CN115086205A - 高效使用网络分析仪的测试方法、系统、装置及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种高效使用网络分析仪的测试方法、系统、装置及存储介质,该方法包括如下步骤:控制网络分析仪对待测产品进行测量;计算机从网络分析仪读取测量值I、Q,其中,I为幅度,Q为相位,并根据测量值I、Q计算待测产品对应的所需测量指标。本发明的测试结果均交由计算机程序计算得出,计算机除了需要从网络分析仪读取测试值I、Q外,与网络分析仪之间无需其它多余的交互指令,减少了上位机软件与仪表IO交互操作,节约了仪器仪表资源,减少人为操作干预,在同一时间内能测试更多电气参数,提高了测试效率。
Description
技术领域
本发明属于计算机领域,具体涉及一种高效使用网络分析仪的测试方法、系统、装置及存储介质。
背景技术
如需要测试相位、群时延、阻抗、平均值、峰峰值等参数,现有测试方法是按照图1所示的网分顺序测试得出所有测量结果,每测试一项参数都需要计算机和仪表进行IO交互(如发送指令和接收改变仪表参数,读取测量值),且还需要人为操作干预,测试效率低。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术之缺陷,提供了一种高效使用网络分析仪的测试方法、系统、装置及存储介质,本发明减少了上位机软件与仪表IO交互操作,节约了仪器仪表资源,减少人为操作干预,在同一时间内能测试更多电气参数,提高了测试效率。
本发明的技术方案是这样实现的:本发明公开了一种高效使用网络分析仪的测试方法,包括如下步骤:
控制网络分析仪对待测产品进行测量;
从网络分析仪读取测量值I、Q,其中,I为幅度,Q为相位,并根据测量值I、Q计算待测产品对应的所需测量指标。
进一步地,根据测量值I、Q计算出待测产品对应的所需测量指标,具体包括:根据测量值I、Q计算相位phase,相位phase的计算方法为:
P=(180*arctan(I/Q))/Pi;
当I>=0,Q>=0时phase=p;
当I>=0,Q<=0时phase=p+180;
当I<0,Q>=0时phase=p;
当I<0,Q<0时phase=p-180,Pi为圆周率。
进一步地,根据测量值I、Q计算出待测产品对应的所需测量指标,具体包括:
根据测量值I、Q计算S参数;
S参数的计算公式为:
Sxx=10*log(I*I+Q*Q)。
进一步地,根据测量值I、Q计算出待测产品对应的所需测量指标,具体包括:根据测量值I、Q计算S参数,根据S参数计算电压驻波比VSWR,电压驻波比VSWR的计算方法为:
VSWR=(1+10^(sxx/20)/(1-10^(sxx/20),其中,sxx为S参数。
进一步地,根据测量值I、Q计算出待测产品对应的所需测量指标,具体包括:根据测量值I、Q计算S参数,根据测量值I、Q计算相位phase,根据相位phase、S参数计算阻抗Impendence,阻抗Impendence的计算方法为:
theta=phase*pi/180;
r=10^(sxx/20);
Impendence=(50+0*j)*(1+r*e^(i*theta)/(1-r*e^(i*theta)),其中,phase为相位,pi为圆周率,sxx为S参数,i、j都为虚数。
进一步地,根据测量值I、Q计算出待测产品对应的所需测量指标,具体包括:根据测量值I、Q计算相位phase,根据相位phase计算群时延GD,群时延GD的计算方法为:GD(t)是的微分导数函数;为相位phase,单位为度,f单位为HZ,w=2*pi*f,pi为圆周率。
本发明还公开了一种存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现高效使用网络分析仪的测试方法的步骤。
本发明还公开了一种高效使用网络分析仪的测试装置,包括:处理器和用于存储能够在处理器上运行的计算机程序的存储器,其中,所述处理器用于运行所述计算机程序时,执行高效使用网络分析仪的测试方法的步骤。
本发明还公开了一种高效使用网络分析仪的测试系统,包括计算机和网络分析仪,所述计算机用于发送指令给网络分析仪,控制网络分析仪对待测产品进行测量,并从网络分析仪读取测量值I、Q,其中,I为幅度,Q为相位,并根据测量值I、Q计算待测产品对应的所需测量指标。
进一步地,根据测量值I、Q计算出待测产品对应的所需测量指标,具体包括:根据测量值I、Q计算相位phase,相位phase的计算方法为:
