CN115097768A - 一种arm+dsp控制的电子仪器 - Google Patents

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CN115097768A CN202210879416.XA CN202210879416A CN115097768A CN 115097768 A CN115097768 A CN 115097768A CN 202210879416 A CN202210879416 A CN 202210879416A CN 115097768 A CN115097768 A CN 115097768A
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    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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    • G05B19/02—Programme-control systems electric
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Abstract

本发明公开一种ARM+DSP控制的电子仪器，包括机架，所述机架上设置有X射线装置，所述X射线装置包括控制模块、X射线发生装置、X射线接收装置和射线发射孔，其中所述控制模块分别与所述X射线发生装置和X射线接收装置电性连接；其中所述机架上有左壳体和右壳体，其中所述左壳体和右壳体与连接架连接；控制模块包括ARM控制和DSP处理器；其中ARM控制器有检测模块、监测模块、计算模块、数据通信模块和计算机管理系统，其中所述检测模块与监测模块连接，计算模块的输出端与数据通信模块的输入端连接，数据通信模块的输出端与计算机管理系统输入端连接，其中ARM控制器与DSP处理模块双向通信。本发明提高了数据抗干扰能力。

Description

一种ARM+DSP控制的电子仪器
技术领域
本发明涉及电子信息技术领域，且更具体地涉及一种ARM+DSP控制的电子仪器。
背景技术
作为一种临床普及面最广的医学影像检查手段，X射线探测器是医疗中不可缺少的一项诊断设备，同时，随着社会医疗模式的发展与改变，社会对于X射线探测器的需求有增长的趋势，并且，对于X射线探测器的移动性、便携性提出了更高的要求。现有的ARM+DSP控制的电子仪器由于体型大，移动不方便等原因，使得人们必须要到医院指定地点进行检测，在其他地方进行检查时，限于ARM+DSP控制的电子仪器无法搬运，造成检测不便。另外电子仪器在应用过程中，电磁抗干扰能力较差，导致电子仪器检测精度低下，电子测量抗干扰性能力差。
发明内容
针对上述技术的不足，本发明公开一种ARM+DSP控制的电子仪器，能够克服传统X射线探测器不便移动的问题，以及抗干扰能力较差的问题，以解决检测精度低下的问题。
本发明采用以下技术方案：
一种ARM+DSP控制的电子仪器，包括机架，所述机架上设置X射线装置，所述X射线装置包括控制模块、X射线发生装置、X射线接收装置和射线发射孔，其中所述控制模块分别与所述X射线发生装置和X射线接收装置电性连接；其中所述机架上还设置有呈分离式设置的左壳体和右壳体，其中所述左壳体和右壳体通过连接架连接；其中所述X射线发生装置设置于左壳体中部，所述X射线接收装置设置于右壳体左侧，所述射线发射孔设置于X射线发生装置表面，并且所述射线发射孔与所述X射线接收装置相对设置。
其中所述控制模块（2）包括ARM控制和DSP处理器；其中ARM控制器连接设置有检测模块、监测模块、计算模块、数据通信模块和计算机管理系统，其中所述检测模块与监测模块连接，计算模块的输出端与数据通信模块的输入端连接，数据通信模块的输出端与计算机管理系统输入端连接，其中ARM控制器与DSP处理模块双向通信；其中DSP控制器连接有A/D转换模块、评估模块、显示模块和D/A转换模块，所述D/A转换模块与计算机管理系统连接；其中检测模块包括待测物品、检测电路、位移传感器、角度传感器、温度传感器、速度传感器或者数据采集模块，所述采集模块为基于HX710芯片的采集模块，其中检测模块还包括抗干扰模块。
作为本发明进一步的技术方案，抗干扰模块通过RLPCCA算法模型实现数据信息抗干扰分析，方法为：
构建节点模型函数：
