CN115046911A - 一种粒子计数器的采集标定方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种粒子计数器的采集标定方法，包括：对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净结果；当自净结果为合格时，向待标定粒子计数器输入目标粒子气体；获取待标定粒子计数器中各预设粒径分别对应的实际计数数值；分别将各实际计数数值与对应的标准计数数值进行对比，得到各对比结果；当存在对比结果为不一致时，将与对应的标准计数数值不一致的实际计数数值对应的预设粒径确定为目标粒径；对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，以对待标定粒子计数器进行采集标定。本发明较大地节省了人力，提高了粒子计数器采集标定效率。本发明还公开了一种粒子计数器的采集标定装置、设备及存储介质，具有相应技术效果。

Description

一种粒子计数器的采集标定方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本发明涉及粒子计数器技术领域，特别是涉及一种粒子计数器的采集标定方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

粒子计数器用于对洁净空间的粒子进行检测，而其检测的准确性对于检测结果至关重要，因此在粒子计数器投入使用时需要对其进行采集标定。

现有的粒子计数器采集标定方法大都是通过手动调整门槛值的方式对待测粒子计数器进行标定，标定效率低，浪费人力。

综上所述，如何有效地解决现有的粒子计数器采集标定方法标定效率低，浪费人力等问题，是目前本领域技术人员急需解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种粒子计数器的采集标定方法，该方法较大地节省了人力，提高了粒子计数器采集标定效率；本发明的另一目的是提供一种粒子计数器的采集标定装置、设备及计算机可读存储介质。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：

一种粒子计数器的采集标定方法，包括：

对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净结果；

当所述自净结果为合格时，向所述待标定粒子计数器输入目标粒子气体；

获取所述待标定粒子计数器中各预设粒径分别对应的实际计数数值；

分别将各所述实际计数数值与各所述预设粒径分别对应的标准计数数值进行对比，得到各对比结果；

当存在对比结果为不一致时，将与对应的标准计数数值不一致的实际计数数值对应的预设粒径确定为目标粒径；

对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，并重复执行向所述当所述自净结果为合格时，向所述待标定粒子计数器输入目标粒子气体的步骤，直至各所述对比结果均一致，以对所述待标定粒子计数器进行采集标定；其中，预设有各所述预设粒径分别对应的门槛电压。

在本发明的一种具体实施方式中，对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，包括：

获取预设的电压调整步长；

按照所述电压调整步长对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作。

在本发明的一种具体实施方式中，按照所述电压调整步长对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，包括：

根据所述对比结果确定门槛电压调整方向；

按照所述电压调整步长和所述门槛电压调整方向对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作。

在本发明的一种具体实施方式中，按照所述电压调整步长和所述门槛电压调整方向对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，包括：

判断调整次数是否达到预设值；

若否，则执行所述按照所述电压调整步长和所述门槛电压调整方向对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作的步骤；

