CN115193735A - 一种光学薄膜缺陷批量式检测设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,涉及到光学薄膜检测领域,包括检测台和检测仪,还包括旋转台、圆板、旋转机构、输送机构、升降机构和移动机构,旋转台和圆板均水平设置在检测台的上方,且旋转台设置在圆板的上方并与圆板紧密接触,旋转机构设置在检测台的下侧,且旋转机构中的转杆上端与旋转台的底部中心固定连接并通过第一轴承与圆板的中心转动连接,圆板的下端通过多个固定杆与检测台固定连接,旋转台的上侧开设有多个呈环形均匀分布的放置口。本发明便于对检测后的合格及不合格的光学薄膜进行分类出料,从而便于人们再次向放置口中放置待检测的光学薄膜,便于继续检测,降低人们的劳动强度,且提高对光学薄膜的检测效率。

Description

一种光学薄膜缺陷批量式检测设备
技术领域
本发明属于光学薄膜检测技术领域,具体为一种光学薄膜缺陷批量式检测设备。
背景技术
光学薄膜由薄的分层介质构成的,通过界面传播光束的一类光学介质材料,其按照功能不同分成反射膜、减反射膜、偏振膜、干涉滤光片等种类。
目前,在对光学薄膜进行生产时,需要对光学薄膜进行检测,进行缺陷检测以保证出厂质量,常见的缺陷问题有污点、杂质、蚊虫以及孔洞等等,现有的检测设备大多是对单卷薄膜进行检测,但是,现有技术中,在使用检测仪对光学薄膜进行检测时,需要人们将光学薄膜放置在检测仪的下方进行检测,检测后,再将光学薄膜取出,然后继续进行下一个光学薄膜的检测,当需要检测的光学薄膜的检测量较多时,需要人们不断的进行放置和取出的操作,不仅增大了人们的工作量,提高了人们的工作强度,还降低的对光学薄膜的检测效率,不便于人们使用。
发明内容
针对上述情况,为克服现有技术的缺陷,本发明提供一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,有效的解决了目前在使用检测仪对光学薄膜进行检测时,需要人们将光学薄膜放置在检测仪的下方进行检测,检测后,再将光学薄膜取出,然后继续进行下一个光学薄膜的检测,当需要检测的光学薄膜的检测量较多时,需要人们不断的进行放置和取出的操作,不仅增大了人们的工作量,提高了人们的工作强度,还降低的对光学薄膜的检测效率,不便于人们使用的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,包括检测台和检测仪,还包括旋转台、圆板、旋转机构、输送机构、升降机构和移动机构,所述旋转台和圆板均水平设置在检测台的上方,且旋转台设置在圆板的上方并与圆板紧密接触,所述旋转机构设置在检测台的下侧,且旋转机构中的转杆上端与旋转台的底部中心固定连接并通过第一轴承与圆板的中心转动连接,所述圆板的下端通过多个固定杆与检测台固定连接,所述旋转台的上侧开设有多个呈环形均匀分布的放置口,每个所述放置口远离旋转台中心的一侧下方均开设有出料口,所述圆板的上端左侧开设有可与任意一个放置口对应的掉落口,所述圆板的上端后侧开设有开口,所述输送机构设置在开口的内部;
所述升降机构中的竖板固定设置在检测台的上端后侧,所述移动机构中的纵板纵向设置在旋转台的上方,且纵板的后端与升降机构中的升降块前侧固定连接,所述检测仪设置在纵板的下侧,且检测仪的上端与移动机构中的移动块下端固定连接;
在所述放置口内设置有用于盛接物料的挡板,挡板能够隐藏在放置口的侧壁内,在圆板朝向旋转台的表面设置有第一拨动机构与第二拨动机构,第一拨动机构与第二拨动机构均能与挡板接触,以使得挡板隐藏在放置口内。