Figure 349177DEST_PATH_IMAGE001
(1)
公式(1)中，
Figure 816631DEST_PATH_IMAGE002
表示电子仪器信号网络架设在各点位数据函数，
Figure 62936DEST_PATH_IMAGE003
中的
Figure 74754DEST_PATH_IMAGE004
表示 节点信息，
Figure 22987DEST_PATH_IMAGE005
表示节点数量，
Figure 411243DEST_PATH_IMAGE006
表示电子仪器具体参数信息，
Figure 512055DEST_PATH_IMAGE007
表示电子仪器检测到的运 行中信号；
Figure 694774DEST_PATH_IMAGE008
表示信号数据序列；根据节点模型函数推算电子仪器信号最大覆盖面为：
Figure 897348DEST_PATH_IMAGE009
(2)
公式(2)中，
Figure 558136DEST_PATH_IMAGE010
表示电子仪器信号波动覆盖面，
Figure 510524DEST_PATH_IMAGE011
中的
Figure 536249DEST_PATH_IMAGE012
表示电子仪器检测时间，
Figure 226119DEST_PATH_IMAGE013
表示参数集合，
Figure 831543DEST_PATH_IMAGE014
表示传感网络获取信息总量，
Figure 31581DEST_PATH_IMAGE015
表示初始化数据变量，
Figure 680737DEST_PATH_IMAGE016
表示异常 信号变量，
Figure 966224DEST_PATH_IMAGE017
表示电子仪器信号覆盖范围内供应量矩阵；
根据采集的最大覆盖面内的数据函数以及该范围内出现异常信号概率，计算出电子仪器受干扰影响程度判断条件为：
Figure 109761DEST_PATH_IMAGE018
(3)
公式(3)中，
Figure 898725DEST_PATH_IMAGE019
表示正常状态下电子仪器抗干扰能力函数矩阵，
Figure 859728DEST_PATH_IMAGE020
表示异 常状态下的电子仪器抗干扰能力函数矩阵；
Figure 995961DEST_PATH_IMAGE021
表示正常状态下电子仪器抗干扰能力函数矩 阵中的采集量信息，
Figure 67822DEST_PATH_IMAGE022
表示正常状态下电子仪器抗干扰能力函数矩阵中干扰数据参数，
Figure 117818DEST_PATH_IMAGE023
表示正常状态下电子仪器抗干扰能力函数矩阵中采集量信息的转置，
Figure 718564DEST_PATH_IMAGE024
表示异常状态下 的电子仪器抗干扰能力函数矩阵中采集量信息，
Figure 103278DEST_PATH_IMAGE025
表示异常状态下的电子仪器抗干扰能 力函数矩阵中干扰数据参数，
Figure 713250DEST_PATH_IMAGE026
表示异常状态下的电子仪器抗干扰能力函数矩阵中采集 量信息转置；由公式(3)判断条件分析，若电子仪器识别的正常信息代数矩阵为1，则此时电 子仪器处于最佳状态，不受外界干扰；若异常信号代数矩阵为0，则此网络为受影响分布结 构影响，通过乘子法推算RLPCCA特征矩阵为：
Figure 617752DEST_PATH_IMAGE027
(4)
公式(4)中，
Figure 654979DEST_PATH_IMAGE028
表示电子仪器受到外界干扰的比例，
Figure 136776DEST_PATH_IMAGE029
表示电子仪器信号覆盖范 围内异常数据信息矩阵。
在本发明中，所述A/D转换模块还连接有X射线检测卡，所述X射线检测卡四周设置有X射线源。
在本发明中，网络接口支持RS232接口、RS485接口或者以太网接口。
在本发明中，所述控制模块表面上设置有开关、控制按键和监测装置，所述开关和控制按键设置于右壳体右侧，所述监测装置设置于右壳体内部，并且所述监测装置设置在并行设置的开关和控制按键之上。
在本发明中，所述左壳体为圆柱形壳体，右壳体为方形壳体，并且所述右壳体的横截面面积大于所述左壳体的横截面面积。
在本发明中，所述监测装置为CCD摄像头。
在本发明中，所述X射线接收装置内设置有接收器。
在本发明中，其中所述右壳体前侧还设置有电源接口和数据接口；所述右壳体内部设置控制模块、电池、显示屏和数字显示器。
