。因此,本发明不局限于所公开的具体实施例,而应当包括落入本发明权利要求范围内的全部实施方式。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种防错自动测试方法,其特征在于,包括:
S1、为每个测试产品生成条形码并基于全部的所述条形码构造产品计划数据表,为全部的测试工装生成测试工装数据表,基于每个测试产品和其对应的测试工装和测试程序生成产品测试程序与工装数据表;
S2、在每个测试工装的非易失性存储电路中写入所述测试工装的测试工装型号;
S3、开启待使用的所述测试工装的测试程序以上电所述测试工装的所述非易失性存储电路以获取所述测试工装的测试工装型号,扫描一个待测试的测试产品的条形码,并基于所述测试程序、所述测试工装型号和所述条形码生成第一防错请求指令;
S4、基于所述产品测试程序、工装数据表和所述测试工装数据表以及所述第一防错请求指令判断所述测试程序、所述版本号是否正确以及所述测试工装型号对应的测试工具是否满足要求,如果是执行步骤S5,否则返回错误信息并终止测试;
S5、放置扫描每个待测试的测试产品的条形码并基于所述条形码和所述产品计划数据表判断所述待测试的测试产品是否正确,如果是执行步骤S6,否则返回错误信息并终止测试;
S6、为测试电路上电并对所述测试产品进行测试。
2.根据权利要求1所述的防错自动测试方法,其特征在于,所述步骤S1进一步包括:
S11、为每个所述测试产品生成所述条形码,并基于所述条形码构造所述产品计划数据表;所述条形码包括生产日期、产品型号、硬件版本号和产品流水号,所述产品计划数据包括所述条形码、生产日期、产品型号、硬件版本号和流水号;
S12、根据所述测试工装的型号、测试工具的型号以及使用次数生成所述测试工装数据表,所述测试工装数据表包括测试工装型号、工装编号,测试次数和使用次数限值;
S14、基于每个所述测试产品和其对应的测试工装和测试程序生成产品测试程序与工装数据表,所述产品测试程序与工装数据表包括产品型号、测试程序名称、最新版本号和测试工装型号。
3.根据权利要求2所述的防错自动测试方法,其特征在于,在步骤S13中,初次录入时,将所述测试次数设置为0,且每次更换测试工具之后,将所述测试次数清零,所述测试工具包括测试探针或连接器。
4.根据权利要求2所述的防错自动测试方法,其特征在于,所述非易失性存储电路包括非易失性存储器、继电器、续流二级管、开关管、第一电阻和第二电阻;
所述开关管的控制端经所述第一电阻接收来自测试电路的测试控制信号、第一端接地、第二端连接所述续流二级管的阳极和所述继电器的第一端,所述续流二级管的阴极连接所述继电器的第二端和第一电源,所述第二电阻连接在所述开关管的控制端和地之间,所述继电器的第一触头连接第二电源、第一触点连接所述非易失性存储器的电源端、第二触头接地、第二触点连接所述非易失性存储器的接地端;
所述非易失性存储器基于所述测试控制信号上电或者下电,所述非易失性存储器仅上电时允许读写。
5.根据权利要求4所述的防错自动测试方法,其特征在于,所述非易失性存储器包括EEPROM、PROM、EPROM以及闪存。
6.根据权利要求2所述的防错自动测试方法,其特征在于,所述步骤S3进一步包括:
S31、开启待使用的所述测试工装的测试程序;
S32、所述测试程序控制所述测试工装的所述非易失性存储电路上电并读取所述测试工装型号,然后控制所述非易失性存储电路下电;
S33、扫描待测试的所述测试产品的所述条形码;
S34、基于所述测试程序、所述测试工装型号和所述条形码生成所述第一防错请求指令,所述第一防错请求指令包括所述条形码、测试程序名称、版本号、所述测试工装型号。
7.根据权利要求6所述的防错自动测试方法,其特征在于,所述步骤S4进一步包括:
S41、解析所述条形码以获取所述测试产品的产品型号,并基于所述产品型号在所述产品测试程序与工装数据表中检索对应的测试程序名称和最新版本号,判断所述对应的测试程序名称和最新版本号与所述第一防错请求指令中的测试程序名称和版本号是否一致,如果是执行步骤S42,否则返回测试程序错误信息并终止测试;
S42、基于所述产品型号在所述产品测试程序与工装数据表中检索对应的测试工装型号,并判断所述对应的测试工装型号是否与所述第一防错请求指令中的所述测试工装型号一致,如果是执行步骤S43,否则返回测试工装错误信息并终止测试;
S43、基于所述测试工装型号在所述测试工装数据表中检索对应的测试次数和使用次数限值,并判断所述测试次数是否小于所述使用次数限值,如果是则将所述测试次数加1然后执行步骤S5,否则返回测试工具需要维护信息并终止测试。
8.根据权利要求6所述的防错自动测试方法,其特征在于,所述步骤S5进一步包括:
S51、将每个待测试的测试产品放置在所述测试工装上并扫描其条形码;
S52、在所述产品计划数据表中检索所述条形码并判定所述测试产品的条形码是否正确,如果是执行步骤S6,否则返回条形码错误信息并终止测试。
9.一种防错自动测试系统,其特征在于,包括测试工装、测试系统柜和数据中心服务器,所述测试工装包括工装电路和测试工具,所述测试系统柜包括测试电路和测试计算机,所述工装电路包括非易失性存储电路,所述测试系统柜通信连接所述测试工装和所述数据中心服务器;
所述防错自动测试系统用于执行根据权利要求1-8中任意一项所述的防错自动测试方法。
10.根据权利要求9所述的防错自动测试系统,其特征在于,所述非易失性存储电路包括非易失性存储器、继电器、续流二级管、开关管、第一电阻和第二电阻;
所述开关管的控制端经所述第一电阻接收来自测试电路的测试控制信号、第一端接地、第二端连接所述续流二级管的阳极和所述继电器的第一端,所述续流二级管的阴极连接所述继电器的第二端和第一电源,所述第二电阻连接在所述开关管的控制端和地之间,所述继电器的第一触头连接第二电源、第一触点连接所述非易失性存储器的电源端、第二触头接地、第二触点连接所述非易失性存储器的接地端;
所述非易失性存储器基于所述测试控制信号上电或者下电,所述非易失性存储器仅上电时允许读写。
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