优选的,所述输送机构包括输送带、两个输送辊及马达,两个所述输送辊均横向设置在开口中并前后对称分布,所述输送带套设在两个输送辊的外侧并可跟随两个输送辊循环传动,每个所述输送辊的左右两端均通过转轴与开口的左右两侧转动连接,所述开口的右侧前方开设有驱动槽,所述马达固定设置在驱动槽中,且马达的输出端通过第一联轴器与其中一个转轴的右端固定连接,所述输送带的上表面与圆板的上表面平齐。
优选的,所述旋转机构包括伺服电机和转杆,所述伺服电机固定设置在检测台的下侧中部,且伺服电机的输出端通过第二联轴器与转杆的下端固定连接,所述转杆通过第二轴承与检测台转动连接。
优选的,所述检测台的上端左侧放置有第一收集盒,所述第一收集盒位于掉落口的下侧。
优选的,所述检测台的上端后侧放置有第二收集盒,所述第二收集盒位于开口的下方后侧。
优选的,所述升降机构包括竖板、第一螺纹杆和升降块,所述竖板的前侧开设有竖直设置的升降槽,所述升降块滑动设置在升降槽中,所述第一螺纹杆竖直设置在升降槽中,所述升降块通过第一螺纹孔与第一螺纹杆螺纹连接,所述第一螺纹杆的上下两端均通过第三轴承与升降槽的上下两侧转动连接,且第一螺纹杆的上端延伸至竖板的上侧并固定连接有第一旋钮。
优选的,所述移动机构包括纵板、第二螺纹杆和移动块,所述纵板的下侧开设有纵向设置的移动槽,所述移动块滑动设置在移动槽中,所述第二螺纹杆纵向设置在移动槽纵,所述移动块通过第二螺纹孔与第二螺纹杆螺纹连接,所述第二螺纹杆的前后两端均通过第三轴承分别与移动槽的前后两侧转动连接,且第二螺纹杆的前端延伸至纵板的前侧并固定连接有第二旋钮。
优选的,所述挡板上开设有斜槽,且挡板与旋转台之间通过弹簧连接,在旋转台的下端面上开设有第一槽口,第一拨动机构与第二拨动机构均能够穿过第一槽口而插入到斜槽内。
优选的,所述第一拨动机构包括位于输送带内的从动辊,在从动辊上固接有第一拨动齿,当输送带转动时,从动辊能够随之转动。
优选的,所述第二拨动机构包括第二拨动齿、转动轴、套件与扭簧,所述第二拨动齿固接在转动轴上,且转动轴的一端插入到套件内,转动轴与套件之间设置有扭簧,所述旋转台的下表面上设置有拨动片,拨动片的一端距离旋转台的轴线较近,而另一端距离旋转台的轴线较远,所述套件的表面设置有弧形的倾斜导轨,当旋转台转动时,所述拨动片的端部能够插入到倾斜导轨内,并拨动套件朝一个方向转动,所述套件上固接有第一限位齿,所述圆台上固接有第二限位齿,第一限位齿与第二限位齿呈倾斜布置,第一限位齿能够朝一个方向越过第二限位齿。
本发明的技术效果和优点:
1、通过设有的包括检测台、检测仪、旋转台、圆板、旋转机构及输送机构的相互配合,当对大量的光学薄膜进行检测时,人们依次将光学薄膜放置在旋转台上的多个放置口中,启动伺服电机,伺服电机带动转杆转动,转杆带动旋转台转动,旋转台能够带动放置口中的光学薄膜绕转杆转动,使多个放置口中的光学薄膜依次移动至检测仪的下方,再通过检测仪对光学薄膜进行检测,检测完毕后,光学薄膜的质量合格时,伺服电机继续通过转杆带动旋转台转动,从而带动检测后的光学薄膜绕转杆进行转动,使检测后的光学薄膜移动至圆板上的掉落口上方,光学薄膜通过掉落口落下,光学薄膜不合格时,马达带动输送辊转动,从而使输送带循环传动,能够将检测不合格的光学薄膜向后进行输送并通过放置口下侧的出料口排出,便于对检测后的合格及不合格的光学薄膜进行分类出料,从而便于人们再次向放置口中放置待检测的光学薄膜,便于继续检测,降低人们的劳动强度,且提高对光学薄膜的检测效率。
2、第二拨动齿安装在转动轴上,转动轴在转动的过程中,第二拨动齿能够随之转动,进而使得第二拨动齿带动挡板滑动。为了使转动轴能够转动,在转动轴外套有套件,在旋转台转动的时候,旋转台上的拨动片与套件表面的倾斜导轨配合,从而使得套件转动(此时第二拨动齿被旋转台的下端面压住而不能转动),且当套件转动的时候,套件与转动轴之间的扭簧会储存能量,当旋转台转动至预定位置时,扭簧释放能量,从而使得转动轴转动,此时第二拨动齿能够与挡板配合,以使得挡板滑动。
