CN115078950B

CN115078950B - 一种上位机控制外围设备测试的方法

Info

Publication number: CN115078950B
Application number: CN202210895777.3A
Authority: CN
Inventors: 石建春; 包智杰
Original assignee: Nanjing Hongtai Semiconductor Technology Co ltd
Current assignee: Nanjing Hongtai Semiconductor Technology Co ltd
Priority date: 2022-07-28
Filing date: 2022-07-28
Publication date: 2022-10-25
Anticipated expiration: 2042-07-28
Also published as: CN115078950A

Abstract

本发明公开了一种上位机控制外围设备测试的方法，上位机将需要测试信息发送给下位机进行测试；下位机接收上位机发送的需要测试信息，下位机判断是否需要三方测试，若需要三方测试，则下位机向上位机发送三方测试项请求信息，下位机根据需要测试信息控制测试仪器对测试件进行测试，得到下位机测试数据，上位机根据下位机发送的三方测试项请求信息控制第三方测试仪器对测试件进行测试，得到三方测试数据；上位机将三方测试数据发送给下位机，下位机根据三方测试数据和下位机测试数据得到最终测试结果；本发明免除了上位机对测试数据分析判断功能，消耗功率少。

Description

一种上位机控制外围设备测试的方法

技术领域

本发明涉及一种上位机控制外围设备测试的方法，属于分立器件测试技术领域。

背景技术

分立器件测试系统需要通过第三方测试设备对器件进行测量，如图1所示，为包含三方测试设备的分立器件测试系统数据流，如图2所示，当前分立器件测试系统对于需要通过第三方设备对器件进行测量，都是由上位机直接连接第三方设备进行测量。上位机需要将下位机上报的其他测试项结果与上位机通过第三方设备对器件进行测量的测量结果进行综合分析得出该器件的最终测试结果。

如图3所示，普通测试项测试都是由下位机发起，并进行测试，获得测试结果，并将测试结果上报给上位机。无需上位机再进行测试，也无需上位机对测试结果进行综合分析。

当前上位机系统是通过接受下位机上报的各个测试项的测试结果，并结合自身通过第三方设备的测试结果进行综合分析，判断本次测试的最终结果；并且还需要上传最终测试结果给下位机，下位机方可进行其他诸如分bin等操作；下位机还需要兼容自身的分析结果上报给上位机的功能。

在上位机和下位机都有结果分析功能，且需要兼容各自通报的分析结果，处理逻辑比较复杂。

发明内容

发明目的：为了克服现有技术中存在的不足，本发明提供一种上位机控制外围设备测试的方法，该方法将完全免除上位机对测试数据的计算分析功能，沿用下位机的计算分析流程，使得整个测试过程的计算简单化。

技术方案：为实现上述目的，本发明采用的技术方案为：

一种上位机控制外围设备测试的方法，包括以下步骤：

步骤1，上位机将需要测试信息发送给下位机进行测试。其中，测试信息的数据结构为{bOtherItem，sItemName，sParList，nDeviceNumber，LMItemName，LMParList，LMnDeviceNumber}，bOtherItem表示是否需要测试的三方测试项，sItemName表示三方测试项名称，sParList表示三方测试参数列表，nDeviceNumber表示第三方设备编号，LMItemName表示下位机测试项名称，LMParList表示下位机测试参数列表,LMnDeviceNumber表示下位机测试设备编号。

步骤2，下位机接收上位机发送的需要测试信息，需要测试信息的数据结构为{bOtherItem，sItemName，sParList，nDeviceNumber，LMItemName，LMParList，LMnDeviceNumber}，下位机遍历需要测试信息，根据需要测试信息中的是否需要测试的三方测试项bOtherItem进行判断，若需要三方测试，则下位机向上位机发送三方测试项请求信息，三方测试项请求信息的数据结构为{sItemName，sParList，nDeviceNumber}，下位机根据需要测试信息控制测试仪器对测试件进行测试，得到下位机测试数据，进入步骤4。若不需要三方测试，下位机根据需要测试信息控制测试仪器对测试件进行测试，得到下位机测试数据，进入步骤5。