若是，则输出标定失败提示信息。

在本发明的一种具体实施方式中，根据所述对比结果确定门槛电压调整方向，包括：

当所述对比结果为所述实际计数数值大于对应的标准计数数值时，确定所述门槛电压调整方向为正向调整；

当所述对比结果为所述实际计数数值小于对应的标准计数数值时，确定所述门槛电压调整方向为负向调整。

在本发明的一种具体实施方式中，向所述待标定粒子计数器输入目标粒子气体，包括：

向所述待标定粒子计数器和标准粒子计数器输入同源的目标粒子气体；

在分别将各所述实际计数数值与对应的标准计数数值进行对比之前，还包括：

获取所述标准粒子计数器中各所述预设粒径分别对应的标准计数数值。

在本发明的一种具体实施方式中，对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净结果，包括：

对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净数值；

将所述自净数值与自净标准范围进行对比，得到所述自净结果。

一种粒子计数器的采集标定装置，包括：

自净模块，用于对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净结果；

气体输入模块，用于当所述自净结果为合格时，向所述待标定粒子计数器输入目标粒子气体；

实际计数数值获取模块，用于获取所述待标定粒子计数器中各预设粒径分别对应的实际计数数值；

对比结果获得模块，用于分别将各所述实际计数数值与各所述预设粒径分别对应的标准计数数值进行对比，得到各对比结果；

目标粒径确定模块，用于当存在对比结果为不一致时，将与对应的标准计数数值不一致的实际计数数值对应的预设粒径确定为目标粒径；

采集标定模块，用于对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，并重复执行向所述当所述自净结果为合格时，向所述待标定粒子计数器输入目标粒子气体的步骤，直至各所述对比结果均一致，以对所述待标定粒子计数器进行采集标定；其中，预设有各所述预设粒径分别对应的门槛电压。

一种粒子计数器的采集标定设备，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如前所述粒子计数器的采集标定方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如前所述粒子计数器的采集标定方法的步骤。

本发明所提供的粒子计数器的采集标定方法，对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净结果；当自净结果为合格时，向待标定粒子计数器输入目标粒子气体；获取待标定粒子计数器中各预设粒径分别对应的实际计数数值；分别将各实际计数数值与各预设粒径分别对应的标准计数数值进行对比，得到各对比结果；当存在对比结果为不一致时，将与对应的标准计数数值不一致的实际计数数值对应的预设粒径确定为目标粒径；对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，并重复执行向当自净结果为合格时，向待标定粒子计数器输入目标粒子气体的步骤，直至各对比结果均一致，以对待标定粒子计数器进行采集标定；其中，预存有各预设粒径分别对应的门槛电压。

由上述技术方案可知，通过在对待标定粒子计数器进行自净操作，并确定自净结果为合格之后，向待标定粒子计数器输入目标粒子气体，获取待标定粒子计数器中各预设粒径分别对应的实际计数数值，将各实际计数数值与对应的标准计数数值进行对比，得到各对比结果。选取出与对应的标准计数数值不一致的实际计数数值对应的预设粒径，将选取得到的预设粒径确定为目标粒径，对目标粒径对应的门槛电压进行调整，从而实现对待标定粒子计数器的自动采集标定。较大地节省了人力，提高了粒子计数器采集标定效率。

相应的，本发明还提供了与上述粒子计数器的采集标定方法相对应的粒子计数器的采集标定装置、设备和计算机可读存储介质，具有上述技术效果，在此不再赘述。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例中粒子计数器的采集标定方法的一种实施流程图；

图2为本发明实施例中粒子计数器的采集标定方法的另一种实施流程图；

图3为本发明实施例中一种粒子计数器的采集标定装置的结构框图；

图4为本发明实施例中一种粒子计数器的采集标定设备的结构框图；

图5为本实施例提供的一种粒子计数器的采集标定设备的具体结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参见图1，图1为本发明实施例中粒子计数器的采集标定方法的一种实施流程图，该方法可以包括以下步骤：

S101：对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净结果。

当需要对待标定粒子计数器进行采集标定时，首先对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净结果。通过自净结果可以分析得到待标定粒子计数器的自身硬件是否存在问题。

在本发明的一种具体实施方式中，步骤S101可以包括以下步骤：

步骤一：对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净数值；

步骤二：将自净数值与自净标准范围进行对比，得到自净结果。

为方便描述，可以将上述两个步骤结合起来进行说明。

通过向待标定粒子计数器中通入洁净气体对待标定粒子计数器进行自净操作，并对待标定粒子计数器自净期间的各预设粒径计数值进行统计，得到自净数值。预先设置有自净标准范围，通过将自净数值与自净标准范围进行对比，得到自净结果。自净结果可以显示自净数值是否在自净标准范围内。通过将自净数值与自净标准范围进行比较，可以快速确认待标定粒子计数器的自身硬件是否符合要求。

还可以预先由测试软件设置自净时间或带有时间的循环次数，如可以设置自净时间为60s，也可以设置每15秒自净一次且循环自净4次。按照自净时间或带有时间的循环次数对待标定粒子计数器进行自净操作。