3、为了避免当拨动片与套件分离时,套件发生空转,通过设置有第一限位齿与第二限位齿,能够避免此问题的发生。第一限位齿与第二限位齿由弹性材质制作而成,且由于第一限位齿与第二限位齿呈倾斜布置,当旋转台的转动方向与其倾斜方向相同时,第一限位齿能够越过第二限位齿,而且第一限位齿与第二限位齿是倾斜布置的,第二限位齿能够阻止第一限位齿朝相反方向转动。
附图说明
图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中:
图1为本发明的正面结构示意图;
图2为本发明的侧面剖面结构示意图;
图3为本发明的旋转台的仰视结构示意图;
图4为本发明的挡板的放大结构示意图;
图5为本发明的圆板的俯视结构示意图;
图6为本发明的圆板的局部放大结构示意图;
图7为本发明的输送机构的立体结构示意图;
图8为本发明的圆板、套件与转动轴的相结合示意图。
图中:1、检测台;2、检测仪;3、旋转台;301、放置口;4、圆板;5、固定杆;6、竖板;7、纵板;8、移动块;9、输送带;10、输送辊;11、马达;12、伺服电机;13、第一收集盒;14、第二收集盒;15、第一螺纹杆;16、升降块;17、第一旋钮;18、第二螺纹杆;19、第二旋钮;20、挡板;21、第一槽口;22、拨动片;23、斜槽;24、弹簧;25、从动辊;26、第一拨动齿;27、第二拨动齿;28、转动轴;29、套件;30、第二槽口;31、扭簧;32、第一限位齿;33、第二限位齿。
具体实施方式
实施例一
本发明提供了如图1-8所示的一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,包括检测台1和检测仪2,还包括旋转台3、圆板4、旋转机构、输送机构、升降机构和移动机构,旋转台3和圆板4均水平设置在检测台1的上方,且旋转台3设置在圆板4的上方并与圆板4紧密接触,旋转机构设置在检测台1的下侧,且旋转机构中的转杆上端与旋转台3的底部中心固定连接并通过第一轴承与圆板4的中心转动连接,圆板4的下端通过多个固定杆5与检测台1固定连接,旋转台3的上侧开设有多个呈环形均匀分布的放置口301,每个放置口301远离旋转台3中心的一侧下方均开设有出料口,圆板4的上端左侧开设有可与任意一个放置口301对应的掉落口,圆板4的上端后侧开设有开口,输送机构设置在开口的内部;
升降机构中的竖板6固定设置在检测台1的上端后侧,移动机构中的纵板7纵向设置在旋转台3的上方,且纵板7的后端与升降机构中的升降块16前侧固定连接,检测仪2设置在纵板7的下侧,且检测仪2的上端与移动机构中的移动块8下端固定连接。
如图5-图8示,输送机构包括输送带9、两个输送辊10及马达11,两个输送辊10均横向设置在开口中并前后对称分布,输送带9套设在两个输送辊10的外侧并可跟随两个输送辊10循环传动,每个输送辊10的左右两端均通过转轴与开口的左右两侧转动连接,开口的右侧前方开设有驱动槽,马达11固定设置在驱动槽中,且马达11的输出端通过第一联轴器与其中一个转轴的右端固定连接,输送带9的上表面与圆板4的上表面平齐。
如图1和图2示,旋转机构包括伺服电机12和转杆,伺服电机12固定设置在检测台1的下侧中部,且伺服电机12的输出端通过第二联轴器与转杆的下端固定连接,转杆通过第二轴承与检测台1转动连接。