在本发明中，其中所述数字显示器设置于右壳体右侧，显示屏设置于右壳体右侧，其中所述数字显示器和显示屏分别为LCD显示屏。
在本发明中，所述右壳体底部还设置有支撑腿，所述支撑腿下设置有底座。
在本发明中，所述连接架上设置有把手。
积极有益效果：
本发明实现了X射线探测器的便携，体积小、重量轻等特点满足了X射线探测器方便携带，不必局限于固定地点的需要，为ARM+DSP控制的电子仪器的广泛应用提供了必要条件。其中控制模块包括ARM控制和DSP处理器；其中ARM控制器连接设置有检测模块、监测模块、计算模块、数据通信模块和计算机管理系统，其中所述检测模块与监测模块连接，计算模块的输出端与数据通信模块的输入端连接，数据通信模块的输出端与计算机管理系统输入端连接，其中ARM控制器与DSP处理模块双向通信；其中DSP控制器连接有A/D转换模块、评估模块、显示模块和D/A转换模块，所述D/A转换模块与计算机管理系统连接；其中检测模块包括待测物品、检测电路、位移传感器、角度传感器、温度传感器、速度传感器或者数据采集模块，所述采集模块为基于HX710芯片的采集模块，其中检测模块还包括抗干扰模块。
本发明抗干扰模块通过RLPCCA算法模型实现数据信息抗干扰分析，提高了本发明抗干扰能力。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中：
图1为本发明的立体图结构示意图；
图2为本发明的主视图的结构示意图；
图3为本发明的俯视图的结构示意图；
图4为本发明的左视图的结构示意图；
图5为本发明的控制模块的一种实施例示意图；
图6为本发明中制模块的原理示意图；
图7为本发明中采集模块原理示意图；
附图标识：
1-机架；2-控制模块；3-X射线装置；4-底座；5-支撑腿；6-开关；7-控制按键；8-数字显示器；9-显示屏；10-连接架；11-左壳体；12-射线发生装置；13-射线发射孔；14-射线接收装置；15-右壳体；16-电源接口；17-数据接口；18-监测装置；19-电池；20-把手。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
如图1-图5所示，一种ARM+DSP控制的电子仪器，包括机架1，所述机架1上设置X射线装置3，所述X射线装置3包括控制模块2、X射线发生装置12、X射线接收装置14和射线发射孔13，其中所述控制模块2分别与所述X射线发生装置12和X射线接收装置14电性连接；
其中所述机架1上还设置有呈分离式设置的左壳体11和右壳体15，其中所述左壳体11和右壳体15通过连接架10连接；
其中所述X射线发生装置12设置于左壳体11中部，所述X射线接收装置14设置于右壳体15左侧，所述射线发射孔13设置于X射线发生装置12表面，并且所述射线发射孔13与所述X射线接收装置14相对设置；
其中所述控制模块2包括ARM控制和DSP处理器；其中ARM控制器连接设置有检测模块、监测模块、计算模块、数据通信模块和计算机管理系统，其中所述检测模块与监测模块连接，计算模块的输出端与数据通信模块的输入端连接，数据通信模块的输出端与计算机管理系统输入端连接，其中ARM控制器与DSP处理模块双向通信；其中DSP控制器连接有A/D转换模块、评估模块、显示模块和D/A转换模块，所述D/A转换模块与计算机管理系统连接；其中检测模块包括待测物品、检测电路、位移传感器、角度传感器、温度传感器、速度传感器或者数据采集模块，所述采集模块为基于HX710芯片的采集模块，其中检测模块还包括抗干扰模块。
抗干扰模块通过RLPCCA算法模型实现数据信息抗干扰分析，方法为：
将采集到的电子数据信息进行传输至处理器进行数据处理，处理后的数据传送到重构系统不确定性进行数据的重构，同时该数据也进行数据规律的重新整合，处理后的数据传输至观测器，实现数据的扩大方便对数据的观测，确认数据无干扰性后，将数据传到伺服电机，启动电子仪器的工作，实现电子仪器的抗干扰控制。整体算法模型的建立基于电子仪器装置的输入，通过输入数据变量，研究各信号区域故障信号分布规律。
构建节点模型函数：
Figure 176538DEST_PATH_IMAGE030
(1)
公式(1)中，
Figure 60180DEST_PATH_IMAGE002
表示电子仪器信号网络架设在各点位数据函数，
Figure 409253DEST_PATH_IMAGE031
中的
Figure 378346DEST_PATH_IMAGE004