S102：当自净结果为合格时，向待标定粒子计数器输入目标粒子气体。

在得到对待标定粒子计数器的自净结果之后，当自净结果为合格时，说明待标定粒子计数器的自身硬件不存在问题，向待标定粒子计数器输入目标粒子气体。

目标粒子气体可以为预先设置的可用于对待标定粒子计数器进行标定的任一粒子气体。

S103：获取待标定粒子计数器中各预设粒径分别对应的实际计数数值。

预先设置多个粒径级别，如可以设置包含0.1um、0.3um、0.5um、1um、3um、5um共6个级别的粒径，在向待标定粒子计数器输入目标粒子气体之后，获取待标定粒子计数器中各预设粒径分别对应的实际计数数值。各预设粒径分别对应的实际计数数值具体指粒径大于等于相应预设粒径的粒子数量，如0.1um粒径对应的实际计数数值指的是粒径大于等于0.1um的粒子数量。因此在一次测定中，预设粒径越大对应的粒子数量越少。

S104：分别将各实际计数数值与各预设粒径分别对应的标准计数数值进行对比，得到各对比结果。

预先设置每个级别的预设粒径分别对应的标准计数数值。在获取到待标定粒子计数器中各预设粒径分别对应的实际计数数值之后，分别将各实际计数数值与各预设粒径分别对应的标准计数数值进行对比，得到各对比结果。即，通过利用待标定粒子计数器测得的每个级别的预设粒径分别对应的实际计数数值，将每个级别的预设粒径分别对应的实际计数数值与该级别的预设粒径对应的标准计数数值进行大小比较，得到大小比较结果。

S105：判断是否存在不一致的对比结果，若否，则执行步骤S106，若是，则执行步骤S107。

S106：输出对待标定粒子计数器标定完成提示信息。

S107：将与对应的标准计数数值不一致的实际计数数值对应的预设粒径确定为目标粒径。

在分别将各实际计数数值与对应的标准计数数值进行对比，得到各对比结果之后，当存在对比结果为不一致时，将与对应的标准计数数值不一致的实际计数数值对应的预设粒径确定为目标粒径。从而筛选出待标定粒子计数器测得的实际计数数值与真实情况不符的目标粒径。

需要说明的是，这里对比结果的一致性是指预设的预期范围内的一致，非数值的完全相同，预期范围可以根据实际情况进行设定和调整，本发明实施例对此不做限定。

S108：对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，并返回执行步骤S102。

其中，预设有各预设粒径分别对应的门槛电压。

预先设置每个级别粒径分别对应的门槛电压，各门槛电压可以是输入型设置的，也可以是预先存储完成的，在确定出目标粒径之后，对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，并基于调整后的门槛电压向待标定粒子计数器输入目标粒子气体，并进行后续各预设粒径分别对应的实际计数数值与标准计数数值的比较，直至各对比结果均一致，从而实现对待标定粒子计数器进行采集标定。

在本发明的一种具体实施方式中，对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，可以包括以下步骤：

步骤一：获取预设的电压调整步长；

步骤二：按照电压调整步长对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作。

为方便描述，可以将上述两个步骤结合起来进行说明。

预先设置电压调整步长，在确定需要对目标粒径对应的门槛电压进行调整之后，获取预设的电压调整步长，按照电压调整步长对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作。每调整一个电压调整步长之后，再次获取各预设粒径的实际计数数值，直至将各预设粒径的实际计数数值与各预设粒径的标准计数数值比较结果满足预设条件。通过按照预设的电压调整步长对目标粒径对应的门槛电压进行调整，避免了一次性调整电压值幅度过大，造成过调现象，进而保证了门槛电压调整过程的稳定性。

需要说明的是，电压调整步长可以根据实际情况进行设定和调整，本发明实施例对此不做限定，如可以设置为100mV。

在本发明的一种具体实施方式中，按照电压调整步长对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，可以包括以下步骤：