马达11通过外部控制器与检测仪2信号连接,即当检测仪2的检测结果为合格时,马达11不启动,检测仪2的检测结果为不合格时,马达11启动,此为现有技术,当对大量的光学薄膜进行检测时,人们依次将光学薄膜放置在旋转台3上的多个放置口301中,启动伺服电机12,伺服电机12带动转杆转动,转杆带动旋转台3转动,旋转台3能够带动放置口301中的光学薄膜绕转杆转动,使多个放置口301中的光学薄膜依次移动至检测仪2的下方,再通过检测仪2对光学薄膜进行检测,检测完毕后,光学薄膜的质量合格时,伺服电机12继续通过转杆带动旋转台3转动,从而带动检测后的光学薄膜绕转杆进行转动,使检测后的光学薄膜移动至圆板4上的掉落口上方,光学薄膜通过掉落口落下,光学薄膜不合格时,马达11带动输送辊10转动,从而使输送带9循环传动,能够将检测不合格的光学薄膜向后进行输送并通过放置口301下侧的出料口排出,便于对检测后的合格及不合格的光学薄膜进行分类出料,从而便于人们再次向放置口301中放置待检测的光学薄膜,便于继续检测,降低人们的劳动强度,且提高对光学薄膜的检测效率。
如图1示,检测台1的上端左侧放置有第一收集盒13,第一收集盒13位于掉落口的下侧,便于对检测质量合格的光学薄膜进行收集。
如图2示,检测台1的上端后侧放置有第二收集盒14,第二收集盒14位于开口的下方后侧,便于对检测质量不合格的光学薄膜进行收集。
如图1和图2示,升降机构包括竖板6、第一螺纹杆15和升降块16,竖板6的前侧开设有竖直设置的升降槽,升降块16滑动设置在升降槽中,第一螺纹杆15竖直设置在升降槽中,升降块16通过第一螺纹孔与第一螺纹杆15螺纹连接,第一螺纹杆15的上下两端均通过第三轴承与升降槽的上下两侧转动连接,且第一螺纹杆15的上端延伸至竖板6的上侧并固定连接有第一旋钮17,转动第一旋钮17能够带动第一螺纹杆15转动,第一螺纹杆15转动能够使升降块16在升降槽中竖直移动,升降块16带动纵板7竖直移动,从而便于调节检测仪2的高度。
如图1和图2示,移动机构包括纵板7、第二螺纹杆18和移动块8,纵板7的下侧开设有纵向设置的移动槽,移动块8滑动设置在移动槽中,第二螺纹杆18纵向设置在移动槽纵,移动块8通过第二螺纹孔与第二螺纹杆18螺纹连接,第二螺纹杆18的前后两端均通过第三轴承分别与移动槽的前后两侧转动连接,且第二螺纹杆18的前端延伸至纵板7的前侧并固定连接有第二旋钮19,转动第二旋钮19能够带动第二螺纹杆18转动,第二螺纹杆18转动能够带动移动块8在移动槽中纵向滑动,移动块8带动检测仪2纵向移动,从而能够对检测仪2的位置进行调节。
本发明工作原理:当对大量的光学薄膜进行检测时,人们依次将光学薄膜放置在旋转台3上的多个放置口301中,启动伺服电机12,伺服电机12带动转杆转动,转杆带动旋转台3转动,旋转台3能够带动放置口301中的光学薄膜绕转杆转动,使多个放置口301中的光学薄膜依次移动至检测仪2的下方,再通过检测仪2对光学薄膜进行检测,检测完毕后,光学薄膜的质量合格时,伺服电机12继续通过转杆带动旋转台3转动,从而带动检测后的光学薄膜绕转杆进行转动,使检测后的光学薄膜移动至圆板4上的掉落口上方,光学薄膜通过掉落口落下,光学薄膜不合格时,马达11带动输送辊10转动,从而使输送带9循环传动,能够将检测不合格的光学薄膜向后进行输送并通过放置口301下侧的出料口排出,便于对检测后的合格及不合格的光学薄膜进行分类出料,从而便于人们再次向放置口301中放置待检测的光学薄膜,便于继续检测,降低人们的劳动强度,且提高对光学薄膜的检测效率。
实施例二