表示 节点信息，
Figure 454756DEST_PATH_IMAGE005
表示节点数量，
Figure 192904DEST_PATH_IMAGE006
表示电子仪器具体参数信息，
Figure 447299DEST_PATH_IMAGE032
表示电子仪器检测到的运 行中信号；
Figure 903688DEST_PATH_IMAGE008
表示信号数据序列；根据节点模型函数推算电子仪器信号最大覆盖面为：
Figure 282324DEST_PATH_IMAGE033
(2)
公式(2)中，
Figure 140558DEST_PATH_IMAGE034
表示电子仪器信号波动覆盖面，
Figure 690488DEST_PATH_IMAGE035
中的
Figure 509540DEST_PATH_IMAGE036
表示电子仪器检测时间，
Figure 803118DEST_PATH_IMAGE037
表示参数集合，
Figure 640493DEST_PATH_IMAGE038
表示传感网络获取信息总量，
Figure 361324DEST_PATH_IMAGE015
表示初始化数据变量，
Figure 667672DEST_PATH_IMAGE016
表示异常信 号变量，
Figure 764941DEST_PATH_IMAGE039
表示电子仪器信号覆盖范围内供应量矩阵；
根据采集的最大覆盖面内的数据函数以及该范围内出现异常信号概率，计算出电子仪器受干扰影响程度判断条件为：
Figure 958287DEST_PATH_IMAGE040
(3)
公式(3)中，
Figure 850020DEST_PATH_IMAGE041
表示正常状态下电子仪器抗干扰能力函数矩阵，
Figure 768297DEST_PATH_IMAGE020
表示 异常状态下的电子仪器抗干扰能力函数矩阵；
Figure 544623DEST_PATH_IMAGE042
表示正常状态下电子仪器抗干扰能力函数 矩阵中的采集量信息，
Figure 356590DEST_PATH_IMAGE043
表示正常状态下电子仪器抗干扰能力函数矩阵中干扰数据参 数，
Figure 684803DEST_PATH_IMAGE044
表示正常状态下电子仪器抗干扰能力函数矩阵中采集量信息的转置，
Figure 700164DEST_PATH_IMAGE045
表示异常状 态下的电子仪器抗干扰能力函数矩阵中采集量信息，
Figure 139235DEST_PATH_IMAGE046
表示异常状态下的电子仪器抗干 扰能力函数矩阵中干扰数据参数，
Figure 681075DEST_PATH_IMAGE047
表示异常状态下的电子仪器抗干扰能力函数矩阵中采 集量信息转置；由公式(3)判断条件分析，若电子仪器识别的正常信息代数矩阵为1，则此时 电子仪器处于最佳状态，不受外界干扰；若异常信号代数矩阵为0，则此网络为受影响分布 结构影响，通过乘子法推算RLPCCA特征矩阵为：
Figure 820937DEST_PATH_IMAGE048
(4)
公式(4)中，
Figure 448227DEST_PATH_IMAGE049
表示电子仪器受到外界干扰的比例，
Figure 35197DEST_PATH_IMAGE050
表示电子仪器信号覆盖范 围内异常数据信息矩阵。
在具体实施例中，稳健的局部保持典型相关分析(Robust Locality PreservingCanonical Correlation Analysis RLPCCA)算法模型，主要通过整合检测数据信号，对各类电子仪器的异常信号进行分析，之后利用哈希函数进行干扰数据的计算，进而完成电子仪器防干扰数据的控制。
如图6所示，HX710作为电力数据采集的模数转换芯片，具有24位的高精度转换模式，低噪声放大器增益为128dB，C3为0.1μF滤波电容，增强了系统的抗干扰能力。HX710的VREF针脚为传感器模块电压供电；AGND针脚为接地电路；INN针脚为输出信号AIN-，INP针脚为输出信号AIN+；PDSCK针脚为AD数据发送的时钟控制信号，DOUT针脚为数据输出，Header是数据采集接口端。
在进一步的实施例中，控制模块2还可以为基于FPGA芯片的控制器以及与所述控制器连接的A/D转换模块、数据存储模块、报警模块、电池、显示屏、数字显示器以及网络接口。
在上述实施例中，所述A/D转换模块还连接有X射线检测卡，所述X射线检测卡四周设置有X射线源。