步骤3，上位机根据下位机发送的三方测试项请求信息控制第三方测试仪器对测试件进行测试，得到三方测试数据。上位机读取三方测试数据，并将三方测试数据发送给下位机，进入步骤4。

步骤4，下位机接收上位机发送的三方测试数据，下位机根据三方测试数据和下位机测试数据得到最终测试结果。

步骤5，下位机根据下位机测试数据得到下位机测试结果，得到的下位机测试结果作为最终测试结果发送给上位机。

步骤6，上位机接收下位机发送的最终测试结果并进行处理。

优选的：步骤4中下位机根据三方测试数据得到三方测试结果，下位机根据下位机测试数据得到下位机测试结果，下位机根据三方测试结果和下位机测试结果得到最终测试结果，并将得到的最终测试结果发送给上位机。

优选的：步骤3中上位机根据下位机发送的三方测试项请求信息时启动定时器计时，若在超出预定时间范围下位机未接收到上位机发送的三方测试数据，则认为该测试项测试失败，关闭定时器，放弃接收测试数据。若在预定时间范围内下位机接收到上位机发送的三方测试数据，下位机接收到三方测试数据后关闭计时器，完成本测试项接收操作，下位机进行下一个测试项的测试。

优选的：上位机与下位机通过tcp通信，或者上位机与下位机通过USB串口通信。

本发明相比现有技术，具有以下有益效果：

本发明免除了上位机对测试数据分析判断功能，并且减少了下位机对上位机上报的测试结果进行兼容计算的功能，简化了整个测试流程的计算功能，消耗功率少。

附图说明

图1为包含三方测试设备的分立器件测试系统数据流。

图2为三方测试项的测试流程。

图3为普通测试项测试控制流程。

图4为本发明实施例流程图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本发明，应理解这些实例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围，在阅读了本发明之后，本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。

一种上位机控制外围设备测试的方法，如图4所示，包括以下步骤：

上位机与下位机通过tcp通信，或者上位机与下位机通过USB串口通信，将包含三方测试项的测试请求及参数统一发送给下位机。

需要测试信息数据结构如下；

Struct _TEST_ITEM

{

BOOL bOtherItem ;//是否三方测试项, true,是； false,否

Char sItemName{256}; //测试项名称

Char sParList{512};//测试参数列表，可通过分隔符分割各个参数

Int nDeviceNumber;//测试设备编号，对于多个三方测试设备而言，若仅仅一个，该参数值忽略。

}

三方测试项请求信息数据结构：

Struct _OTHER_TEST_REQ

{

BOOL bOtherItem ;//是否三方测试项, true,是； false,否

Char sItemName{256}; //测试项名称

Char sParList{512};//测试参数列表，可通过分隔符分割各个参数

}

三方测试数据：

Struct _OTHERDEVICE_RESPONSE

{

Char sTestRes{512};//测试结果，以字符串形式接收

}

发送给下位机三方测试数据：

Struct _OTHER_TEST_RES_2MEC

{

BOOL bOtherItem ;//是否三方测试项, true,是； false,否

Char sItemName{256}; //测试项名称

Char sTestRes{512};//测试结果数据，以字符串形式发送

}

步骤4，下位机接收上位机发送的三方测试数据，下位机根据三方测试数据和下位机测试数据得到最终测试结果，下位机做其他相应操作。

上位机根据下位机发送的三方测试项请求信息时启动定时器计时（线程轮询也可），若在超出预定时间范围下位机未接收到上位机发送的三方测试数据，则认为该测试项测试失败，关闭定时器，放弃接收测试数据。若在预定时间范围内下位机接收到上位机发送的三方测试数据，下位机接收到三方测试数据后关闭计时器，完成本测试项接收操作，下位机进行下一个测试项的测试。