步骤一：根据对比结果确定门槛电压调整方向；

步骤二：按照电压调整步长和门槛电压调整方向对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作。

为方便描述，可以将上述两个步骤结合起来进行说明。

在确定需要对目标粒径对应的门槛电压进行调整之后，根据对比结果确定门槛电压调整方向，按照电压调整步长和门槛电压调整方向，以目标粒径对应的既有门槛电压作为基点对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作。通过按照确定出的明确的门槛电压调整方向进行门槛电压调整，提升了门槛电压调整效率。

在本发明的一种具体实施方式中，根据对比结果确定门槛电压调整方向，可以包括以下步骤：

步骤一：当对比结果为实际计数数值大于对应的标准计数数值时，确定门槛电压调整方向为正向调整；

步骤二：当对比结果为实际计数数值小于对应的标准计数数值时，确定门槛电压调整方向为负向调整。

为方便描述，可以将上述两个步骤结合起来进行说明。

在确定存在对比结果为不一致时，说明需要对目标粒径对应的门槛电压进行调整，当对比结果为实际计数数值大于对应的标准计数数值时，即实际计数数值超出预设的预期范围上限时，说明目标粒径对应的门槛电压过小，确定门槛电压调整方向为正向调整，从而将目标粒径对应的门槛电压调大。当对比结果为实际计数数值小于对应的标准计数数值时，即实际计数数值低于预设的预期范围下限时，确定门槛电压调整方向为负向调整，说明目标粒径对应的门槛电压过大，确定门槛电压调整方向为负向调整，从而将目标粒径对应的门槛电压调小。

在本发明的一种具体实施方式中，按照电压调整步长和门槛电压调整方向对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，可以包括以下步骤：

步骤一：判断调整次数是否达到预设值，若否，则执行步骤二，若是，则执行步骤三；

步骤二：按照电压调整步长和门槛电压调整方向对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作；

步骤三：输出标定失败提示信息。

为方便描述，可以将上述三个步骤结合起来进行说明。

预先设置门槛电压对应的调整次数阈值，在确定需要对目标粒径对应的门槛电压进行调整之后，判断调整次数是否达到预设值，若否，则说明还可以继续对当前目标粒径对应的门槛电压进行调整，按照电压调整步长和门槛电压调整方向对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，若是，则说明已经不能继续对当前目标粒径对应的门槛电压进行调整，输出标定失败提示信息，从而提示运维人员进行后续的维护操作。

需要说明的是，调整次数阈值可以是设定的各个粒径对应的整体的阈值，即累计调整次数达到预设值之后，若仍需要调整，则输出标定失败提示信息。还可以是为各个粒径分别设置对应的调整次数阈值，对某个粒径对应的门槛电压调整次数达到预设值之后，则输出标定失败提示信息。并且预设值可以根据实际情况进行设定和调整，本发明实施例对此不做限定。

由上述技术方案可知，通过在对待标定粒子计数器进行自净操作，并确定自净结果为合格之后，向待标定粒子计数器输入目标粒子气体，获取待标定粒子计数器中各预设粒径分别对应的实际计数数值，将各实际计数数值与对应的标准计数数值进行对比，得到各对比结果。选取出与对应的标准计数数值不一致的实际计数数值对应的预设粒径，将选取得到的预设粒径确定为目标粒径，对目标粒径对应的门槛电压进行调整，从而实现对待标定粒子计数器的自动采集标定。较大地节省了人力，提高了粒子计数器采集标定效率。

需要说明的是，基于上述实施例，本发明实施例还提供了相应的改进方案。在后续实施例中涉及与上述实施例中相同步骤或相应步骤之间可相互参考，相应的有益效果也可相互参照，在下文的改进实施例中不再一一赘述。

参见图2，图2为本发明实施例中粒子计数器的采集标定方法的另一种实施流程图，该方法可以包括以下步骤：

S201：对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净结果。

S202：当自净结果为合格时，向待标定粒子计数器和标准粒子计数器输入同源的目标粒子气体。

预先设置准粒子计数器，当自净结果为合格时，向待标定粒子计数器和标准粒子计数器输入同源的目标粒子气体。通过向待标定粒子计数器和标准粒子计数器输入同源的目标粒子气体，保证了待标定粒子计数器和标准粒子计数器输入粒子气体的一致性，避免了由于粒子气体本身不一致造成的误差。