在上述实施例中，网络接口支持RS232接口、RS485接口或者以太网接口。
在上述实施例中，所述控制模块2表面上设置有开关6、控制按键7和监测装置18，所述开关6和控制按键7设置于右壳体15右侧，所述监测装置18设置于右壳体15内部，并且所述监测装置18设置在并行设置的开关6和控制按键7之上。
在具体实施例中，所述左壳体11为圆柱形壳体，右壳体15为方形壳体，并且所述右壳体15的横截面面积大于所述左壳体11的横截面面积。
在上述实施例中，所述监测装置18为CCD摄像头。
在上述实施例中，所述X射线接收装置14内设置有接收器。
在具体实施例中，X射线接收装置14内设置的接收器，用于将接收到的辐射转换成电信号并传到扩张板中，并在控制模块2中转换成特定的信号，通过转换后将图像在显示屏9中显示出来，这样就可以通过肉眼观测到目标影像。
在具体实施例中，X射线装置3在工作时，当基于FPGA芯片的控制器控制X射线产生触发信号时，X射线源发出圆锥形X射线束，该射线束经准直器后变为扇形平面射线束。射线束穿过传送带上待检测物，X射线部分能量被吸收，最后轰击X射线线性阵列探测卡上的晶体管。被检测物体以某一速度相对于探测卡和X射线源移动时，探测卡逐行采集经过物体的射线，晶体-光电二极管将X射线转换成一个正比于所吸收的X射线流量和能量的电流信号，经放大和积分后，得到一个正比于积分电流乘积分时间的电压，再经A/D转换后送往图像数据处理单元。
在上述实施例中，由于网络接口支持RS232接口、RS485接口或者以太网接口，采用基于CS8900A数据总线通信，该通信接口集成了ISA总线接口的10Base-T通信协议。发送数据时，可以采用中断模式和查询方式。如果采用中断模式发送数据帧，在收到主机发来的命令后检测内部空间，若空间足够大，芯片通知主机传送数据，主机接到通知后发送数据包。发送过程中由CS8900A自动为要发送的数据帧添加前导符、定界符、CRC校验码等。若相应的寄存器已被设置，还会引发发送成功中断。如果采用查询方式发送数据，则主机对相应的寄存器进行查询，若可以发送，CS8900A将数据帧加帧头，生成校验码，最后发送至以太网中。接收时，CS8900A通信模块接口能够自动地从网络接口（第一接口、第二接口、第三接口或者第四接口）中读取数据包，在经过解码、去掉帧头和地址检验等步骤后，将数据帧在片内进行缓存。在CRC校验通过后，CS8900A会根据初始化配置情况，通知主机收到了数据帧。最后选择I/O模式、Memory模式、DMA模式中的一种，将数据传送到主机的存储区中。
X射线装置3工作时，控制器2控制数据信息的接收和发送，接收到检测信号后触发X射线源、X射线线性阵列探测卡，接收到的数据信息通过A/D转换模块实现数据数字信号与模拟信号的转换，转换后的数据信息通过数据存储模块实现数据信息存储，当遇到异常数据信息时，则通过报警模块实现报警提示。即当接收到A/D转换模块EOC端信号后，然后进行图像数据的接收、处理、发送，接收到CS8900A中断信号后进行数据解析，根据解析的数据进行参数设置、控制传送带的运行状态、报警等相应操作。
在具体实施例中，X射线装置3内设置的X射线发生装置12由电池19提供电源，受控制模块2控制产生X射线；X射线装置3内设置的圆盘状X射线接收装置14接收通过圆形射线发射孔13射出的X射线生成数据，将所产生的数据传递给控制模块2，经控制模块2分析后形成影像由显示屏9显示。
在上述实施例中，其中所述右壳体15前侧还设置有电源接口16和数据接口17；所述右壳体15内部设置控制模块2、电池19、显示屏9和数字显示器8。
在进一步实施例中，所述控制模块2分别与电池19、X射线装置3、显示屏9和数字显示器8连接，所述电池19分别与控制系统2、X射线装置3内的控制模块、显示屏9和数字显示器8连接提供电源。
在具体实施过程中，开关6控制X射线探测器的开关机；根据所探测目标的不同，通过控制按键7调节X射线装置3内设置的X射线发生装置12的工作电压，以实现X射线装置3不同功率的运行。
在上述实施例中，其中所述数字显示器8设置于右壳体15右侧，显示屏9设置于右壳体15右侧，其中所述数字显示器8和显示屏9分别为LCD显示屏。
在具体实施过程中，数字显示器8显示控制模块2内设置的控制按键7调节的不同电压值，以方便直观反应工作电压，即X射线探测器的工作状态；显示屏9用于显示X射线探测器探测目标所得到的影像，以供医护工作者观察目标状态。