P=(180*arctan(I/Q))/Pi;
当I>=0,Q>=0时phase=p;
当I>=0,Q<=0时phase=p+180;
当I<0,Q>=0时phase=p;
当I<0,Q<0时phase=p-180,Pi为圆周率;
根据测量值I、Q计算S参数,S参数的计算公式为:
Sxx=10*log(I*I+Q*Q);
根据S参数计算电压驻波比VSWR,电压驻波比VSWR的计算方法为:
VSWR=(1+10^(sxx/20)/(1-10^(sxx/20),其中,sxx为S参数;
根据S参数、相位phase计算阻抗Impendence,阻抗Impendence的计算方法为:
theta=phase*pi/180;
r=10^(sxx/20);
Impendence=(50+0*j)*(1+r*e^(i*theta)/(1-r*e^(i*theta)),其中,phase为相位,pi为圆周率,sxx为S参数,i、j都为虚数;
本发明至少具有如下有益效果:本发明的网络分析仪配合计算机软件抓取测试值I、Q,并通过计算机软件算法一次性同时计算出所有测量指标。本发明的测试结果均交由计算机程序计算得出,计算机除了需要从网络分析仪读取测试值I、Q外,与网络分析仪之间无需其它多余的交互指令,减少了上位机软件与仪表IO交互操作,节约了仪器仪表资源,减少人为操作干预,在同一时间内能测试更多电气参数,提高了测试效率。
采用上述方案,使得本发明兼容网络分析仪所有类型仪表,提供了生产中不同情况的解决方案。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为传统测试方法的示意图;
图2为本发明实施例提供的高效使用网络分析仪的测试方法的示意图;
图3为网络分析仪内部处理测量采集数据的流程示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例一
参见图2,本发明实施例提供一种高效使用网络分析仪的测试方法,包括如下步骤:
通过计算机控制网络分析仪对待测产品进行测量,测量后的数据保存在网络分析仪的存储器中。网络分析仪测试射频无源电气指标。待测产品为网分能够测试测量的所有器件。
计算机从网络分析仪读取测量值I、Q,其中,I为幅度,Q为相位,并根据测量值I、Q计算待测产品对应的所需测量指标。本发明采用网络分析仪高效并行测试技术,通过电脑计算得出所有测试结果。
网络分析仪测量的S参数的实部I和虚部Q,图3示意了网络分析仪内部处理测量采集数据的流程,本专利从图3中标准数据阵列处抓取的原始数据,上位机下指令读取网分测试采集的I、Q数据,然后电脑端计算出所有的测试结果,网分只是起到测量采集原始数据的作用,计算功能全部放在电脑端算法完成,不占用网络分析仪测试测量采集资源,提高效率。
进一步地,根据测量值I、Q计算出待测产品对应的所需测量指标,具体包括:根据测量值I、Q计算相位phase,相位phase的计算方法为:
P=(180*arctan(I/Q))/Pi;
当I>=0,Q>=0时phase=p;
当I>=0,Q<=0时phase=p+180;
当I<0,Q>=0时phase=p;
当I<0,Q<0时phase=p-180,Pi为圆周率。
进一步地,根据测量值I、Q计算出待测产品对应的所需测量指标,具体包括:根据测量值I、Q计算S参数,S参数的计算公式为:Sxx=10*log(I*I+Q*Q)。每个S参数均有其各自对应的I、Q值。
以2端口网络分析仪为例,S11、S22、S21、S12分别为二端口网络的四个S参数,计算S11时使用的是S11对应的幅度I和相位值Q;计算S22时使用的是S22对应的幅度I和相位值Q;计算S21时使用的是S21对应的幅度I和相位值Q;计算S12时使用的是S12对应的幅度I和相位值Q。
使用多端口网络分析仪时各S参数的计算依次类推。
进一步地,根据S参数计算电压驻波比VSWR,电压驻波比VSWR的计算方法为:
VSWR=(1+10^(sxx/20)/(1-10^(sxx/20),其中,sxx为S参数。
进一步地,根据S参数、相位phase计算阻抗Impendence,阻抗Impendence的计算方法为:
theta=phase*pi/180;
r=10^(sxx/20);
Impendence=(50+0*j)*(1+r*e^(i*theta)/(1-r*e^(i*theta)),其中,phase为相位,pi为圆周率,sxx为S参数,i、j都为虚数。