S203：获取待标定粒子计数器中各预设粒径分别对应的实际计数数值。

S204：获取标准粒子计数器中各预设粒径分别对应的标准计数数值。

在向待标定粒子计数器和标准粒子计数器输入同源的目标粒子气体之后，获取标准粒子计数器中各预设粒径分别对应的标准计数数值。从而保证了各预设粒径分别对应的标准计数数值的可信性。

S205：分别将各实际计数数值与各预设粒径分别对应的标准计数数值进行对比，得到各对比结果。

S206：判断是否存在不一致的对比结果，若否，则执行步骤S207，若是，则执行步骤S208。

S207：输出对待标定粒子计数器标定完成提示信息。

S208：将与对应的标准计数数值不一致的实际计数数值对应的预设粒径确定为目标粒径。

S209：对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，并返回执行步骤S202。

其中，预设有各预设粒径分别对应的门槛电压。

在一种具体实例应用中，本发明实施例提供的用于对待标定粒子计数器进行标定的粒子计数器采集标定软件平台，可同时与多台待标定粒子计数器通信连接。粒子计数器采集标定软件平台包括：激光电流控制单元、门槛电压调整单元、计数采集单元、计数周期控制单元，数据存储单元。

其中，激光电流控制单元用于输出性设置粒子计数器中激光二极管的工作电流，激光二极管的工作电流的大小与粒子经粒子计数器输出的信号大小呈正向关系；计数周期控制单元用于设置采样周期(洁净气体或者含粒子待测气体)；门槛电压调整单元用于设置待测粒子计数器的各预设粒径的计数通道对应的比较器的门槛电压值；计数采集单元接收各粒子计数器的计数通道的计数值并进行动态显示。

粒子计数器采集标定软件平台与标准例子计数器通信连接，实现通信互联，对标准粒子计数器各计数通道的数值进行计数及显示；

粒子计数器采集标定软件平台还可以包括自动步长设置单元，用于输入性设置门槛电压值的调整单位，各待标定粒子计数器在预设的各计数通道门槛电压值基础上按照步长自动调整，直至各待标定粒子计数器与标准粒子计数器的各预设粒径对应的计数通道的计数值满足预设要求。

粒子计数器采集标定软件平台还可以包括回归次数设置单元，用于设置最大标定次数，当超过这个次数还没有完成待标定粒子计数器的标定，表明该软件标定不了该待标定粒子计数器。

粒子计数器采集标定软件平台还可以包括激光电流采集单元、光噪采集单元以及流量采集单元。其中，激光电流采集单元用于采集粒子计数器中真实的激光电流；光噪采集单元，用于采集粒子计数器中杂散光电压信号；流量采集单元，用于采集粒子计数器中真实的气体流量。

相应于上面的方法实施例，本发明还提供了一种粒子计数器的采集标定装置，下文描述的粒子计数器的采集标定装置与上文描述的粒子计数器的采集标定方法可相互对应参照。

参见图3，图3为本发明实施例中一种粒子计数器的采集标定装置的结构框图，该装置可以包括：

自净模块31，用于对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净结果；

气体输入模块32，用于当自净结果为合格时，向待标定粒子计数器输入目标粒子气体；

实际计数数值获取模块33，用于获取待标定粒子计数器中各预设粒径分别对应的实际计数数值；

对比结果获得模块34，用于分别将各实际计数数值与各预设粒径分别对应的标准计数数值进行对比，得到各对比结果；

目标粒径确定模块35，用于当存在对比结果为不一致时，将与对应的标准计数数值不一致的实际计数数值对应的预设粒径确定为目标粒径；

采集标定模块36，用于对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，并重复执行向当自净结果为合格时，向待标定粒子计数器输入目标粒子气体的步骤，直至各对比结果均一致，以对待标定粒子计数器进行采集标定；其中，预设有各预设粒径分别对应的门槛电压。