下位机根据三方测试数据得到三方测试结果，下位机根据下位机测试数据得到下位机测试结果，下位机根据三方测试结果和下位机测试结果得到最终测试结果，并将得到的最终测试结果发送给上位机。

最终测试结果：

Struct _OTHER_TEST_RES_END

{

BOOL bOtherItem ;//是否三方测试项, true,是； false,否

BOOL bResult;//测试结论，true,pass;false, fail

Char sItemName{256}; //测试项名称

Char sTestRes{512};//测试结果数据，以字符串形式接收

}

步骤5，下位机根据下位机测试数据得到下位机测试结果，得到的下位机测试结果作为最终测试结果发送给上位机，下位机做其他相应操作。

步骤6，上位机接收下位机发送的最终测试结果并进行处理。

本发明中下位机遍历到该测试项，发现是三方测试项，则发送测试请求给上位机，免除了上位机对测试数据分析判断功能，并且减少了下位机对上位机上报的测试结果进行兼容计算的功能，简化了整个测试流程的计算功能，消耗功率少。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出：对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims

1.一种上位机控制外围设备测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，上位机将需要测试信息发送给下位机进行测试；其中，测试信息的数据结构为{bOtherItem，sItemName，sParList，nDeviceNumber，LMItemName，LMParList，LMnDeviceNumber}，bOtherItem表示是否需要测试的三方测试项，sItemName表示三方测试项名称，sParList表示三方测试参数列表，nDeviceNumber表示第三方设备编号，LMItemName表示下位机测试项名称，LMParList表示下位机测试参数列表,LMnDeviceNumber表示下位机测试设备编号；

步骤2，下位机接收上位机发送的需要测试信息，需要测试信息的数据结构为{bOtherItem，sItemName，sParList，nDeviceNumber，LMItemName，LMParList，LMnDeviceNumber}，下位机遍历需要测试信息，根据需要测试信息中的是否需要测试的三方测试项bOtherItem进行判断，若需要三方测试，则下位机向上位机发送三方测试项请求信息，三方测试项请求信息的数据结构为{sItemName，sParList，nDeviceNumber}，下位机根据需要测试信息控制测试仪器对测试件进行测试，得到下位机测试数据，进入步骤4；若不需要三方测试，下位机根据需要测试信息控制测试仪器对测试件进行测试，得到下位机测试数据，进入步骤5；

步骤3，上位机根据下位机发送的三方测试项请求信息控制第三方测试仪器对测试件进行测试，得到三方测试数据；上位机读取三方测试数据，并将三方测试数据发送给下位机，进入步骤4；

步骤4，下位机接收上位机发送的三方测试数据，下位机根据三方测试数据和下位机测试数据得到最终测试结果；

步骤5，下位机根据下位机测试数据得到下位机测试结果，得到的下位机测试结果作为最终测试结果发送给上位机；

步骤6，上位机接收下位机发送的最终测试结果并进行处理。

2.根据权利要求1所述上位机控制外围设备测试的方法，其特征在于：步骤4中下位机根据三方测试数据得到三方测试结果，下位机根据下位机测试数据得到下位机测试结果，下位机根据三方测试结果和下位机测试结果得到最终测试结果，并将得到的最终测试结果发送给上位机。

3.根据权利要求2所述上位机控制外围设备测试的方法，其特征在于：步骤3中上位机根据下位机发送的三方测试项请求信息时启动定时器计时，若在超出预定时间范围下位机未接收到上位机发送的三方测试数据，则认为该测试项测试失败，关闭定时器，放弃接收测试数据；若在预定时间范围内下位机接收到上位机发送的三方测试数据，下位机接收到三方测试数据后关闭计时器，完成本测试项接收操作，下位机进行下一个测试项的测试。

4.根据权利要求3所述上位机控制外围设备测试的方法，其特征在于：上位机与下位机通过tcp通信，或者上位机与下位机通过USB串口通信。