进一步地,根据S参数计算均方根RMS值,具体包括:
均方根(RMS)值定义为线性电压形式:
即dBSi是点i处的S参数。
均方根(RMS)值定义为线性功率形式:
峰峰值是指波形图中最大的正值和最大的负值之间的差,如采样S21一共N个点,数列X={X1,X2…XN},S21最大值为=max(X),S21最小值为=min(x),则峰峰值=|max(X)-min(X)|。
实施例二
本发明实施例还公开了一种存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现实施例一所述方法的步骤。
实施例三
本发明实施例还公开了一种高效使用网络分析仪的测试装置,包括:处理器和用于存储能够在处理器上运行的计算机程序的存储器,其中,所述处理器用于运行所述计算机程序时,执行实施例一所述方法的步骤。
实施例四
参见图2,本发明实施例还公开了一种高效使用网络分析仪的测试系统,包括计算机和网络分析仪,所述计算机用于发送指令给网络分析仪,控制网络分析仪对待测产品进行测量,并从网络分析仪读取测量值I、Q,其中,I为幅度,Q为相位,并根据测量值I、Q计算待测产品对应的所需测量指标。
进一步地,根据测量值I、Q计算出待测产品对应的所需测量指标,具体包括:根据测量值I、Q计算相位phase,相位phase的计算方法为:
P=(180*arctan(I/Q))/Pi;
当I>=0,Q>=0时phase=p;
当I>=0,Q<=0时phase=p+180;
当I<0,Q>=0时phase=p;
当I<0,Q<0时phase=p-180,Pi为圆周率。
进一步地,根据测量值I、Q计算S参数,S参数的计算公式为:
Sxx=10*log(I*I+Q*Q)。
进一步地,根据S参数计算电压驻波比VSWR,电压驻波比VSWR的计算方法为:
VSWR=(1+10^(sxx/20)/(1-10^(sxx/20),其中,sxx为S参数。
进一步地,根据S参数、相位phase计算阻抗Impendence,阻抗Impendence的计算方法为:
theta=phase*pi/180;
r=10^(sxx/20);
Impendence=(50+0*j)*(1+r*e^(i*theta)/(1-r*e^(i*theta)),其中,phase为相位,pi为圆周率,sxx为S参数,i、j都为虚数。
进一步地,根据S参数计算均方根RMS值,具体包括:
均方根(RMS)值定义为线性电压形式:
即dBSi是点i处的S参数。
均方根(RMS)值定义为线性功率形式:
峰峰值是指波形图中最大的正值和最大的负值之间的差,如采样S21一共N个点,数列X={X1,X2…XN},S21最大值为=max(X),S21最小值为=min(x),则峰峰值=|max(X)-min(X)|。
本发明通过网络分析仪配合上位机软件抓取仪表采样的测试值I、Q,上传到电脑端用软件算法实现网络分析仪功能,一次性同时计算出所有测量指标,读取IQ数据外,无需其它多余的交互指令。本发明较传统的测试方法,提前释放了仪表资源,减少了高端仪表采购需要,提高了测试效率,减少了测试站,减少了人为操作干预,也释放部分人力和物力。
本领域技术人员还应当理解,结合本文的实施例描述的各种说明性的逻辑框、模块、电路和算法步骤均可以实现成电子硬件、计算机软件或其组合。为了清楚地说明硬件和软件之间的可交换性,上面对各种说明性的部件、框、模块、电路和步骤均围绕其功能进行了一般地描述。至于这种功能是实现成硬件还是实现成软件,取决于特定的应用和对整个系统所施加的设计约束条件。熟练的技术人员可以针对每个特定应用,以变通的方式实现所描述的功能,但是,这种实现决策不应解释为背离本公开的保护范围。
结合本文的实施例所描述的方法或者算法的步骤可直接体现为硬件、由处理器执行的软件模块或其组合。软件模块可以位于RAM存储器、闪存、ROM存储器、EPROM存储器、EEPROM存储器、寄存器、硬盘、移动磁盘、CD-ROM或者本领域熟知的任何其它形式的存储介质中。一种示例性的存储介质连接至处理器,从而使处理器能够从该存储介质读取信息,且可向该存储介质写入信息。当然,存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于ASIC中。该ASIC可以位于用户终端中。当然,处理器和存储介质也可以作为分立组件存在于用户终端中。