本发明提供了如图1-8所示的一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,包括检测台1和检测仪2,还包括旋转台3、圆板4、旋转机构、输送机构、升降机构和移动机构,旋转台3和圆板4均水平设置在检测台1的上方,且旋转台3设置在圆板4的上方并与圆板4紧密接触,旋转机构设置在检测台1的下侧,且旋转机构中的转杆上端与旋转台3的底部中心固定连接并通过第一轴承与圆板4的中心转动连接,圆板4的下端通过多个固定杆5与检测台1固定连接,旋转台3的上侧开设有多个呈环形均匀分布的放置口301,每个放置口301远离旋转台3中心的一侧下方均开设有出料口,圆板4的上端左侧开设有可与任意一个放置口301对应的掉落口,圆板4的上端后侧开设有开口,输送机构设置在开口的内部;
升降机构中的竖板6固定设置在检测台1的上端后侧,移动机构中的纵板7纵向设置在旋转台3的上方,且纵板7的后端与升降机构中的升降块16前侧固定连接,检测仪2设置在纵板7的下侧,且检测仪2的上端与移动机构中的移动块8下端固定连接。
如图5-图8示,输送机构包括输送带9、两个输送辊10及马达11,两个输送辊10均横向设置在开口中并前后对称分布,输送带9套设在两个输送辊10的外侧并可跟随两个输送辊10循环传动,每个输送辊10的左右两端均通过转轴与开口的左右两侧转动连接,开口的右侧前方开设有驱动槽,马达11固定设置在驱动槽中,且马达11的输出端通过第一联轴器与其中一个转轴的右端固定连接,输送带9的上表面与圆板4的上表面平齐。
在放置口301内设置有用于盛接物料的挡板20,挡板20能够隐藏在放置口301的侧壁内,在圆板4朝向旋转台3的表面设置有第一拨动机构与第二拨动机构,第一拨动机构与第二拨动机构均能与挡板20接触,以使得挡板20隐藏在放置口301内。当用户将待检测的工件放入到放置口301内时,挡板20能够将工件进行阻挡,避免了工件落下。而当工件移动至第一下料位时,输送带9能够转动,且随着输送带9的转动,第一拨动机构能够将挡板20进行拨动,从而使得放置口301内的工件落下(针对合格品),当输送带9未转动时(工件检测不合格),随着旋转台3的转动,放置口301转动至第二下料位,此时第二拨动机构能够将挡板20进行拨动,以使得放置口301内的工件落下,然后,旋转台3转动至上料位,上完物料后,再进入到检测位上,即可完成一个循环。
挡板20上开设有斜槽23,斜槽23的一端距离挡板20的端面较远,另一端较近,且挡板20与旋转台3之间通过弹簧24连接,在旋转台3的下端面上开设有第一槽口21,第一拨动机构与第二拨动机构均能够穿过第一槽口21而插入到斜槽23内,第一拨动机构与第二拨动机构均能转动,当其转动的时候,第一拨动机构与第二拨动机构插入到斜槽23内的部分,能够在斜槽23内滑动,从而将挡板20进行拨动,使其隐藏在放置口301的侧壁内,且此时弹簧24被压缩,当第一拨动机构与第二拨动机构与斜槽23分离时,弹簧24恢复初始位置,挡板20伸到放置口301内。
第一拨动机构包括位于输送带9内的从动辊25,在从动辊25上固接有第一拨动齿26,当输送带9转动时,从动辊25能够随之转动。
第二拨动机构包括第二拨动齿27、转动轴28、套件29与扭簧31,第二拨动齿27固接在转动轴28上,且转动轴28的一端插入到套件29内,转动轴28与套件29之间设置有扭簧31,旋转台3的下表面上设置有拨动片22,拨动片22的一端距离旋转台3的轴线较近,而另一端距离旋转台3的轴线较远,套件29的表面设置有弧形的倾斜导轨,当旋转台3转动时,拨动片22的端部能够插入到倾斜导轨内,并拨动套件29朝一个方向转动,套件29上固接有第一限位齿32,圆板4上固接有第二限位齿33,第一限位齿32与第二限位齿33呈倾斜布置,第一限位齿32能够朝一个方向越过第二限位齿33。