在本发明中，所述右壳体15底部还设置有支撑腿5，所述支撑腿5下设置有底座4。
在本发明中，所述连接架10上设置有把手20。
本发明在工作时，通过把手20实现本发明的移动，通过开关6实现X射线探测器的开关机，通过电池19实现本发明电能供给，通过数据接口17实现影像信息的转移与共享，通过底座4实现本发明的固定。在控制时，通过控制按键7实现X射线装置3内设置的X射线发生装置12的工作电压的调节，通过控制模块2实现X射线装置3内设置的X射线发生装置12的控制，以控制X射线装置3内设置的X射线发生装置12产生X射线。通过X射线装置3内设置的圆盘状X射线接收装置14实现接收通过射线发射孔13射出的X射线，以完成目标影像数据的识别，并将数据传递给控制模块2，经控制模块2分析后实现数据的提取形成影像，通过显示屏9实现影像的显示。在具体实施例中，计算模块能够计算待测物品、检测电路、位移传感器、角度传感器、温度传感器、速度传感器或者数据采集模块等多种数据信息的检测状况。通过抗干扰模块实现本发明抗干扰计算和评估。
虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这些具体实施方式仅是举例说明，本领域的技术人员在不脱离本发明的原理和实质的情况下，可以对上述方法和系统的细节进行各种省略、替换和改变。例如，合并上述方法步骤，从而按照实质相同的方法执行实质相同的功能以实现实质相同的结果则属于本发明的范围。因此，本发明的范围仅由所附权利要求书限定。

Claims (10)

1.一种ARM+DSP控制的电子仪器，包括机架（1），所述机架（1）上设置有X射线装置（3），所述X射线装置（3）包括控制模块（2）、X射线发生装置（12）、X射线接收装置（14）和射线发射孔（13），其中所述控制模块（2）分别与所述X射线发生装置（12）和X射线接收装置（14）电性连接；其中所述机架（1）上还设置有呈分离式设置的左壳体（11）和右壳体（15），其中所述左壳体（11）和右壳体（15）通过连接架（10）连接；其中所述X射线发生装置（12）设置于左壳体（11）中部，所述X射线接收装置（14）设置于右壳体（15）左侧，所述射线发射孔（13）设置于X射线发生装置（12）表面，并且所述射线发射孔（13）与所述X射线接收装置（14）相对设置；
其中所述控制模块（2）包括ARM控制和DSP处理器；其中ARM控制器连接设置有检测模块、监测模块、计算模块、数据通信模块和计算机管理系统，其中所述检测模块与监测模块连接，计算模块的输出端与数据通信模块的输入端连接，数据通信模块的输出端与计算机管理系统输入端连接，其中ARM控制器与DSP处理模块双向通信；其中DSP控制器连接有A/D转换模块、评估模块、显示模块和D/A转换模块，所述D/A转换模块与计算机管理系统连接；其中检测模块包括待测物品、检测电路、位移传感器、角度传感器、温度传感器、速度传感器或者数据采集模块，所述采集模块为基于HX710芯片的采集模块，其中检测模块还包括抗干扰模块。
2.根据权利要求1所述的一种ARM+DSP控制的电子仪器，其特征在于：抗干扰模块通过RLPCCA算法模型实现数据信息抗干扰分析，方法为：
构建节点模型函数：
Figure 406875DEST_PATH_IMAGE001
(1)
公式(1)中，
Figure 4210DEST_PATH_IMAGE002
表示电子仪器信号网络架设在各点位数据函数，
Figure 759676DEST_PATH_IMAGE003
中的
Figure 476965DEST_PATH_IMAGE004
表示节点 信息，
Figure 292474DEST_PATH_IMAGE005
表示节点数量，
Figure 111526DEST_PATH_IMAGE006
表示电子仪器具体参数信息，
Figure 670683DEST_PATH_IMAGE007
表示电子仪器检测到的运行中 信号；
Figure 836671DEST_PATH_IMAGE008
表示信号数据序列；根据节点模型函数推算电子仪器信号最大覆盖面为：
Figure 557503DEST_PATH_IMAGE009
(2)
公式(2)中，
Figure 863850DEST_PATH_IMAGE010
表示电子仪器信号波动覆盖面，
Figure 961119DEST_PATH_IMAGE011
中的
Figure 918580DEST_PATH_IMAGE012
表示电子仪器检测时间，