由上述技术方案可知，通过在对待标定粒子计数器进行自净操作，并确定自净结果为合格之后，向待标定粒子计数器输入目标粒子气体，获取待标定粒子计数器中各预设粒径分别对应的实际计数数值，将各实际计数数值与对应的标准计数数值进行对比，得到各对比结果。选取出与对应的标准计数数值不一致的实际计数数值对应的预设粒径，将选取得到的预设粒径确定为目标粒径，对目标粒径对应的门槛电压进行调整，从而实现对待标定粒子计数器的自动采集标定。较大地节省了人力，提高了粒子计数器采集标定效率。

在本发明的一种具体实施方式中，采集标定模块36包括：

步长获取子模块，用于获取预设的电压调整步长；

电压调整子模块，用于按照电压调整步长对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作。

在本发明的一种具体实施方式中，电压调整子模块包括：

调整方向确定单元，用于根据对比结果确定门槛电压调整方向；

电压调整单元，用于按照电压调整步长和门槛电压调整方向对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作。

在本发明的一种具体实施方式中，电压调整单元包括：

判断子单元，用于判断调整次数是否达到预设值；

电压调整子单元，用于当确定调整次数未达到预设值时，按照电压调整步长和门槛电压调整方向对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作；

提示信息输出子单元，用于当确定调整次数达到预设值时，输出标定失败提示信息。

在本发明的一种具体实施方式中，调整方向确定单元包括：

正向调整方向确定子单元，用于当对比结果为实际计数数值大于对应的标准计数数值时，确定门槛电压调整方向为正向调整；

负向调整方向确定子单元，用于当对比结果为实际计数数值小于对应的标准计数数值时，确定门槛电压调整方向为负向调整。

在本发明的一种具体实施方式中，气体输入模块32具体为向待标定粒子计数器和标准粒子计数器输入同源的目标粒子气体的模块；

该装置还可以包括：

标准计数数值获取模块，用于在分别将各实际计数数值与对应的标准计数数值进行对比之前，获取标准粒子计数器中各预设粒径分别对应的标准计数数值。

在本发明的一种具体实施方式中，自净模块31包括：

自净子模块，用于对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净数值；

自净结果获得子模块，用于将自净数值与自净标准范围进行对比，得到自净结果。

相应于上面的方法实施例，参见图4，图4为本发明所提供的粒子计数器的采集标定设备的示意图，该设备可以包括：

存储器332，用于存储计算机程序；

处理器322，用于执行计算机程序时实现上述方法实施例的粒子计数器的采集标定方法的步骤。

具体的，请参考图5，图5为本实施例提供的一种粒子计数器的采集标定设备的具体结构示意图，该粒子计数器的采集标定设备可因配置或性能不同而产生比较大的差异，可以包括处理器(central processing units，CPU)322(例如，一个或一个以上处理器)和存储器332，存储器332存储有一个或一个以上的计算机应用程序342或数据344。其中，存储器332可以是短暂存储或持久存储。存储在存储器332的程序可以包括一个或一个以上模块(图示没标出)，每个模块可以包括对数据处理设备中的一系列指令操作。更进一步地，处理器322可以设置为与存储器332通信，在粒子计数器的采集标定设备301上执行存储器332中的一系列指令操作。

粒子计数器的采集标定设备301还可以包括一个或一个以上电源326，一个或一个以上有线或无线网络接口350，一个或一个以上输入输出接口358，和/或，一个或一个以上操作系统341。

上文所描述的粒子计数器的采集标定方法中的步骤可以由粒子计数器的采集标定设备的结构实现。

相应于上面的方法实施例，本发明还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时可实现如下步骤：

对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净结果；当自净结果为合格时，向待标定粒子计数器输入目标粒子气体；获取待标定粒子计数器中各预设粒径分别对应的实际计数数值；分别将各实际计数数值与各预设粒径分别对应的标准计数数值进行对比，得到各对比结果；当存在对比结果为不一致时，将与对应的标准计数数值不一致的实际计数数值对应的预设粒径确定为目标粒径；对目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，并重复执行向当自净结果为合格时，向待标定粒子计数器输入目标粒子气体的步骤，直至各对比结果均一致，以对待标定粒子计数器进行采集标定；其中，预设有各预设粒径分别对应的门槛电压。