首先,第二拨动齿27安装在转动轴28上,转动轴28在转动的过程中,第二拨动齿27能够随之转动,进而使得第二拨动齿27带动挡板20滑动。为了使转动轴28能够转动,在转动轴28外套有套件29,在旋转台3转动的时候,旋转台3上的拨动片22与套件29表面的倾斜导轨配合,从而使得套件29转动(此时第二拨动齿27被旋转台3的下端面压住而不能转动),且当套件29转动的时候,套件29与转动轴28之间的扭簧31会储存能量,当旋转台3转动至预定位置时,扭簧31释放能量,从而使得转动轴28转动,此时第二拨动齿27能够与挡板20配合,以使得挡板20滑动。
为了避免当拨动片22与套件29分离时,套件29发生空转,通过设置有第一限位齿32与第二限位齿33,能够避免此问题的发生。第一限位齿32与第二限位齿33由弹性材质制作而成,且由于第一限位齿32与第二限位齿33呈倾斜布置,当旋转台3的转动方向与其倾斜方向相同时,第一限位齿32能够越过第二限位齿33,而且第一限位齿32与第二限位齿33是倾斜布置的,第二限位齿33能够阻止第一限位齿32朝相反方向转动。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,包括检测台(1)和检测仪(2),其特征在于:还包括旋转台(3)、圆板(4)、旋转机构、输送机构、升降机构和移动机构,所述旋转台(3)和圆板(4)均水平设置在检测台(1)的上方,且旋转台(3)设置在圆板(4)的上方并与圆板(4)紧密接触,所述旋转机构设置在检测台(1)的下侧,且旋转机构中的转杆上端与旋转台(3)的底部中心固定连接并通过第一轴承与圆板(4)的中心转动连接,所述圆板(4)的下端通过多个固定杆(5)与检测台(1)固定连接,所述旋转台(3)的上侧开设有多个呈环形均匀分布的放置口(301),每个所述放置口(301)远离旋转台(3)中心的一侧下方均开设有出料口,所述圆板(4)的上端左侧开设有可与任意一个放置口(301)对应的掉落口,所述圆板(4)的上端后侧开设有开口,所述输送机构设置在开口的内部;
所述升降机构中的竖板(6)固定设置在检测台(1)的上端后侧,所述移动机构中的纵板(7)纵向设置在旋转台(3)的上方,且纵板(7)的后端与升降机构中的升降块(16)前侧固定连接,所述检测仪(2)设置在纵板(7)的下侧,且检测仪(2)的上端与移动机构中的移动块(8)下端固定连接;
在所述放置口(301)内设置有用于盛接物料的挡板(20),挡板(20)能够隐藏在放置口(301)的侧壁内,在圆板(4)朝向旋转台(3)的表面设置有第一拨动机构与第二拨动机构,第一拨动机构与第二拨动机构均能与挡板(20)接触,以使得挡板(20)隐藏在放置口(301)内。
2.根据权利要求1所述的一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,其特征在于:所述输送机构包括输送带(9)、两个输送辊(10)及马达(11),两个所述输送辊(10)均横向设置在开口中并前后对称分布,所述输送带(9)套设在两个输送辊(10)的外侧并可跟随两个输送辊(10)循环传动,每个所述输送辊(10)的左右两端均通过转轴与开口的左右两侧转动连接,所述开口的右侧前方开设有驱动槽,所述马达(11)固定设置在驱动槽中,且马达(11)的输出端通过第一联轴器与其中一个转轴的右端固定连接,所述输送带(9)的上表面与圆板(4)的上表面平齐。
3.根据权利要求2所述的一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,其特征在于:所述旋转机构包括伺服电机(12)和转杆,所述伺服电机(12)固定设置在检测台(1)的下侧中部,且伺服电机(12)的输出端通过第二联轴器与转杆的下端固定连接,所述转杆通过第二轴承与检测台(1)转动连接。