Figure 810312DEST_PATH_IMAGE013
表 示参数集合，
Figure 603956DEST_PATH_IMAGE014
表示传感网络获取信息总量，
Figure 504916DEST_PATH_IMAGE015
表示初始化数据变量，
Figure 552769DEST_PATH_IMAGE016
表示异常信号 变量，
Figure 880982DEST_PATH_IMAGE017
表示电子仪器信号覆盖范围内供应量矩阵；
根据采集的最大覆盖面内的数据函数以及该范围内出现异常信号概率，计算出电子仪器受干扰影响程度判断条件为：
Figure 896342DEST_PATH_IMAGE018
(3)
公式(3)中，
Figure 600993DEST_PATH_IMAGE019
表示正常状态下电子仪器抗干扰能力函数矩阵，
Figure 267467DEST_PATH_IMAGE020
表示异常 状态下的电子仪器抗干扰能力函数矩阵；
Figure 766581DEST_PATH_IMAGE021
表示正常状态下电子仪器抗干扰能力函数矩阵 中的采集量信息，
Figure 128292DEST_PATH_IMAGE022
表示正常状态下电子仪器抗干扰能力函数矩阵中干扰数据参数，
Figure 246421DEST_PATH_IMAGE023
表示正常状态下电子仪器抗干扰能力函数矩阵中采集量信息的转置，
Figure 642767DEST_PATH_IMAGE024
表示异常状态下的 电子仪器抗干扰能力函数矩阵中采集量信息，
Figure 935952DEST_PATH_IMAGE025
表示异常状态下的电子仪器抗干扰能力 函数矩阵中干扰数据参数，
Figure 50539DEST_PATH_IMAGE026
表示异常状态下的电子仪器抗干扰能力函数矩阵中采集量 信息转置；由公式(3)判断条件分析，若电子仪器识别的正常信息代数矩阵为1，则此时电子 仪器处于最佳状态，不受外界干扰；若异常信号代数矩阵为0，则此网络为受影响分布结构 影响，通过乘子法推算RLPCCA特征矩阵为：
Figure 706779DEST_PATH_IMAGE027
(4)
公式(4)中，
Figure 223211DEST_PATH_IMAGE028
表示电子仪器受到外界干扰的比例，
Figure 923183DEST_PATH_IMAGE029
表示电子仪器信号覆盖范围内异 常数据信息矩阵。
3.根据权利要求1所述的一种ARM+DSP控制的电子仪器，其特征在于：网络接口支持RS232接口、RS485接口或者以太网接口，所述A/D转换模块还连接有X射线检测卡，所述X射线检测卡四周设置有X射线源。
4.根据权利要求1所述的一种ARM+DSP控制的电子仪器，其特征在于：所述控制模块（2）表面上还设置有开关（6）、控制按键（7）和监测装置（18），所述开关（6）和控制按键（7）设置于右壳体（15）右侧，所述监测装置（18）设置于右壳体（15）内部，并且所述监测装置（18）设置在并行设置的开关（6）和控制按键（7）之上。
5.根据权利要求1所述的一种ARM+DSP控制的电子仪器，其特征在于：所述左壳体（11）为圆柱形壳体，右壳体（15）为方形壳体，并且所述右壳体（15）的横截面面积大于所述左壳体（11）的横截面面积。
6.根据权利要求4所述的一种ARM+DSP控制的电子仪器，其特征在于：所述监测装置（18）为CCD摄像头；X射线接收装置（14）内设置有接收器。
7.根据权利要求1所述的一种ARM+DSP控制的电子仪器，其特征在于：其中所述右壳体（15）前侧还设置有电源接口（16）和数据接口（17）；所述右壳体（15）内部设置控制模块（2）、电池（19）、显示屏（9）和数字显示器（8）。
8.根据权利要求7所述的一种ARM+DSP控制的电子仪器，其特征在于：其中所述数字显示器（8）设置于右壳体（15）右侧，显示屏（9）设置于右壳体（15）右侧，其中所述数字显示器（8）和显示屏（9）分别为LCD显示屏。
9.根据权利要求1所述的一种ARM+DSP控制的电子仪器，其特征在于：所述右壳体（15）底部还设置有支撑腿（5），所述支撑腿（5）下设置有底座（4）。
10.根据权利要求1所述的一种ARM+DSP控制的电子仪器，其特征在于：所述连接架（10）上设置有把手（20）。
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