对于软件实现,本申请中描述的技术可用执行本申请所述功能的模块(例如,过程、函数等)来实现。这些软件代码可以存储在存储器单元并由处理器执行。存储器单元可以实现在处理器内,也可以实现在处理器外,在后一种情况下,它经由各种手段以通信方式耦合到处理器,这些都是本领域中所公知的。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种高效使用网络分析仪的测试方法,其特征在于:包括如下步骤:
控制网络分析仪对待测产品进行测量;
从网络分析仪读取测量值I、Q,其中,I为幅度,Q为相位,并根据测量值I、Q计算待测产品对应的所需测量指标。
2.如权利要求1所述的高效使用网络分析仪的测试方法,其特征在于:根据测量值I、Q计算出待测产品对应的所需测量指标,具体包括:根据测量值I、Q计算相位phase,相位phase的计算方法为:
P=(180*arctan(I/Q))/Pi;
当I>=0,Q>=0时phase=p;
当I>=0,Q<=0时phase=p+180;
当I<0,Q>=0时phase=p;
当I<0,Q<0时phase=p-180,Pi为圆周率。
3.如权利要求1所述的高效使用网络分析仪的测试方法,其特征在于:根据测量值I、Q计算出待测产品对应的所需测量指标,具体包括:
根据测量值I、Q计算S参数;
S参数的计算公式为:
Sxx=10*log(I*I+Q*Q)。
4.如权利要求1或3所述的高效使用网络分析仪的测试方法,其特征在于:根据测量值I、Q计算出待测产品对应的所需测量指标,具体包括:根据测量值I、Q计算S参数,根据S参数计算电压驻波比VSWR,电压驻波比VSWR的计算方法为:
VSWR=(1+10^(sxx/20)/(1-10^(sxx/20),其中,sxx为S参数。
5.如权利要求1所述的高效使用网络分析仪的测试方法,其特征在于:根据测量值I、Q计算出待测产品对应的所需测量指标,具体包括:根据测量值I、Q计算S参数,根据测量值I、Q计算相位phase,根据相位phase、S参数计算阻抗Impendence,阻抗Impendence的计算方法为:
theta=phase*pi/180;
r=10^(sxx/20);
Impendence=(50+0*j)*(1+r*e^(i*theta)/(1-r*e^(i*theta)),其中,phase为相位,pi为圆周率,sxx为S参数,i、j都为虚数。
7.一种存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6任一项所述方法的步骤。
8.一种高效使用网络分析仪的测试装置,其特征在于,包括:处理器和用于存储能够在处理器上运行的计算机程序的存储器,其中,所述处理器用于运行所述计算机程序时,执行权利要求1至6任一项所述方法的步骤。
9.一种高效使用网络分析仪的测试系统,其特征在于:包括计算机和网络分析仪,所述计算机用于发送指令给网络分析仪,控制网络分析仪对待测产品进行测量,并从网络分析仪读取测量值I、Q,其中,I为幅度,Q为相位,并根据测量值I、Q计算待测产品对应的所需测量指标。
10.如权利要求9所述的高效使用网络分析仪的测试系统,其特征在于:根据测量值I、Q计算出待测产品对应的所需测量指标,具体包括:根据测量值I、Q计算相位phase,相位phase的计算方法为:
P=(180*arctan(I/Q))/Pi;
当I>=0,Q>=0时phase=p;
当I>=0,Q<=0时phase=p+180;
当I<0,Q>=0时phase=p;
当I<0,Q<0时phase=p-180,Pi为圆周率;
根据测量值I、Q计算S参数,S参数的计算公式为:
Sxx=10*log(I*I+Q*Q);
根据S参数计算电压驻波比VSWR,电压驻波比VSWR的计算方法为:
VSWR=(1+10^(sxx/20)/(1-10^(sxx/20),其中,sxx为S参数;
根据S参数、相位phase计算阻抗Impendence,阻抗Impendence的计算方法为:
theta=phase*pi/180;
r=10^(sxx/20);
Impendence=(50+0*j)*(1+r*e^(i*theta)/(1-r*e^(i*theta)),其中,phase为相位,pi为圆周率,sxx为S参数,i、j都为虚数;
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