4.根据权利要求3所述的一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,其特征在于:所述检测台(1)的上端左侧放置有第一收集盒(13),所述第一收集盒(13)位于掉落口的下侧。
5.根据权利要求4所述的一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,其特征在于:所述检测台(1)的上端后侧放置有第二收集盒(14),所述第二收集盒(14)位于开口的下方后侧。
6.根据权利要求5所述的一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,其特征在于:所述升降机构包括竖板(6)、第一螺纹杆(15)和升降块(16),所述竖板(6)的前侧开设有竖直设置的升降槽,所述升降块(16)滑动设置在升降槽中,所述第一螺纹杆(15)竖直设置在升降槽中,所述升降块(16)通过第一螺纹孔与第一螺纹杆(15)螺纹连接,所述第一螺纹杆(15)的上下两端均通过第三轴承与升降槽的上下两侧转动连接,且第一螺纹杆(15)的上端延伸至竖板(6)的上侧并固定连接有第一旋钮(17)。
7.根据权利要求6所述的一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,其特征在于:所述移动机构包括纵板(7)、第二螺纹杆(18)和移动块(8),所述纵板(7)的下侧开设有纵向设置的移动槽,所述移动块(8)滑动设置在移动槽中,所述第二螺纹杆(18)纵向设置在移动槽纵,所述移动块(8)通过第二螺纹孔与第二螺纹杆(18)螺纹连接,所述第二螺纹杆(18)的前后两端均通过第三轴承分别与移动槽的前后两侧转动连接,且第二螺纹杆(18)的前端延伸至纵板(7)的前侧并固定连接有第二旋钮(19)。
8.根据权利要求2所述的一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,其特征在于:所述挡板(20)上开设有斜槽(23),且挡板(20)与旋转台(3)之间通过弹簧(24)连接,在旋转台(3)的下端面上开设有第一槽口(21),第一拨动机构与第二拨动机构均能够穿过第一槽口(21)而插入到斜槽(23)内。
9.根据权利要求8所述的一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,其特征在于:所述第一拨动机构包括位于输送带(9)内的从动辊(25),在从动辊(25)上固接有第一拨动齿(26),当输送带(9)转动时,从动辊(25)能够随之转动。
10.根据权利要求8所述的一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,其特征在于:所述第二拨动机构包括第二拨动齿(27)、转动轴(28)、套件(29)与扭簧(31),所述第二拨动齿(27)固接在转动轴(28)上,且转动轴(28)的一端插入到套件(29)内,转动轴(28)与套件(29)之间设置有扭簧(31),所述旋转台(3)的下表面上设置有拨动片(22),拨动片(22)的一端距离旋转台(3)的轴线较近,而另一端距离旋转台(3)的轴线较远,所述套件(29)的表面设置有弧形的倾斜导轨,当旋转台(3)转动时,所述拨动片(22)的端部能够插入到倾斜导轨内,并拨动套件(29)朝一个方向转动,所述套件(29)上固接有第一限位齿(32),所述圆板(4)上固接有第二限位齿(33),第一限位齿(32)与第二限位齿(33)呈倾斜布置,第一限位齿(32)能够朝一个方向越过第二限位齿(33)。
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