该计算机可读存储介质可以包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

对于本发明提供的计算机可读存储介质的介绍请参照上述方法实施例，本发明在此不做赘述。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置、设备及计算机可读存储介质而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的技术方案及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种粒子计数器的采集标定方法，其特征在于，包括：

对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净结果；

当所述自净结果为合格时，向所述待标定粒子计数器输入目标粒子气体；获取所述待标定粒子计数器中各预设粒径分别对应的实际计数数值；

分别将各所述实际计数数值与各所述预设粒径分别对应的标准计数数值进行对比，得到各对比结果；当存在对比结果为不一致时，将与对应的标准计数数值不一致的实际计数数值对应的预设粒径确定为目标粒径；

对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，并重复执行向所述当所述自净结果为合格时，向所述待标定粒子计数器输入目标粒子气体的步骤，直至各所述对比结果均一致，以对所述待标定粒子计数器进行采集标定；其中，预设有各所述预设粒径分别对应的门槛电压。

2.根据权利要求1所述的粒子计数器的采集标定方法，其特征在于，对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，包括：

获取预设的电压调整步长；

按照所述电压调整步长对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作。

3.根据权利要求2所述的粒子计数器的采集标定方法，其特征在于，按照所述电压调整步长对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，包括：

根据所述对比结果确定门槛电压调整方向；

按照所述电压调整步长和所述门槛电压调整方向对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作。

4.根据权利要求3所述的粒子计数器的采集标定方法，其特征在于，按照所述电压调整步长和所述门槛电压调整方向对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，包括：

判断调整次数是否达到预设值；

若否，则执行所述按照所述电压调整步长和所述门槛电压调整方向对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作的步骤；

若是，则输出标定失败提示信息。

5.根据权利要求3所述的粒子计数器的采集标定方法，其特征在于，根据所述对比结果确定门槛电压调整方向，包括：

当所述对比结果为所述实际计数数值大于对应的标准计数数值时，确定所述门槛电压调整方向为正向调整；

当所述对比结果为所述实际计数数值小于对应的标准计数数值时，确定所述门槛电压调整方向为负向调整。

6.根据权利要求1所述的粒子计数器的采集标定方法，其特征在于，向所述待标定粒子计数器输入目标粒子气体，包括：

向所述待标定粒子计数器和标准粒子计数器输入同源的目标粒子气体；

在分别将各所述实际计数数值与对应的标准计数数值进行对比之前，还包括：

获取所述标准粒子计数器中各所述预设粒径分别对应的标准计数数值。

7.根据权利要求1所述的粒子计数器的采集标定方法，其特征在于，对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净结果，包括：

对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净数值；

将所述自净数值与自净标准范围进行对比，得到所述自净结果。

8.一种粒子计数器的采集标定装置，其特征在于，包括：

自净模块，用于对待标定粒子计数器进行自净操作，得到自净结果；

气体输入模块，用于当所述自净结果为合格时，向所述待标定粒子计数器输入目标粒子气体；

实际计数数值获取模块，用于获取所述待标定粒子计数器中各预设粒径分别对应的实际计数数值；

对比结果获得模块，用于分别将各所述实际计数数值与各所述预设粒径分别对应的标准计数数值进行对比，得到各对比结果；

目标粒径确定模块，用于当存在对比结果为不一致时，将与对应的标准计数数值不一致的实际计数数值对应的预设粒径确定为目标粒径；

采集标定模块，用于对所述目标粒径对应的门槛电压进行调整操作，并重复执行向所述当所述自净结果为合格时，向所述待标定粒子计数器输入目标粒子气体的步骤，直至各所述对比结果均一致，以对所述待标定粒子计数器进行采集标定；其中，预设有各所述预设粒径分别对应的门槛电压。

9.一种粒子计数器的采集标定设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述粒子计数器的采集标定方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述粒子计数器的采集标定方法的步骤。

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